DE102006007617A1

DE102006007617A1 - Jittermessvorrichtung, Jittermessverfahren, Prüfvorrichtung und Elektronische Vorrichtung

Info

Publication number: DE102006007617A1
Application number: DE102006007617A
Authority: DE
Inventors: Kiyotaka Ichiyama; Masahiro Ishida; Takahiro Yamaguchi; Mani Seattle Soma
Original assignee: Advantest Corp
Current assignee: Advantest Corp
Priority date: 2005-02-14
Filing date: 2006-02-13
Publication date: 2006-08-24
Also published as: US7957458B2; US20060182170A1; JP2006227009A; JP5300174B2

Abstract

Es ist eine Jittermessvorrichtung zum Messen des Zeitjitters eines geprüften Signals vorgesehen, bei der die Jittermessvorrichtung einen Impulsgenerator zum Ausgeben eines Impulssignals mit einer vorbestimmten Impulsbreite für eine Flanke des geprüften Signals ausgibt, dessen Zeitjitter geprüft wird; sowie eine Jittermess-Subeinheit zum Herausziehen des Zeitjitters auf der Grundlage eines Tastverhältnisses jedes Zyklus des von dem Impulsgenerator ausgegebenen Signals.

Description

Hintergrund der Erfindung
Gebiet der Erfindung
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Jittermessvorrichtung und ein Jittermessverfahren zum Messen des Zeitjitters eines geprüften Signals und eine Prüfvorrichtung zum Prüfen einer geprüften Vorrichtung.

Herkömmlich ist ein Verfahren zum Vergleichen der Phase eines geprüften Signals mit der eines durch Verzögern des geprüften Signals um eine Periode erzeugten Signals bekannt als ein Verfahren zum Messen von Jitter eines geprüften Signals (T. Yamaguchi, "A Real-Time Jitter Measurement Board for High Performance Computer and Communication System", ITC2004). Im Fall des Verzögerns des geprüften Signals um eine Periode werden die Phasen von zwei benachbarten ansteigenden Flanken des geprüften Signals verglichen und somit wird Periodenjitter des geprüften Signals gemessen.

Das vorgenannte Verfahren gibt eine Spannung entsprechend der Größe des Periodenjitters jedes Zyklus aus durch Eingeben des geprüften Signals und des verzögerten geprüften Signals in einen Phasenkomparator. Weiterhin ist es durch Integrieren der von dem Phasenkomparator ausgegebenen Spannung unter Verwendung eines Integrators oder dergleichen möglich, das Zeitjitter des geprüften Signals in Echtzeit zu messen.

Jedoch erfordert das herkömmliche Verfahren zum Messen von Jitter das genaue Verzögern eines geprüften Signals. Beispielsweise ist es im Falle des Messens von Periodenjitter des geprüften Signals erforderlich, das geprüfte Signal genau um eine Periode zu verzögern. Jedoch wird in dem Fall, dass ein Fehler in der Verzögerungszeit vorliegt, die von dem Phasenkomparator erfasste Größe des Periodenjitters größer als ein wahrer Wert des Periodenjitters aufgrund des Fehlers in der Verzögerung. Weiterhin wird der Messfehler durch den Integrator akkumuliert und das durch den Integrator ausgegebene Zeitjitter ist lange vorher gesättigt.

Somit erfordert das herkömmliche Verfahren zum Messen von Jitter eine Verzögerungsschaltung, um eine genaue Verzögerungszeit zu erzeugen. Da es jedoch schwierig ist, eine Verzögerungsschaltung mit einer hochgenauen Verzögerungszeit herzustellen, ist es für das her kömmliche Verfahren zum Messen von Jitter schwierig, das Jitter des geprüften Signals genau zu messen, ohne durch den Fehler der Verzögerungszeit beeinträchtigt zu sein.

Das herkömmliche Messverfahren vergleicht die Phase eines geprüften Signals mit der eines verzögerten Signals. Somit werden in dem Fall, dass die Periodenjitteramplitude des geprüften Signals größer als eine Periode des geprüften Signals ist, manchmal Phasen zwischen Flanken verglichen, die einander nicht entsprechen, und somit kann das Jitter nicht genau gemessen werden.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG

Daher ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Jittermessvorrichtung und ein Jittermessverfahren anzugeben, die in der Lage sind, das Jitter eines geprüften Signals mit guter Genauigkeit zu messen, sowie eine Prüfvorrichtung, die in der Lage ist, eine geprüfte Vorrichtung mit guter Genauigkeit zu prüfen. Die obige und andere Aufgaben können gelöst werden durch in den unabhängigen Ansprüchen beschriebene Kombinationen. Die abhängigen Ansprüche definieren weitere vorteilhafte und beispielhafte Kombinationen der vorliegenden Erfindung.

Gemäß dem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Jittermessvorrichtung zum Messen des Zeitjitters eines geprüften Signals vorgesehen, welche enthält: einen Impulsgenerator zum Ausgeben eines Impulssignals mit einer vorbestimmten Impulsbreite für eine Flanke des geprüften Signals, dessen Zeitjitter geprüft wird; und eine Jittermess-Subeinheit zum Schätzen des Zeitjitter auf der Grundlage eines Tast verhältnisses jedes Zyklus des von dem Impulsgenerator ausgegebenen Signals.

Die Jittermessvorrichtung kann weiterhin einen Integrator zum Ausgeben eines Jittermesssignals enthalten, dessen Signalpegel um eine vorbestimmte Zunahmerate zunimmt, während das von dem Impulsgenerator ausgegebene Signal den logischen Wert H zeigt, und um eine vorbestimmte Abnahmerate abnimmt, während das von dem Impulsgenerator ausgegebene Signal den logischen Wert L zeigt, und die Jittermess-Subeinheit kann das Zeitjitter auf der Grundlage des Signalpegels, den das Jittermesssignal zu der Zeit jeder Flanke des Impulssignals zeigt, schätzen.

Die Jittermess-Subeinheit kann das Zeitjitter auf der Grundlage jedes Extremwertes der Veränderung des Signalpegels des Jittermesssignals schätzen.

Der Integrator kann das Jittermesssignal durch die zunehmenden und abnehmenden Raten so erzeugen, dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalpegel in dem Fall ist, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal erzeugt ist, und die Jittermess-Subeinheit kann das Zeitjitter auf der Grundlage einer Differenz zwischen jedem Extremwert des Jittermesssignals und dem vorbestimmten Signalpegel schätzen.

Die Jittermessvorrichtung kann weiterhin einen Steuerabschnitt zum Steuern der zunehmenden und der abnehmenden Rate auf der Grundlage der Impulsbreite des Impulssignals und eines Intervalls zwischen den geprüften Flanken für den Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal erzeugt ist, so dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Sig nalpegel in dem Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal erzeugt ist, ist, enthalten.

Der Steuerabschnitt kann die zunehmende und die abnehmende Rate so steuern, dass sie der folgenden Gleichung genügen: a1 × W + a2 × (T – W) = 0worin a1 die zunehmende Rate, a2 die abnehmende Rate, W die Impulsbreite des Impulssignals ist und T eine Durchschnittsperiode des geprüften Signals ist.

Der Steuerabschnitt kann die zunehmende und die abnehmende Rate auf der Grundlage einer Differenz zwischen dem Extremwert des Jittermesssignals, wenn eine vorbestimmte Zeit von der Zeit vergangen ist, zu der das Jittermesssignal beginnt, erzeugt zu werden, vergangen ist, und den vorbestimmten Signalpegel steuern.

Die zunehmende und die abnehmende Rate können jeweils innerhalb eines vorbestimmten variablen Bereichs eingestellt werden, und der Steuerabschnitt kann die zunehmende Rate so einstellen, dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalpegel für den Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal erzeugt ist, ist, und in dem Fall, dass die zunehmende Rate nicht innerhalb des variablen Bereichs eingestellt werden kann, weiterhin die abnehmende Rate so steuern, dass die zunehmende Rate innerhalb des variablen Bereichs gelangt.

Die Jittermessvorrichtung kann weiterhin einen Steuerabschnitt zum Steuern der Impulsbreite auf der Grundlage der zunehmenden und der abnehmenden Rate des Integrators und eines Intervalls zwischen den geprüften Flanken in dem Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal erzeugt ist, derart, dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalpegel in dem Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal erzeugt ist, ist, enthalten.

Der Integrator kann enthalten: eine Stromquelle zum Erzeugen eines Quellenstroms, der die zunehmende Rate bestimmt; eine Stromsenke zum Erzeugen eines Senkenstroms, der die abnehmende Rate bestimmt; einen Kondensator zum Erzeugen eines Spannungspegels des Jittermesssignals, indem er durch den Quellenstrom und den Senkenstrom geladen und entladen wird; und einen Lade- und Entlade-Steuerabschnitt zum Laden des Kondensators auf der Grundlage des Quellenstroms, während das Impulssignal den logischen Wert H hat, und zum Entladen des Kondensators auf der Grundlage des Senkenstroms, während das Impulssignal den logischen Wert L hat.

Die Jittermessvorrichtung kann weiterhin einen Steuerabschnitt zum Steuern der Werte des Quellenstroms und des Senkenstroms auf der Grundlage der Impulsbreite und des Intervalls der geprüften Flanken in dem Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal erzeugt ist, so dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalpegel in dem Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal erzeugt ist, ist, enthalten.

Der Impulsgenerator kann das Impulssignal für jede Flanke des geprüften Signals ausgeben.

Der Impulsgenerator kann das Impulssignal für eine ansteigende Flanke oder eine abfallende Flanke des geprüften Signals ausgeben.

Die Jittermess-Subeinheit kann eine Durchschnittswertbildungsschaltung enthalten zum Eliminieren der vorbestimmten Hochfrequenzkomponenten aus dem von dem Integrator ausgegebenen Jittermesssignal.

Die Jittermess-Subeinheit kann eine Abtast- und Halteschaltung zum Hindurchlassen des Jittermesssignals, während das von dem Impulsgenerator ausgegebene Signal den Pegel H zeigt, und zum Halten des Signalpegels des Jittermesssignals, während das von dem Impulsgenerator ausgegebene Signal den Pegel L zeigt, enthalten.

Die Jittermess-Subeinheit kann eine Abtastschaltung zum Abtasten des Signalpegels des Jittermesssignals gemäß dem von dem Impulsgenerator ausgegebenen Impulssignal enthalten.

Gemäß dem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Jittermessverfahren zum Messen des Zeitjitters eines geprüften Signals vorgesehen, welches enthält: einen Impulserzeugungsschritt zum Ausgeben eines Impulssignals mit einer vorbestimmten Impulsbreite für eine Flanke des geprüften Signals, dessen Zeitjitter geprüft wird; und einen Jittermessschritt zum Schätzen des Zeitjitters auf der Grundlage eines Tastverhältnisses jedes Zyklus des in dem Impulserzeugungsschritt ausgegebenen Signals.

Gemäß dem dritten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Prüfvorrichtung zum Prüfen einer geprüften Vorrichtung vorgesehen, welche enthält: eine Jitter messvorrichtung zum Schätzen des Zeitjitters eines von der geprüften Vorrichtung ausgegebenen geprüften Signals; und einen Bestimmungsabschnitt zum Bestimmen von "gut/schlecht" der geprüften Vorrichtung auf der Grundlage des von der Jittermessvorrichtung geschätzten Zeitjitters, und die Jittermessvorrichtung enthält: einen Impulsgenerator zum Ausgeben eines Impulssignals mit einer vorbestimmten Impulsbreite für eine Flanke des geprüften Signals, dessen Zeitjitter geprüft wird; und eine Jittermess-Subeinheit zum Schätzen des Zeitjitters auf der Grundlage eines Tastverhältnisses jedes Zyklus des von dem Impulsgenerator ausgegebenen Signals.

Gemäß dem vierten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine elektronische Vorrichtung zum Ausgeben eines Ausgangssignals gemäß einem empfangenen Eingangssignal vorgesehen. Die elektronische Vorrichtung enthält eine Operationsschaltung zum Empfangen des Eingangssignals und zum Ausgeben des Ausgangssignals und eine Jittermessvorrichtung zum Messen des Zeitjitters des von der Operationsschaltung ausgegebenen Ausgangssignals. Die Jittermessvorrichtung enthält einen Impulsgenerator zum Ausgeben eines Impulssignals mit einer vorbestimmten Impulsbreite für eine geprüfte Flanke, um das Zeitjitter eines geprüften Signals zu messen, und eine Jitterberechnungsvorrichtung zum Berechnen des Zeitjitters auf der Grundlage eines Tastverhältnisses für jeden Zyklus des von dem Impulsgenerator ausgegebenen Signals.

Die Zusammenfassung der Erfindung beschreibt nicht notwendigerweise alle erforderlichen Merkmale der vorliegenden Erfindung. Die vorliegende Erfindung kann auch eine Unterkombination der vorbeschriebenen Merkmale sein. Die obigen und anderen Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden augenscheinlicher anhand der folgenden Beschreibung der Ausführungsbeispiele, die in Verbindung mit den begleitenden Zeichnungen gegeben wird.

KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
1 ist ein Blockschaltbild, das ein Beispiel für die Ausbildung einer Prüfvorrichtung 100 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ist.
2 zeigt ein Beispiel für eine Wellenform eines Jittermesssignals, das von einem Integrator 20 ausgegeben wird, wenn kein Zeitjitter in einem geprüften Signal erzeugt.
3 zeigt ein Beispiel für eine Wellenform eines von dem Integrator 20 ausgegebenen Jittermesssignals, wenn ein Zeitjitter in dem geprüften Signal erzeugt ist.
4 ist ein Blockschaltbild, das ein Beispiel für die Ausbildung einer Jittermessvorrichtung 40 zeigt.
5 zeigt ein Beispiel für eine von einer Durchschnittswertbildungsschaltung 32 ausgegebene Wellenform.
6 ist ein Blockschaltbild, das ein anderes Beispiel für die Ausbildung der Jittermessvorrichtung 40 zeigt.
7 zeigt ein Beispiel für eine von einer Abtast- und Halteschaltung 36 ausgegebene Wellenform.
8 beschreibt eine von der Abtast- und Halteschaltung 36 gehaltene Spannung in dem Fall, dass eine Versetzung zwischen einem Impulssignal und einem in die Abtast- und Halteschaltung 36 eingegebenen Jittermesssignal enthalten ist.
9 ist ein Blockschaltbild, das ein anderes Beispiel für die Ausbildung der Jittermessvorrichtung 40 zeigt.
10 ist ein Blockschaltbild, das ein anderes Beispiel für die Konfiguration der Jittermessvorrichtung 40 zeigt.
11 zeigt ein Beispiel für eine Wellenform eines Jittermesssignals in einem Zustand, in welchem die Impulsbreite eines Impulssignals, die Raten der Zunahme und Abnahme des Jittermesssignals nicht gesteuert werden.
12 ist ein Flussdiagramm, das ein Verfahren zum Messen des Zeitjitters eines geprüften Signals zeigt.
13 ist ein Blockschaltbild, das ein Beispiel für die Ausbildung einer elektronischen Vorrichtung 300 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt.
DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
Die Erfindung wird nun auf der Grundlage der bevorzugten Ausführungsbeispiele beschrieben, die den Bereich der vorliegenden Erfindung nicht begrenzen, sondern die Erfindung veranschaulichen sollen. Alle Merkmale und deren Kombinationen, die in dem Ausführungsbeispiel beschrieben werden, sind nicht notwendigerweise wesentlich für die Erfindung.
1 ist ein Blockschaltbild, das ein Beispiel für die Ausbildung einer Prüfvorrichtung 100 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt. Die Prüfvorrichtung 100 bestimmt "gut/schlecht" einer geprüften Vorrichtung ("DUT") auf der Grundlage eines von der DUT ausgegebenen geprüften Signals und enthält eine Jittermessvorrichtung 40 und einen Bestimmungsabschnitt 50.
Die Jittermessvorrichtung 40 misst das Zeitjitter des geprüften Signals. Weiterhin bestimmt der Bestimmungsabschnitt 50 "gut/schlecht" für die DUT auf der Grundlage des von der Jittermessvorrichtung 40 gemessenen Zeitjitters. Beispielsweise bestimmt der Bestimmungsabschnitt 50 "gut/schlecht" für die DUT in Abhängigkeit davon, ob die Größe des von der Jittermessvorrichtung 40 gemessenen Zeitjitters größer als ein vorbestimmter Schwellenwert ist oder nicht.
Die Jittermessvorrichtung 40 besteht aus einem Impulsgenerator 10, einem Integrator 20 und einer Jittermess-Subeinheit 30. Der Impulsgenerator 10 empfängt das geprüfte Signal und gibt einen Impuls mit einer vorbestimmten Impulsbreite für eine Flanke des geprüften Signals, dessen Zeitjitter geprüft wird, aus.
Beispielsweise gibt in dem Fall des Messens des Zeitjitters jeder Flanke des geprüften Signals der Impulsgenerator 10 Impulse mit einer vorbestimmten Impulsbreite für jede Flanke des geprüften Signals aus. In diesem Fall kann der Impulsgenerator 10 eine Verzögerungsschaltung 12 und eine Exklusiv-ODER-Schaltung 14 enthalten, wie in 1 gezeigt ist. Die Verzögerungsschaltung 14 enthalten, wie in 1 gezeigt ist. Die Verzögerungsschaltung 12 verzögert das geprüfte Signal um eine vorbestimmte Verzögerungszeit und gibt das verzögerte Signal aus. Dann gibt die Exklusiv-ODER-Schaltung 14 eine Exklusiv-ODER-Verknüpfung des geprüften Signals und des von der Verzögerungsschaltung 12 ausgegebenen verzögerten Signals aus. Hierdurch ist es möglich, einen Impuls mit einer Impulsbreite, die durch die Verzögerungszeit der Verzögerungsschaltung 12 bestimmt, für jede Flanke des geprüften Signals zu erzeugen. Hier kann die Verzögerungsschaltung 12 eine konstante Verzögerungszeit gleichförmig über die Messperiode enthalten und somit kann eine tatsächliche Verzögerungszeit einen Fehler verglichen mit der vorbestimmten Einstellung der Verzögerungszeit aufweisen.
Weiterhin kann der Impulsgenerator 10 einen Impuls für entweder eine ansteigende Flanke oder eine abfallende Flanke des geprüften Signals ausgeben. In diesem Fall ist es möglich, leicht ein Periodenjitter zwischen den ansteigenden Flanken oder den abfallenden Flanken zu messen. Weiterhin hat der Impulsgenerator 10 eine Schaltungskonfiguration, die sich von der in 1 gezeigten Konfiguration unterscheidet. Es kann leicht realisiert werden, dass der Impulsgenerator 10 einen Impuls für die ansteigende oder die abfallende Flanke des geprüften Signals erzeugen kann durch Änderung der Schaltungskonfiguration des Im pulsgenerators 10. Im Folgenden wird der Fall beschrieben, dass der Impulsgenerator 10 einen Impuls für alle Flanken des geprüften Signals erzeugt.
Die Jittermess-Subeinheit 30 schätzt (oder misst) das Zeitjitter in dem geprüften Signal auf der Grundlage eines Tastverhältnisses jedes Zyklus des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen Signals. Mit anderen Worten, die Jittermess-Subeinheit 30 schätzt das Zeitjitter in dem geprüften Signal auf der Grundlage des Verhältnisses des Zeitintervalls, während dessen der Signalpegel den Wert H hat, zu dem Zeitintervall, während dessen der Signalpegel den Wert L hat. In dem Fall, dass das geprüfte Signal selbst kein Zeitjitter hat, ist das Tastverhältnis des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen Signals für jeden Zyklus konstant. Jedoch in dem Fall, dass irgendein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist, ist das Tastverhältnis des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen Signals nicht konstant. Somit ist es möglich, das Zeitjitter anhand der Veränderung des Tastverhältnisses zu messen. Beispielsweise kann das Zeitjitter jeder Flanke gemessen werden durch Vergleich des Mittelwerts des Tastverhältnisses, der den Durchschnitt über die gesamten Zyklen bildet, mit dem Tastverhältnis für jeden Zyklus.
Die Jittermess-Subeinheit 30 gemäß dem vorliegenden Beispiel schätzt das Zeitjitter in dem geprüften Signal auf der Grundlage von Ergebnissen des die Impulse integrierenden Integrators 20. Der Integrator 20 gibt ein Jittermesssignal mit einer Dreieckwelle aus, das durch Integrieren der von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen Impulse erzeugt ist. Der Integrator 20 gemäß dem vorliegenden Beispiel gibt das Jittermesssignal aus, dessen Signalpegel mit einer vorbestimmten zunehmenden Rate ansteigt, während das von dem Impulsgenerator 10 ausgegebene Signal die H-Logik zeigt, und mit einer vorbestimmten abnehmenden Rate abnimmt, während das von dem Impulsgenerator 10 ausgegebene Signal die L-Logik zeigt. Hier bedeutet H-Logik, dass der Signalpegel des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen Signals entweder den H- oder den L-Pegel hat. L-Logik bedeutet, dass ihr Signalpegel von dem der H-Logik verschieden ist. Im Folgenden soll H-Logik ein Zustand sein, in welchem der Signalpegel der H-Pegel ist, und L-Logik ist ein Zustand, in welchem der Signalpegel der L-Pegel ist.
Der Integrator 20 gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel besteht aus einer Stromquelle 22, einer Stromsenke 26, einem Kondensator 28 und einem Lade- und Entlade-Steuerabschnitt 24. Die Stromquelle 22 erzeugt einen Quellenstrom, der die zunehmende Rate des Jittermesssignals bestimmt, und die Stromsenke 26 erzeugt einen Senkenstrom, der die abnehmende Rate des Jittermesssignals bestimmt. Der Kondensator 28 wird durch die Stromquelle 22 oder die Stromsenke 26 geladen oder entladen und erzeugt somit das Jittermesssignal. Weiterhin lädt der Lade- und Entlade-Steuerabschnitt 24 den Kondensator auf der Grundlage des Stroms, der durch Subtrahieren des Senkenstroms von dem Quellenstrom erzeugt wird, während das Impulssignal die H-Logik zeigt, und entlädt den Kondensator auf der Grundlage des Senkenstroms, während das Impulssignal die L-Logik zeigt.
2 zeigt ein Beispiel für eine Wellenform des von dem Integrator 20 ausgegebenen Jittermesssignals, während kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist. In dem Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist, stimmt die Zeit jeder Flanke des geprüften Signals mit der halben Periode des geprüften Signals überein (0, T, 2T, ...). Der Impulsgenerator 10 erzeugt ein Impulssignal mit der vorbestimmten Impulsbreite für jede Flanke. Somit ist das Tastverhältnis jedes Zyklus des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen Signals konstant.
Weiterhin gibt der Integrator 20 das Jittermesssignal mit einer Dreieckwelle aus, wie vorstehend beschrieben ist. In dem Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal erzeugt ist, erzeugt der Integrator 20 das Jittermesssignal, das eine Rate der Zunahme oder Abnahme derart zeigt, dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalpegel ist.
Folglich erzeugt für den Fall, dass die Impulsbreite des Impulssignals gleich W ist, die zunehmende Rate des Jittermesssignals gleich a1 ist und die abnehmende Rate des Jittermesssignals gleich a2 ist, der Integrator 20 ein Jittermesssignal, dessen zunehmende und abnehmende Rate der folgenden Gleichung genügt: a1 × W + a2 × (T – W) = 0 Gleichung (1).
Somit zeigt für den Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist, jeweils der lokale Maximalwert und der lokale Minimalwert in dem Jittermesssignal einen konstanten Pegel.
3 zeigt ein Beispiel für eine Wellenform eines von dem Integrator 20 ausgegebenen Jittermesssignals für das in dem geprüften Signal enthaltene Zeitjitter. In dem Fall, dass Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist, stimmt die Zeit jeder Flanke des geprüften Signals nicht mit der Halbperiode des geprüften Signals (0, T, 2T, ...) überein und das Tastverhältnis jedes Zyklus des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen Signals ist nicht konstant.
Somit werden, wie in 3 gezeigt ist, Extremwerte des von dem Integrator 20 ausgegebenen Jittermesssignals kein vorbestimmter Wert. Die Extremwerte in der Signalpegelveränderung des Jittermesssignals weichen von einem vorbestimmten Wert um (ΔV1, ..., ΔV3, ...) ab, was erhalten wird durch Multiplizieren der Größe des Jitters, das mit der Flanke des geprüften Signals entsprechend dem Extremwert assoziiert ist, mit der abnehmenden Rate des Jittermesssignals. Die Jittermess-Subeinheit 30 kann das Zeitjitter auf der Grundlage der Differenz zwischen einem vorbestimmten Signalpegel und jedem Extremwert in dem Jittermesssignal, das die Flankenzeit des Impulssignals zeigt, herausziehen.
Weiterhin ist es bevorzugt, dass die abnehmende Rate a2 des von dem Integrator 20 ausgegebenen Jittermesssignals konstant ist. Mit anderen Worten, eine abwärts geneigte Seite des Jittermesssignals ist vorzugsweise eine gerade Linie. Hierdurch ist es möglich, da die Differenz (ΔV1, ..., ΔV3, ...) in dem Pegel zwischen jedem Extremwert des Jittermesssignals und dem vorbestimmten Wert proportionale der Größe des Jitters, das mit der Flanke des geprüften Signals entsprechend dem Extremwert assoziiert ist, gleich das Zeitjitter aus der Pegeldifferenz herauszuziehen. Weiterhin braucht die zunehmende Rate a1 des von dem Integrator 20 ausgegebenen Jittermesssignals nicht konstant zu sein. D.h., es ist nur erforderlich, dass das Jittermesssignal eine konstante Zunahme des Signalpegels während des Zeitintervalls W, während dessen das Impulssignal die H-Logik hat, zeigt.
Wie vorstehend beschrieben ist, ist es gemäß der Jittermessvorrichtung nach dem vorliegenden Beispiel möglich, das Zeitjitter des geprüften Signals leicht herauszuziehen. Weiterhin ist es möglich, selbst in dem Fall eines Fehlers verglichen mit der vorbestimmten Einstellung der in der Verzögerungsschaltung 12 enthaltenen Verzögerungszeit, das Zeitjitter des geprüften Signals zu messen, ohne durch den Fehler beeinträchtigt zu sein, wenn die Verzögerungsschaltung 12 eine konstante Verzögerungszeit enthält.
Weiterhin ist die Konfiguration des Integrators 20 nicht auf die in 2 gezeigte Konfiguration beschränkt. Beispielsweise kann der Integrator 20 ein Impulssignal an einem positiven Eingangsanschluss eines Operationsverstärkers über einen Widerstand eingeben und eine Vorspannspannung an einen negativen Eingangsanschluss anlegen, und ein Ausgangsanschluss des Operationsverstärkers kann über einen Kondensator mit dem positiven Eingangsanschluss verbunden sein. Diese Art von Integrationsschaltung kann auch ein Jittermesssignal in gleicher Weise erzeugen. In diesem Fall können die Raten des Zunehmens und Abnehmens des Jittermesssignals durch die Vorspannspannung gesteuert werden, die an den negativen Eingangsanschluss des Operationsverstärkers angelegt wird.
Weiterhin kann die Jittermess-Subeinheit 30 das Periodenjitter eines geprüften Signals durch Schätzen der Differenzfolge von in Zeitfolge gemessenem Zeitjitter berechnen. Beispielsweise ist es möglich, das Periodenjitter eines geprüften Signals durch Schätzen jeder Differenz zwischen Zeitjitter, das in der Zeitfolge benachbart ist, zu schätzen.
4 ist ein Blockschaltbild, das ein Beispiel für die Ausbildung der Jittermessvorrichtung 40 zeigt. Die Jittermessvorrichtung 40 gemäß dem vorliegenden Beispiel enthält eine Durchschnittswertbildungsschaltung 32 und eine Berechnungseinheit 34 in der Jittermess-Subeinheit 30. Die Durchschnittswertbildungsschaltung 32 eliminiert die vorbestimmten Hochfrequenzkomponenten aus einem Jittermesssignal. Beispielsweise kann die Durchschnittswertbildungsschaltung 32 einem sich bewegenden Durchschnittswert des Zeitjitters eines Jittermesssignals ausgeben, indem der Durchschnitt des Jittermesssignals über die Zeit gebildet wird. Weiterhin kann die Durchschnittswertbildungsschaltung 32 einen sich bewegenden Durchschnittswert des Zeitjitters ausgeben, indem eine Komponente eines Jittermesssignals in dem Fall, dass kein Zeitjitter in einem geprüften Signal enthalten ist, von einem von dem Integrator 20 ausgegebenen Jittermesssignal entfernt wird. Die Durchschnittswertbildungsschaltung 32 kann die vorstehende Funktion realisieren beispielsweise durch Verwendung eines Tiefpassfilters.
5 zeigt ein Beispiel für eine von der Durchschnittswertbildungsschaltung 32 ausgegebene Wellenform. In 5 zeigt eine strichlierte Linie eine Wellenform eines von dem Integrator 20 ausgegebenen Jittermesssignals, und eine ausgezogene Linie zeigt eine von der Durchschnittsbildungsschaltung 32 ausgegebene Wellenform. Wie in 5 gezeigt ist, ist es möglich, einen sich bewegenden Durchschnittswert des Zeitjitters durch Verwendung der Durchschnittswertbildungsschaltung 32 zu erhalten. Die Berechnungseinheit 34 kann einen Effektivwert des Zeitjitters und dergleichen auf der Grundlage der Wellenform schätzen.
6 ist ein Blockschaltbild, das ein anderes Beispiel für die Ausbildung der Jittermessvorrichtung 40 zeigt. Die Jittermessvorrichtung enthält eine Abtast- und Halteschaltung 36 und eine Berechnungseinheit 34 in der Jittermess-Subeinheit. Die Abtast- und Halteschaltung 36 lässt das Jittermesssignal hindurch für die Eingabe in die Berechnungseinheit 34, während das von dem Impulsgenerator 10 ausgegebene Signal die H-Logik ist, und hält den Signalpegel des Jittermesssignals für die Eingabe in die Berechnungseinheit 34, während das von dem Impulsgenerator 10 ausgegebene Signal die L-Logik ist.
7 zeigt ein Beispiel für eine von der Abtast- und Halteschaltung 36 ausgegebene Wellenform. In 7 zeigt eine gestrichelte Linie eine Wellenform des von dem Integrator 20 ausgegebenen Jittermesssignals, und die ausgezogene Linie zeigt eine von der Abtast- und Halteschaltung 36 ausgegebene Wellenform. Wie in 7 gezeigt ist, hält die Abtast- und Halteschaltung 36 die Spannung eines Extremwertes des Jittermesssignals. Da die Spannung des Extremwertes in einer linearen Beziehung mit dem entsprechenden Zeitjitter einer Flanke des geprüften Signals ist, ist es möglich, anhand der Spannung des Extremswertes das Zeitjitter zu schätzen. Weiterhin kann, da die Spannung des Extremwerts gehalten und in die Berechnungseinheit 34 eingegeben wird, die Berechnungseinheit 34 leicht die Spannung des Extremwerts erfassen.
8 illustriert die von der Abtast- und Halteschaltung 36 gehaltene Spannung für den Fall, dass eine Versetzung zwischen dem Impulssignal und dem in die Abtast- und Halteschaltung 36 eingegebenen Jittermesssignal enthalten ist. In diesem Fall hält die Abtast- und Halteschaltung 36 an einem Abtastpunkt jede Spannung des Jittermesssignals, deren Extremwerte aufgrund der Versetzung um die Zeit τ verschoben sind. Für jeden Extremwert ist der mit der gehaltenen Spannung assoziierte Fehler aufgrund der Zeitversetzung ein konstanter Wert wegen der abnehmenden Rate des Jittermesssignals. Daher beeinträchtigt der Fehler nicht die lineare Beziehung zwischen dem Zeitjitter des geprüften Signals und einem gemessenen Wert des Zeitjitter. Somit kann die Berechnungseinheit 34 das Zeitjitter des geprüften Signals leicht und genau herausziehen.
9 ist ein Blockschaltbild, das ein anderes Beispiel für die Ausbildung der Jittermessvorrichtung 40 zeigt. Die Jittermessvorrichtung 40 gemäß dem vorliegenden Beispiel enthält eine Abtastschaltung 38 und eine Berechnungseinheit 34 in der Jittermess-Subeinheit 30. Die Abtastschaltung 38 tastet den Signalpegel des Jittermesssignals ab, wenn das Impulssignal von dem Impulsgenerator 10 ausgegeben wird. Die Abtastschaltung 38 kann ein Analog/Digital-Wandler zum Abtasten des Jittermesssignals beispielsweise zu der Zeit einer ansteigenden Flanke des Impulssignals und zum Eingeben des Wertes der abgetasteten Spannung in die Berechnungseinheit 34 sein. Der von der Abtastschaltung 38 in die Berechnungseinheit 34 eingegebene Spannungswert ist ähnlich dem von der in 6 erläuterten Abtast- und Halteschaltung 36 in die Berechnungseinheit 34 eingegebenen Spannungswert. Somit kann die Berechnungseinheit 34 das Zeitjitter des geprüften Signals leicht und genau herausziehen.
10 ist ein Blockschaltbild, das ein anderes Beispiel für die Ausbildung der Jittermessvorrichtung 40 zeigt. Die Jittermessvorrichtung 40 nach dem vorliegenden Beispiel enthält weiterhin zusätzlich zu der in 1 erläuterten Ausbildung der Jittermessvorrichtung 40 einen Steuerabschnitt 60. Vor dem Messen des Zeitjitters des geprüften Signals steuert der Steuerabschnitt 60 die Impulsbreite des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen Impulssignals, die zunehmende und die abnehmende Rate des von dem Integrator 20 ausgegebenen Jittermesssignals, so dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalpegel wird, wenn kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist.
Beispielsweise steuert in dem Fall, dass die Impulsbreite des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen Impulssignals festgelegt ist, der Steuerabschnitt 60 die zunehmende und die abnehmende Rate des Jittermesssignals auf der Grundlage der Impulsbreite und des Intervalls zwischen geprüften Flanken für den Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist, so dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalwert für den Fall wird, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist.
Die Impulsbreite des Impulssignals kann durch den Steuerabschnitt 60 gemessen oder auf der Grundlage der Verzögerung der Verzögerungsschaltung 12 geschätzt werden. Weiterhin kann das Intervall zwischen geprüften Flanken für den Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist, an den Steuerabschnitt 60 angelegt oder von dem Steuerabschnitt 60 geschätzt werden durch Messen einer Durchschnittsperiode des geprüften Signals. Durch Schätzen der Durchschnittsperiode des geprüften Signals über ein ausreichend langes Zeitintervall ist es möglich, den Einfluss des Zeitjitters des geprüften Signals herabzusetzen und die Durchschnittsperiode genau zu schätzen. Weiterhin kann das Intervall zwischen geprüften Flanken leicht anhand der Durchschnittsperiode geschätzt werden. Der Steuerabschnitt 60 steuert die zunehmende und die abnehmende Rat des Jittermesssignals auf der Grundlage des geschätzten Wertes, so dass die zunehmende und die abnehmende Rate der Gleichung (1) genügen. Es ist möglich, die zunehmende und die abnehmende Rate einzustellen, indem beispielsweise die Werte des Quellenstroms und des Senkenstroms des Integrators 20 gesteuert werden.
Für den Fall, dass der Steuerabschnitt 60 die zunehmende und die abnehmende Rate des Jittermesssignals steuert, ist es wünschenswert, dass der Steuerabschnitt 60 die zunehmende Rate zuerst steuert, da die abnehmende Rate des Jittermesssignals die Verstärkung des gemessenen Wertes des Zeitjitters mit Bezug auf das Zeitjitter des geprüften Signals bestimmt, wie in 3 erläutert ist.
Weiterhin kann, da ein Bereich der Größe des Stroms, der durch die Stromquelle 22 und die Stromsenke 26 erzeugt werden kann, begrenzt ist, jeweils die zunehmende und die abnehmende Rate des Jittermesssignals innerhalb eines vorbestimmten variablen Bereichs gesetzt werden. Für den Fall, dass die zunehmende Rate nicht innerhalb des variablen Bereichs sein kann, wenn der Steuerabschnitt 60 die zunehmende Rate so setzt, dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalpegel für den Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal erzeugt ist, ist, kann der Steuerabschnitt 60 weiterhin die abnehmende Rate steuern und somit bewirken, dass die zunehmende Rate innerhalb des variablen Bereichs ist. Durch die se Art der Steuern ist es möglich, zu verhindern, dass sich die Verstärkung des gemessenen Wertes des Zeitjitters ändert.
Weiterhin steuert in dem Fall, dass die zunehmende und die abnehmende Rat des Jittermesssignals festgelegt sind, der Steuerabschnitt 60 die Impulsbreite des von dem Impulsgenerator 10 ausgegebenen Impulssignals auf der Grundlage des Intervalls zwischen geprüften Flanken und der gegebenen zunehmenden und abnehmenden Rate so, dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalpegel ist, wenn kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist. Die zunehmende und die abnehmende Rate des Jittermesssignals können leicht geschätzt werden, beispielsweise anhand der Werte des Quellenstroms und des Senkenstroms und der Kapazität des Kondensators 28. Weiterhin kann das Intervall von geprüften Flanken wie vorstehend beschrieben geschätzt werden. Der Steuerabschnitt 60 steuert die Impulsbreite W so, dass die Impulsbreite W der Gleichung (1) genügt, auf der Grundlage der vorstehend geschätzten Werte. Die Impulsbreite W kann leicht eingestellt werden, beispielsweise durch Steuern der Verzögerung der Verzögerungsschaltung 12 des Impulsgenerators 10.
Weiterhin kann der Steuerabschnitt 60 die Impulsbreite des Impulssignals, die zunehmende und die abnehmende Rate des Jittermesssignals auf der Grundlage der Pegeldifferenz zwischen dem Extremwert des Jittermesssignals und einem vorbestimmten Signalpegel, der durch die Jittermess-Subeinheit 30 geschätzt wurde, ohne Vorsehen des Impulsgenerators 10 mit dem geprüften Signal während einer ausreichend langen Zeit steuern.
11 zeigt ein Beispiel für eine Wellenform des Jittermesssignals in einem Zustand, in welchem die Impulsbreite des Impulssignals, die zunehmende und die abnehmende Rate des Jittermesssignals nicht gesteuert werden. In dem Fall, dass die Impulsbreite des Impulssignals sowie die zunehmende und die abnehmende Rate des Jittermesssignals nicht gesteuert werden, stimmt der Extremwert des Jittermesssignals nicht mit einem vorbestimmten Signalpegel überein, und die Differenz zwischen dem Extremwert und dem vorbestimmten Signalpegel wird akkumuliert, wie in 11 gezeigt ist.
Durch Messen einer Pegeldifferenz nach einer ausreichend langen Zeit ist es möglich, den Einfluss des Zeitjitters des geprüften Signals auf die Pegeldifferenz zu reduzieren. Mit anderen Worten, die Pegeldifferenz wird bewirkt durch Fehler beim Einstellen der Impulsbreite des Impulssignals sowie der zunehmenden und der abnehmenden Rate des Jittermesssignals. Dann ist es möglich, die für einen Zyklus des Jittermesssignals erzeugte Pegeldifferenz zu schätzen, indem die Pegeldifferenz durch die Anzahl von Zyklen des Jittermesssignals innerhalb der Messperiode geteilt wird. Der Steuerabschnitt 60 kann Werte bestimmen, auf die die Impulsbreite des Impulssignals sowie die zunehmende und die abnehmende Rate des Jittermesssignals einzustellen sind, anhand der für einen Zyklus erzeugten Pegeldifferenz.
Weiterhin kann der Steuerabschnitt 60 den Impulsgenerator 10 mit dem geprüften Signal beliefern, bis der Signalpegel des Extremwertes des Jittermesssignals gesättigt ist. Da der Signalpegel des Jittermesssignals durch den Kondensator 28 erzeugt wird, ist der Signalpegel des Jittermesssignals gemäß der Kapazität des Kondensators 28 gesättigt. Der Steuerabschnitt 60 kann Werte bestimmen, auf die die Impulsbreite des Impulssignals sowie die zunehmende und die abnehmende Rate des Jittermesssignals zu setzen sind, auf der Grundlage der Pegeldifferenz zwischen dem Extremwert des Jittermesssignals und dem vorbestimmten Signalpegel, wenn der Signalpegel des Jittermesssignals gesättigt ist, und der Zeit, die der Signalpegel des Jittermesssignals benötigt, um gesättigt zu sein. Hierdurch ist es möglich, die Messperiode zu maximieren und eine Messung der Pegeldifferenz durchzuführen, während der Einfluss des Zeitjitters des geprüften Signals minimiert ist.
12 ist ein Flussdiagramm, das ein Verfahren zum Messen des Zeitjitters eines geprüften Signals zeigt. Das Messverfahren führt eine Messung des Zeitjitters in derselben Weise wie die in den 1 bis 11 beschriebene Jittermessvorrichtung durch. Zuerst wird in einem Impulserzeugungsschritt S200 ein Impuls mit einer vorbestimmten Impulsbreite für eine Flanke des geprüften Signals ausgegeben, dessen Zeitjitter geprüft wird. Die detaillierte Operation des Schrittes S200 ist ähnlich der des in den 1 bis 11 beschriebenen Impulsgenerators 10. Dann wird in einem Jitterschätzschritt S202 der in dem Impulserzeugungsschritt S200 ausgegebene Impuls integriert und das Zeitjitter wird auf der Grundlage des Tastverhältnisses jedes Zyklus des in dem Impulserzeugungsschritt S200 erzeugten Impulses herausgezogen. Die detaillierte Operation des Schrittes S202 ist ähnlich der des Integrators 20, der Jittermess-Subeinheit 10 und des Steuerabschnitts 60, die mit Bezug auf die 1 bis 11 beschrieben wurden.
13 ist ein Blockschaltbild, das ein Beispiel für die Ausbildung einer elektronischen Vorrichtung 300 gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt. Die elektronische Vorrichtung 300 enthält eine Operationsschaltung 302 und die Jittermessvorrichtung 40. Die Operationsschaltung 302 und die Jittermessvorrichtung 40 können auf einem Halbleiterchip vorgesehen sein. Die Operationsschaltung 302 kann eine Halbleiterschaltung sein, die ein Ausgangssignal gemäß dem eingegebenen Eingangssignal ausgibt.
Die Jittermessvorrichtung 40 misst das Zeitjitter des von der Operationsschaltung 302 ausgegebenen Ausgangssignals. Die Jittermessvorrichtung 40 kann das Messergebnis nach außen ausgeben. Zusätzlich kann die elektronische Vorrichtung 300 die Prüfvorrichtung 100 anstelle der Jittermessvorrichtung 400 enthalten. In diesem Fall bestimmt die Prüfvorrichtung 100'' gut/schlecht" der Operationsschaltung auf der Grundlage des Zeitjitters des Ausgangssignals der Operationsschaltung 302. Die Prüfvorrichtung 100 kann das Ergebnis nach außen ausgeben. Zusätzlich kann die Jittermessvorrichtung 40n das Zeitjitter eines innerhalb der Operationsschaltung 302 erzeugten Signals messen.
Wie aus der vorstehenden Beschreibung ersichtlich ist, ist es gemäß der vorliegenden Erfindung möglich, das Zeitjitter eines geprüften Signals leicht und genau zu schätzen. Weiterhin ist es möglich, selbst wenn ein Verzögerungsfehler in einer Verzögerungsschaltung erzeugt wird, das Zeitjitter genau zu schätzen.

Claims

Jittermessvorrichtung zum Messen von Zeitjitter eines geprüften Signals, welche aufweist: einen Impulsgenerator zum Ausgeben eines Impulssignals mit einer vorbestimmten Impulsbreite für eine Flanke des geprüften Signals, dessen Zeitjitter geprüft wird; und eine Jittermess-Subeinheit zum Herausziehen des Zeitjitters auf der Grundlage eines Tastverhältnisses jedes Zyklus des von dem Impulsgenerator ausgegebenen Signals.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 1, weiterhin aufweisend einen Integrator zum Ausgeben eines Jittermesssignals, dessen Signalpegel um eine vorbestimmte zunehmende Rate zunimmt, während das von dem Impulsgenerator ausgegebene Signal eine H-Logik zeigt, und um eine vorbestimmte abnehmende Rate abnimmt, während das von dem Impulsgenerator ausgegebene Signal eine L-Logik zeigt, wobei die Jittermess-Subeinheit das Zeitjitter auf der Grundlage des Signalpegels herauszieht, den das Jittermesssignal zu der Zeit jeder Flanke des Impulssignals zeigt.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 2, bei der die Jittermess-Subeinheit das Zeitjitter auf der Grundlage des Extremwertes der Veränderung in dem Signalpegel des Jittermesssignals herauszieht.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 2, bei der der Integrator das Jittermesssignal durch die zunehmende und die abnehmende Rate so erzeugt, dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalpegel in dem Fall ist, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal erzeugt ist, und die Jittermess-Subeinheit das Zeitjitter auf der Grundlage einer Differenz zwischen jedem Extremwert des Jittermesssignals und dem vorbestimmten Signalpegel herauszieht.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 4, weiterhin aufweisend einen Steuerabschnitt zum Steuern der zunehmenden und der abnehmenden Rate auf der Grundlage der Impulsbreite des Impulssignals und eines Intervalls zwischen den geprüften Flanken für den Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist, derart, dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalpegel in dem Fall ist, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 5, bei der der Steuerabschnitt die zunehmende und die abnehmende Rate so steuert, dass sie im Wesentlichen der folgenden Gleichung genügen: a1 × W + a2 × (T – W) = 0worin a1 die zunehmende Rate, a2 die abnehmende Rate ist, W die Impulsbreite des Impulssignals ist und T eine Durchschnittsperiode des geprüften Signals ist.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 5, bei der der Steuerabschnitt die zunehmende und die abnehmende Rate auf der Grundlage einer Differenz zwischen dem Extremwert des Jittermesssignals, wenn eine vorbestimmte Zeit von der Zeit, zu der das Jittermesssignal beginnt, erzeugt zu werden, vergangen ist und den vorbestimmten Signalpegel steuert.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 5, bei der jeweils die zunehmende und die abnehmende Rate innerhalb eines vorbestimmten variablen Bereichs gesetzt werden können, und der Steuerabschnitt die zunehmende Rate so setzt, dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalpegel in dem Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist, und in dem Fall, dass die zunehmende Rate nicht innerhalb des variablen Bereichs gesetzt werden kann, weiterhin die abnehmende Rate steuert, um zu bewirken, dass die zunehmende Rate innerhalb des variablen Bereichs ist.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 2, weiterhin aufweisend einen Steuerabschnitt zum Steuern der Impulsbreite auf der Grundlage der zunehmenden und der abnehmenden Rate des Integrators und eines Intervalls zwischen den geprüften Flanken in dem Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal erzeugt ist, derart, dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalpegel in dem Fall ist, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 4, bei der der Integrator aufweist: eine Stromquelle zum Erzeugen eines die zunehmende Rate bestimmenden Quellenstroms; eine Stromsenke zum Erzeugen eines die abnehmende Rate bestimmenden Senkenstroms; einen Kondensator zum Erzeugen eines Spannungspegels des Jittermesssignals, indem er durch die Stromquelle und die Stromsenke geladen und entladen wird; und einen Lade- und Entlade-Steuerabschnitt zum Laden des Kondensators auf der Grundlage des Quellenstroms, während das Impulssignal die H-Logik zeigt, und zum Entladen des Kondensators auf der Grundlage des Senkenstroms, während das Impulssignals die L-Logik zeigt.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 10, weiterhin aufweisend einen Steuerabschnitt zum Steuern der Werte des Quellenstroms und des Senkenstroms auf der Grundlage der Impulsbreite und des Intervalls der geprüften Flanken in dem Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist, derart, dass jeder Extremwert des Jittermesssignals ein vorbestimmter Signalpegel in dem Fall, dass kein Zeitjitter in dem geprüften Signal enthalten ist, ist.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 1, bei der der Impulsgenerator das Impulssignal für jede Flanke des geprüften Signals ausgibt.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 1, bei der der Impulsgenerator das Impulssignal für eine ansteigende Flanke oder eine abfallende Flanke des geprüften Signals ausgibt.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 2, bei der die Jittermess-Subeinheit eine Durchschnittswertbildungsschaltung aufweist zum Eliminieren einer vorbestimmten Hochfrequenzkomponente aus dem von dem Integrator ausgegebenen Jittermesssignal.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 2, bei der die Jittermess-Subeinheit eine Abtast- und Halteschaltung aufweist zum Durchlassen des Jittermesssignals, während das von dem Impulsgenerator ausgegebene Signal den H-Pegel zeigt, und zum Halten des Signalpegels des Jittermesssignals, während das von dem Impulsgenerator ausgegebene Signal den L-Pegel zeigt.
Jittermessvorrichtung nach Anspruch 2, bei der die Jittermess-Subeinheit eine Abtastschaltung zum Abtasten des Signalpegels des Jittermesssignals gemäß dem von dem Impulsgenerator ausgegebenen Impulssignal aufweist.
Jittermessverfahren zum Messen des Zeitjitters eines geprüften Signals, welches aufweist: einen Impulserzeugungsschritt zum Ausgeben eines Impulssignals mit einer vorbestimmten Impulsbreite für eine Flanke des geprüften Signals, dessen Zeitjitter geprüft wird; und einen Jittermessschritt zum Herausziehen des Zeitjitters auf der Grundlage eines Tastverhältnisses jedes Zyklus des in dem Impulserzeugungsschritt ausgegebenen Signals.
Prüfvorrichtung zum Prüfen einer geprüften Vorrichtung, welche aufweist: eine Jittermessvorrichtung zum Schätzen des Zeitjitters eines von der geprüften Vorrichtung ausgegebenen geprüften Signals; und einen Bestimmungsabschnitt zum Bestimmen von "gut/schlecht" der geprüften Vorrichtung auf der Grundlage des von der Jittermessvorrichtung geschätzten Zeitjitters, worin die Jittermessvorrichtung aufweist: einen Impulsgenerator zum Ausgeben eines Impuls signals mit einer vorbestimmten Impulsbreite für eine Flanke des geprüften Signals, dessen Zeitjitter geprüft wird; und eine Jittermess-Subeinheit zum Herausziehen des Zeitjitters auf der Grundlage eines Tastverhältnisses jedes Zyklus des von dem Impulsgenerator ausgegebenen Signals.
Elektronische Vorrichtung zum Ausgeben eines Ausgangssignals gemäß einem empfangenen Eingangssignal, welche aufweist: eine Operationsschaltung zum Empfangen des Eingangssignals und zum Ausgeben des Ausgangssignals; und eine Jittermessvorrichtung zum Messen des Zeitjitters des von der Operationsschaltung ausgegebenen Ausgangssignals, worin die Jittermessvorrichtung enthält: einen Impulsgenerator zum Ausgeben eines Impulssignals mit einer vorbestimmte Impulsbreite für jede geprüfte Flanke, um das Zeitjitter des Ausgangssignals zu messen; und eine Jitterberechnungsvorrichtung zum Berechnen des Zeitjitters auf der Grundlage eines Tastverhältnisses für jeden Zyklus des von dem Impulsgenerator ausgegebenen Signals.