-
Die
vorliegende Erfindung betrifft allgemein eine Testvorrichtung zum
Testen einer zu testenden Schaltungseinheit, und betrifft insbesondere
eine Testvorrichtung, die zum Testen einer zu testenden Schaltungseinheit
auf der Grundlage einer vorgegebenen Taktfrequenz ausgelegt ist.
-
Spezifisch
betrifft die vorliegende Erfindung eine Testvorrichtung zum Testen
einer zu testenden Schaltungseinheit mit einem Testsystem, welches
ein Taktsignal einer Frequenz f zur Steuerung und Durchführung eines
Tests der zu testenden Schaltungseinheit bereitstellt, und einer
Verbindungseinrichtung zur elektrischen Verbindung des Testsystems
mit der zu testenden Schaltungseinheit, wobei der Verbindungseinrichtung
das Taktsignal zur Steuerung und Durchführung des Tests der zu testenden Schaltungseinheit
zugeführt
wird.
-
Zu
testende Schaltungseinheiten, wie beispielsweise ein DDR-DRAM (Double Data
Rate (DDR)-DRAM; DRAM= Dynamic Random Access Memory, dynamischer
Schreiblesespeicher) werden auf der Grundlage einer vorgegebenen
Taktfrequenz f getestet.
-
Üblicherweise
wird eine derartige Taktfrequenz f fest durch das Testsystem vorgegeben.
Zum Testen der zu testenden Schaltungseinheit (beispielsweise des
zu testenden Speichermoduls), wird diese über eine Verbindungseinrichtung,
die üblicherweise
als HiFix oder Loadboard bezeichnet wird, mit dem Testsystem verbunden.
Die Verbindung zwischen dem Testsystem und der zu testenden Schaltungseinheit
dient einem Leiten von Solldaten einer vorgegebenen Frequenz zu
der zu testenden Schaltungseinheit und einem Auslesen von Istdaten
aus der zu testenden Schaltungseinheit, wobei in dem Testsystem
an schließend
die ausgelesenen Istdaten mit den erwarteten Solldaten verglichen
werden.
-
Ein
zunehmender Bedarf besteht nach Testsystemen, die zu testende Schaltungseinheiten,
wie beispielsweise Speicherbausteine, auf der Basis hoher Taktfrequenzen
f testen können.
Insbesondere ein funktioneller Geschwindigkeitstest bei einer hohen
Zielfrequenz muss bei der zu testenden Schaltungseinheit durchgeführt werden.
-
Es
ist daher eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Testvorrichtung
bereitzustellen, mit welcher eine zu testende Schaltungseinheit
auch bei Frequenzen testbar ist, die die Taktfrequenzen des Testsystems
wesentlich überschreiten.
-
Diese
Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine
Testvorrichtung zum Testen von zu testenden Schaltungseinheiten
mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst.
-
Ferner
wird die Aufgabe durch ein im Patentanspruch 8 angegebenes Verfahren
gelöst.
-
Weitere
Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
-
Ein
wesentlicher Gedanke der Erfindung besteht darin, eine Verbindungseinrichtung,
die zur elektrischen Verbindung zwischen einem Testsystem und einer
zu testenden Schaltungseinheit dient, derart auszulegen, dass durch
diese wahlweise ursprüngliche
Taktsignale ohne Frequenzveränderung zu
der zu testenden Schaltungseinheit durchgeleitet werden können, und
andererseits Taktsignale, die von dem Testsystem zugeführt werden,
in der Verbindungseinrichtung frequenzverdoppelt und zu der zu testenden
Schaltungseinheit ausgegeben werden können.
-
Vorzugsweise
stellt die Verbindungseinrichtung zwei Betriebsmodi bereit, d.h.
- (1) einen normalen Betriebsmodus, in welchem das
der Verbindungseinrichtung zugeführte
Taktsignal an die zu testende Schaltungseinheit unverändert weitergeleitet
wird, und
- (2) einen Frequenzverdopplungsmodus, in welchem das der Verbindungseinrichtung
zugeführte Taktsignal
mittels einer Frequenzverdopplungseinheit frequenzverdoppelt und
als ein frequenzverdoppeltes Taktsignal zu der zu testenden Schaltungseinheit
ausgegeben wird.
