DE1591853B1 - Messverfahren zur Feststellung von Teilentladungen innerhalb metallgekapselter Schaltanlagen - Google Patents
Messverfahren zur Feststellung von Teilentladungen innerhalb metallgekapselter SchaltanlagenInfo
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- H02J3/02—Circuit arrangements for ac mains or ac distribution networks using a single network for simultaneous distribution of power at different frequencies; using a single network for simultaneous distribution of ac power and of dc power
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Description
Die Erfindung betrifft ein Meßverfahren zur Feststellung
von Teilentladungen innerhalb metallgekapselter Schaltanlagen, das also insbesondere für die
Erfassung innerer Teilentladungen geeignet ist.
Nach VDE 0434 ist es bekannt, eine metallgekapselte Schaltanlage oder einen metallgekapselten Anlagenteil
hinsichtlich auftretender Teilentladungen zu prüfen bzw. Meßwerte zu ermitteln. Sich hieraus ergebende
Prüfanordnungen bzw. Meßverfahren schließen allerdings zum Teil erhebliche Fehlerquellen
ein, die infolge von Einstreumöglichkeiten auftreten. Da hierbei der Prüfling isoliert aufgestellt werden
muß, sind verhältnismäßig große Prüfhallen, beispielsweise bei 110-kV-Anlagen, erforderlich. Diese
Hallen müssen außerdem zwecks Ausschließung von Fehlerquellen besonders abgeschirmt werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, räumlich aufwendige Meßanordnungen zu vermeiden, also
ohne zusätzliche äußere Abschirmungen auszukommen, und dabei den Aufbau einer Prüfanlage zu
schaffen, der einwandfreie Meßergebnisse bringt, d. h. unter Ausschluß von Einstreufehlern.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Metallkapselung gleichzeitig als Abschirmung
dient und der Rückschluß- bzw. Kopplungskondensator derart innerhalb der Kapselung
angeordnet ist, daß sich in Verbindung mit dem z. B. koaxial aufgebauten Abschlußwiderstand ein einstreuungsfreier,
möglichst koaxialer Meßanschluß ergibt. Auf Grund einer einwandfreien Abschirmung
und mittels eines koaxialen Meßanbaues lassen sich daher nicht nur äußere, sondern insbesondere innere
Teilentladungen geringer Intensität meßbar verfolgen. In vorteilhafter Weise findet dieses Meßverfahren
Anwendung bei metallgekapselten, ζ. Β. SFg-isolierten Schaltanlagen und Geräten. Dabei den
in Rede stehenden Anlagen und Geräten der Spannungswandler abgebaut werden muß und erfindungsgemäß
der Meßteil mit dem Meßkondensator und dem Meßwiderstand an Stelle des Spannungswandlers
in die Metallkapselung eingesetzt wird, läßt sich der zusätzliche Aufwand für den gesamten Meßaufbau
weiter verringern.
Eine andere Ausführungsmöglichkeit besteht nach der Erfindung darin, bei Vorhandensein eines kapazitiven
Spannungswandlers in vollgekapselten Anlagen die Meßkapazität des Spannungswandlers zur
Teilentladungsmessung mit heranzuziehen. Weiterhin kann mit dem neuen Verfahren die Teilentladung bei
vollgekapselten Anlagen auch im Zuge der Kabelprüfung mit erhöhter Gleichspannung durchgeführt
werden. Hierbei wird zwischen dem Kabelendverschluß und dem eigentlichen Anlagenteil ein Sperrkreis
eingeschaltet, der auf die Meßfrequenzen abgestimmt sein kann.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung schematisch dargestellt und wird im folgenden
näher beschrieben. Es zeigen zunächst
Fig. 1 bis 3 Anordnungen nach bekannten Verfahren,
Fig.4a und 4b schematische Wiedergaben des
neuen Verfahrens.
Die Prüf elektrode P wird von der in die Metallkapselung K eingesetzten isolierten Durchführung D
getragen, deren nicht näher bezeichneter Leiter über den Gerätefilter F mit dem Spannungsgeber SG leitend
verbunden ist. In Fig. 1 ist der Rückschlußkondensator C^ zwischen die Zuleitung und Erde E
gelegt, während die Metallkapselung K über den Abschlußwiderstand A ebenfalls an Erde liegt. Bei
der Anordnung gemäß F i g. 2 besteht zwischen der Metallkapselung K und Erde E eine direkte leitende
Verbindung, während der Abschlußwiderstand A mit dem Kopplungskondensator C^ in Reihe liegt.
Jeweils vor dem Abschlußwiderstand A befindet sich ein Abgang zur Meßstelle M. Bei den Schaltanordnungen
nach den F i g. 1 und 2 können sich infolge von Einstreumöglichkeiten im Kreis CR bzw. C^,
P, Cx, A erhebliche Fehlerquellen bemerkbar machen.
Aus diesem Grunde ist bei diesen bekannten Prüfverfahren zur Messung innerer Teilentladungen zusätzlich
eine metallische Abschirmung S des Meßraumes notwendig. Bei der Prüfanordnung nach
Fig. 3 wird der Kondensatorbelag der Durchführung zur Messung herangezogen. Hier liegt jedoch ein ungünstiges
Verhältnis der Kapazitäten vor (Kondensatorbelag etwa 100 pF gegenüber Cx mit etwa 5 nF).
Wegen des äußeren Meßwiderstandes bestehen ebenfalls noch Einstreumöglichkeiten. Die in den Fig. 4 a
und 4 b wiedergegebenen erfindungsgemäßen Meßanordnungen zeigen insbesondere den gekapselten
Meßanbau, in dem Kopplungskondensator und Abschlußwiderstand auf zwei Arten zusammengeschaltet
sein können. Auf diese Weise ist die Möglichkeit gegeben, innere Teilentladungen unter Ausschluß
von Einstreufehlern zu ermitteln bzw. meßbar zu verfolgen.
Claims (3)
1. Meßverfahren zur Feststellung von Teilentladungen innerhalb metallgekapselter Schaltanlagen
und Geräte, dadurch gekennzeichnet, daß die Metallkapselung (K) gleichzeitig
als Abschirmung (S) dient und der Rückschluß- bzw. Kopplungskondensator (C^, CK) derart
innerhalb der Kapselung (K) angeordnet ist, daß sich in Verbindung mit dem z.B. koaxial
aufgebauten Abschlußwiderstand (^4) ein einstreuungsfreier,
möglichst koaxialer Meßanschluß (MK) ergibt.
2. Meßverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß beim Vorhandensein eines
kapazitiven Spannungswandlers in vollgekapselten Anlagen dessen Meßkapazität bei der Teilentladungsmessung
herangezogen wird.
3. Meßverfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Teilentladung bei vollgekapselten
Anlagen im Zuge der Kabelprüfung mit erhöhter Gleichspannung durchgeführt wird,
wobei zwischen dem Kabelendverschluß und der eigentlichen Anlage ein Sperrkreis eingeschaltet
ist, der auf die Meßfrequenzen abgestimmt sein kann.
Applications Claiming Priority (1)
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