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Die Erfindung betrifft eine Lichtquelle
zur Beleuchtung mikroskopischer Objekte.
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Ferner betrifft die Erfindung ein
Scanmikroskopsystem. Im Besonderen betrifft die Erfindung ein Scanmikroskopsystem
mit einer Strahlablenkeinrichtung zur Führung eines Beleuchtungslichtstrahles über eine
Probe, einer Mikroskopoptik und einem Detektor.
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Im Bereich der STED-Mikroskopie (siehe hierzu
DE 44 16 558 C1 und
DE 100 63 276 A1 )
werden üblicherweise
zwei Laser eingesetzt, nämlich
einer zum Anregen eines Probenbereichs und ein weiterer zur Erzeugung
der stimulierten Emission. Insbesondere zur Erzeugung der stimulierten
Emission sind hohe Lichtleistungen und gleichzeitig eine möglichst
flexible Wellenlängenauswahl
erforderlich. Hierzu werden oft optisch parametrische Oszillatoren (OPO)
eingesetzt. Für
eine effiziente Frequenzkonvertierung ist es sinnvoll, einen OPO
mit einem leistungsstarken Laser optisch zu pumpen. Diese sind meist
modenverkoppelte Pulslaser die in der Regel sehr teuer sind. Hinzu
kommen die Kosten für
die Anregungslichtquelle, die im Normalfall auch aus einem modenverkoppelte
Pulslaser besteht. Alle Laser müssen
ferner exakt justiert werden, um die einzelnen Probenbereiche exakt
zu treffen. Im Falle der gepulsten Anregung muss darauf geachtet
werden, dass die die stimulierte Emission erzeugenden Lichtimpulse
innerhalb eines bestimmten Zeitraumes, der von der Lebensdauer der
angeregten Zustände
des Probenmaterials abhängt,
nach den Anregungslichtimpulsen eintreffen. Da die beiden Laserquellen
von einander unabhängig
sind, ist eine exakte Synchronisation der emittierten Laserimpulse erforderlich.
Eine Synchronisation der Pulslaser aufeinander wird üblicherweise
durch eine aktive Regelung erreicht. Diese ist aufwendig und funktioniert
oft unbefriedigend und instabil.
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Die deutsche Patentanmeldung
DE 100 56 382 offenbart
eine Lichtquelle zur Beleuchtung in der Scanmikroskopie und ein
Scanmikroskop. Die Lichtquelle und das Scanmikroskop beinhalten
eine elektromagnetische Energiequelle, die Licht einer Wellenlänge emittiert
und ein Mittel zum räumlichen
Aufteilen des Lichts in mindestens zwei Teillichtstrahlen. In mindestens
einem Teillichtstrahl ist ein Zwischenelement zur Wellenlängenveränderung
vorgesehen. Vorteil dieser Anordnung ist, dass die Lichtimpulse
in den beiden Teilstrahlen immer miteinander synchronisiert sind.
Nachteilig ist dagegen, dass man zwei Teillichtstrahlen erzeugen
muss, wodurch die Intensität
in jedem der Teilstrahlen reduziert ist. Da die Leistung der elektromagnetischen
Energiequelle, die z.B. ein Ti:Saphir-Laser sein kann, dabei aufgespalten wird,
steht oftmals nicht genug Leistung für die Anwendung zur Verfügung.
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Eine passive Synchronisation von
Pulszügen,
die von zwei verschiedenen Lasern kommen, ist z.B. in Opt. Lett.,
vol. 27, No. 6, p. 454, 2002 (W. Seitz et al.) offenbart. Hierin
ist ein Verfahren und eine Anordnung beschrieben, zwei völlig verschiedene
Laser, in dem konkreten Fall einen Ti:Saphir-Laser und einen Nd:YVO4-Laser, passiv miteinander zu synchronisieren,
indem die resonatorinternen Verluste eines Slave-Lases (hier des
Nd:YVO4-Lasers) durch einen Master-Laser
(hier Ti:Saphir-Laser) optisch moduliert werden. Verwendet wird
dazu ein nichtlinearer Fabry-Perot-Spiegel, der aus einem Halbleiter besteht,
dessen Energiebandkante zwischen den Photonenenergien der beiden
Laser liegt. Dieses Verfahren ist gegenüber anderen Synchronisationsverfahren
besonders einfach und praktikabel. Die Druckschrift gibt jedoch
keinen Hinweis, dass das System als Lichtquelle für mikroskopische
Untersuchungen eingesetzt werden kann.