-
In
vorteilhafter Weise enthält
die Verbindungseinrichtung eine Frequenzverdopplungseinheit zur
Verdopplung der Taktfrequenz f des der Verbindungseinrichtung zugeführten Taktsignals
und zur Ausgabe eines entsprechend frequenzverdoppelten Taktsignals
zu der zu testenden Schaltungseinheit. Mit dem frequenzverdoppelten
Taktsignal wird die zu testende Schaltungseinheit schließlich in
einem Hochfrequenzbereich getestet.
-
Gemäß einem
allgemeinen Aspekt weist die Testvorrichtung zum Testen einer zu
testenden Schaltungseinheit im Wesentlichen auf:
- a)
ein Testsystem, welches ein Taktsignal zur Steuerung und Durchführung eines
Tests der zu testenden Schaltungseinheit bereitstellt; und
- b) eine Verbindungseinrichtung zur elektrischen Verbindung des
Testsystems mit der zu testenden Schaltungseinheit, wobei der Verbindungseinrichtung
das Taktsignal zur Steuerung und Durchführung des Tests der zu testenden
Schaltungseinheit zugeführt
wird.
-
Die
Verbindungseinrichtung weist eine Frequenzverdopplungseinheit zur
Verdopplung der Taktfrequenz des der Verbindungseinrichtung zugeführten Taktsignals
und zur Ausgabe eines frequenzverdoppelten Taktsignals zu der zu
testenden Schaltungseinheit und eine Umschalteinrichtung zur Umschaltung
der Verbindungseinrichtung zwischen einem normalen Betriebsmodus,
in welchem das der Verbindungseinrichtung zugeführte Taktsignal an die zu testende
Schaltungseinheit weitergeleitet wird, und einem Frequenzverdopplungsmodus,
in welchem das der Verbindungseinrichtung zugeführte Taktsignal mittels der
Frequenzverdopplungseinheit frequenzverdoppelt und das als das frequenzverdoppelte
Taktsignal zu der zu testenden Schaltungseinheit ausgegeben wird.
-
Ferner
weist das erfindungsgemäße Verfahren
zum Testen einer zu testenden Schaltungseinheit im Wesentlichen
die folgenden Schritte auf:
- a) Bereitstellen,
durch ein Testsystem, eines Taktsignals zum Steuern und zum Durchführen eines Tests
der zu testenden Schaltungseinheit; und
- b) Verbinden des Testsystems mit der zu testenden Schaltungseinheit
mittels einer Verbindungseinrichtung, wobei der Verbindungseinrichtung das
Taktsignal zum Steuern und zum Durchführen des Tests der zu testenden
Schaltungseinheit zugeführt
wird;
- c) Umschalten, mittels einer Umschalteinrichtung, der Verbindungseinrichtung
zwischen einem normalen Betriebsmodus, in welchem das der Verbindungseinrichtung
zugeführte
Taktsignal an die zu testende Schaltungseinheit weitergeleitet wird, und
einem Frequenzverdopplungsmodus, in welchem das der Verbindungseinrichtung
zugeführte Taktsignal
mittels einer Frequenzverdopplungseinheit frequenzverdoppelt und
als ein frequenzverdoppeltes Taktsignal zu der zu testenden Schaltungseinheit
ausgegeben wird; und
- d) Durchführen
von Tests an der zu testenden Schaltungseinheit auf der Grundlage
des Taktsignals und/oder des frequenzverdoppelten Taktsignals.
-
In
den Unteransprüchen
finden sich vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen des
jeweiligen Gegenstandes der Erfindung.
-
Gemäß einer
bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung besteht die
Umschalteinrichtung zur Umschaltung der Verbindungseinrichtung zu dem
normalen Betriebsmodus und dem Frequenzverdopplungsmodus aus einer
ersten Umschalteinheit, die der Frequenzverdopplungseinheit vorgeschaltet
ist, und einer zweiten Umschalteinheit, die der Frequenzverdopplungseinheit
nachgeschaltet ist.
