DE1690509C - Verfahren zur Bildung zweier eng voneinander getrennter leitender Schichten - Google Patents
Verfahren zur Bildung zweier eng voneinander getrennter leitender SchichtenInfo
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Description
I
2
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur weise sind die Schichten ausreichend starr, damit der
Bildung zweier eng voneinander getrennter leitender Aufbau mechanisch stabil bleibt, wenn die hull-
Schichten unter Abscheidung einer ersten leitenden schicht entfernt ist.
Schicht auf einer Unterlage, Abscheidung einer Die Erfindung soll nun im einzelnen unter Bezug-Dünnschicht
auf der ersten leitenden Schicht und S nähme auf die Zeichnungen beschrieben werden.
Abscheidung einer zweiten leitenden Schicht auf der Fig. 1 ist ein schematischer Querschnitt einer
Materialdünnschicht unter Bildung einer Über- typischen Konstruktion zwecks Herstellung eines
kreuzung mit der ersten leitenden Schicht. Kondensators gemäß Erfindung;
der Herstellung von Dünnschicht-Kondensatoren xo Kondensators gemäß Erfiudung;
und Dünnschicht-Überkreuzungsstellen als ejnschlä- Fig. 3 ist ein schematisier Querschnitt einer
gige Bestandteile von Dünnschicht-Schaltungen. typischen Konstpjktion zur Herstellung einer Dunn-
verlässigkeit und Arbeitsweise elektronischer Erzeug- Fig. 4 ist ein Querschnitt einer fertiggestellten
nisse unter Verringerung ihrer Größe haben zu einer 15 Übcrkreuzung.
mikroelektronischen Technologie geführt, deren Fig. 1 ist ein Querschnitt einer typischen Kon-
sind, die für das unbewaffnete Auge beinahe unsicht- sators gemäß Erfindung. Der Aufbau zeigt drei Ma-
bar sind. Die mikroskopischen Abmessungen dieser terialschichten auf einer isolierenden Unterlagel.
neuen Schaltungselemente haben Schaltungen er- ao Eine erste leitende Schicht 2 ist auf der Unterlage
geben, die unempfindlich, langlebig und kosten- abgeschieden, eine Schicht Füllmaterial 3 ist oben
sparend sowie in der Lage sind, elektronische Funk- auf der leitenden Schicht 2 abgeschieden, und eint
tionen mit extrem hoher Geschwindigkeit zu voll- zweite leitende Schicht 4 ist oben auf der Fiiller-
ziehen (Hittinger & Spares, Microelectronics, schicht 3 abgeschieden.
nischer Schaltungen und Elemente begrenzt, ist das Wegätzen den gewünschten leeren Raum hinterläßt.
eine Metallschicht auf einer Dünnschicht aus isolie- lange es durch Hilfsmittel ätzbar ist, die die leiten-
rendem Material ni. dergeschlagen wird, dringt das 30 den Schichten 2 und 4 nicht anätzen.
und bewirkt elektrischen Kontakt mit allem, was schicht-Kondensator wird aus der vorerwähnten
auch immer unter der Dünnschicht '-egt. Wenn das Konstruktion erfindungsgemäß hergestellt, indem
darunterliegende Material ein Leiter ist, ist das Er- man die Füllschicht 3 selektiv wegätzt und jeden
gebnis ein Kurzschluß, der als »Nadelstiche-Kurz- 35 Nadelstich-Kurzschluß beseitigt.
des Auftretens eines Nadelstich-Kurzschlusses wächst, tiven Entfernung einer Kupferfüllung zwischen lei-
wenn die· Dicke des die beiden Leiter trennenden tenden Goldschichten. Vorteilhaa«. rweise wird die
für den minimalen Abstand, der zwischen zwei lei- 40 Atzmittel geätzt.
lenden Schichten verwirklicht werden kann. Diese Nachdem einmal die· Füllung weggeätzt ist.