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Der Erfindung liegt daher die Aufgabe
zugrunde, eine Lichtquelle zur Beleuchtung mikroskopischer Objekte
vorzuschlagen, bei der die Synchronisation der verwendeten Laser
auf einfache Weise möglich
ist.
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Diese Aufgabe wird gelöst durch
eine Lichtquelle zur Beleuchtung mikroskopische Objekte, die dadurch
gekennzeichnet ist, dass ein erster und ein zweiter Laser vorgesehen
sind, von denen jeder Licht in einen ersten Strahlengang und in
einen zweiten Strahlengang aussendet, dass ein optisches Vereinigungsmittel
im ersten und im zweiten Strahlengang eingebracht ist und dass eine
verschiebbare Umlenkeinheit zur Einstellung einer Weglängendifferenz zwischen
dem Licht des ersten und des zweiten Lasers vorgesehen ist.
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Eine weitere Aufgabe der Erfindung
ist es, ein Scanmikroskopsystem vorzuschlagen, das eine große Bandbreite
an Untersuchungsmöglichkeiten aufweist.
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Hinsichtlich eines Scanmikroskopsystems wird
die Aufgabe durch ein Scanmikroskop mit einer Strahlablenkeinrichtung
zur Führung
eines Beleuchtungslichtstrahles über
eine Probe, einer Mikroskopoptik und einem Detektor gelöst, das
dadurch gekennzeichnet ist, dass eine Lichtquelle vorgesehen ist,
die einen kombinierten Lichtstrahl emittiert, der von einem ersten
Laser und einem zweiten Laser emittiert ist, und dass im kombinierten
Lichtstrahl das Licht des ersten Lasers mit dem Licht des zweiten
Lasers synchronisiert ist.
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Die Erfindung hat den weiteren Vorteil,
dass zwei unterschiedliche Laser synchronisiert werden können. Dabei
ist eine Synchronisation nicht nur so zu verstehen, dass sich die
Pulse der zwei Laser zeitlich überlappen,
sondern auch so, dass die Pulse der Laser in einer bestimmten zeitlichen
Abfolge am Ort der Probe ankommen. Hinzu kommt, dass eine Messeinheit
zur Ermittlung der Kreuzkorrelation vorgesehen ist, die einen Teil
des Lichts des ersten Lasers und einen Teil des Lichts des dem zweiten
Laser empfängt.
Mit Hilfe einer Summenfrequenzmischung in einem nichtlinearen Kristall
wird die Kreuzkorrelation ermittelt, die zur Ermittlung eines Stellsignals
zur Einstellung der Synchronisation bzw. gezielten Verzögerung der
Laserpulse des ersten und/oder zweiten Lasers nutzbar ist. Eine
verschiebbare Umlenkeinheit ist zur Einstellung einer Weglängendifferenz zwischen
dem Licht des ersten und des zweiten Lasers vorgesehen. Das Ergebnis
dieser Verstellung kann mit der Messeinheit zur Ermittlung der Kreuzkorrelation überprüft werden.
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Besonders vorteilhaft ist die Verwendung
in einem Scanmikroskopsystem mit einer Strahlablenkeinrichtung zur
Führung
eines Beleuchtungslichtstrahles über
eine Probe. Eine Mikroskopoptik und mindestens ein Detektor sind
vorgesehnen. Ferner ist im Scanmikroskopsystem eine Lichtquelle
vorgesehen, die einen kombinierten Lichtstrahl emittiert, der von
einem ersten Laser und einem zweiten Laser emittiert ist, und dass
im kombinierten Lichtstrahl das Licht des ersten Lasers mit dem
Licht des zweiten Lasers synchronisiert ist.
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Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen
können
den Unteransprüchen
entnommen werden. In der Zeichnung ist der Erfindungsgegenstand
schematisch dargestellt und wird anhand der Figuren nachfolgend
beschrieben. Dabei zeigen:
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1 eine
Lichtquelle in Verbindung mit einem Scanmikroskop gemäß dem Stand
der Technik, und
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2 ein
erfindungsgemäßes Scanmikroskopsystem
mit einer Lichtquelle, die einfach zu synchronisieren ist.