-
Gemäß einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung ist
die Frequenzverdopplungseinheit, die in der Verbindungseinrichtung
mit integrierter Umschalteinrichtung untergebracht ist, zur Verdopplung
der Taktfrequenz f des der Verbindungseinrichtung zugeführten Taktsignals
ausgelegt und als ein EXCLUSIV-ODER-Gatter (XOR-Gatter) ausgebildet.
Weiterhin ist es vorteilhaft, die Frequenzverdopplungseinheit zur
Verdopplung der Taktfrequenz f des der Verbindungseinrichtung zugeführten Taktsignals
als eine Multiplexiereinheit auszulegen. Allgemein ist die Verbindungseinrichtung,
die die Umschalteinrichtung und die Frequenzverdopplungseinrichtung
aufweist, als eine standardisierte HiFix- oder Loadboard-Einheit ausgebildet.
-
Gemäß noch einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung ist
das Taktsignal als eine Kombination aus einem ersten Takteingangssignal
und einem zweiten Takteingangssignal bereitgestellt. Eine derartige
Kombination wird vorzugsweise durch eine logische Verknüpfung der
ersten und zweiten Takteingangssignale bereitgestellt.
-
Gemäß noch einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung ist
eine Phasenverschiebung zwischen dem ersten Takteingangssignal und
dem zweiten Takteingangssignal in einem Bereich zwischen 0° und 180° durch das
Testsystem einstellbar. Dies steuert direkt die zeitliche Abfolge
der Flanken des frequenzverdoppelten Taktausgangssignales.
-
Gemäß noch einer
weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfindung ist
die Frequenzver vielfachung mittels mehrfacher Frequenzverdopplungseinheiten,
die in der Verbindungseinrichtung bereitgestellt sind, das Taktsignal
in der Taktfrequenz f zu vervielfachen.
-
Auf
diese Weise ist es möglich,
eine zu testende Schaltungseinheit auf der Grundlage eines Taktsignals
zu testen, welches eine wesentlich höhere (typischerweise die doppelte)
Frequenz als das Taktsignal aufweist, das von dem Testsystem ausgegeben
wird. Somit können
durch die Verwendung der erfindungsgemäßen Verbindungseinrichtung
zu testende Schaltungseinheiten bei hohen Frequenzen mit herkömmlichen
Testsystemen getestet werden.
-
Ausführungsbeispiele
der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und in der nachfolgenden
Beschreibung näher
erläutert.
-
In
den Zeichnungen zeigen:
-
1 ein
Gesamt-Blockbild einer Testvorrichtung mit einem Testsystem und
einer über
eine Verbindungseinrichtung an das Testsystem angeschlossenen, zu
testenden Schaltungseinheit;
-
2 eine
Verbindungseinrichtung mit Frequenzverdopplungseinheit und Umschalteinheiten, die
für eine
doppelte Übertragungsleitung
ausgelegt ist, mit ge trennten Hin- und Rückleitungen für die Signale
zwischen Testsystem und zu testender Schaltungseinheit, ein Dual
Transmission Line oder Fly-by Konzept, gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
-
3 eine
Verbindungseinrichtung mit Frequenzverdopplungseinheit und Umschalteinrichtung, die
für eine
einzelne Übertragungsleitung
ausgelegt ist, mit identischer Signalleitung für Hin- und Rückleitung
zwischen Testsystem und zu testender Schaltungseinheit, ein Single
Transmission Line Konzept, gemäß einem
weiteren bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung; und
-
4(a), (b), und (c) Ablaufdiagramme mit den
Zeitverläufen
eines der Verbindungseinrichtung zugeführten ersten Takteingangssignals,
eines der Verbindungseinrichtung zugeführten zweiten Takteingangssignals
und eines Frequenzverdopplereinheit-Ausgangssignals zur Veranschaulichung
einer Funktionsweise der erfindungsgemäßen Frequenzverdopplungseinheit.
