DE112006000862B4 - Induktor - Google Patents

Induktor Download PDF

Info

Publication number
DE112006000862B4
DE112006000862B4 DE112006000862T DE112006000862T DE112006000862B4 DE 112006000862 B4 DE112006000862 B4 DE 112006000862B4 DE 112006000862 T DE112006000862 T DE 112006000862T DE 112006000862 T DE112006000862 T DE 112006000862T DE 112006000862 B4 DE112006000862 B4 DE 112006000862B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
dielectric layer
circuit board
region
coupled
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE112006000862T
Other languages
English (en)
Other versions
DE112006000862T5 (de
Inventor
Chung-Chi Seattle Huang
Richard Woodinville Kunze
Beom-Taek Mountain View Lee
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Intel Corp
Original Assignee
Intel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Intel Corp filed Critical Intel Corp
Publication of DE112006000862T5 publication Critical patent/DE112006000862T5/de
Application granted granted Critical
Publication of DE112006000862B4 publication Critical patent/DE112006000862B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0213Electrical arrangements not otherwise provided for
    • H05K1/0216Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
    • H05K1/0228Compensation of cross-talk by a mutually correlated lay-out of printed circuit traces, e.g. for compensation of cross-talk in mounted connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/645Inductive arrangements
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0213Electrical arrangements not otherwise provided for
    • H05K1/0216Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
    • H05K1/023Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference using auxiliary mounted passive components or auxiliary substances
    • H05K1/0233Filters, inductors or a magnetic substance
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/16Printed circuits incorporating printed electric components, e.g. printed resistor, capacitor, inductor
    • H05K1/165Printed circuits incorporating printed electric components, e.g. printed resistor, capacitor, inductor incorporating printed inductors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49822Multilayer substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/07Electric details
    • H05K2201/0776Resistance and impedance
    • H05K2201/0792Means against parasitic impedance; Means against eddy currents
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09209Shape and layout details of conductors
    • H05K2201/09372Pads and lands
    • H05K2201/0949Pad close to a hole, not surrounding the hole
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10007Types of components
    • H05K2201/1003Non-printed inductor
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10227Other objects, e.g. metallic pieces
    • H05K2201/10325Sockets, i.e. female type connectors comprising metallic connector elements integrated in, or bonded to a common dielectric support
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10621Components characterised by their electrical contacts
    • H05K2201/10734Ball grid array [BGA]; Bump grid array

Landscapes

  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)
  • Networks Using Active Elements (AREA)
  • Filters And Equalizers (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Coils Or Transformers For Communication (AREA)

Abstract

Vorrichtung, die aufweist:
eine ausgewählte Komponente aus der Gruppe bestehend aus einer Schaltkarte und einer Baugruppe;
eine dielektrische Schicht, die in der ausgewählten Komponente angeordnet ist;
einen Durchgangskontakt (206), der die dielektrische Schicht schneidet, wobei der Durchgangskontakt (206) so angeordnet ist, dass er ein elektronisches Signal überträgt; und
eine Spur (210), die in der dielektrischen Schicht angeordnet und mit dem Durchgangskontakt (206) gekoppelt ist, wobei die Spur (210) einen ersten Bereich (212) und einen zweiten Bereich (214) aufweist, um eine Induktivität zur Verfügung zu stellen, die einer Kapazität entgegenwirkt, welche während einer Übertragung des elektronischen Signals auftritt, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Bereich (212) mit dem Durchgangskontakt gekoppelt ist und der zweite Bereich (214) eine Sichelform mit einem ersten Ende und einem zweiten Ende hat, wobei das erste Ende mit dem ersten Bereich (212) gekoppelt ist und das zweite Ende ein totes Ende ist.

