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Ein
Speicherchip weist im allgemeinen eine Mehrzahl von Speicherzellen
auf, die auf einem Siliziumwafer aufgebracht und über ein
Array von Spaltenleitungsleitungen (Bitleitungen) und Zeilenleitungsleitungen
(Wortleitungen) adressierbar sind. Üblicherweise befindet sich
eine Speicherzelle an dem Schnittpunkt einer Bitleitung und einer
Wortleitung. Die Speicherzellen werden durch spezialisierte Schaltungen
gesteuert, die Funktionen durchführen, wie
z. B. ein Identifizieren von Zeilen und Spalten, von denen Daten
gelesen oder an die Daten geschrieben werden. Üblicherweise speichert jede Speicherzelle
Daten in der Form einer „1" oder einer „0", was ein Bit an
Daten darstellt.
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Ein
Array magnetischer Speicherzellen kann als ein magnetischer Direktzugriffsspeicher
oder MRAM bezeichnet werden. Ein MRAM ist im allgemeinen ein nichtflüchtiger
Speicher (d. h. ein Festkörperchip,
der Daten beibehält,
wenn eine Leistung ausgeschaltet wird). Zumindest ein Typ einer
magnetischen Speicherzelle umfasst eine Datenschicht und eine Referenzschicht,
die voneinander durch zumindest eine Zwischenschicht getrennt sind.
Die Datenschicht kann auch als eine Bitschicht, eine Speicherungsschicht
oder eine Leseschicht bezeichnet werden. In einer magnetischen Speicherzelle
kann ein Bit an Daten (z. B. eine „1" oder „0") durch ein „Schreiben" in die Datenschicht über eine
oder mehrere leitende Anschlussleitungen (z. B. eine Bitleitung und
eine Wortleitung) gespeichert werden. Eine typische Datenschicht
kann aus einem oder mehreren ferromagnetischen Materialien hergestellt
sein. Die Schreiboperation wird üblicherweise über einen Schreibstrom
erreicht, der die Ausrichtung des magnetischen Moments in der Datenschicht
in eine vorbestimmte Richtung setzt.
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Sobald
es geschrieben wurde, kann das gespeicherte Bit an Daten durch ein
Bereitstellen eines Lesestroms durch eine oder mehrere leitende
Anschlussleitungen (z. B. eine Leseleitung) an die magnetische Speicherzelle
gelesen werden. Für
jede Speicherzelle sind die Ausrichtungen der magnetischen Momente
der Datenschicht und der Referenzschicht entweder parallel (in der
gleichen Richtung) oder antiparallel (in unterschiedlichen Richtungen) zueinander.
Der Grad an Parallelität
beeinflusst den Widerstandswert der Zelle und dieser Widerstandswert
kann durch ein Lesen (z. B. über
einen Leseverstärker)
eines Ausgangsstroms oder einer Ausgangsspannung, der/die durch
die Speicherzelle ansprechend auf den Lesestrom erzeugt wird, bestimmt werden.
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Insbesondere
weist der basierend auf dem Ausgangsstrom bestimmte Widerstandswert,
wenn die magnetischen Momente parallel sind, einen ersten relativen
Wert (z. B. relativ niedrig) auf. Wenn die magnetischen Momente
antiparallel sind, weist der bestimmte Widerstandswert einen zweiten
relativen Wert (z. B. relativ hoch) auf. Die relativen Werte der beiden
Zustände
(d. h. parallel und antiparallel) unterscheiden sich üblicherweise
ausreichend, um als unterschiedlich erfasst zu werden. Eine „1" oder eine „0" kann den jeweiligen
relativen Widerstandswerten abhängig
von einer Entwurfsspezifizierung zugewiesen werden.
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Die
Zwischenschicht, die auch als eine Abstandsschicht bezeichnet werden
kann, kann ein isolierendes Material (z. B. Dielektrikum), ein nicht-magnetisches
leitendes Material und/oder weitere bekannte Materialien aufweisen.
Die verschiedenen leitenden Anschlussleitungen, die zur Auswahl
der Speicherzellen verwendet werden (z. B. Bitleitungen, Wortleitungen
und Leseleitungen) und zur Bereitstellung von Strömen zum
Laufen durch die Daten- und die Referenzschicht zum Lesen von Daten
von oder Schreiben von Daten in die Speicherzellen werden durch
eine oder mehrere zusätzliche
Schichten, leitende Schichten genannt, bereitgestellt.
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Die
oben beschriebenen Schichten und ihre jeweiligen Charakteristika
sind typisch für
magnetische Speicherzellen, die auf Tunneleffektmagnetowiderstands-
(CMR-) Effekten basieren, die in der Technik bekannt sind. Weitere
Kombinationen von Schichten und Charakteristika können ebenso
verwendet werden, um magnetische Speicherzellen herzustellten, die
auf TMR-Effekten basieren. Siehe z. B. U.S.-Patent Nr. 6,404,674, übertragen
an Anthony u. a., das hierin zu allen Zwecken in seiner Gesamtheit durch
Bezugnahme aufgenommen ist.
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Weitere
Konfigurationen magnetischer Speicherzellen basieren auf weiteren
gut bekannten physischen Effekten (z. B. Effekt eines Riesen-Magnetowiderstands
(GMR), eines anisotropen Magnetowiderstands (AMR), eines Kolossal-Magnetowiderstands
(CMR) und/oder anderen physischen Effekten).