-
In
den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche oder funktionsgleiche
Komponenten oder Schritte.
-
In 1 ist
ein Blockbild einer erfindungsgemäßen Anordnung einer Testvorrichtung
zum Testen einer zu testenden Schaltungseinheit 101 gezeigt. Ein
Bezugszeichen 100 bezeichnet ein Testsystem, das alle erforderlichen
Testsignale, Testdaten etc. zum Testen der zu testenden Schaltungseinheit 101 bereitstellt.
Zur elektrischen Verbindung des Testsystems 100 mit der
zu testenden Schaltungseinheit 101 ist eine Verbindungseinrichtung 200 bereitgestellt, die
als HiFix bzw. Loadboard ausgebildet sein kann. Die Verbindungseinrichtung 200 ist
an das Testsystem 100 über
einen Testsystem-Datenbus (veranschaulicht durch einzelne Leitungen)
verbunden, während
die zu testende Schaltungseinheit 101 mit der Verbindungseinrichtung 200 über einen
Verbindungsdatenbus 103 (ebenfalls veranschaulicht durch einzelne
Leitungen in der 1) verbunden ist. Ein Bezugszeichen 104 bezeichnet
ein Taktsignal, das zum Steuern und Durchführen von Tests an der zu testenden
Schaltungseinheit 101 aus dem Testsystem 100 ausgegeben
wird.
-
Ein
Bezugszeichen 105 bezeichnet ein frequenzverdoppeltes Taktsignal 105,
das aus dem von dem Testsystem 100 bereitgestellten Taktsignal 104 mittels
einer in der Verbindungseinrichtung 200 bereitgestellten
Frequenzverdopplungseinheit 201 (untenstehend unter Bezugnahme
auf die 2 und 3 beschrieben)
gewonnen wird.
-
Somit
ist es durch die erfindungsgemäße Testvorrichtung
möglich,
ein Taktsignal 104 aus dem Testsystem 100 als
Grundlage für
Tests an der zu testenden Schaltungseinheit 101 zu gewinnen,
und dieses Taktsignal mit Hilfe einer ohnehin notwendigen Verbindungseinrichtung 200 zur
Verbindung des Testsystems 100 mit der zu testenden Schaltungseinheit 101 in
einem größeren Frequenzbereich
bereitzustellen. Auf diese Weise ermöglicht es die erfindungsgemäße Testvorrichtung,
dass die zu testende Schaltungseinheit 101 mit einer gegenüber der
Taktfrequenz des Testsystems 100 erhöhten (in diesem bevorzugten
Ausführungsbeispiel
verdoppelten) Taktfrequenz eines frequenzverdoppelten Taktsignals 105 getestet
wird.
-
2 zeigt
die Verbindungsvorrichtung 200 gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung in größerem Detail.
Hierbei sind getrennte Hin- und Rückleitungen für die Signale zwischen
Testsystem und zu testender Schaltungseinheit, d.h. ein Dual Transmission
Line oder Flyby Konzept (DTL) vorgesehen.
-
Kernelement
ist die mit dem Bezugszeichen 201 bezeichnete Frequenzverdopplungseinheit,
die beispielsweise als ein XOR (EXCLUSIV-ODER)-Gatter ausgebildet
ist. 2 zeigt eine Doppelübertragungsleitungs-Verdrahtung
(DTL, Dual Transmission Line), wobei die Verbindungseinrichtung 200 als
ein entsprechendes HiFix ausgelegt ist, während 3 ein weiteres
bevorzugtes Ausführungsbeispiel
gemäß der vorliegenden
Erfindung zeigt, in welcher die Verbindungseinrichtung 200 für eine einzelne Übertragungsleitung
(STL, Single Transmission Line) ausgelegt ist.
-
2 zeigt
unter anderem die in dem Testsystem 100 vorhandenen Ausgangs/Eingangskomponenten.