Description

  • TECHNISCHES GEBIET UND HINTERGRUND
  • Die vorliegende Offenbarung betrifft im allgemeinen das Gebiet der Elektronik und genauer, jedoch nicht ausschließlich, das Kompensieren einer übermäßigen Kapazität in einer Schaltkarte oder Baugruppe.
  • Es ist allgemein erkannt worden, daß Kommunikationskanäle einer Plattform mit Multigigabits pro Sekunde aufgrund verschiedener Effekte, die zu der gesamten Qualität der Übertragungsleitung der physikalischen Implementierung des Kanals (d. h. gedruckte Schaltkarte (PCB) und Baugruppenverdrahtung, Verbinder, Chip-Fassungen usw.) in bezug stehen, in der Güte beschränkt sein können. Vor allem wichtig sind Faktoren, so wie Leiter- und Dielektrikumsverluste, Fehlanpassungen der Impedanz und Anschlußeffekte. Verfahren, über Anschlüsse und die große Kapazität, die sie erzeugen können, einzuwirken, haben sich auf ihr Beseitigen oder Vermeiden konzentriert, nämlich bei einer PCB über Bohren von der Rückseite her oder den Einsatz sequentieller Laminier-PCB-Prozesse, die blinde oder eingebettete Durchkontaktierungen erzeugen. Beide Ansätze jedoch sind teuer zu implementieren.
  • Die US 6 711 814 B2 zeigt in ihrer 14 eine Vorrichtung mit einer Schaltkarte, einer dielektrischen Schicht und einem Durchgangskontakt, der die dielektrische Schicht schneidet, wobei der Durchgangskontakt so angeordnet ist, dass er ein elektronisches Signal überträgt. In der dielektrischen Schicht ist eine Spur angeordnet, die mit dem Durchgangskontakt gekoppelt ist, wobei die Spur eine spulenartige Struktur bildet, um eine Induktivität zur Verfügung zu stellen, die einer Kapazität entgegenwirkt, welche während einer Übertragung des elektronischen Signals auftritt.
  • Die DE 101 44 464 A1 zeigt eine Schaltung mit einer Induktionsspule, welche eine Anzahl konzentrischer Wicklungen aufweist. Die US 2002/0186114 A1 zeigt gleichermaßen einen ebenen Induktor, der zu einer Spirale gewickelt ist.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die vorliegende Erfindung wird mittels beispielhafter Ausführungsformen, die jedoch keine Beschränkungen sind, beschrieben, welche in den beigefügten Zeichnungen veranschaulicht sind, in denen gleiche Bezugszeichen ähnliche Elemente bezeichnen und wobei:
  • 1 eine vereinfachte Seitenansicht zweier beispielhafter verbundener Schaltkarten des Standes der Technik veranschaulicht;
  • 2A und 2B vergrößerte Teilansichten an einem Rückwand-Verbinder auf einer der beispielhaften Schaltkarten des Standes der Technik nach 1 veranschaulichen;
  • 3A und 3B vergrößerte Teilansichten der Schaltkarte entsprechend den 2A und 2B, die die Erfindung veranschaulichen;
  • 4A4C verschiedene Ansichten eines Speicherkarten-Verbinders auf einer Schaltkarte nach dem Stand der Technik veranschaulichen;
  • 5A5C verschiedene Ansichten eines Schaltkarten-Verbinders auf den Schaltkarten der 4A4C gemäß einer Ausführungsform veranschaulichen;
  • 6A und 6B vereinfachte Teilansichten einer Kontaktflächen-Rasterfeld(LGA – Land Grid Array)-Baugruppe 600 nach dem Stand der Technik veranschaulichen;
  • 7A und 7B vereinfachte Ansichten der LGA-Baugruppe der 6A und 6B gemäß einer Ausführungsform veranschaulichen; und
  • 8 ein System gemäß einer Ausführungsform veranschaulicht.
  • GENAUE BESCHREIBUNG VERANSCHAULICHENDER AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung umfassen, sind jedoch nicht beschränkt auf eine Komponente mit einem Induktor, der dazu ausgelegt ist, eine Induktivität zur Verfügung zu stellen, um wenigstens teilweise eine Kapazität in einer Schaltung einer Komponente zu kompensieren.
  • Verschiedene Aspekte der veranschaulichenden Ausführungsformen werden beschrieben, indem Ausdrücke verwendet werden, die üblicherweise von den Fachleuten benutzt werden, um das Wesen ihrer Arbeit anderen Fachleuten zu vermitteln. Es wird jedoch den Fachleuten deutlich, daß Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung mit nur einigen der beschriebenen Aspekte in die Praxis umgesetzt werden kann. Zum Zwecke der Erläuterung sind bestimmte Zahlen, Materialien und Ausgestaltungen aufgeführt, um für ein gründliches Verständnis der veranschaulichenden Ausführungsformen zu sorgen. Es wird jedoch einem Fachmann deutlich, daß Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung ohne diese bestimmten Einzelheiten in die Praxis umgesetzt werden können. In anderen Fällen sind wohlbekannte Merkmale weggelassen oder vereinfacht, um die veranschaulichenden Ausführungsformen nicht zu verschleiern.
  • Verschiedene Arbeitsgänge werden als mehrere einzelne Arbeitsgänge beschrieben, wiederum in einer Weise, die am hilfsreichsten beim Verstehen von Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung ist, jedoch sollte die Reihenfolge der Beschreibung nicht so betrachtet werden, als ob sie implizieren würde, daß diese Arbeitsgänge notwendigerweise von der Reihenfolge abhängig sind. Insbesondere brauchen diese Arbeitsgänge nicht in der Reihenfolge der Darstellung ausgeführt zu werden.
