DE1591853B1

DE1591853B1 - Messverfahren zur Feststellung von Teilentladungen innerhalb metallgekapselter Schaltanlagen

Info

Publication number: DE1591853B1
Application number: DE19671591853
Authority: DE
Inventors: Dr-Ing Eberhard Baumann
Original assignee: BBC Brown Boveri France SA
Current assignee: BBC Brown Boveri France SA
Priority date: 1967-10-05
Filing date: 1967-10-05
Publication date: 1970-07-02
Also published as: CH476312A; GB1191230A; JPS4830911B1; FR1586010A

Description

Die Erfindung betrifft ein Meßverfahren zur Feststellung von Teilentladungen innerhalb metallgekapselter Schaltanlagen, das also insbesondere für die Erfassung innerer Teilentladungen geeignet ist.

Nach VDE 0434 ist es bekannt, eine metallgekapselte Schaltanlage oder einen metallgekapselten Anlagenteil hinsichtlich auftretender Teilentladungen zu prüfen bzw. Meßwerte zu ermitteln. Sich hieraus ergebende Prüfanordnungen bzw. Meßverfahren schließen allerdings zum Teil erhebliche Fehlerquellen ein, die infolge von Einstreumöglichkeiten auftreten. Da hierbei der Prüfling isoliert aufgestellt werden muß, sind verhältnismäßig große Prüfhallen, beispielsweise bei 110-kV-Anlagen, erforderlich. Diese Hallen müssen außerdem zwecks Ausschließung von Fehlerquellen besonders abgeschirmt werden.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, räumlich aufwendige Meßanordnungen zu vermeiden, also ohne zusätzliche äußere Abschirmungen auszukommen, und dabei den Aufbau einer Prüfanlage zu schaffen, der einwandfreie Meßergebnisse bringt, d. h. unter Ausschluß von Einstreufehlern.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Metallkapselung gleichzeitig als Abschirmung dient und der Rückschluß- bzw. Kopplungskondensator derart innerhalb der Kapselung angeordnet ist, daß sich in Verbindung mit dem z. B. koaxial aufgebauten Abschlußwiderstand ein einstreuungsfreier, möglichst koaxialer Meßanschluß ergibt. Auf Grund einer einwandfreien Abschirmung und mittels eines koaxialen Meßanbaues lassen sich daher nicht nur äußere, sondern insbesondere innere Teilentladungen geringer Intensität meßbar verfolgen. In vorteilhafter Weise findet dieses Meßverfahren Anwendung bei metallgekapselten, ζ. Β. SFg-isolierten Schaltanlagen und Geräten. Dabei den in Rede stehenden Anlagen und Geräten der Spannungswandler abgebaut werden muß und erfindungsgemäß der Meßteil mit dem Meßkondensator und dem Meßwiderstand an Stelle des Spannungswandlers in die Metallkapselung eingesetzt wird, läßt sich der zusätzliche Aufwand für den gesamten Meßaufbau weiter verringern.

Eine andere Ausführungsmöglichkeit besteht nach der Erfindung darin, bei Vorhandensein eines kapazitiven Spannungswandlers in vollgekapselten Anlagen die Meßkapazität des Spannungswandlers zur Teilentladungsmessung mit heranzuziehen. Weiterhin kann mit dem neuen Verfahren die Teilentladung bei vollgekapselten Anlagen auch im Zuge der Kabelprüfung mit erhöhter Gleichspannung durchgeführt werden. Hierbei wird zwischen dem Kabelendverschluß und dem eigentlichen Anlagenteil ein Sperrkreis eingeschaltet, der auf die Meßfrequenzen abgestimmt sein kann.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung schematisch dargestellt und wird im folgenden näher beschrieben. Es zeigen zunächst

Fig. 1 bis 3 Anordnungen nach bekannten Verfahren,

Fig.4a und 4b schematische Wiedergaben des neuen Verfahrens.

Die Prüf elektrode P wird von der in die Metallkapselung K eingesetzten isolierten Durchführung D getragen, deren nicht näher bezeichneter Leiter über den Gerätefilter F mit dem Spannungsgeber SG leitend verbunden ist. In Fig. 1 ist der Rückschlußkondensator C^ zwischen die Zuleitung und Erde E gelegt, während die Metallkapselung K über den Abschlußwiderstand A ebenfalls an Erde liegt. Bei der Anordnung gemäß F i g. 2 besteht zwischen der Metallkapselung K und Erde E eine direkte leitende Verbindung, während der Abschlußwiderstand A mit dem Kopplungskondensator C^ in Reihe liegt. Jeweils vor dem Abschlußwiderstand A befindet sich ein Abgang zur Meßstelle M. Bei den Schaltanordnungen nach den F i g. 1 und 2 können sich infolge von Einstreumöglichkeiten im Kreis C_R bzw. C^, P, C_x, A erhebliche Fehlerquellen bemerkbar machen. Aus diesem Grunde ist bei diesen bekannten Prüfverfahren zur Messung innerer Teilentladungen zusätzlich eine metallische Abschirmung S des Meßraumes notwendig. Bei der Prüfanordnung nach Fig. 3 wird der Kondensatorbelag der Durchführung zur Messung herangezogen. Hier liegt jedoch ein ungünstiges Verhältnis der Kapazitäten vor (Kondensatorbelag etwa 100 pF gegenüber C_x mit etwa 5 nF). Wegen des äußeren Meßwiderstandes bestehen ebenfalls noch Einstreumöglichkeiten. Die in den Fig. 4 a und 4 b wiedergegebenen erfindungsgemäßen Meßanordnungen zeigen insbesondere den gekapselten Meßanbau, in dem Kopplungskondensator und Abschlußwiderstand auf zwei Arten zusammengeschaltet sein können. Auf diese Weise ist die Möglichkeit gegeben, innere Teilentladungen unter Ausschluß von Einstreufehlern zu ermitteln bzw. meßbar zu verfolgen.

Claims

Patentansprüche:

1. Meßverfahren zur Feststellung von Teilentladungen innerhalb metallgekapselter Schaltanlagen und Geräte, dadurch gekennzeichnet, daß die Metallkapselung (K) gleichzeitig als Abschirmung (S) dient und der Rückschluß- bzw. Kopplungskondensator (C^, C_K) derart innerhalb der Kapselung (K) angeordnet ist, daß sich in Verbindung mit dem z.B. koaxial aufgebauten Abschlußwiderstand (^4) ein einstreuungsfreier, möglichst koaxialer Meßanschluß (MK) ergibt.

2. Meßverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß beim Vorhandensein eines kapazitiven Spannungswandlers in vollgekapselten Anlagen dessen Meßkapazität bei der Teilentladungsmessung herangezogen wird.

3. Meßverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Teilentladung bei vollgekapselten Anlagen im Zuge der Kabelprüfung mit erhöhter Gleichspannung durchgeführt wird, wobei zwischen dem Kabelendverschluß und der eigentlichen Anlage ein Sperrkreis eingeschaltet ist, der auf die Meßfrequenzen abgestimmt sein kann.