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In
der gesamten Anmeldung werden verschiedene exemplarische Ausführungsbeispiele
in Bezug auf die TMR-Speicherzellen, wie diese oben erst beschrieben
wurden, beschrieben. Fachleute auf diesem Gebiet werden ohne weiteres
erkennen, dass die exemplarischen Ausführungsbeispiele auch mit weiteren
Typen magnetischer Speicherzellen, die in der Technik bekannt sind
(z. B. weiteren Typen von PMR-Speicherzellen, GMR-Speicherzellen, AMR-Speicherzellen,
CMR-Speicherzellen, usw.), gemäß den Anforderungen
einer bestimmten Implementierung implementiert sein können.
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Bei
einem herkömmlichen
MRAM, wie er oben beschrieben wurde, befindet sich die magnetische
Speicherzelle im allgemeinen an dem Schnittpunkt eines Paars orthogonaler
Metallschreibleiter (d. h. einer Bitleitung und einer Wortleitung).
Bei dieser Anordnung befinden sich die magnetischen Speicherzellen
in einem guten thermischen Kontakt zu den Schreibleitern. Ein derartiger
guter thermischer Kontakt hält
die Temperatur der magnetischen Speicherzellen niedrig, da in den
magnetischen Speicherzellen erzeugte Wärme schnell durch die Schreibleiter
dissipiert wird. Wenn man jedoch die Temperatur der magnetischen
Speicherzellen erhöhen
möchte, wird
der gute thermische Kontakt zu einem Nachteil. Dies ist in einem
thermisch gestützten
MRAM der Fall, bei dem die Temperatur einer ausgewählten Speicherzelle
in einer magnetischen Speicherzelle während einer Schreiboperation
erhöht
wird, um ein Umschalten ihrer magnetischen Ausrichtung zu erleichtern.
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So
besteht ein Markt für
verbesserte thermisch gestützte
magnetische Speicherstrukturen.
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Es
ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Array thermisch
gestützter
magnetischer Speicherstrukturen, Verfahren oder ein nichtflüchtiges
Speicherarray mit verbesserten Charakteristika zu schaffen.
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Diese
Aufgabe wird durch ein Array gemäß Anspruch
1, ein Verfahren gemäß Anspruch
17 oder 22 oder ein Speicherarray gemäß Anspruch 34 gelöst.
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Ein
exemplarisches Array thermisch gestützter magnetischer Speicherstrukturen
ist dargelegt, wobei jede der magnetischen Speicherstrukturen eine
Speicherzelle, einen Schreibleiter, der die Speicherzelle kontaktiert,
wobei der Schreibleiter die Speicherzelle in einer ersten Koordinate
während
einer Schreiboperation auswählt,
und ein Heizsystem, das die Speicherzelle kontaktiert, aufweist.
Das Heizsystem erwärmt
die Speicherzelle während
der Schreiboperation und wählt
die Speicherzelle durch das Erwärmen
in einer zweiten Koordinate aus.
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Ein
exemplarisches Verfahren zum Herstellen einer thermisch gestützten magnetischen
Speicherstruktur weist ein Bilden einer Speicherzelle, ein Bilden
eines Schreibleiters, der die Speicherzelle kontaktiert, wobei der
Schreibleiter die Speicherzelle in einer ersten Koordinate während einer
Schreiboperation auswählt,
und ein Bilden eines Heizsystems, das die Speicherzelle kontaktiert,
auf. Das Heizsys tem erwärmt
die Speicherzelle während
der Schreiboperation und wählt
die Speicherzelle durch das Erwärmen
in einer zweiten Koordinate aus.
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Weitere
Ausführungsbeispiele
und Implementierungen sind ebenso unten beschrieben.
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Bevorzugte
Ausführungsbeispiele
der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf
die beiliegenden Zeichnungen näher
erläutert.
Es zeigen:
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1 einen
exemplarischen Graphen einer Koerzivität gegenüber einer Temperatur einer
exemplarischen thermisch gestützten
magnetischen Speicherstruktur;
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2 einen
exemplarischen zeitlichen Verlauf einer Schreiboperation einer exemplarischen thermisch
gestützten
magnetischen Speicherstruktur;
-
3 eine
exemplarische thermisch gestützte
magnetische Speicherstruktur;
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4 ein
exemplarisches Array thermisch gestützter magnetischer Speicherstrukturen,
die ein erstes exemplarisches Heizsystem implementieren;
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5 eine
exemplarische thermisch gestützte
magnetische Speicherstruktur, die ein zweites exemplarisches Heizsystem
implementiert; und
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6 eine
weitere exemplarische thermisch gestützte magnetische Speicherstruktur,
die ein drittes exemplarisches Heizsystem implementiert.
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I. Übersicht
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Exemplarische
verbesserte thermisch gestützte
magnetische Speicherstrukturen sind hierin beschrieben.
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Abschnitt
II beschreibt eine exemplarische verbesserte thermisch gestützte magnetische
Speicherstruktur.
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Abschnitt
III beschreibt ein exemplarisches Array thermisch gestützter magnetischer
Speicherstrukturen, die ein erstes exemplarisches Heizsystem implementieren.
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Abschnitt
IV beschreibt eine exemplarische thermisch gestützte magnetische Speicherstruktur, die
ein zweites exemplarisches Heizsystem implementiert.
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Abschnitt
V beschreibt eine weitere exemplarische thermisch gestützte magnetische
Speicherstruktur, die ein drittes exemplarisches Heizsystem implementiert.