  • Die Formulierung „bei einer Ausführungsform” wird wiederholt benutzt. Die Formulierung bezieht sich im allgemeinen nicht auf dieselbe Ausführungsform, sie kann es jedoch. Die Ausdrücke „aufweisen”, „haben” und „umfassen” sind Synonyme, solange der Kontext es nicht anders diktiert.
  • Aus Gründen der Einfachheit und Deutlichkeit der Erläuterung sind verschiedene Ausführungsformen der Erfindung in den Figuren mit verschiedenen Ansichten gezeigt. Es wird verstanden, daß solche Ansichten lediglich veranschaulichend sind und nicht notwendigerweise maßstabsgetreu oder in der exakten Form gezeichnet sind. Weiterhin soll verstanden werden, daß die tatsächlichen Vorrichtungen, welche die Grundsätze von Ausführungsformen der Erfindung verwenden, in Form, Größe, Aufbau, Umriß und dergleichen variieren können, anders, als es in den Zeichnungen gezeigt ist, aufgrund unterschiedlicher Herstellungsprozesse, Gerät, Gestaltungstoleranzen oder anderen praktischen Betrachtungen, die zu Variationen von einem Halbleiterbauteil zu einem anderen führen können.
  • 1 zeigt eine vereinfachte Seitenansicht zweier Schaltkarten des Standes der Technik, die mit einem Rückwandplatinen-Verbinder verbunden sind. In 1 ist eine Rückwandplatine oder eine erste Schaltkarte 100 an einem Rückwandplatinen-Verbinder 103 mit einer zweiten Schaltkarte 105 verbunden. Die Schaltkarte 100 umfaßt eine Vielzahl dielektrischer oder Signalschichten, die innerhalb der Schaltkarte 100 angeordnet sind, wobei jede der Vielzahl mit jeder einer Vielzahl von Referenz- oder Masseebenen abwechselt. Es sei angemerkt, daß wenigstens eine Übertragungsleitung oder -spur 110 in einer der Vielzahl der Signalschichten angeordnet ist. Vergrößerte Ansichten, die einem Bereich 107 der 1 entsprechen, sind in den 2A und 2B gezeigt.
  • 2A zeigt eine Seitenansicht eines Teiles der Schaltkarte 100 am Rückwandplatinen-Verbinder 103 der 1. Wie oben angesprochen umfaßt die Schaltkarte 100 eine oder mehrere Signalschichten 202, die mit einer oder mehreren Masseschichten 204 abwechseln. Ein Paar Signaldurchgangskontakte oder Durchgangskontakte 206 ist mit einem Paar Spuren 210 verbunden und schneidet die Signalschichten 202 und die Masseebenen 204. An einem Anschlußende jedes der Durchgangskontakte 206 befindet sich eine Anschlußfläche 211 für den Durchgangskontakt. Ein oder mehrere Massestifte 208 befinden sich benachbart den Durchgangskontakten 206. Eine Ansicht des Teiles der Schaltkarte 100 von oben nach unten ist in 2B gezeigt, bei der ein Paar Durchgangskontakte 206, Anschlußflächen 211 für die Durchgangskontakte und ein Paar Spuren 210 von einem Freiraum oder einer Anti-Anschlußfläche 214 und der Massenebene 204 umgeben sind.
  • Gemäß einer Ausführungsform der Erfindung veranschaulichen die 3A und 3B eine Schaltkarte, die ein Paar Induktoren 216 umfaßt, wobei jeder des Paares mit jeder eines Paares jeweiliger Spuren 210 gekoppelt ist, die in einer Signalschicht 202 angeordnet sind. Wie es in der Ansicht von oben nach unten der 3B zu sehen ist, bildet der Induktor 216 wenigstens einen Teil einer Spule, die koplanar in der Signalschicht 202 liegt. Bei einer Ausführungsform kann der Induktor 216 durch die Spur 210 gebildet werden und kann so ausgelegt werden, daß er eine Induktivität zur Verfügung stellt, um wenigstens teilweise wenigstens einen Teil einer Kapazität zu kompensieren, die während der Übertragung eines Signals entlang der Spur 210 auftritt.
  • Wie es in der 3 veranschaulicht ist, kann jeder der Induktoren 216 einen ersten Bereich 212 und einen zweiten Bereich 214 aufweisen, wobei die ersten Bereichen 212 mit einem jeweiligen Durchgangskontakt 206 gekoppelt sind und die zweiten Bereiche Sichelformen haben, mit einem ersten Ende und einem zweiten Ende, wobei die ersten Enden jeweils mit den ersten Bereichen 212 gekoppelt sind und die zweiten Enden tote Enden sind. Wie es weiter in der 3B veranschaulicht ist, umgeben die sichelförmigen zweiten Bereiche 214 ihre jeweiligen Durchgangskontakte 206 teilweise und können halbkreisförmig sein, wobei die Öffnungen der halbkreisförmigen Induktoren 216 einander zugewandt sind.
  • Es sei angemerkt daß Z = √L/C, wobei Z, L und C Impedanz, Induktivität bzw. Kapazität darstellen. Demgemäß führt eine erhöhte oder übermäßige Kapazität zu einer verringerten Impedanz. Um im wesentlichen eine ins Ziel gefaßt Impedanz beizubehalten, kann der Induktor 216 eine Induktivität erhöhen, um die verringerte Impedanz in die Höhe zu treiben. Demgemäß kann bei einer Ausführungsform der Induktor 216 eine übermäßige Kapazität kompensieren, die wenigstens teilweise durch einen Durchgangskontakt 206 erzeugt worden ist.