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1 zeigt
ein Scanmikroskop in Verbindung mit einer Lichtquelle 1 gemäß dem Stand
der Technik. Als elektromagnetische Energiequelle 3 ist ein
einziger Pulslaser vorgesehen, der als Titan:Saphir-Laser ausgeführt ist.
Das Licht 17 des Pulslasers wird mit dem Mittel zum räumlichen
Aufteilen des Lichts, das als Strahlteiler 5 ausgeführt ist,
in einen ersten und zweiten Teillichtstrahl 19 und 21 aufgespalten.
Der Teillichtstrahl 21 gelangt über den Spiegel 7 zum
Zwischenelement 9, das als optisch parametrischer Oszillator
ausgeführt
ist. Der vom optisch parametrischen Oszillator 9 ausgehende
Teillichtstrahl 23 wird über den Spiegel 11 zum
dichroitischen Strahlvereiniger 13 geführt, um dort mit dem ersten Teillichtstrahl 19 zum
Beleuchtungslicht 15 vereinigt zu werden, das aus der Lichtquelle 1 austritt.
Die Spiegel 7 und 11 sind verkippbar gelagert,
so dass die relative Lage der Komponenten des Beleuchtungslichtes
zueinander eingestellt werden. Die Lichtquelle 1 ist an
ein Scanmikroskop angekoppelt. In der hier gezeigten Ausführung beinhaltet
die Lichtquelle 1 im Strahlengang des Teillichtstrahles 23 neben
einem optisch parametrischen Oszillator 9 ein Mittel zur
Beeinflussung der Fokusform 61, das als λ/2-Platte
ausgeführt
ist und nur vom mittleren Teil des Querschnitts des Teillichtstrahles 23 durchstrahlt wird.
Auch der Teillichtstrahl 19 gelangt zu einem optisch parametrischen
Oszillator 25. Der von dort ausgehende Teillichtstrahl
weist eine andere Wellenlänge
auf und ist mit 27 bezeichnet. Der Teillichtstrahl 23,
der die λ/2-Platte
passiert hat, wird zum dichroitischen Strahlvereiniger 13 geführt, um
dort mit dem Teillichtstrahl 27 zum Beleuchtungslicht 29 vereinigt zu
werden, das aus der Lichtquelle 1 austritt.
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Der Beleuchtungslicht 29 wird
von einem Strahlteiler 31 zur Strahlablenkeinrichtung 33 reflektiert,
das einen kardanisch aufgehängten
Scanspiegel 32 beinhaltet, der das Beleuchtungslicht 29 durch die
Scanoptik 35, die Tubusoptik 37 und durch die
Mikroskopoptik 39 hindurch über bzw. durch die Probe 41 führt. Das
Beleuchtungslicht 29 wird bei nicht transparenten Proben 41 über die
Probenoberfläche geführt. Bei
biologischen Proben 41 (Präparaten) oder transparenten
Proben kann das Beleuchtungslicht 29 auch durch die Probe 41 geführt werden.
Dies bedeutet, dass aus verschiedenen Fokusebenen der Probe 41 nacheinander
durch das Beleuchtungslicht 29 abgetastet werden. Das Beleuchtungslicht 29 ist als
durchgezogene Linie dargestellt. Das von der Probe ausgehende Detektionslicht 43 gelangt
durch die Mikroskopoptik 39 und über die Strahlablenkeinrichtung 33 zum
Strahlteiler 31, passiert diesen und trifft auf Detektor 47,
der als Photomultiplier ausgeführt
ist. Das von der Probe 41 ausgehende Detektionslicht 43 ist
als gestrichelte Linie dargestellt. Im Detektor 47 werden
elektrische, zur Leistung des vom Objekt ausgehenden Detektionslichts 43 proportionale
Detektionssignale erzeugt und an eine nicht gezeigte Verarbeitungseinheit
weitergegeben. Vor dem Detektor ist ein Bandpassfilter 48 angeordnet, der
Licht der Wellenlänge
der Teillichtstrahlen 23 und 27 ausblendet. Das
bei einem konfokalen Scanmikroskop üblicherweise vorgesehene Beleuchtungspinhole 46 und
das Detektionspinhole 45 sind der Vollständigkeit
halber schematisch eingezeichnet. Weggelassen sind wegen der besseren
Anschaulichkeit hingegen einige optische Elemente zur Führung und Formung
der Lichtstrahlen. Diese sind einem auf diesem Gebiet tätigen Fachmann
hinlänglich
bekannt.