Hierbei wird über
eine erste Treibereinheit 204 ein erstes Takteingangssignal 212 zu
der Verbindungseinrichtung 200 geleitet, während über eine zweite
Treibereinheit 205 ein zweites Takteingangssignal 213 zu
der Verbindungseinrichtung 200 geleitet wird. Es sei darauf
hingewiesen, dass die beiden Takteingangssignale 212, 213 eine
gleiche, fest vorgegebene Frequenz f aufweisen, wobei die Phasen
der beiden Takteingangssignale 212, 213 gegeneinander mit
Hilfe einer in dem Testsystem 100 bereitgestellten Phasenschiebeeinrichtung
(nicht gezeigt) oder mittels einer ähnlichen Realisierung gegeneinander
verschiebbar sind (siehe auch Beschreibung bezüglich 4 unten).
-
Ferner
sind die Eingabekomponenten in das Testsystem 100 gezeigt,
d.h. eine erste Komparatoreinheit 206 und eine zweite Komparatoreinheit 207, in
welcher Ausgangsignale aus der zu testenden Schaltungseinheit (in 2 nicht
gezeigt), die als Istdaten aus der zu testenden Schaltungseinheit 101 ausgegeben
werden, mit Solldaten, die in dem Testsystem 100 erzeugt
werden, verglichen werden.
-
Ein
derartiger Vergleich ist dem Fachmann bekannt und wird aus diesem
Grunde hier nicht näher erläutert werden.
-
Die
Verbindungseinrichtung 200 weist ferner eine Umschalteinrichtung
auf, die in dem in 2 gezeigten Ausführungsbeispiel
durch eine erste Umschalteinheit 202 und eine zweite Umschalteinheit 203 ausgebildet
ist. In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel
sind die ersten und zweiten Umschalteinheiten 202, 203 als
Umschaltrelais mit jeweils zwei Schaltkontakten ausgebildet.
-
Hierbei
wird das erste Takteingangssignal 212 einem ersten Relaiskontakt
der ersten Umschalteinheit 202 zugeführt, während das zweite Takteingangssignal 213 einem
zweiten Umschaltkontakt der ersten Umschalteinheit 202 zugeführt wird.
Ebenso enthält
die zweite Umschalteinheit 203 zwei Umschaltkontakte, über welche
entweder (Schalterstellung (1)) die ersten bzw. zweiten
Takteingangssignale abgegriffen werden können, oder (Schalterstellung (2))
erste und zweite Ausgangsanschlüsse 215, 216 der
Frequenzverdopplungseinheit 201 durchgeschaltet werden
können,
um entsprechende Frequenzverdopplereinheit-Ausgangssignale 300, 300' zu erhalten,
welche über
eine erste Taktausgangsleitung 208 bzw. eine zweite Taktausgangsleitung 209 als
ein erstes Taktausgangssignal 210 bzw. ein zweites Taktausgangssignal 211 zu
der zu testenden Schaltungseinheit 101 geführt werden.
-
Es
sei darauf hingewiesen, dass die ersten und zweiten Taktausgangssignale 210, 211 die
gleiche Frequenz aufweisen und zueinander invertiert sind. Hierbei
ist die Frequenz bei dem Einsatz eines EXCLUSIV-ODER-Gatters als
Frequenzverdopplungseinheit 201 gegenüber der Eingangsfrequenz der
ersten und zweiten Takteingangssignale 212, 213 verdoppelt.
-
Durch
die erfindungsgemäße Kombination der
Frequenzverdopplungseinheit 201 mit den ersten und zweiten
Umschalteinheiten 202 bzw. 203 ist es möglich, in
der Verbindungseinrichtung 200 (HiFix) eine Umschaltung
zwischen zwei Betriebsmodi (Schalterstellungen) zu erreichen:
Betriebsmodus
(1) (Schalterstellung (1)): Dies ist ein normaler
Betriebsmodus, in welchem das der Verbindungseinrichtung 200 zugeführte Taktsignal 104 an die
zu testende Schaltungs einheit 101 weitergeleitet wird;
d.h. die beiden Takteingangssignale 212, 213 werden
direkt als die beiden Taktausgangssignale 210, 211 ausgegeben.
-
Betriebsmodus
(2) (Schalterstellung (2)): Dies ist ein Frequenzverdopplungsmodus,
in welchem das der Verbindungseinrichtung 200 zugeführte Taktsignal 104 bzw.
die ersten und zweiten Takteingangssignale 212, 213 derart
verknüpft
werden, dass ein frequenzverdoppeltes Taktausgangssignal entsteht.
Zu diesem Zweck werden die ersten und zweiten Takteingangssignale 212, 213 den
beiden Eingangsanschlüssen
der Frequenzverdopplungseinheit 201 zugeführt, woraufhin
ein frequenzverdoppeltes Ausgangssignal, d.h. ein Frequenzverdopplereinheit-Ausgangssignal 300 (untenstehend
unter Bezugnahme auf 4 beschrieben)
erzeugt wird. Somit wird aus der Verdopplungseinheit 201 das
frequenzverdoppelte Taktsignal 105 zu der zu testenden
Schaltung 101 ausgegeben.
-
In
dem normalen Betriebsmodus (1) kann das Testsystem auf übliche Weise
kalibriert werden, und die Schnittstellentests können mit der entsprechenden
hohen Genauigkeit durchgeführt
werden. Ferner ist es möglich,
in dem Betriebsmodus (2), d.h. dem Frequenzverdopplungsmodus,
die zu testende Schaltungseinheit 101 mit einer hohen,
d.h. einer verdoppelten Taktfrequenz zu beaufschlagen. Durch das
erfindungsgemäße Verfahren
und die erfindungsgemäße Testvorrichtung
ergibt sich der Vorteil, dass eine zu testende Schaltungseinheit 101 über die Verbindungseinrichtung 200 lediglich
einmal an das Testsystem 100 angeschlossen werden muss,
wobei anschließend
ein Test bei der "Normalfrequenz" und der verdoppelten
Taktfrequenz ermöglicht
wird.
-
3 zeigt
eine Verbindungsvorrichtung 200 gemäß einem weiteren bevorzugten
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung, wobei die in 3 gezeigte
Anordnung für
eine einzelne Übertragungsleitung
(STL) ausgelegt ist. Hierbei ist eine einzelne Signalleitung für Hin- und
Rückleitung
zwischen Testsystem und zu testender Schaltungseinheit, d.h. ein Single
Transmission Line Konzept (STL) bereitgestellt. Gleiche Bezugszeichen
wie in 2 bezeichnen gleiche Komponenten und werden, um
eine überlappende
Beschreibung zu vermeiden, hier nicht näher erläutert.
-
3 zeigt
zwei Treibereinheiten 204, 205, in welche die
ersten und zweiten Takteingangssignale 212, 213 eingegeben
werden, wobei diese Takteingangssignale anschließend zu der Verbindungseinrichtung 200 getrieben
werden. Die Frequenzverdopplungseinheit 201 und die ersten
und zweiten Umschalteinheiten 202, 203, die in 3 veranschaulicht
sind, entsprechen in ihrer Funktionsweise den entsprechenden, in 2 gezeigten
Komponenten.
-
Die
in 3 gezeigte Anordnung mit einer einzelnen Übertragungsleitung
stellt das erste Taktausgangssignal 210 auf der ersten
Taktausgangsleitung 208 bereit, während das zweite Taktausgangssignal 211 auf
der zweiten Taktausgangsleitung 209 bereitgestellt wird.
Die beiden Taktausgangsleitungen sind mit DQS bzw. bDQS bezeichnet.
-
4 ist ein Zeitablaufdiagramm, wobei in 4(a) beispielhaft ein Zeitverlauf eines
ersten Takteingangssignals 212 und in 4(b) beispielhaft
ein Zeitverlauf eines zweiten Takteingangssignals 213 gezeigt
ist. 4(c) veranschaulicht das Ausgangssignal
eines XOR-Gatters, das die Frequenzverdopplungseinheit 201 bildet.
