DE102015210016A1 - Verfahren zum Ermitteln einer ortsaufgelösten Höheninformation einer Probe mit einem Weitfeldmikroskop und Weitfeldmikroskop - Google Patents

Verfahren zum Ermitteln einer ortsaufgelösten Höheninformation einer Probe mit einem Weitfeldmikroskop und Weitfeldmikroskop Download PDF

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CN201680029710.4A CN107710046B (zh) 2015-06-01 2016-05-23 用于使用宽场显微镜确定样本的空间分辨高度信息的方法和宽场显微镜
JP2017556932A JP6595618B2 (ja) 2015-06-01 2016-05-23 広視野顕微鏡を用いて試料の空間分解された高さ情報を確定するための方法および広視野顕微鏡

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018219450A1 (de) * 2018-11-14 2020-05-14 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Erzeugen eines Spektrums und Spektrometereinheit
EP3786573A1 (de) * 2019-08-30 2021-03-03 Klingelnberg GmbH Optische koordinaten-messvorrichtung und verfahren zum betreiben einer solchen vorrichtung

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018127281A1 (de) * 2018-10-31 2020-04-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zur Mikroskopie
LU101084B1 (de) * 2018-12-21 2020-06-22 Abberior Instruments Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum punktförmigen Beleuchten einer Probe in einem Mikroskiop
DE102019135521A1 (de) * 2019-12-20 2021-06-24 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Messanordnung, Lichtmikroskop und Messverfahren zur bildgebenden Tiefenmessung
DE102020200214A1 (de) 2020-01-09 2021-07-15 Hochschule für angewandte Wissenschaften Kempten Körperschaft des öffentlichen Rechts Konfokale Messvorrichtung zur 3D-Vermessung einer Objektoberfläche

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0911667A1 (en) * 1997-10-22 1999-04-28 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Programmable spatially light modulated microscope and microscopy method
DE102007018048A1 (de) 2007-04-13 2008-10-16 Michael Schwertner Verfahren und Anordnung zur optischen Abbildung mit Tiefendiskriminierung
DE102012009836A1 (de) * 2012-05-16 2013-11-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtmikroskop und Verfahren zur Bildaufnahme mit einem Lichtmikroskop
US20150029309A1 (en) * 2013-07-23 2015-01-29 Sirona Dental Systems Gmbh Method, system, apparatus, and computer program for 3d acquisition and caries detection

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI465683B (zh) * 2013-08-20 2014-12-21 Univ Nat Taiwan 差動濾波式彩色共焦量測系統
DE102013016368B4 (de) * 2013-09-30 2024-05-16 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtmikroskop und Mikroskopieverfahren zum Untersuchen einer mikroskopischen Probe

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0911667A1 (en) * 1997-10-22 1999-04-28 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Programmable spatially light modulated microscope and microscopy method
DE102007018048A1 (de) 2007-04-13 2008-10-16 Michael Schwertner Verfahren und Anordnung zur optischen Abbildung mit Tiefendiskriminierung
DE102012009836A1 (de) * 2012-05-16 2013-11-21 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtmikroskop und Verfahren zur Bildaufnahme mit einem Lichtmikroskop
US20150029309A1 (en) * 2013-07-23 2015-01-29 Sirona Dental Systems Gmbh Method, system, apparatus, and computer program for 3d acquisition and caries detection

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
A.K. Ruprecht et al.: Chromatic confocal detection for high speed micro-topography measurements. In: SPIE Vol. 5302 (2004), S.53-60 *
Kim et al beschreiben in „Chromatic confocal microscopy with a novel wavelength detection method using transmittance", OPTICS EXPRESS 6286, Vol. 21, No. 5

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018219450A1 (de) * 2018-11-14 2020-05-14 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Erzeugen eines Spektrums und Spektrometereinheit
EP3786573A1 (de) * 2019-08-30 2021-03-03 Klingelnberg GmbH Optische koordinaten-messvorrichtung und verfahren zum betreiben einer solchen vorrichtung

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