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2 zeigt
eine erfindungsgemäße Lichtquelle 10 in
Verbindung mit einem Scanmikroskop. Die Lichtquelle 10 besitzt
einen ersten Laser 4 und einen zweiten Laser 6.
Der erste Laser 4 ist in diesem Ausführungsbeispiel als Ti:Saphir-Laser
ausgebildet. Der zweite Laser 6 ist ein Nd:YVO4-Laser,
der mit einem Diodenlaser 8 optisch gepumpt wird. Der Nd:YVO4-Laser umfasst einen Nd:YVO4-Kristall 12 und
einen sättigbaren
Absorberspiegel aus einem Halbleitermaterial, der als Sesam (semiconductor
saturable absorber mirror) 14 bezeichnet wird. Zur Anpassung der
Resonatorlänge
kann zumindest der Sesam 14 beweglich ausgestaltet sein.
Zwischen dem Nd:YVO4-Kristall 12 und
dem Sesam 14 ein Fabry-Perot-Modulator 20, der
als Umlenkspiegel wirkt, und ein weiterer Umlenkspiegel 20a vorgesehen.
Der erste Laser 4 sendet Licht in einen ersten Strahlengang 4a aus,
in dem ein Strahlteiler 18 derart angeordnet ist, dass
er einen Teil des Lichts des ersten Lasers 4 auf den Fabry-Perot-Modulator 20 richtet;
und zwar genau deckungsgleich zu dem Auftreffpunkt des Nd:YVO4-Lasers. Der Fabry-Perot-Modulator 20 besteht
aus einem hoch reflektierenden Bragg-Reflektor (Reflexionsgrad ca.
97,5%) für
die Wellenlänge
1064nm. Der Bragg-Reflektor setzt sich aus einer Abfolge von GaAs/AlAs-Halbleiterschichtpaaren
zusammen, die auf ein GaAs-Substrat aufgebracht sind. Auf diesen
Spiegel wiederum ist eine InGaAs epitaktisch aufgebracht. Der Zwischenraum
zwischen dem Luft/InGaAs-Übergang
und des InGaAs/Bragg-Reflektor-Übergangs
bildet einen Fabry-Perot-Resonator. Die InGaAs-Schicht ist so gewählt, dass
sie für
1064nm transparent ist, nicht aber für die Wellenlängen des
Ti:Saphir-Lasers. Die Energiebandkante liegt dann typischerweise
bei 970nm.
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Die Resonanzfrequenz, bzw. die Energiebandkante
des Fabry-Perot-Resonators
ist temperaturabhängig.
Im Experiment wird die Temperatur nun so gewählt, dass die Resonanzfrequenz
gerade unterhalb von 1064nm (also bei einer höheren Wellenlänge) liegt.
Hierzu ist eine Temperaturkontrolleinheit 36 vorgesehen.
Damit ist der Fabry-Perot-Modulator 20 nicht mehr durchlässig für Licht
mit einer Wellenlänge
von 1064nm. Die Verluste in dem Nd:YVO4-Laser
sind dann so hoch, dass der Laser nicht oszilliert. Dann wird aus
dem ersten Laser 4, der auch als Master-Laser bezeichnet
wird, ein kleiner Anteil mit dem Strahlteiler 18 aus dem
ersten Strahlengang 4a abgezweigt und auf denselben Auftreffpunkt
im Nd:YVO4-Laserstrahlengangs auf den Fabry-Perot-Modulator 20 eingestrahlt.
In dem InGaAs werden dann freie Ladungssträger erzeugt. Das führt zu einer Phasenverschiebung
im Fabry-Perot-Resonator, so dass die Resonanzfrequenz zu kürzeren Wellenlängen verschoben
wird. Damit sinken die Verluste in dem Nd:YVO4-Laser-Resonator und
der Laser oszilliert. Nach dem Durchlauf des Ti:Saphir-Laserimpulses kommt
es zu einer schnellen Rekombination der freien Ladungsträger (in
der Größenordnung
von 450ps) und der Ausgangszustand ist wieder hergestellt. Auf die
Weise kann der Nd:YVO4--Laser im Takt des
Ti:Saphir-Lasers moduliert werden. Daher spricht man auch von Master-
und Slave-Laser. Der Sesam 14 sorgt dafür, dass der Nd:YVO4-Laser
modengekoppelte Strahlung emittiert. Wie bereits oben erwähnt, dient
der Teil des Lichts vom ersten Laser 4 zur externen, optischen
Modulation. Durch eine Kontrolle und Steuerung der Temperatur des
Fabry Perot-Modulators 20 kann die Resonanzfrequenz verschoben
werden, was somit eine Auswahl des Arbeitspunktes ermöglicht.