  • Somit ist bei der Ausführungsform ein Paar Durchgangskontakte 206, das in einer dielektrischen oder Signalschicht gebildet ist, zusammen mit einem Paar Spuren 210 vorgesehen, die mit einem jeweiligen des Paares der Durchgangskontakte 206 gekoppelt sind. Bei der Ausführungsform kann jede des Paares der Spuren 210 gekoppelt werden, um jeweilige induktive Elemente oder Induktoren 216 benachbart jedem der Durchgangskontakte 206 zu bilden, wobei jedes der induktiven Elemente zum Vergrößern oder Erhöhen einer abgesenkten Impedanz in einer Schaltung an einer Anschlußstelle, die in der Schaltkarte enthalten ist, beiträgt. Bei einer Ausführungsform ist jede des Paares der Spuren 210 benachbart an einer Quelle übermäßiger Kapazität gekoppelt und kann entsprechend einer Größe der Kapazität an der Anschlußstelle abgestimmt werden.
  • Bei alternativen Ausführungsformen kann der Induktor 216 an anderen Orten in einer Schaltkarte und in verschiedenen anderen geeigneten Bauelementen verwendet werden, um einer übermäßigen Kapazität oder einer Diskontinuität in der Impedanz entgegen zu wirken oder sie zu kompensieren. Um dieses weiter zu veranschaulichen, zeigen die 4A4C mehrere Ansichten eines Teiles eines Speicherkartenverbinders des Standes der Technik auf einer Hauptplatine oder Schaltkarte 400. Wie es in der X-Y-Ansicht der 4A gezeigt ist, kann der Speicherkartenverbinder 401 Paare von Durchgangskontaktstiften oder Durchgangskontakten 406 benachbart zu einem oder mehreren Massestiften 408 umfassen. Wie veranschaulicht, schneiden die Durchgangskontakte 406 und die Massestifte 408 die Signalschichten 402 und die Masseebenen 404. Die Durchgangskontakte 406 sind so angeordnet, daß sie ein elektronisches Signal zu einer Speicherkarte durch eine Verbindung über eine Fassung in eine Richtung des Referenzpfeiles 409 übertragen.
  • Die 4B und 4C sind eine Z-Y- bzw. eine Z-X-Ansicht des Verbinders 401. Wie es in 4C zu sehen ist, sind eine oder mehrere Spuren 410 mit jedem der Durchgangskontakte 406 an einer jeweiligen Anschlußfläche 407 für den Durchgangskontakt gekoppelt.
  • Als nächstes veranschaulichen die 5A5C einen Verbinder 501 auf einer Schaltkarte 500. Wie gezeigt, ist bei der Ausführungsform eine Spur 410 mit einem Durchgangskontakt 406 gekoppelt und kann eine spulenartige Struktur oder einen Induktor 516 bilden, um für eine Induktivität zu sorgen, die einer Kapazität entgegenwirkt, welche während der Übertragung des elektronischen Signals auftritt. Wie bei der Ausführungsform gezeigt kann der Induktor 516 an die Durchgangskontakt-Anschlußfläche 407 des schneidenden Durchgangskontaktes 406 gekoppelt werden. Der Induktor 516 in seiner dargestellten Form ist von der Erfindung nicht umfasst.
  • Man bemerke, daß bei der Ausführungsform der Durchgangskontakt 406 die dielektrische oder Signalschicht 402 an einer Anti-Anschlußfläche oder Öffnung in der Signalschicht 402 schneidet und daß die spulenartige Struktur oder der Induktor 516 im wesentlichen in die Öffnung gesetzt werden kann. Man bemerke weiter, daß eine oder mehrere Masseebenen 404 auf einer oder mehreren Seiten der Signalschicht 402 angeordnet werden können, wobei die Massebenen 404 Öffnungen haben, welche vertikal zu oder im wesentlichen oberhalb oder neben dem Induktor 516 liegen. Bei einer Ausführungsform können die Öffnungen dabei helfen, eine Kapazität in der Schaltkarte 502 zu verringern. Man bemerke, daß bei der Ausführungsform der Verbinder 501 ein Verbinder für ein doppelreihiges Speichermodul (DIMM – Dual In Line Memory Module), ein einzelreihiges Speichermodul (SIMM – Single In Line Memory Module) oder ein anderes geeignetes Speichermodul oder eine Karte sein kann. Somit kann sich bei der Ausführungsform der Induktor 516 an einer Anschlußstelle befinden, so wie, jedoch nicht beschränkt auf, eine Fassung oder einen Verbinder auf der Schaltkarte 500.
  • Als eine weitere Ausführungsform kann der Induktor so ausgelegt werden, daß er eine überschüssige Kapazität in einer Baugruppe kompensiert, so wie einer Kontaktflächen-Rasterfeld(LGA)-Baugruppe. Um diese zu veranschaulichen sind freigelegte Teilansichten einer Unterseite einer LGA-Baugruppe 600 des Standes der Technik in den 6A und 6B gezeigt.
  • 6A zeigt eine vereinfachte perspektivische Ansicht der Baugruppe 600. Die Baugruppe 600 umfaßt eine Kontaktfläche oder einen Kontakt 609, die/der relativ groß in bezug zu einem Mikro-Durchgangskontakt oder Durchgangskontakt 606 ebenso wie anderen Komponenten der Baugruppe 600 sein kann. Somit kann der Kontakt 609 eine überschüssige Kapazität erzeugen, die die Übertragung eines elektrischen Signals in der Baugruppe 600 stören kann. Mit Bezug auf einer vergrößerte Seitenansicht, die in 6B gezeigt ist, ist innerhalb der Baugruppe 600 eine Vielzahl von Signalschichten angeordnet, wobei jede der Vielzahl mit jeder einer Vielzahl von Masseebenen abwechselt, wie es bei den Orten 602 bzw. 604 angegeben ist. Jeder einer Vielzahl von Durchgangskontakten 606 ist in jeder einer jeweiligen Signalschicht in einer gestuften Anordnung gebildet, wobei jeder Durchgangskontakt 606 mit einer oder mehreren Anschlußflächen 611 für einen Durchgangskontakt gekoppelt ist. Bei einer Betriebsweise kann ein elektrisches Signal von einer Übertragungsleitung oder Spur 610 zur Anschlußfläche 611 des Durchgangskontaktes und zum Durchgangskontakt 606 reisen, so daß es an einer unteren Kontaktfläche oder einem Kontakt 609 ankommt, an der/dem es die Baugruppe 600 verläßt.
