DE1648474C3 - Verfahren zur Kontrolle der Dichtheit einer aus nichtleitendem Material bestehenden Auskleidung einer Behälterwand bei saurem Inhalt - Google Patents
Verfahren zur Kontrolle der Dichtheit einer aus nichtleitendem Material bestehenden Auskleidung einer Behälterwand bei saurem InhaltInfo
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- DE1648474C3 DE1648474C3 DE19671648474 DE1648474A DE1648474C3 DE 1648474 C3 DE1648474 C3 DE 1648474C3 DE 19671648474 DE19671648474 DE 19671648474 DE 1648474 A DE1648474 A DE 1648474A DE 1648474 C3 DE1648474 C3 DE 1648474C3
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- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/40—Investigating fluid-tightness of structures by using electric means, e.g. by observing electric discharges
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Description
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Verfahren zur Kontrolle der Dichtheit einer aus nichtleitendem Material bestehenden Auskleidung einer Behälterwand aus Eisen bei vorwiegend saurem Behälterinhalt, bei dem ältere Leckstellen der Auskleidung mittels edlerer Flickstopfenmaterialien ausgebessert sind und bei dem zwischen der Behälterwand und einer in die Lösung eintauchenden Hilfselektrode eine elektrische Gleichspannung angelegt wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Höhe der Gleichspannung zwischen der Zei^etzungsspannung für Eisen und der Zersetzungsspannung der für das Auskleidungsmaterial verwendeten edleren Flickstopfenmaterialien liegt.Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Kontrolle der Dichtheit einer aus nichtleitendem Material bestehenden Auskleidung einer Behälterwand aus Eisen bei vorwiegend saurem Behälterinhalt, bei der ältere Leckstellen der Auskleidung mittels edlerer Flickstopfenmaterialien ausgebessert sind und bei dem zwischen der Behälterwand und einer in die Lösung eintauchenden Hilfselektrode eine elektrische Gleichspannung angelegt wird.Die rechtzeitige Erkennung von Schadenstellen in der Emaillierung von Reaktionsbehältern ist für die Erhaltung der \vcrt\ ollen Behälter von großer Wichtigkeit. Bisher wurden dafür u.a. Hochspannungsprülmethoden oder Leitfähigkeitsmessungen herangezogen. Erstcre können in entleerten und sorgfältig gereinigten Behältern vorgenommen v/erden und verursachen hohe Kosten und merklichen Produktionsausfall. Eine solche Prüfmethode mit Hilfe der elektrischen Leitfähigkeit ist z. B. in der französischen Patentschrift 706 637 beschrieben. Man muß dabei allerdings voraussetzen, daß der Behälter nicht bereits ältere geflickte Leckstellen aufweist. Derartige Leckstellen werden nämlich mittels Tantal bzw. Edelmetallstopfen repariert, die dann eine leitende Verbindung zwischen Behälterfüllung und der Stahlwand des Behälters herstellen, so daß eine festgestellte Leitfähigkeit kein Indiz für neu aufgetretene Emailschäden darstellt.Es wurde nun gefunden, daß diese Nachteile vermieden werden, wenn erfindungsgemäß die Höhe der Gleichspannung zwischen der Zersetzungsspannung für Eisen und der Zersetzungsspannung der für das ίο Auskleidungsmaterial verwendeten edleren Flickstopfenmaterialien liegt.Der bei defekter Innenauskleidung fließende Depolarisationsstrom kann dann zur Schadenmeldung und Alarmierung, sogar unabhängig von eventuell bereits vorhandenen metallischen Flickstopfen, benutzt werden.Die Abbildung zeigt das Strom-Spannungsvcrhaiten am Beispiel einer normalen Schwefelsäure als Kesselinhalt. Bei einer Piüfspannung bis einschließ lieh 1 V1 wobei die Kcssclwand als Anode und ein.; Platinclektrode als Hilfselektrode geschaltet ist, erhält man mit Platin oder Tantal als Behälterwandmaterial einen praktisch unmeßbar kleinen Strom, — u,·. die Zersetzungsspannung von Platin und Tantal grüßcr als 1 V ist — während Eisen als Behälterwandmaterial bereits einen Strom von mehreren 100 ni\ fließen läßt. Silber, das gelegentlich als Material fu Einleitungsrohrc verwendet wird, stört die cindeuti;. Unterscheidung. In solchen Fällen wäre zu prüfer.. ob nicht ein Einlcitungsrohr aus nichtleitendem Mjterial Verwendung finden könnte.Da., Vci fahren dürfte sich sowohl zur Routine Überwachung als auch für kontinuierliche Kontroll·: eignen. Durch Versuche konnten bei Prüfspannungen von etwa 1 Volt im Labor Stromdichten von etwa 10 mA/inm- gemessen werden, so daß man damit rechnen kann, daß sich Leckstcllen, die nur Bruchteile eines Quadratmillimeters groß sind, bereits durch einen deutlich meßbaren Stromanstieg bemerkbar machen werden.Das Verfahren ist auch anwendbar für organische Säuren und Salzlösungen, jedoch nicht für alkalische Lösungen.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEF0053857 | 1967-10-21 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1648474A1 DE1648474A1 (de) | 1971-06-24 |
DE1648474B2 DE1648474B2 (de) | 1973-08-09 |
DE1648474C3 true DE1648474C3 (de) | 1974-03-07 |
Family
ID=7106651
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19671648474 Expired DE1648474C3 (de) | 1967-10-21 | 1967-10-21 | Verfahren zur Kontrolle der Dichtheit einer aus nichtleitendem Material bestehenden Auskleidung einer Behälterwand bei saurem Inhalt |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1648474C3 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3224016A1 (de) * | 1982-06-28 | 1984-01-05 | Akzo Gmbh, 5600 Wuppertal | Reinheitskontrolle durch messung der elektrischen leitfaehigkeit |
-
1967
- 1967-10-21 DE DE19671648474 patent/DE1648474C3/de not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3224016A1 (de) * | 1982-06-28 | 1984-01-05 | Akzo Gmbh, 5600 Wuppertal | Reinheitskontrolle durch messung der elektrischen leitfaehigkeit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE1648474B2 (de) | 1973-08-09 |
DE1648474A1 (de) | 1971-06-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
EHZ | Patent of addition ceased/non-payment of annual fee of parent patent |