Der zweite Laser 6 sendet Licht in einen zweiten Strahlengang 6a aus.
Das Licht im ersten Strahlengang 4a des ersten Lasers 4 wird auf
eine Umlenkeinheit 22 gegeben, die in Richtung eines Doppelpfeils 26 verschoben
werden kann, um somit die optischen Weglängen des Licht des ersten und
des zweiten Lasers 4 und 6 anzupassen. Zwischen
dem zweiten Laser 6 und dem Diodenlaser 8 ist
ein Umlenkspiegel 28 vorgesehen, der als dichroitischer
Spiegel ausgestaltet ist und der das Licht des zweiten Lasers 6 auf
einen weiteren Umlenkspiegel 30 richtet. Vom Umlenkspiegel 30 gelangt
das Licht des zweiten Lasers zu einem optischen Vereinigungsmittel 24.
Von dem optischen Vereinigungsmittel 24 gelangt ein Teil
des Lichts des ersten Lasers 4 und ein Teil des Lichts
des zweiten Lasers 6 zu eine Messeinheit zur Ermittlung
der Kreuzkorrelation 34, die zum Nachweis und zur Hilfe
bei der Einstellung der Synchronisation bzw. gezielten Verzögerung der Laserpulse
dient. Ein winziger Teil des Lichts des ersten Lasers 4 wird
reflektiert, ein Teil von dem zweiten Laser 6 transmittiert.
Beide Strahlen werden zusammen mit Hilfe einer Linse (nicht dargestellt)
auf einen nichtlinearen Kristall, beispielsweise BBO (ß-Barium-Borat),
1 mm dick, fokussiert. Dort findet eine Summenfrequenzmischung statt.
(also ωTi:Sa + ωNd = ωSummenfrequenz). ωSummenfrequenz liegt dann bei ca. 472nm und
wird mit einem Photomultiplier gemessen, wobei die zu messende Wellenlänge mit
Filtern herausgefiltert werden. Ein Signal wird nur gemessen, wenn
sich die Pulse des ersten und des zweiten Lasers 4 und 6 sowohl
zeitlich als auch räumlich überlappen.
Die aus dem ersten Laser 4, dem zweiten Laser 6,
dem Diodenlaser 8, der verschiebbaren Umlenkeinheit 22, dem
optischen Vereinigungsmittel 24 und der Messeinheit zur
Ermittlung der Kreuzkorrelation 34 bestehende Lichtquelle 10,
ist zu einem Modul 10a zusammengefasst. Das Modul 10a ist
an ein eine optische Untersuchungsvorrichtung für mikroskopische Objekte bzw.
an das Scanmikroskop anflanschbar. Ein Computer 50, der
mit einem Display 52 versehen ist, ist mit dem Modul 10a und
der optischen Untersuchungsvorrichtung für mikroskopische Objekte bzw. dem
Scanmikroskop verbunden. Der Computer 50 dient dazu, die
Einstellvorgänge
des Mikroskops zu überwachen
und einem Benutzer auf dem Display 52 für die Einstellung relevante
Daten in graphischer oder anderer lesbarer Form darzustellen.
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Wie in 2 dargestellt,
gelangt der vereinigte Lichtstrahl 38 in das konfokale
Mikroskop. Der erste und der zweite Laser 4 und 6 sind
zwei passiv miteinander synchronisierte Ultrakurzzeitlaser die zusammen
mit den entsprechenden optischen Mitteln als die Lichtquelle 10 für die Mehrphotonen-Mikroskopie, die
Mehrfarben-Mikroskopie bzw. auch für die STED – Mikroskopie benutzt werden.
