DE1548593C - Optisches Mikrometer zur Interpola tion einer Kreisteilung - Google Patents

Description

die vom Abbildungsstrahlengang zweier um 180° versetzter Teilkreisstellen herkommen, bezeichnet.

In Fig. 2 ist das Mikrometer unter Verwendung der gleichen Bezugszeichen um 90° gedreht dargestellt. Mit 2 ist der Teilkreis eines Winkelmeßinstrumentes angedeutet, auf dem zwei um 180° versetzte Teilkreisstellen mit 22 und 23 bezeichnet sind. 24 bezeichnet eine Abbildungsoptik, mit der die Teilkreisstelle 22 über ein Prisma 17 und ein Dachkantenprisma 18 neben die Teilkreisstelle 23 und parallel zu ihr liegend abgebildet ist.

Die gegenläufige mikrometrische Verstellung der dem Mikrometer gegenläufig zugeführten Abbildungsstrahlengänge I und II ergibt sich bei dieser Anordnung in folgender Weise: Beim Drehen des Triebknopfes 7 werden die Planplatten 8 und 9 gemeinsam in gleicher Richtung um die Achse 4 verschwenkt und nehmen die in der F i g. 2 gestrichelt angedeutete Lage ein. Beim Durchgang durch die Planplatte 8 werden dabei beide Strahlengänge um einen bestimmten Betrag, der in der F i g. 2 mit α bezeichnet ist, versetzt. Beide Strahlengänge durchlaufen nun das seitenvertauschende Abbe-Prisma 15. Der Abbildungsstrahlengang I durchläuft nun, wie aus Fig. 1 zu ersehen ist, eine dem optischen Wegausgleich dienende feststehende Planplatte und gelangt ohne weitere Strahlversetzung zum Punkt 19 der Bildebene 20. Der Abbildungsstrahlengang II wird durch die verschwenkte Planplatte 9, die die doppelte Stärke der Planplatte 8 hat, um den Betrag .2 α versetzt und trifft im Punkt 21 auf die Bildebene

20. Damit ist durch die Verschwenkung des Teiles 3 der Abbildungsstrahlengang I um den gleichen Betrag nach links versetzt worden wie der Abbildungsstrahlengang II nach rechts. Es ist also eine zur Mitte symmetrische gegenläufige Bewegung der Bilder der beiden Teilkreisstellen erreicht. Die Größe der zur Koinzidenzbildung erforderlichen Verschiebung der Planplatten ist auf der mitverschwenkten Skalenplatte 10 ablesbar. Die Wirkungsweise der Bildtrennvorrichtung 11 und 12 wurde, da sie einer für diesen Zweck üblichen Anordnung entspricht, nicht näher erläutert. Ebenso erübrigt es sich, auf das Aussehen der Maskenplatte, die der Abgrenzung des Gesichtsfeldes dient, näher einzugehen.

Der Erfindungsgedanke, die Gegenläufigkeit von dem Mikrometer als gegenläufige Bilder angebotenen Teilkreisstellen mit zwei die Abbildungsstrahlengänge in gleicher Richtung strahlversetzenden optischen Elemente, zwischen denen ein seitenvertausehendes optisches Element angeordnet ist, vorzunehmen, kann, wie ersichtlich, auch in anderer Weise verwirklicht werden, als es im Ausführungsbeispiel dargestellt ist und ist z. B. nicht an die Verwendung von Planplatten zur Strahlversetzung gebunden. Auch kann die Seitenvertauschung durch andere bekannte optische Elemente erfolgen. Ebenso ist es möglich, abweichend vom Ausführungsbeispiel, zuerst nur bei einem der Abbildungsstrahlengänge eine Strahlversetzung vorzunehmen und erst nach der Seitenvertau- schung beider Abbildungsstrahlengänge die Versetzung bei beiden Strahlengängen durchzuführen.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (5)

1 2 aus einer im Abbildungsstrahlengang des Systems anPatentansprüche: geordneten Vorrichtung zur meßbaren und gegenläufigen Verschiebung beider Teilstrichbilder an der

1. Optisches Mikrometer zur Interpolation Trennkante und einem im Abbildungsstrahlengang einer Kreisteilung, bestehend aus einem optischen 5 des Systems angeordneten optischen Element zur Sei-System zur Abbildung der Teilstriche zweier um tenvertauschung des Abbildungsstrahlenbüschels, bei 180° gegeneinander versetzter Ablesestellen in dem die Bilder beider Ablesestellen dem optischen eine gemeinsame Bildebene derart, daß diese sich System derart zugeführt sind, daß sich diese vor dem an einer Trennkante gegenüberstehen, aus einer System bei Drehung des Kreises gegenläufig bewegen, im Abbildungsstrahlengang des Systems angeord- io Zur Verbesserung solcher bekannten Mikrometer neten Vorrichtung zur meßbaren und gegenläufi- wird der Erfindung entsprechend vorgeschlagen, daß gen Verschiebung beider Teilstrichbilder an der die Vorrichtung zur Verschiebung der Teilstrichbil-Trennkante und einem im Abbildungsstrahlen- der aus zwei im Abbildungsstrahlengang des optigang des Systems angeordneten optischen EIe- sehen Systems hintereinander angeordneten optischen ment zur Seitenvertauschung des Abbildungs- 15 Elementen gebildet ist, von denen das eine den Abstrahlenbüschels, bei dem die Bilder beider Able- bildungsstrahlengang der Bilder beider Ablesestellen sestellen dem optischen System derart zugeführt und das andere den Abbildungsstrahlengang nur sind, daß sich diese vor dem System bei Drehung einer Ablesestelle im Sinn der gleichsinnigen Bildverdes Kreises gegenläufig bewegen, dadurch ge- Schiebung beeinflußt und dadurch, daß das vorgesekennzeichnet, daß die Vorrichtung(1,4,7, 20 hene seitenvertauschende Element im Abbildungs-8, 9) zur Verschiebung der Teilstrichbilder aus strahlengang beider Bilder zwischen den Elementen zwei im Abbildungsstrahlengang des Systems (16) angeordnet ist.