  • Man beziehe sich nun auf die 7A und 7B, in denen eine Baugruppe 700 gemäß einer Ausführungsform gezeigt ist. In der perspektivischen Ansicht, die in 7A gezeigt ist, bildet bei der Ausführungsform ein Induktor 716 eine Spule oder eine spulenartige Struktur, die zu Signalschichten und Masseebenen der Baugruppe 700 koplanar liegt. Der Induktor 716 in seiner dargestellten Form ist von der Erfindung nicht umfasst. Bei der veranschaulichten Ausführungsform hat der Induktor 716 Anschlußenden 716a und 716b und ist abstimmbar, um eine Größe der Induktivität entsprechend einer Anzahl konzentrischer Wicklungen in dem Induktor, der koplanar in der Signalebene liegt, zu ändern. Man bemerke, daß bei der gezeigten Ausführungsform der Induktor 716 wenigstens drei konzentrische Wicklungen haben kann und mit Wicklungen, die entgegen dem Uhrzeigersinn verlaufen, gebildet ist. Bei alternativen Ausführungsformen kann der Induktor 716 verschiedene Formfaktoren haben und kann ebenso Wicklungen in der Richtung im Uhrzeigersinn haben.
  • 7B veranschaulicht, daß bei einer Ausführungsform die Anschlußenden des Induktors 716 mit jeweiligen Signal-Durchgangskontakten gekoppelt sein können. Genauer kann bei einer Ausführungsform ein erstes Anschlußende 716a des Induktors (siehe Explosionsansicht in 7A) mit einem ersten Durchgangskontakt 706a in einer ersten Signalschicht gekoppelt werden, während das zweite Anschlußende 716b mit einem zweiten Signal-Durchgangskontakt 706b gekoppelt werden kann, der in einer nächsten Signalschicht angeordnet ist. Somit kann für die Ausführungsform die Baugruppe 700 eine dielektrische Schicht und einen Durchgangskontakt, der die dielektrische Schicht schneidet, umfassen, wobei der Durchgangskontakt so angeordnet ist, daß er ein elektronisches Signal überträgt. Bei der Ausführungsform kann eine Spur 610 in der dielektrischen Schicht angeordnet sein und mit dem schneidenden Durchgangskontakt gekoppelt sein, wobei die Spur weiter mit einer spulenartigen Struktur oder einem Induktor 716 gekoppelt ist, um eine Induktivität zur Verfügung zu stellen, die einer Kapazität entgegenwirkt, welche während des Übertragens des elektronischen Signals auftritt.
  • Es sollte angemerkt werden, daß wegen des Vereinfachens des Verständnisses nur ein Paar Induktoren 716 in 7 gezeigt ist, bei alternativen Ausführungsformen kann die Baugruppe 700 zusätzliche Induktoren 716 umfassen.
  • Bei verschiedenen Ausführungsformen kann die Baugruppe 700 eine Baugruppe sein, die sich von einer LGA-Baugruppe unterscheidet, so wie eine Kugel-Rasterfeld(BGA – Ball-Grid Array)- oder eine Kontaktstift-Rasterfeld(PGA – Pin-Grid Array)-Baugruppe.
  • Schließlich veranschaulicht 8 ein System 800 gemäß einer Ausführungsform. Wie veranschaulicht, umfaßt bei der Ausführungsform das System 800 einen Prozessor 802, einen Speicher 804, ein Plattenlaufwerk 806 und eine Schaltkarte 801, die einen Peripherie-Steuerschnittstellen(PCI – Peripheral Control Interface)-Bus oder einen seriellen, differentiellen Hochgeschwindigkeits(HSD – High Speed Differential)-Bus 808 umfaßt, um den Prozessor 802, den Speicher 804 und das Plattenlaufwerk 806 miteinander zu koppeln. Bei der Ausführungsform kann die Schaltkarte 801 eine Signal- oder eine dielektrische Schicht umfassen, so wie die dielektrischen Schichten, die in den 17 gezeigt sind. Weiterhin kann bei der Ausführungsform der PCI-Bus 808 eine Vielzahl von Spuren umfassen, die in der dielektrischen Schicht angeordnet sind, wobei wenigstens eine aus der Vielzahl der Spuren jeweils wenigstens einen Teil einer Spule oder einer Spirale bildet, um dazu beizutragen, eine Induktivität zu erhalten die eine Kapazität in der Schaltkarte 801 kompensiert. Bei einer Ausführungsform kann wenigstens ein Teil der Spirale mit einem Rückwandplatinen-Verbinder oder einem Speichergerätverbinder auf der Schaltkarte 801 gekoppelt sein. Bei einer Ausführungsform kann ein solcher Speichergerätverbinder einen DIMM-Kartenverbinder aufweisen.
  • Zusätzlich, während wegen der Einfachheit des Verständnisses der Prozessor 802, der Speicher 804 und das Plattenlaufwerk 806 so gezeigt sind, daß sie mit einem ”einfachen” PCI-Bus 808 gekoppelt sind, kann in der Praxis der PCI-Bus 808 mehrere Bus ”segmente” aufweisen, die z. B. durch eine PCI-Bus-Brücke überbrückt sind.
  • Bei verschiedenen Ausführungsformen kann das System 800 ein Server sein, ein Desktopcomputer, ein Laptopcomputer, ein Tischcomputer, eine handflächengroße Rechenvorrichtung, eine Settop-Box, eine digitale Kamera, eine Einheit zum Bereitstellen eines Mediums oder ein CD/DVD-Abspielgerät.
  • Somit kann aus den obigen Beschreibungen gesehen werden, daß eine neue Komponente mit einem Induktor, der dazu ausgelegt ist, eine abgesenkte Impedanz zu erhöhen, indem eine Induktivität zur Verfügung gestellt wird, die wenigstens teilweise eine Kapazität in einer Schaltung der Komponente kompensiert.