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II. Eine exemplarische
thermisch gestützte
magnetische Speicherstruktur
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A. Thermisch gestützte magnetische
Speicherstrukturen in einer herkömmlichen
MRAM-Konfiguration
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In
vielen herkömmlichen
MRAMs wird eine „1" oder eine „0" in eine Speicherzelle
in einer einzelnen Speicherstruktur geschrieben, indem die magnetische
Ausrichtung der Datenschicht in der Speicherzelle umgeschaltet wird.
Die magnetische Ausrichtung wird üblicherweise durch die Vektorsumme
von Magnetfeldern umgeschaltet, die aus Schreibströmen resultieren,
die in zwei orthogonalen Schreibleitern (d. h. einer Bitleitung
und einer Wortleitung), einer oberhalb und einer unterhalb der Speicherzelle, fließen. Die
ausgewählte
Speicherzelle erfährt
ein Bitleitungsfeld und ein Wortleitungsfeld, während andere Speicherzellen
auf der ausgewähl ten
Zeile und Spalte nur entweder ein Bitleitungsfeld oder ein Wortleitungsfeld
erfahren.
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In
einem thermisch gestützten
(oder anderweitig herkömmlichen)
MRAM wird eine ausgewählte Speicherzelle
kurz vor oder während
einer Schreiboperation erwärmt.
Als ein Ergebnis der erhöhten
Wärme wird
die Koerzivität
(d. h. die Leichtigkeit eines Umschaltens der magnetischen Ausrichtung
der Speicherzelle) der erwärmten
Speicherzelle reduziert und kleinere Umschaltmagnetfelder (und so
kleinere Ströme)
werden zum Schreiben dieser Speicherzelle benötigt. 1 stellt
einen exemplarischen Graphen einer Koerzivität gegenüber einer Temperatur für eine thermisch
gestützte
Speicherzelle dar. Die bestimmten Daten in 1 sind lediglich
exemplarisch und variieren abhängig
von der Zusammensetzung und weiteren Charakteristika der Speicherzelle.
Im allgemeinen nimmt mit zunehmender Temperatur in der Speicherzelle
jedoch die Koerzivität
in der Speicherzelle allgemein ab.
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So
erfordert ein thermisch gestützter
herkömmlicher
MRAM im allgemeinen kleinere kombinierte x- und y-Felder zum Umschalten
als Speicherzellen in einem nicht thermisch gestützten herkömmlichen MRAM.
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B. Verbesserte thermisch
gestützte
magnetische Speicherstrukturen in einer MRAM-Konfiguration, die einen
Schreibleiter beseitigt
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Die
herkömmliche
magnetische Speicherstruktur kann durch ein Beseitigen eines der Schreibleiter
aus den thermisch gestützten
MRAMs vereinfacht werden. Durch ein Anlegen von Wärme an eine
ausgewählte
Speicherzelle werden die erforderlichen Umschaltmagnetfelder während einer Schreiboperation
reduziert. Solange eine ausgewählte
Speicherzelle ausreichend erwärmt
ist (d. h. auf eine Schwellentemperatur ohne ein nicht umkehrbares
Verändern
der Magnetisierungsei genschaften), kann z. B. ein in einem Schreibleiter
angelegter Schreibstrom ausreichen, um die magnetische Ausrichtung
der erwärmten
Speicherzelle umzuschalten, ohne die magnetische Ausrichtung nicht
erwärmter Speicherzellen
auf dem ausgewählten
Schreibleiter umzuschalten.
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Ein
Beseitigen eines Schreibleiters kann außerdem eine Leistungsdissipierung
reduzieren, Fertigungsprozesse vereinfachen, die Wahrscheinlichkeit von
Schreibfehlern in halb ausgewählten
Speicherzellen reduzieren und/oder verschwendeten Strom auf nicht
ausgewählten
Speicherzellen reduzieren.
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Die
Energiemenge, die zum Erwärmen
von Speicherzellen auf eine bestimmte Temperatur T benötigt wird,
ist proportional zu der Anzahl ausgewählter Speicherzellen. So kann,
wenn eine einzelne Speicherzelle ausgewählt ist, die Energiemenge,
die zum Erwärmen
dieser ausgewählten
Speicherzelle benötigt
wird, sehr klein sein.
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In
einer exemplarischen Implementierung kann eine bestimmte Speicherzelle
durch ein Verwenden eines Schreibleiters zum Liefern eines Schreibstroms
in der Spalte, in der sich die Speicherzelle befindet, und durch
ein Verwenden von Wärme zur
Auswahl der Speicherzelle auf der passenden Zeile entlang dieser
Spalte ausgewählt
werden. Die Koerzivität
der erwärmten
Speicherzelle wird auf einen Pegel unterhalb des Pegels eines Feldes
reduziert, das durch den Schreibstrom bereitgestellt wird, wohingegen
die Koerzivitäten
der nicht erwärmten Speicherzellen
oberhalb des bereitgestellten Felds liegen.
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2 stellt
einen exemplarischen zeitlichen Verlauf zum Schreiben einer Speicherzelle
in einem verbesserten thermisch gestützten MRAM dar. Die bestimmten
Daten in 2 sind lediglich exemplarisch
und variieren abhängig
von den Charakteristika der Speicherstruktur. Die durchgezogene
Linie zeigt den über
die Zeit angelegten Schreibstrom an. Die gestrichelte Linie zeigt
eine Erwärmungsleistung,
die an die Speicherzelle angelegt wird, über die Zeit an. Die gepunktete
Linie zeigt den Anstieg und Abfall der Temperatur in der Speicherzelle
aufgrund der angelegten Erwärmungsleistung über die
Zeit an. Während
einer Schreiboperation z. B. kann ein Spannungspuls an die Speicherzelle
angelegt werden, während
ein Schreibstrom in einem ausgewählten Schreibleiter
(entlang der Spalte, in der sich die erwärmte Speicherzelle befindet)
angelegt wird. Der Spannungspuls erwärmt die Speicherzelle auf eine Temperatur,
derart, dass die Koerzivität
der Speicherzelle abnimmt. Während
die Speicherzelle heiß ist,
wird der Schreibstrom für
einen Zeitlänge
angelegt, die ausreichend ist, um die Speicherzelle zu schreiben,
und wird beibehalten, bis die Speicherzelle wieder in einen thermisch
stabilen Magnetisierungszustand heruntergekühlt ist.
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C. Eine exemplarische
thermisch gestützte
magnetische Speicherstruktur mit einem Schreibleiter
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3 stellt
eine exemplarische verbesserte thermisch gestützte magnetische Speicherstruktur 300 dar.
Im allgemeinen kann eine Speicherstruktur in einer oben festgelegten
Konfiguration (wobei die Referenzschicht auf der Datenschicht ist)
oder einer unten festgelegten Konfiguration (wobei die Referenzschicht
unter der Datenschicht ist) hergestellt sein. Zur Erleichterung
einer Erklärung
ist nur die oben festgelegte Konfiguration in 3 gezeigt
und nur auf diese wird in der Beschreibung verschiedener exemplarischer
Ausführungsbeispiele
hierin Bezug genommen. Ein Fachmann auf diesem Gebiet wird ohne
weiteres erkennen, dass weitere Konfigurationen (z. B. unten festgelegt,
usw.) unter Verwendung der hierin offenbarten exemplarischen Verfahren
gemäß einer
bestimmten Entwurfsanforderung implementiert werden können.
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Die
magnetische Speicherstruktur 300 umfasst einen Schreibleiter 310,
eine Speicherzelle 350 (mit einer Datenschicht 320,
einer Abstandsschicht 330 und einer Referenzschicht 340)
und ein Heizsystem 360.
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Speicherstrukturen,
die zusätzliche
Schichten aufweisen, sind ebenso in der Technik bekannt und können mit
verschiedenen hierin zu beschreibenden Ausführungsbeispielen gemäß einer
bestimmten Entwurfsauswahl implementiert werden. Eine weitere magnetische
Speicherstruktur kann z. B. auch eine Keimschicht, eine antiferromagnetische (AFM-)
Schicht, eine Schutzabdeckschicht und/oder weitere Schichten umfassen.
Die Keimschicht verbessert eine Kristallausrichtung innerhalb der AFM-Schicht.
Exemplarische Materialien für
eine Keimschicht umfassen Ta, Ru, NiFe, Cu oder Kombinationen dieser
Materialien. Die AFM-Schicht verbessert eine magnetische Stabilität in der
Referenzschicht 340. Exemplarische Materialien für eine AFM-Schicht
umfassen IrMn, FeMn, NiMn, PtMn und/oder weitere bekannte Materialien.
Die Schutzabdeckschicht schützt
die Datenschicht 320 vor der Umgebung (z. B. durch ein
Reduzieren einer Oxidation der Datenschicht 320) und kann
unter Verwendung jedes in der Technik bekannten geeigneten Materials
gebildet sein. Exemplarische Materialien für eine Schutzabdeckschicht
umfassen Ta, TaN, Cr, Al, Ti und/oder weitere Materialien. Zur Erleichterung
einer Erläuterung
sind diese zusätzlichen
Schichten in den Figuren nicht gezeigt.
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Wieder
Bezug nehmend auf 3 sind bei einer exemplarischen
Implementierung der Schreibleiter 310 und das Heizsystem 360 orthogonal
zueinander und werden für
Schreib- und Leseoperationen
verwendet. Während
einer Schreiboperation z. B. wählt
ein in einem ausgewählten
Schreibleiter 310 angelegter Schreibstrom wirksam eine
Spalte von Speicherzellen aus und durch das Heizsystem 360 bereitgestellte
Wärme wählt den
Zeilenort der Speicherzelle entlang dieser ausgewählten Spalte aus.
Die physische Konfiguration des Schreibleiters 310 und
des Heizsystems 360, die oben be schrieben sind, ist lediglich
exemplarisch. Ein Fachmann auf diesem Gebiet wird ohne weiteres
erkennen, dass der Schreibleiter 310 und das Heizsystem 360 nicht notwendigerweise
orthogonal zueinander sein müssen,
solange während
einer Schreiboperation der Schreibleiter 310 die Speicherzelle 350 in
einer ersten Koordinate auswählt
und das Heizsystem 360 die Speicherzelle 350 in
einer zweiten Koordinate durch ein Erwärmen der Speicherzelle 350 während der Schreiboperation
auswählt.
Die erste und die zweite Koordinate können in jedem Winkel relativ
zueinander positioniert sein.
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Während einer
Leseoperation kann das Heizsystem 360 als ein Leseleiter
verwendet werden und der Schreibleiter 310 kann als eine
Leseleitung verwendet werden. Bei dieser exemplarischen Implementierung
liefert das Heizsystem 360 einen kleinen Lesestrom an die
ausgewählte
Speicherzelle 350 und ein Ausgangsstrom von der ausgewählten Speicherzelle 350 tritt
zu einem ausgewählten
Schreibleiter 310 aus, um an einen standardmäßigen Leseschaltungsaufbau
(nicht gezeigt) zum Lesen des Widerstandswerts in der Speicherzelle 350 geliefert
zu werden. Zusätzliche
exemplarische Heizsysteme sind unten in den Abschnitten III – V beschrieben.
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Der
Schreibleiter 310 kann aus Cu, Al, AlCu, Ta, W, Au, Ag,
Legierungen eines oder mehrerer der obigen Materialien und/oder
einem oder mehreren weiteren leitenden Materialien und Legierungen
hergestellt sein. Der Schreibleiter 310 kann durch eine Aufbringungs-
oder weitere in der Technik bekannte Techniken (z. B. Zerstäuben, Verdampfung,
Elektroplattieren, usw.) gebildet sein. Der Schreibleiter 310, wie
in 3 gezeigt, ist lediglich darstellend. Fachleute
auf diesem Gebiet werden erkennen, dass weitere Konfigurationen
ebenso gemäß einer
bestimmten Entwurfsauswahl implementiert sein können. Der Schreibleiter 310 kann
z. B. zumindest teilweise durch ein ferromagnetisches Umhüllungsmaterial umhüllt sein,
der Schreibleiter 310 kann thermisch von der Speicherzelle
durch ein isolierendes Material (z. B. Die lektrikum, Luft, Vakuum,
usw.) isoliert sein, usw. Wenn eine Umhüllung implementiert ist, kann die
Umhüllung
eines oder mehrere Materialien aufweisen, die eine geringe Wärmeleitfähigkeit
(z. B. amorpher metallischer dotierter Halbleiter und/oder weitere
Materialien oder Legierungen) und/oder ferromagnetische Eigenschaften
aufweisen. Zusätzlich kann
die Speicherzelle 350 einen elektrischen Kontakt zu einem
Abschnitt der Umhüllung
statt zu dem Schreibleiter 310 herstellen, um eine Wärmeübertragung
durch den Schreibleiter 310 zu reduzieren.
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Ein
Schreiben der Speicherzelle 350 unter Verwendung eines
einzelnen bzw. einzigen Schreibleiters 310 schließt eine
Verwendung von Magnetfeldern, die durch weitere Schichten nahe der ausgewählten Speicherzelle 350 erzeugt
werden, zur Unterstützung
des Schreibvorgangs nicht aus. Wenn z. B. ein kleiner Strom über das
Heizsystem 360 angelegt wird, um die Speicherzelle 350 zu
erwärmen, resultieren
kleine Magnetfelder aus diesem Strom. Die durch das Heizsystem 360 erzeugten
Magnetfelder können
mit den Magnetfeldern kombiniert werden, die durch den Schreibstrom
in dem Schreibleiter erzeugt werden, um die Speicherzelle zu beschreiben.
Der kleine Anstieg der Magnetfelder von dem Heizsystem 360 kann
unter Umständen
eine Reduzierung des Schreibstroms, der in dem Schreibleiter 310 während einer
Schreiboperation benötigt
wird, unterstützen.
Ein Fachmann auf diesem Gebiet wird ohne weiteres erkennen, dass
weitere Konfigurationen ebenso gemäß einer bestimmten Entwurfsauswahl
implementiert werden können.
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Bei
einer exemplarischen Implementierung kann das Heizsystem 360 einen
Leiter aufweisen, der die Speicherzelle 350 und/oder weitere
Komponenten (z. B. Standardumschaltschaltungsaufbau und/oder andere
Konfigurationen) zum Zuführen
von Energie (z. B. einem Strom) zum Erwärmen der Speicherzelle 350 kontaktiert.
Der in einem Heizsystem 360 implementierte Leiter kann
eines oder mehrere von Ti, Cu, Al, AlCu, Ta, W, Legierungen eines
oder mehrerer der obigen und/oder eines oder mehrere weitere leitende
Materialien und Legierungen aufweisen. Das Heizsystem 360 kann
auch einen Standardschaltungsaufbau (nicht gezeigt) zum Steuern
einer Energie (z. B. Menge, Dauer, Zeitgebung, usw.) aufweisen,
die zum Erwärmen
der Speicherzelle 350 verwendet werden soll. Wenn das Heizsystem 360 als
ein Leseleiter verwendet wird, ermöglicht es der Standardschaltungsaufbau
unter Umständen,
dass ein Lesestrom während
Leseoperationen an die Speicherzelle 350 angelegt werden
kann. Das Heizsystem 360 kann mit einer einzelnen Speicherzelle oder
mehreren Speicherzellen verbunden sein. Verschiedene exemplarische
Heizsysteme 360 sind unten in den Abschnitten III – V beschrieben.
Das Heizsystem 360 kann auch gemäß weiteren bekannten Techniken
implementiert sein. Siehe z. B. US-Patentanmeldung mit dem Titel „Thermally-Assisted
Switching of Magnetic Memory Elements" (Thermisch gestütztes Umschalten magnetischer
Speicherelemente), von Nickel u. a., die hierin zu allen Zwecken durch
Bezugnahme aufgenommen ist.
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Die
Datenschicht 320 kann eines oder mehrere ferromagnetische
Materialien aufweisen. Bei einem exemplarischen Ausführungsbeispiel
umfassen ferromagnetische Materialien, die für die Datenschicht 320 geeignet
sind, ohne Einschränkung
NiFe, NiFeCo, CoFe, amorphe ferromagnetische Legierungen (z. B.
CoZrNb, CoFeB) und weitere Materialien. Bei einer exemplarischen
Implementierung weist die Datenschicht 320 einen Ferromagneten
(FM) auf, der in Kontakt mit einem Antiferromagneten (AFM) steht. Durch
ein Koppeln einer FM-Schicht
mit einer AFM-Schicht kann eine erwünschte Temperaturabhängigkeit
von der Datenschichtkoerzivität
erhalten werden. Eine hohe Koerzivität kann z. B. bei Raumtemperatur
aufgrund einer großen
FM-AFM-Austauschanisotropie erzielt werden. Eine hohe Raumtemperaturkoerzivität kann ein
unbeabsichtigtes Schreiben nichtausgewählter Speicherzellen auf ausgewählten Zeilen
und/oder Spalten verhindern. Beispiele von AFM-Materialien umfassen
ohne Einschränkung
Iridium-Mangan (IrMn),
Eisen-Mangan (FeMn), Nickel-Mangan (NiMn), Nickel-Oxid (NiO) und
Platin-Mangan (PtMn) und/oder weitere Materialien.
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Bei
einem exemplarischen Ausführungsbeispiel
ist die Abstandsschicht 330 eine Tunnelbarriereschicht
(z. B. wenn die Speicherzelle 350 eine TMR-Speicherzelle
ist). Bei diesem Ausführungsbeispiel
kann die Abstandsschicht 330 aus SiO2,
SiNx, MgO, Al2O3, AlNx und/oder
weiteren isolierenden Materialien hergestellt sein.
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Bei
einem weiteren exemplarischen Ausführungsbeispiel ist die Abstandsschicht 330 eine nicht-magnetische
leitende Schicht (z. B. wenn die Speicherzelle 350 eine
GMR-Speicherzelle ist). Bei diesem Ausführungsbeispiel kann die Abstandsschicht 330 aus
Cu, Au, Ag und/oder weiteren nichtmagnetischen leitenden Materialien
hergestellt sein.
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Die
Referenzschicht 340 kann eine einzelne Schicht eines Materials
oder mehrere Schichten von Materialien aufweisen. Die Referenzschicht 340 kann z.
B. eines oder mehrere ferromagnetische Materialien aufweisen. Bei
einem exemplarischen Ausführungsbeispiel
umfassen ferromagnetische Materialien, die für die Referenzschicht 340 geeignet
sind, NiFe, NiFeCo, CoFe, amorphe ferromagnetische Legierungen (z.
B. CoZrNb, CoFeB) und weitere Materialien.
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III. Ein exemplarisches
Array thermisch gestützter magnetischer
Speicherstrukturen, die ein erstes exemplarisches Heizsystem implementieren
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4 stellt
ein exemplarisches Array thermisch gestützter magnetischer Speicherstrukturen 400,
die ein erstes exemplarisches Heizsystem implementieren, dar. Das
Array 400 umfasst Schreibleiter 310a, 310b,
Speicherzellen 350a – 350d,
die die Schreibleiter 310a, 310b kontaktieren,
und Heizsysteme 360a, 360b, die die Speicherzellen 350a – 350d kontaktieren.
Bei dieser exemplarischen Implementierung weisen die Heizsysteme 360a, 360b Heizerleitungen
auf, die orthogonal zu den Schreibleitern 310a, 310b sind.
Jede Heizerleitung liefert Wärme
an zumindest eine Speicherzelle 350a – 350d in dem Array 400,
z. B. während
einer Schreiboperation. Die Heizerleitungen können mit einem Standardschaltungsaufbau
(nicht gezeigt) zum Steuern der Zeitgebung und der Menge an Energie,
die an eine oder mehrere Speicherzellen 350a – 350d angelegt
wird, verbunden sein. Der Standardschaltungsaufbau zum Steuern der
Heizerleitungen ist in der Technik bekannt und muss hierin nicht
detaillierter beschrieben werden. Siehe z. B. U.S.-Patent Nr. 6,603,678
B2, auf das oben Bezug genommen wurde.
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Während einer
Schreiboperation läuft
ein Schreibstrom in einem ausgewählten
Schreibleiter 310a und ein Heizerstrom wird an eine ausgewählte Heizerleitung 360a angelegt,
um die Leitung zu erwärmen
(und die Speicherzellen 350a und 350b benachbart
zu dieser Leitung). Auf diese Weise wird die Speicherzelle 350a,
die sich an dem Schnittpunkt des ausgewählten Schreibleiters 310a und
der ausgewählten
Heizerleitung 360a befindet, ausgewählt und beschrieben. Die Speicherzelle 350a sollte
ausreichend erwärmt
werden, so dass das Magnetfeld, das durch den Schreibstrom in dem
ausgewählten Schreibleiter 310a erzeugt
wird, ausreicht, um die magnetische Ausrichtung der Speicherzelle
umzuschalten. Die Speicherzelle 350a sollte jedoch nicht überhitzt
werden, so dass ihre Magnetisierungseigenschaften sich irreversibel
verändern.
Bei einer exemplarischen Implementierung kann der Schreibstrom für eine bestimmte
Zeit während
einer Schreiboperation beibehalten werden, bis die beschriebene
Speicherzelle 350a auf eine magnetisch stabile Temperatur
abkühlt.
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Bei
dem in 4 gezeigten Ausführungsbeispiel teilen sich
mehrere Speicherzellen eine Heizerleitung, so dass mehr als eine
Speicherzelle während einer
Schreiboperation eine erhöhte
Temperatur erfährt.
Bei diesem exemplarischen Ausführungsbeispiel
kann es wirksam sein, alle Speicherzellen entlang der erwärmten Zeile
gleichzeitig zu beschreiben. Bezug nehmend auf 4 z.
B. werden die Speicherzellen 350a und 350b erwärmt, wenn
die Heizerleitung 360a einen Heizerstrom zieht. Um beide
Speicherzellen zu beschreiben, wird ein Schreibstrom gleichzeitig
an die Schreibleiter 310a und 310b angelegt. Die
Richtung des Schreibstroms in den Leitern 310a und 310b bestimmt
den magnetischen Zustand der beschriebenen Speicherzellen.
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Während einer
Leseoperation wirken die Schreibleiter 310a, 310b und
die Heizerleitungen 360a, 360b als Leseleitungen.
Um z. B. die Speicherzelle 350a zu lesen, wird ein kleiner
Lesestrom an eine ausgewählte
Heizerleitung 360a, durch die Speicherzelle 350a und
durch einen ausgewählten orthogonalen
Schreibleiter 310a angelegt. Der Strom durch die ausgewählte Speicherzelle 350a hängt von dem
magnetischen Zustand (d. h. dem Widerstandswert) der Speicherzelle 350a ab.
So wird die Speicherzelle 350a, die sich an dem Schnittpunkt
der ausgewählten
Heizerleitung 360a und des ausgewählten Schreibleiters 310a befindet,
gelesen.
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IV. Eine exemplarische
thermisch gestützte
magnetische Speicherstruktur, die ein zweites exemplarisches Heizsystem
implementiert
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5 stellt
eine exemplarische thermisch gestützte magnetische Speicherstruktur 500,
die ein zweites exemplarisches Heizsystem implementiert, dar. Die
Speicherstruktur 500 umfasst einen Schreibleiter 310,
eine Speicherzelle 350, die den Schreibleiter 310 kontaktiert,
und ein Heizsystem 360, das die Speicherzelle 350 kontaktiert.
Bei dieser exemplarischen Implementierung weist das Heizsystem 360 einen
Leseleiter 510 auf, der durch eine Stütze 520 mit einem
Umschaltschaltungsaufbau (nicht gezeigt) unter der Speicherstruktur 500 verbunden
ist. Ein zusätzlicher
Umschaltschaltungsaufbau (nicht gezeigt), der sowohl zum Lesen als auch zum
Schreiben verwendet wird, ist mit dem Leiter 310 verbunden.
-
Bei
einer exemplarischen Implementierung kann ein Zugriff auf jede Speicherzelle 350 durch eine
separate Umschaltschaltung, die schnittstellenmäßig mit der Stütze 520 verbunden
ist, gesteuert werden. Bei einer weiteren exemplarischen Implementierung
kann ein Zugriff auf mehrere Speicherzellen 350 durch eine
Umschaltschaltung gesteuert werden, die schnittstellenmäßig mit
der Stütze 520 verbunden
ist. Je mehr Speicherzellen durch eine bestimmte Umschaltschaltung
gesteuert werden, desto größer muss
die Fläche
eines zusätzlichen
Schaltungsaufbaus unter den Speicherzellen gebildet werden. Die
Anzahl von Speicherzellen, die durch eine Umschaltschaltung gesteuert
werden sollen, hängt von
einer Entwurfsauswahl ab.
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Bei
einer exemplarischen Implementierung weist die Umschaltschaltung,
die schnittstellenmäßig mit
der Stütze 520 verbunden
ist, zumindest einen Transistor auf, der einen Strom ein-/ausschaltet,
der während
Lese-/Schreiboperationen an die Speicherzelle 350 angelegt
werden soll. Während
einer Schreiboperation schaltet die Umschaltschaltung z. B. einen
Strom ein, der über
die Stütze 520 und
den Leseleiter 510 an die Speicherzelle 350 angelegt werden
soll, um ein Erwärmen
in der Speicherzelle 350 zu aktivieren. Der angelegte Strom
reicht aus, um die Speicherzelle 350 auf eine erhöhte Temperatur
zu erwärmen,
so dass Magnetfelder, die durch einen in dem Schreibleiter 310 angelegten
Strom erzeugt werden, die magnetische Ausrichtung der Speicherzelle 350 umschalten
können.
Die Speicherzelle 350 sollte jedoch nicht überhitzt
werden, so dass sich ihre Magnetisierungseigenschaften irreversibel
verändern.
Bei einer exemplarischen Implementierung kann der Schreibstrom für eine bestimmte
Zeit während
einer Schreiboperation beibehalten werden, bis die beschriebene
Speicherzelle 350 auf eine magnetisch stabile Temperatur
abkühlt.
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Während einer
Leseoperation schaltet die Umschaltschaltung einen kleinen Strom
ein, der über die
Stütze 520 und
den Leseleiter 510 an die Speicherzelle 350 angelegt
werden soll, um den Widerstandswert in der Speicherzelle 350 zu
bestimmen. Bei einer exemplarischen Implementierung tritt der während einer
Leseoperation an die Speicherzelle 350 angelegte Strom
durch den Schreibleiter 310 aus, der während der Leseoperation als
eine Leseleitung wirkt und mit einem Standard-Lese-Schaltungsaufbau
(nicht gezeigt) verbunden ist.
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V. Eine exemplarische
thermisch gestützte
magnetische Speicherstruktur, die ein drittes exemplarisches Heizsystem
implementiert
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6 stellt
eine exemplarische thermisch gestützte magnetische Speicherstruktur 600,
die ein drittes exemplarisches Heizsystem implementiert, dar. Die
Speicherstruktur 600 umfasst einen Schreibleiter 310,
eine Speicherzelle 350, die den Schreibleiter 310 kontaktiert,
und ein Heizsystem 360, das die Speicherzelle 350 kontaktiert.
Bei dieser exemplarischen Implementierung weist das Heizsystem 360 einen
Heizer 610, der sich in Serie zu der Speicherzelle 350 befindet,
und einen Leseleiter 620 auf, der den Heizer 610 kontaktiert
und mit einem Umschaltschaltungsaufbau (nicht gezeigt) zum Steuern
von Strömen,
die an die Speicherzelle 350 angelegt werden sollen, verbunden
ist. Exemplarische Strukturen für
den Heizer 610 umfassen ohne Einschränkung eine isolierende Tunnelbarriere,
eine halbleiterreiche Isolatorschicht, eine Halbleiterschicht, eine
Schicht mit hohem Widerstandswert und/oder weitere Strukturen. Exemplarische
Materialien für
eine isolierende Tunnelbarriere sind AlOx, AlNx, SiOx, SiNx und
MgO, für
einen halbleiterreichen Isolator siliziumreiche Oxide und siliziumreiche Nitride,
für eine
Halbleiterschicht Silizium und Germanium und für eine Schicht mit hohem Widerstandswert
TaSiN, WSiN, TaN und WN. Bei einer exemplarischen Implemen tierung
ist der Widerstandswert des Heizers 610 in dem Lesemodus
ausreichend klein (z. B. weniger als 50 % des Widerstandswerts der
magnetischen Speicherzelle), um einen dem Heizerserienwiderstandswert
zugeordneten Signalverlust zu minimieren. In dem Schreibmodus kann
der Widerstandswert des Heizers größer als der der Speicherzelle
sein.
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Bei
einer exemplarischen Implementierung kann jede Speicherzelle 350 durch
eine separate Umschaltschaltung gesteuert werden. Bei einer weiteren
exemplarischen Implementierung können
mehrere Speicherzellen durch eine gemeinsame Umschaltschaltung gesteuert
werden. Die Umschaltschaltungen können sich an den äußeren Rändern des
Arrays von Speicherzellen oder unterhalb der Speicherzellen befinden.
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Bei
einer exemplarischen Implementierung weist die Umschaltschaltung
zumindest einen Transistor auf, der einen Strom ein-/ausschaltet,
der während
Lese-/Schreiboperationen an die Speicherzelle 350 angelegt
werden soll. Während
einer Schreiboperation schaltet die Umschaltschaltung z. B. einen Strom
ein, der über
den Leseleiter 620 an den Heizer 610 angelegt
werden soll. Der angelegte Strom kann ausreichend sein, um den Heizer 610 auf
eine erhöhte
Temperatur zu erwärmen.
Die Speicherzelle 350 selbst kann auch selbsterwärmend sein.
Die durch den Heizer 610 bereitgestellte Wärme (in
Kombination mit der durch die Speicherzelle 350 erzeugten Wärme) erhöht die Temperatur
in der Speicherzelle 350, so dass Magnetfelder, die durch
einen Schreibstrom erzeugt werden, der in dem Schreibleiter 310 angelegt
wird, die magnetische Ausrichtung der Speicherzelle 350 umschalten
können.
Die Speicherzelle 350 sollte jedoch nicht überhitzt
werden, so dass sich ihre magnetischen Eigenschaften irreversibel
verändern.
Bei einer exemplarischen Implementierung kann der Schreibstrom während einer
Schreiboperation für
einige Zeit beibehalten werden, bis die beschriebene Speicherzelle 350 auf
eine magnetisch stabile Temperatur abkühlt.
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Während einer
Leseoperation schaltet die Umschaltschaltung einen kleinen Strom
ein, der über den
Leseleiter 620 an die Speicherzelle 350 angelegt werden
soll, um den Widerstandswert in der Speicherzelle 350 zu
bestimmen. Bei einer exemplarischen Implementierung tritt der während einer
Leseoperation an die Speicherzelle 350 angelegte Strom durch
den Schreibleiter 310 aus, der während der Leseoperation als
eine Leseleitung wirkt und mit einem Standard-Lese-Schaltungsaufbau (nicht gezeigt)
verbunden ist.
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VI. Schlussfolgerung
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Die
vorangegangenen Beispiele stellen bestimmte exemplarische Ausführungsbeispiele
dar, von denen ausgehend weitere Ausführungsbeispiele, Variationen
und Modifizierungen für
Fachleute auf diesem Gebiet ersichtlich sind. Die Erfindungen sollen
deshalb nicht auf die oben erläuterten
bestimmten Ausführungsbeispiele
eingeschränkt
sein, sondern sind vielmehr durch die Ansprüche definiert.