Die Lichtquelle 10 hat den Vorteil, dass man zwei völlig verschiedene Laser
(erster und zweiter Laser 4 und 6) miteinander synchronisieren
kann. So ist es dann z.B. möglich
die Zwei-Photonen-Absorption
(TPA; Two Photon Absorption) auch mit zwei verschiedenen Photonen
(jeweils unterschiedlicher Energie) und die Erzeugung der 2. und/oder
3. Harmonischen (SHG; Second Harmonic Generation und THG; Third
Harmonic Generation) oder andere Mischprozesse in der Probe mit zwei
verschiedenen Lasern gleichzeitig oder definiert hintereinander
zu bewerkstelligen. Bei der Kopplung von einem neodymdotierten Laser,
wie z.B. einem Nd:YVO4-Laser, mit einem
Ti:Saphir-Laser, kann die THG mit dem Nd:YVO4-Laser
erzeugt werden und TPA oder SHG mit dem Ti:Saphir-Laser. Es ist
aber auch denkbar, einen Laser bei 1250nm mit einem Ti:Saphir-Laser
zu synchronisieren oder andere Kombinationen. Der Ti:Saphir-Laser
ist bei dem Verfahren sogar noch in der Wellenlänge abstimmbar, was natürlich ein
enormer Vorteil ist.
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Für
STED und andere Anwendungen könnten
die Laser jeder für
sich weiter konvertiert werden (OPO, Weißlichterzeugung in einer mikrostrukturierten
Faser, Frequenzkonversion usw.). Auf die Weise erhält man eine
universelle und leistungsstarke Lichtquelle mit großer Flexibilität und diversen
Ausgestaltungsmöglichkeiten.
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Die unterschiedlichen synchronisierten
Laser können
dann mit Zeitverzögerungs-Verfahren
gezielt zeitlich aufeinander abgestimmt werden, wie es für viele
Anwendungen notwendig ist. Weitere Anwendungen sind möglich, wie
Mehrfarben-Mikroskopie, Pump-Probe-Experimente, Lifetime-Messungen, FLIM,
FSC, konventionelle Konfokalmikroskopie. Die Ausgestaltung mit einem
konfokalen Scanmikroskop ist aus der 1 zu
entnehmen, so dass darauf nun nicht noch einmal eingegangen werden
muss.
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Die Erfindung wurde in Bezug auf
eine besondere Ausführungsform
beschrieben. Es ist jedoch selbstverständlich, dass Änderungen
und Abwandlungen durchgeführt
werden können,
ohne dabei den Schutzbereich der nachstehenden Ansprüche zu verlassen.
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- 1
- Lichtquelle
- 3
- elektromagnetische
Energiequelle
- 4
- erster
Laser
- 4a
- erster
Strahlengang
- 5
- Strahlteiler
- 6
- zweiter
Laser
- 6a
- zweiter
Strahlengang
- 7
- Spiegel
- 8
- Diodenlaser
- 9
- Zwischenelement
- 10
- Lichtquelle
- 10a
- Modul
- 11
- Spiegel
- 12
- Nd:YVO4-Kristall
- 13
- Strahlvereiniger
- 14
- Sesam
- 15
- Beleuchtungslicht
- 16
- erster
Strahlengang
- 17
- Licht
- 18
- Strahlteiler
- 19
- erster
Teillichtstrahl
- 20
- Fabry-Perot-Modulator
- 20a
- weiterer
Umlenkspiegel
- 21
- zweiter
Teillichtstrahl
- 22
- Umlenkeinheit
- 23
- Teillichtstrahl
- 24
- Vereinigungsmittel
- 25
- optisch
parametrischer Oszillator (OPO)
- 26
- Doppelpfeil
- 27
- Teillichtstrahl
- 28
- Umlenkspiegel
- 29
- Beleuchtungslicht
- 30
- Umlenkspiegel
- 31
- Strahlteiler
- 32
- Scanspiegel
- 33
- Strahlablenkeinrichtung
- 34
- Messeinheit
zur Ermittlung der Kreuzkorrelation
- 35
- Scanoptik
- 36
- Temperaturkontrolleinheit
- 37
- Tubusoptik
- 38
- kombinierter
Lichtstrahl
- 39
- Mikroskopoptik
- 41
- Probe
- 43
- Detektionslicht
- 45
- Detektionspinhole
- 46
- Beleuchtungspinhole
- 47
- Detektor
- 48
- Bandpassfilter
- 49
- Detektor
- 50
- Computer
- 52
- Display
- 61
- Mittel
zur Beeinflussung der Fokusform