Claims (8)

  1. Vorrichtung, die aufweist: eine ausgewählte Komponente aus der Gruppe bestehend aus einer Schaltkarte und einer Baugruppe; eine dielektrische Schicht, die in der ausgewählten Komponente angeordnet ist; einen Durchgangskontakt (206), der die dielektrische Schicht schneidet, wobei der Durchgangskontakt (206) so angeordnet ist, dass er ein elektronisches Signal überträgt; und eine Spur (210), die in der dielektrischen Schicht angeordnet und mit dem Durchgangskontakt (206) gekoppelt ist, wobei die Spur (210) einen ersten Bereich (212) und einen zweiten Bereich (214) aufweist, um eine Induktivität zur Verfügung zu stellen, die einer Kapazität entgegenwirkt, welche während einer Übertragung des elektronischen Signals auftritt, dadurch gekennzeichnet, dass der erste Bereich (212) mit dem Durchgangskontakt gekoppelt ist und der zweite Bereich (214) eine Sichelform mit einem ersten Ende und einem zweiten Ende hat, wobei das erste Ende mit dem ersten Bereich (212) gekoppelt ist und das zweite Ende ein totes Ende ist.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der der Durchgangskontakt (206) die dielektrische Schicht in einer Öffnung in der dielektrischen Schicht schneidet und die Spur (210) im wesentlichen in der Öffnung in der dielektrischen Schicht angeordnet ist.
  3. Vorrichtung nach Anspruch 2, weiter mit einer oder mehreren Masseebenen, die auf einer oder mehreren Seiten der dielektrischen Schicht angeordnet sind, wobei die Masseebenen Öffnungen haben, die im wesentlichen oberhalb oder unterhalb der Spur (210) liegen.
  4. Vorrichtung nach Anspruch 1, weiter mit einer Anschlussfläche (211) für den Durchgangskontakt an dem Durchgangskontakt (206), die mit der Spur (210) gekoppelt ist.
  5. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die ausgewählte Komponente eine Schaltkarte umfasst und der Induktor sich an einer Anschlussstelle auf der Schaltkarte befindet.
  6. Vorrichtung nach Anspruch 5, bei dem die Anschlussstelle eine Fassung oder einen Verbinder aufweist.
  7. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der der zweite Bereich (214) den Durchgangskontakt (206) teilweise umgibt.
  8. Vorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Sichelform ein Halbkreis ist.
DE112006000862T 2005-04-11 2006-04-11 Induktor Expired - Fee Related DE112006000862B4 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/105,141 US7474539B2 (en) 2005-04-11 2005-04-11 Inductor
US11/105,141 2005-04-11
PCT/US2006/013834 WO2006110868A2 (en) 2005-04-11 2006-04-11 Inductor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE112006000862T5 DE112006000862T5 (de) 2008-04-10
DE112006000862B4 true DE112006000862B4 (de) 2011-06-09