Die beiden Takteingangssignale 212, 213 weisen
in dem in 4 gezeigten bevorzugten
Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung eine gegenseitige Phasenverschiebung
von 90° auf.
-
Aus
diesem Grunde ergibt sich ein gleichmäßiges Frequenzverdopplereinheit-Ausgangssignal, d.h.
die Einzeiten und Auszeiten des Frequenzverdopplereinheit-Ausgangssignals
sind jeweils gleich groß.
Die Frequenz des Frequenzverdoppler-Ausgangssignals entspricht genau dem
Doppelten der Frequenz der jeweiligen Takteingangssignale 212, 213.
Veranschaulicht sind erste Taktflanken 301 des ersten Takteingangssignal 212 bzw.
zweite Taktflanken 302 des zweiten Takteingangssignals 213 durch gestrichelte
Linien.
-
Ein
Bezugszeichen t bezeichnet die Zeit. Durch das erfindungsgemäße Verfahren
ist es möglich,
Schnittstellen-Zeitgebungsparameter
bei einer üblichen
Taktfrequenz von beispielsweise 533 MHz zu testen (Betriebsmodus
1), während
spezielle Eigenschaften der zu testenden Schaltungseinheit 101 in
einem verdoppelten Frequenzbereich typischerweise 400-1000 MHz getestet
werden können
(Betriebsmodus 2).
-
Der
besondere Vorteil der vorliegenden Erfindung besteht darin, dass
die Verbindungseinrichtung 200 eine Frequenzverdopplungseinheit 201 mit ersten
und zweiten Umschalteinheiten 202, 203 kombiniert,
derart, dass zwei Betriebsmodi schaltbar sind, d.h. ein normaler
Betriebsmodus (1), in dem ein Testen der zu testenden Schaltungseinheit 101 wie im
Stand der Technik ermöglicht
ist, und ein Frequenzverdopplungsmodus (2), der ein Testen
der zu testenden Schaltungseinheit 101 auf der Grundlage einer
verdoppelten Taktfrequenz eines Taktsignals 105 zulässt.
-
Eine
spezielle HiFix- bzw. Loadboard-Einheit muss hiermit bei einem Testen
von zu testenden Schaltungseinheiten nicht bereitgestellt werden,
wodurch sich ein erheblicher wirtschaftlicher Vorteil ergibt.
-
Obwohl
die vorliegende Erfindung vorstehend anhand bevorzugter Ausführungsbeispiele
beschrieben wurde, ist sie darauf nicht beschränkt, sondern auf vielfältige Weise
modifizierbar.
-
Auch
ist die Erfindung nicht auf die genannten Anwendungsmöglichkeiten
beschränkt.
-
In
den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche oder funktionsgleiche
Komponenten oder Schritte.
-
- 100
- Testsystem
- 101
- Zu
testende Schaltungseinheit
- 102
- Testsystem-Datenbus
- 103
- Verbindungsdatenbus
- 104
- Taktsignal
- 105
- Frequenzverdoppeltes
Taktsignal
- 200
- Verbindungseinrichtung
- 201
- Frequenzverdopplungseinheit
- 202
- Erste
Umschalteinheit
- 203
- Zweite
Umschalteinheit
- 204
- Erste
Treibereinheit
- 205
- Zweite
Treibereinheit
- 206
- Erste
Komparatoreinheit
- 207
- Zweite
Komparatoreinheit
- 208
- Erste
Taktausgangsleitung
- 209
- Zweite
Taktausgangsleitung
- 210
- Erstes
Taktausgangssignal
- 211
- Zweites
Taktausgangssignal
- 212
- Erstes
Takteingangssignal
- 213
- Zweites
Takteingangssignal
- 214
- Invertereinheit
- 215
- Erster
Ausgangsanschluss
- 216
- Zweiter
Ausgangsanschluss
- 300
- Frequenzverdopplereinheit-Ausgangssignal
- 301
- Erste
Taktflanke
- 302
- Zweite
Taktflanke
- f
- Taktfrequenz