hintereinander angeordneten optischen Elemen- Durch diese Ausbildung wird es ermöglicht, das

ten (8, 9) besteht, von denen das eine (8) den Ab- optische Mikrometer getriebefrei auszubilden, d. h., bildungsstrahlengang der Bilder beider Ablese- 25 die Mittel zur gegenläufigen Verschiebung der dem stellen (I, II) und das andere (9) den Abbildungs- optischen System zugeführten Bilder der beiden Abstrahlengang nur einer Ablesestelle (11) im Sinne lesestellen können starr miteinander gekuppelt sein, der gleichsinnigen Bildverschiebung beeinflußt, wodurch gewisse Meßfehler, die durch Abnutzungsund dadurch, daß das seitenvertauschende EIe- erscheinungen auftreten, vermieden sind. Auch ist es ment (15) im Abbildungsstrahlengang beider BiI- 30 möglich, den Abbildungsstrahlengang beider Ableseder zwischen den Elementen angeordnet ist. stellen bis relativ weit vor die gemeinsame Bildebene

2. Optisches Mikrometer nach Anspruch 1, da- zusammenzuführen und beide Strahlengänge erst undurch gekennzeichnet, daß zur Strahlversetzung mittelbar vor dieser Bildebene zu trennen. Auch diese zwei gemeinsam verschwenkte, im Strahlengang Maßnahme erhöht die Meßsicherheit, hintereinander angeordnete Planparallelplatten (8 35 Eine besonders einfache Anordnung erhält man, und 9) vorgesehen sind, zwischen denen ein drei- wenn die Strahlversetzung durch im Strahlengang fach spiegelndes Abbe-Prisma (15) angeordnet ist, verschwenkbare optische Elemente, etwa Planparalwobei die der Kreisteilung zugewandte Planplatte lelplatten,' die starr mit einer Mikrometerteilung ver-(8) und das Abbe-Prisma (15) von beiden Abbil- bunden sein können, erfolgt.

dungsstrahlengängen, die der Bildtrennvorrich- 40 Weiter ist es vorteilhaft, die Koinzidenzbildung der tung zugewandte Planplatte (9) nur von einem der Teilstriche in der Mitte ihres ursprünglichen Abstan-Abbildungsstrahlengänge durchsetzt ist. des herbeizuführen. Das kann dadurch erfolgen, daß

3. Optisches Mikrometer nach Anspruch 2, da- das nur von einem der Abbildungsstrahlengänge durch gekennzeichnet, daß die der Bildtrennvor- durchlaufende optische Element eine doppelt so richtung zugewandte Planplatte (9) die doppelte 45 große strahlversetzende Wirkung hat, wie das andere Stärke der der Kreisteilung zugewandten Plan- optische Element. Bei der Verwendung von verplatte (8) hat. schwenkbaren Planparallelplatten zur Strahlverset-

4. Optisches Mikrometer nach Anspruch 2 zung ist das dadurch erreichbar, daß die eine Platte oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die ver- die doppelte Stärke der anderen hat. schwenkbaren Planplatten (8, 9) starr mit einer 5° Die Erfindung soll an Hand der F i g. 1 und 2, die Mikrometerteilung (10) verbunden sind. ein Ausführungsbeispiel zeigen, erläutert werden.

5. Optisches Mikrometer nach einem der An- F i g. 1 zeigt ein Mikrometer für ein Winkelmeßinsprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß in strument; in

dem nur eine verschwenkbare Planplatte durch- F i g. 2 ist schematisch der Strahlengang dieses Mi-

setzenden Abbildungsstrahlengang eine festste- 55 krometers angedeutet.

hende Planplatte (14) zum optischen Wegaus- In F i g. 1 ist mit 1 das mit einem nicht dargestellgleich angeordnet ist. ten Winkelmeßinstrument fest verbundene Gestell

eines Mikrometers bezeichnet, an dem ein um die Achse 4 verschwenkbar gelagertes Teil 3 angeordnet

60 ist. Dieses ist über einen Zahnkranz 5 und ein -Ritzel 6 durch Verdrehen des Triebknopfes 7 gegen das Gestell 1 verdrehbar. Am Gestell 1 sind ein Objektiv

Die Erfindung bezieht sich auf ein optisches Mi- 16, ein dreifach spiegelndes Abbe-Prisma 15, eine krometer zur Interpolation einer Kreisteilung, beste- Planplatte 14, eine aus den Prismen 11 und 12 bestehend aus einem optischen System zur Abbildung der 65 hende Bildtrennvorrichtung sowie eine Maskenplatte Teilstriche zweier um 180° gegeneinander versetzter 13 angebracht. Das verschwenkbare Teil 3 trägt Ablesestellen in eine gemeinsame Bildebene derart, 2 Planplatten 8 und 9 sowie eine mit einer Skala verdaß diese sich an einer Trennkante gegenüberstehen, sehene Platte 10. Mit I und II sind die Hauptstrahlen,