Family

ID=37037011

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE112006000862T Expired - Fee Related DE112006000862B4 (de) 2005-04-11 2006-04-11 Induktor

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7474539B2 (de)
CN (1) CN101180924B (de)
DE (1) DE112006000862B4 (de)
TW (1) TWI319606B (de)
WO (1) WO2006110868A2 (de)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7692467B2 (en) * 2007-02-03 2010-04-06 Advanced Micro Devices, Inc. Capacitance for decoupling intermediate level power rails
WO2008097911A1 (en) * 2007-02-05 2008-08-14 Rambus Inc. Semiconductor package with embedded spiral inductor
US7956713B2 (en) * 2007-09-25 2011-06-07 Intel Corporation Forming a helical inductor
US20100237462A1 (en) * 2009-03-18 2010-09-23 Benjamin Beker Package Level Tuning Techniques for Propagation Channels of High-Speed Signals
US20120243193A1 (en) * 2009-04-29 2012-09-27 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Motherboard interconnection device and motherboard interconnection method
EP2290687A1 (de) * 2009-08-27 2011-03-02 Nxp B.V. Entwurf von verpackten Integralschaltungen zur Reduktion der Impedanzdiskontinuitäten
US8365399B2 (en) * 2009-12-03 2013-02-05 International Business Machines Corporation Method of connecting components to a printed circuit board
US9198280B2 (en) * 2011-09-07 2015-11-24 Samtec, Inc. Via structure for transmitting differential signals
US10008316B2 (en) * 2014-03-28 2018-06-26 Qualcomm Incorporated Inductor embedded in a package substrate
CN104143547B (zh) * 2014-07-25 2016-08-24 西安交通大学 一种并联电容中间布局的低寄生电感GaN 功率集成模块
US9576718B2 (en) * 2015-06-22 2017-02-21 Qualcomm Incorporated Inductor structure in a semiconductor device
US9548551B1 (en) * 2015-08-24 2017-01-17 International Business Machines Corporation DIMM connector region vias and routing
WO2017116832A1 (en) * 2015-12-31 2017-07-06 Intel Corporation Micro coil apparatus for inductive compensation in packages and pcb for assemblies with blind and buried vias
US10727892B2 (en) * 2017-08-03 2020-07-28 Nxp Usa, Inc. Interface circuit
US10021784B1 (en) * 2017-12-19 2018-07-10 Powertech Technology Inc. Electronic device and electronic circuit board thereof
CN111695319A (zh) * 2020-06-05 2020-09-22 苏州浪潮智能科技有限公司 一种实时补偿连接器串联回路电感的方法和设备
US11778731B2 (en) * 2021-10-18 2023-10-03 Raytheon Company Systems and methods for break out of interconnections for high-density integrated circuit packages on a multi-layer printed circuit board

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020186114A1 (en) * 1999-02-26 2002-12-12 Memscap Inductor for integrated circuit
DE10144464A1 (de) * 2001-09-10 2003-04-10 Infineon Technologies Ag Elektronische Bauteil mit Induktionsspule für Hochfrequenzanwendungen und Verfahren zur Herstellung desselben
US6711814B2 (en) * 2000-06-19 2004-03-30 Robinson Nugent, Inc. Method of making printed circuit board having inductive vias