sind Verkleinerungen solcherart aufgebauter Schal- den leitenden Schichten 2 und 4 gebildet haben
tungen eine untere Grenze gesetzt und zweitens wird könnten, leicht entfernt werden. Die Kurzschlüsse
auch das Verhalten bestimmter Schaltungselemente 45 sind freigelegt und erscheinen als dünne Säulen oder
nachteilig beschränkt. Beispielsweise wird im Falle Whiskers, die die Schichten 2 und 4 verbinden, wie
eines Kondensators die maximal erhältliche spezi- von der Säule 5 in F i g. 1 gezeigt. Da die Dicke der
fische Kapazität beschränkt, da diese dem Abstand freigelegten Säulen im allgemeinen gering im Ver-
zwischen den beiden Kondensatorbelägen umgekehrt gleich zu den Dimensionen der leitenden Schichten
proportional ist. 50 ist, können Techniken wie Oxydation, Uhraschall-
leitende Schichten mit engem Abstand zu bilden, die um die Kurzschlüsse zu beseitigen. Beispielsweise
frei von Nadelstich-Kurzschlüssen sind. bildet sich eine dünne Oxydschicht auf Metallen, die
Diese Aufgabe ist für das Verfahren der eintet- der Atmosphäre ausgesetzt sind, und oft ist diese
tend beschriebenen Art erfindungsgemäß gekenn- 55 Oxydschicht genügend s'ark, um die ganze Kura-
zeichnet durch eine selektive Ausätzung der Dünn- schlußsäule zu oxydieren. Falls dies aber nicht als
schicht zwischen den leitenden Schichten und durch ausreichend erkannt wird, kann die Konstruktion in
anschlieiiendes Beseitigen der dadurch freigelegten einer mit Sauerstoff angereichenen Atmosphäre er·
Nadehiich-KurzschlUsse nach geeigneten Methoden flitzt werden, bis die Säulen völlig oxydiert sled. Bine
wie Ultraschallbehandlung, Atzen, Zentrifugieren ίο andere Technik zur Beseitigung der freigelegten
oder Behandlung mit einem reaktionsfähigen Gas, Säulen ist das Eintauchen der Konstruktion in eine
Das Verfahren hat besondere Bedeutung dort, wo mit Transduktor gerührte Flüssigkeit. Dieses Verein Tretinabsiand von einigen Mikron oder weniger fahren zerbricht die kurzschließenden Säulen. Eine
zwischen zwei Leitungen gewünscht wird, weil Nadel* dritte, geeignet befundene Technik ist die Montage
-tlch-Kurz« hlUsse bei so kleinen Abständen das 6j der Konstruktion auf einer Zentrifuge mit den leiten·
Problem schlechthin werden. Bei den typischen An· den Schichten nach außen gekehrt und Rotation der
wendunttsftllen schwankt die Dicke der leitenden Zentrifuge mit ausreichender Geschwindigkeit, so
Schichten zwischen 1 und 10 Mikron. Vorteilhafter· dafl die Schichten nach auflen gebogen werden, wo»
I 690
M die Kurzschlußsöulen abbrechen. Viele andere
Hilfsmittel, wie mildes Atzen oder andere chemische Verfahren können gleichfalls verwendet werden, um
die kurzschließenden Säulen zu beseitigen oder in isolierende Verbindungen umzuwandeln,
Der Raum zwischen den leitenden Schichten wird natürlich als Dielektrikum wirken. Wenn jedoch gewünscht
wird, ein festes Dielektrikum oder anderes Material zwischen die beiden Schichten zu bringen,
so kann dies im allgemeinen durch verschiedene Techniken erfolgen. Wenn beispielsweise die leitenden
Schichten oxydiert werden können, bewirkt die Erhitzung der Konstruktion in sauerstoffhaltiger
Atmosphäre die Bildung von Oxydschichten auf den inneren Oberflächen, und in geeigneten Fällen kann
die Oxydschicht genügend aufgebaut werden, um den Zwischenraum zu füllen. Auch die wohlbekannten
Techniken der »Plasma-Schaltung« und der Anodi-■ierung
können angewandt werden, um Material zwischen die eng benachbarten Schichten zu hinter-♦üllen.
F i g. 2 zeigt den fertigen Kondensator. Der Füllstoff 3 der Fig. 1 und der Nadelstich-Kurzschluß 5
in F i g. 1 sind entfernt und durch den Luftspalt 6 ersetzt. as
Es wird nun ein erläuterndes Beispiel einer Überkreuzung, die in einer typischen Anwendung der Erfindung
durchgeführt wird, im einzelnen beschrieben.
F i g. 3 ist ein Querschnitt eines typischen Aufbaus bei der Herstellung einer Dünnschicht-Überkreuzung
gemäß vorliegender Erfindung. Metallkontakte 11 und 12, zwischen denen eine elektrische Verbindung
vorgesehen werden soll, die einen dazwischen liegenden Leiter 13 überkreuzt, sind auf einer isolierenden
Unterlage 10 abgeschieden, beispielsweise Silicium mit einer Schicht aus SiO2 oder SiN3 darauf. Vorteilhafterweise
bestehen die Kontakte 11 und 12 und der
dazwischen liegende Leiter 13 gemäß gegenwärtiger Strahlführungstechnik aus drei verschiedenen Metallschichten,
die übereinander abgeschieden sind. Der erste Film 14 ist aus Titan, um eine gute Haftung
an der Unterlage 10 sicherzustellen; der dritte Film 16 ist aus Gold wegen der leichteren Bindung
und der zweite Film 15 aus Platin, um Gold und Titan an einer Reaktion miteinander zu hindern Zusätzlich
wird noch eine Schicht 17 aus einem oxydierbaren Metall wie Zirkon auf dem Leiter 13 gezeigt,
welches zur Bildung einer dielektrischen Scnicht oxydiert werden kann. Typische Dicken sind wie
folgt: Titan 1500 AE, Platin 3000 AE, Gold 20 000 bis 30 000 AE und Zirkon 1500 AE.
Oben auf der oxydierbaren Schicht 17 wird eine trennende Schicht 18 aus Füllmaterial gezeigt. In
diesem speziellen Beispiel wird eine Kupferschicht von 30 000 AE Dicke verwendet.
Eine obere leitende Schicht 19, die in typischer Weise aus Gold von 10 bis 12 Mikron Dicke besteht,
•vird auf der trennenden Schicht 18 angeordnet, um
die Kontakte 11 und 12 miteinander zu verbinden. Vor der Abscheidung werden die trennende Schicht
18 und die oxydierbare Schicht 17 in geeigneter Weise maskiert und ge»W, so daß der obere Leiter
mit den Kontakten 11 und 12 elektrische Verbindung bekomm». .,..,, Ul-
Man erhält eine von Nadelsuch-Kuraschlussen
freie Überkreuzung aus der abgebildeten Konstruktion, indem man den Füller 18 mit einem geeigneten
Ätzmittel wegätzt, was die anderen Metalle wenig beeinflußt, und erhitzt die Konstruktion ip. einer
sauerstoJThaltigen Atmosphäre ausreichende Zeit, um die oxydierbare Metallschicht 17 völlig zu oxydieren.
Bei der gezeigten Konstruktion entfernt eine Ätzung mit konzentriertem Ferrinitral in einer Zeit von
etwas mehr als 10 Minuten die Kupferfüllung, und eine Erhitzung auf etwa 350 C für fünf bis acht
Stunden oxydiert die Zirkoniumschicht.
Etwaige Nadelstichkurzschlüsse zwischen dem oberen Leiter 19 und dem unteren Leiter 13 sind
nach dem Wegätzen der Trennschicht 18 freigelegt und können leicht durch eine der vorerwähnten
Techniken beseitigt werden
Fig. 4 zeigt die fertiggestellte Überkreuzung gemäß Erfindung. Die Trennsciiicht 18 der Fig. 3 ist
unter Hinterlasen eines Luftspaltes 20 entfernt worden, und die Schicht 17 aus oxydierbarem Metall ist
zwecks Bildung einer Schicht von dielektrischem Oxyd 21 oxydiert worden.
Claims (4)
1. Verfahren zur Bildung zweier eng voneinander getrennter leitender Schichten unter Abscheidung
einer ersten leitenden Schicht auf einer Unterlage, Abscheidung einer Dünnschicht auf der
ersten leitenden Schicht und Abscheidung einer zweiten leitenden Schicht auf der Materialdünnschicht
unter Bildung einer Überkreuzung mit der ersten leitenden Schicht, gekennzeichnet
durch eine selektive Ausätzung der Dünnschicht (3) zwischen den leitenden Schichten
(2,4) und durch anschließendes Beseitigen der dadurch freigelegten Nadelstichkurzschlüsse (5)
nach geeigneten Methoden wie Ultraschallbehandlung, Ätzen, Zentrifugieren oder Behandlung
mit einem reaktionsfähigen Gas.
2. Verfahren nach Anspruch i, gekennzeichnet durch den zusätzlichen Arbeitsgang einer partiellen
Oxydation wenigstens einer der beiden leitenden Schichten zwecks Bildung einer dauerhaften
dielektrischen Schicht zwischen denselben.
3. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch den zusätzlichen Arbeitsgang der Auffüllung
des Raums zwischen den beiden leitenden Schichten mit einem dauerhaften dielektrischen
Material nach dem Wegätzen des Füllmaterials.
4. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch den zusätzlichen Arbeitsgang einer
Auffüllung des Raums zwischen den beiden leitenden Schichten mit einem Werkstoff entweder
durch Kracken mittels Plasma oder auf thermischem Wege, durch Anodisieren oder chemische
Reaktion mit den leitenden Schichten nach dem Wegätzen des Füllmaterial«.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
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