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US22110A (en) * 1858-11-23 Jonathan dillon
EP0807941A3 (de) * 1994-08-24 1998-02-25 Yokogawa Electric Corporation Gedruckte Spule
US5990776A (en) 1994-12-08 1999-11-23 Jitaru; Ionel Low noise full integrated multilayers magnetic for power converters
JP2990652B2 (ja) * 1996-03-22 1999-12-13 株式会社村田製作所 積層型バルントランス
US6175727B1 (en) * 1998-01-09 2001-01-16 Texas Instruments Israel Ltd. Suspended printed inductor and LC-type filter constructed therefrom
JP2000223905A (ja) * 1999-02-02 2000-08-11 Toko Inc 電子装置
US6198374B1 (en) * 1999-04-01 2001-03-06 Midcom, Inc. Multi-layer transformer apparatus and method
US6304232B1 (en) * 2000-02-24 2001-10-16 The Goodyear Tire & Rubber Company Circuit module
DE60206309T2 (de) 2001-02-27 2006-06-29 NGK Spark Plug Co., Ltd., Nagoya Hochfrequenzleiterplatte und diese verwendendes Hochfrequenz-Antennenschaltmodul
DE10139707A1 (de) * 2001-08-11 2003-02-20 Philips Corp Intellectual Pty Leiterplatte
JP4211591B2 (ja) * 2003-12-05 2009-01-21 株式会社村田製作所 積層型電子部品の製造方法および積層型電子部品

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020186114A1 (en) * 1999-02-26 2002-12-12 Memscap Inductor for integrated circuit
US6711814B2 (en) * 2000-06-19 2004-03-30 Robinson Nugent, Inc. Method of making printed circuit board having inductive vias
DE10144464A1 (de) * 2001-09-10 2003-04-10 Infineon Technologies Ag Elektronische Bauteil mit Induktionsspule für Hochfrequenzanwendungen und Verfahren zur Herstellung desselben

Also Published As

Publication number Publication date
TWI319606B (en) 2010-01-11
US7474539B2 (en) 2009-01-06
TW200707602A (en) 2007-02-16
US20060227522A1 (en) 2006-10-12
CN101180924B (zh) 2011-09-21
CN101180924A (zh) 2008-05-14
DE112006000862T5 (de) 2008-04-10
WO2006110868A2 (en) 2006-10-19
WO2006110868A3 (en) 2007-01-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE112006000862B4 (de) Induktor
DE10240730B4 (de) Leiterplatte, Speichermodul und Herstellungsverfahren
DE112005001686B4 (de) Reduzieren von Lastleitungsimpedanz in einem System
DE112009002197T5 (de) Eingabe/Ausgabe-Architektur für montierte Prozessoren und Verfahren zur Verwendung derselben
DE102005060081B4 (de) Elektronisches Bauteil mit zumindest einer Leiterplatte und mit einer Mehrzahl gleichartiger Halbleiterbausteine und Verfahren
DE202017001424U1 (de) Oberflächenmontierte Verbindung starrer und flexibler gedruckter Leiterplatten
DE112005002368T5 (de) Eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Verbessern der Signalebenenübergänge bei gedruckten Schaltkarten
DE112011101471T5 (de) Leiterplatte mit durch leitfähige Durchkontaktierungen verbundenen Schichten
DE112010005092T5 (de) Leiterplatte
DE19915702A1 (de) Montagestruktur für gedruckte Leiterplatten
DE112013003928T5 (de) Elektrischer Verbinder und leitfähige Anschlussbaugruppe damit
DE112004000300B4 (de) Vorrichtungen, Systeme und Verfahren zur Stromzufuhr
DE112019000902T5 (de) Gehäuse für skalierbare phased-array-antennen
DE112005002373T5 (de) Geteilter Dünnschichtkondensator für mehrere Spannungen
DE10245055A1 (de) Verfahren, Speichersystem und Speichermodulkarte zum Verhindern lokaler Dekoordination von Impedanz in der Umgebung von Speicherchips auf dem Speichermodul
DE112006003502T5 (de) Hochgeschwindigkeitszwischenverbindung
DE112016000586B4 (de) Schaltungsanordnung
DE102006050882A1 (de) Platine, insbesondere für ein Speichermodul, Speichermodul, Speichermodul-System, und Verfahren zur Herstellung einer Platine, insbesondere für ein Speichermodul
DE102016213044B4 (de) Durchkontaktierungsstruktur zur Verringerung des Übersprechens zwischen differenziellen Signalpaaren, integrierte Schaltungsschicht, integriertes Schaltungssystem und Verfahren zu deren Herstellung
DE102007006191A1 (de) Speichermodulvorrichtung
DE102022108445A1 (de) Lösung einer Zweipfad-Hochgeschwindigkeitsverbindungsleiterplattenanordnung
DE102004037826B4 (de) Halbleitervorrichtung mit miteinander verbundenen Halbleiterbauelementen
DE2415047C3 (de)
EP1075027A2 (de) Kontaktierung von Metalleiterbahnen eines integrierten Halbleiterchips
DE102005059189B3 (de) Anordnung von Halbleiterspeichereinrichtungen sowie Halbleiterspeichermodul mit einer Anordnung von Halbleiterspeichereinrichtungen

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R020 Patent grant now final

Effective date: 20110910

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee