DE10049274B4 - Kühlvorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung - Google Patents

Kühlvorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung Download PDF

Info

Publication number
DE10049274B4
DE10049274B4 DE10049274A DE10049274A DE10049274B4 DE 10049274 B4 DE10049274 B4 DE 10049274B4 DE 10049274 A DE10049274 A DE 10049274A DE 10049274 A DE10049274 A DE 10049274A DE 10049274 B4 DE10049274 B4 DE 10049274B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
heat
cooling device
substrate
particles
channels
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE10049274A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10049274A1 (de
Inventor
Wilfried Dr. Hofmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NFT Nanofiltertechnik GmbH
Original Assignee
NFT Nanofiltertechnik GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE2000141829 external-priority patent/DE10041829B4/de
Priority to US10/362,865 priority Critical patent/US7044212B1/en
Application filed by NFT Nanofiltertechnik GmbH filed Critical NFT Nanofiltertechnik GmbH
Priority to DE10049274A priority patent/DE10049274B4/de
Priority to EP01971879A priority patent/EP1354352A2/de
Priority to KR10-2003-7002768A priority patent/KR20030024916A/ko
Priority to PCT/EP2001/009089 priority patent/WO2002017390A2/de
Priority to JP2002521358A priority patent/JP2004518269A/ja
Priority to TW090120228A priority patent/TW507520B/zh
Publication of DE10049274A1 publication Critical patent/DE10049274A1/de
Publication of DE10049274B4 publication Critical patent/DE10049274B4/de
Application granted granted Critical
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28FDETAILS OF HEAT-EXCHANGE AND HEAT-TRANSFER APPARATUS, OF GENERAL APPLICATION
    • F28F13/00Arrangements for modifying heat-transfer, e.g. increasing, decreasing
    • F28F13/18Arrangements for modifying heat-transfer, e.g. increasing, decreasing by applying coatings, e.g. radiation-absorbing, radiation-reflecting; by surface treatment, e.g. polishing
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/20Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28FDETAILS OF HEAT-EXCHANGE AND HEAT-TRANSFER APPARATUS, OF GENERAL APPLICATION
    • F28F13/00Arrangements for modifying heat-transfer, e.g. increasing, decreasing
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28FDETAILS OF HEAT-EXCHANGE AND HEAT-TRANSFER APPARATUS, OF GENERAL APPLICATION
    • F28F13/00Arrangements for modifying heat-transfer, e.g. increasing, decreasing
    • F28F13/18Arrangements for modifying heat-transfer, e.g. increasing, decreasing by applying coatings, e.g. radiation-absorbing, radiation-reflecting; by surface treatment, e.g. polishing
    • F28F13/185Heat-exchange surfaces provided with microstructures or with porous coatings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/367Cooling facilitated by shape of device
    • H01L23/3677Wire-like or pin-like cooling fins or heat sinks
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28DHEAT-EXCHANGE APPARATUS, NOT PROVIDED FOR IN ANOTHER SUBCLASS, IN WHICH THE HEAT-EXCHANGE MEDIA DO NOT COME INTO DIRECT CONTACT
    • F28D21/00Heat-exchange apparatus not covered by any of the groups F28D1/00 - F28D20/00
    • F28D2021/0019Other heat exchangers for particular applications; Heat exchange systems not otherwise provided for
    • F28D2021/0077Other heat exchangers for particular applications; Heat exchange systems not otherwise provided for for tempering, e.g. with cooling or heating circuits for temperature control of elements
    • F28D2021/0078Other heat exchangers for particular applications; Heat exchange systems not otherwise provided for for tempering, e.g. with cooling or heating circuits for temperature control of elements in the form of cooling walls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)

Abstract

Kühlvorrichtung mit einem Substrat (1), das eine Wärmeeinleitungsfläche, die in thermischen Kontakt zu einem zu kühlenden Gegenstand (6) bringbar ist, und eine Wärmeabgabefläche aufweist, wobei die Wärmeabgabefläche aufgrund einer vorgegebenen Strukturierung (2) in Form von Kanälen (2), die sich durch das Substrat (1) hindurch erstrecken und im wesentlichen senkrecht zur Wärmeeinleitungsfläche stehen, größer ist als die Wärmeeinleitungsfläche, wobei die Wärmeeinleitungsfläche eine vorgegebene Strukturierung in Form von Furchen (9) aufweist, die in Strömungsverbindung mit den Kanälen (2) stehen, dadurch gekennzeichnet, daß die Wärmeabgabefläche eine rauhe Oberfläche aufweist, um die wirksame Oberfläche zu vergrößern.

Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf eine Kühlvorrichtung sowie ein Verfahren zu deren Herstellung und insbesondere auf eine passive Kühleinrichtung zur Kühlung elektrischer und elektronischer Bauteile. Bei elektrischen und elektronischen Bauteilen, wie z. B. Mikroprozessoren, tritt eine Verlustleistung auf, die die Leistungsfähigkeit solcher Einheiten beschränkt oder verschlechtert. Wird beispielsweise die Betriebstemperatur eines Mikroprozessors von 100°C auf 0°C verringert, so kann die Taktfrequenz um mehr als 30% gesteigert werden. Abgesehen von einer Leistungssteigerung treten aufgrund von Überhitzungen Ausfälle auf. Überhitzungen solcher Bauteile reduzieren außerdem deren Lebensdauer beträchtlich. Zur Kühlung und Ableitung der Verlustwärme von elektronischen Bauteilen ist es üblich, passive und aktive Kühleinrichtungen zu verwenden, wie z. B. Kühlkörper mit Rippen und/oder Gebläse mit Motoren. Die Kühlkörper (ggf. samt Gebläse) sollen dabei ein möglichst geringes Gewicht haben, damit die Platine mechanisch nicht belastet wird, was zu Rissen von feinen Leiterbahnen führen kann. Aktive Kühleinrichtungen, wie z. B. Gebläse, haben mehrere Nachteile. So brauchen sie elektrische Energie, haben einen höheren Platzbedarf, verursachen Geräusche und verursachen relativ hohe Anschaffungs- und später auch Betriebskosten. Bei einem etwaigen Ausfall der aktiven Kühleinrichtung erwärmt sich das Bauelement (z. B. der Prozessor) schnell und unbemerkt, so daß es beschädigt oder sogar zerstört wird.
  • Die DE 196 26 227 C2 beschreibt eine Kühleinrichtung, die nach dem Prinzip der "Heatpipes" arbeitet. Heatpipe-Strukturen sind Vorrichtungen, die zur Abfuhr von Wärmemengen dienen von einem Ort der Erzeugung zu einem anderen Ort. Am heißen Bereich der Anordnung verdampft eine Flüssigkeit mit hoher latenter Verdampfungswärme. Der bei der Verdampfung entstehende Druck treibt den Dampf zum kalten Teil der Anordnung. Dort kondensiert der Dampf in die flüssige Phase und gibt die transportierte Wärme wieder ab. Das flüssige Kondensat wird wieder zur Verdampfungsstelle zurückgeführt, womit ein Kreislauf geschlossen ist. Aufbau und Herstellung einer solchen Kühleinrichtung sind sehr aufwendig und kompliziert und damit auch teuer.
  • Die DE 197 44 281 A1 beschreibt eine Kühlvorrichtung zum Kühlen von Halbleiterbauelementen nach dem Wärmerohrprinzip, also ebenfalls eine Heatpipe-Struktur mit einem Gehäuse, das mehrere mit Kühlflüssigkeit gesättigte Kapillarstrukturen aufweist, deren Permeabilität, Querschnittsfläche und effektiver Porendurchmesser so eingestellt ist, daß ein hoher Kapillardruck entsteht. Innerhalb des Gehäuses sind zusätzliche Kanäle vorgesehen, die eine größere Querschnittsfläche besitzen als die Kapillarstruktur, so daß die Kanäle einen wesentlich niedrigeren Kapillardruck als die Kapillarstruktur aufweisen. Auch hier sind Aufbau und Herstellung recht aufwendig.
  • Die DE 196 41 731 A1 beschreibt eine Vorrichtung zur Kühlung von mindestens zwei Elektroden aufweisenden Lichtbogengeneratoren, von denen mindestens einer Elektrode ein poröser Kühlkörper zugeordnet ist. Der poröse Kühlkörper ist dort als Sinterkörper ausgebildet, der entweder in eine Form gepreßt und in die Anode eingesetzt oder mechanisch bearbeitet wird. Innerhalb des schwammartig porösen Kühlkörpers sind feine Kanäle, innerhalb derer ein Gas strömt. Der Kühlkörper wird dort so eingesetzt, daß die anfallende Wärme dem Verbrennungsvorgang zugeführt wird, so daß die Wärmeverluste auf ein Minimum reduziert sind. Als besonders geeignetes Material für diesen Kühlkörper wird Wolfram vorgeschlagen.
  • Aufgabe der Erfindung ist es, eine Kühlvorrichtung zu schaffen, die die obigen Nachteile des Standes der Technik vermeidet und bei guter Kühlleistung kostengünstig herstellbar ist. Weiter ist es Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren zur Herstellung einer solchen Kühlvorrichtung zu schaffen.
  • Das Stammpatent löst diese Aufgabe dadurch, daß die Wärmeabgabefläche aufgrund einer vorgegebenen Strukturierung wesentlich größer ist als die Wärmeeinleitungsfläche. Die Strukturierung ist dort vorzugsweise durch Kanäle gebildet, die sich durch das Substrat hindurch erstrecken. Vorzugsweise können dort einige oder alle Flächen mit einer wärmeleitenden Beschichtung versehen sein.
  • Die vorliegende Zusatzanmeldung verbessert die Lösung nach dem Stammpatent dadurch, daß die Wärmeabgabefläche eine rauhe Oberfläche aufweist, um die wirksame Oberfläche zu vergrößern. Dies erfolgt vorzugsweise durch Aufbringen von kleinen Partikeln aus einem Material mit gutem Wärmeleitungskoeffizienten, was unmittelbar auf das strukturierte Substrat oder auf die wärmeleitende Beschichtung erfolgen kann. Solche Partikel mit Wärmeleitungseigenschaften können aus Al, Cu, Ag, Au oder auch aus Metalloxiden bestehen, wie z. B. Eisen-Oxid. Statt einzelner Partikel kann auch eine poröse, schwammartig ausgebildete dünne Oxidschicht aufgebracht werden.
  • Im folgenden wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels im Zusammenhang mit der Zeichnung ausführlicher erläutert. Es zeigt:
  • 1 eine perspektivische Ansicht einer Kühlvorrichtung nach der Erfindung; und
  • 2 einen schematischen Querschnitt eines Substrates nach der Erfindung mit geneigten Kanalwänden.
  • In 1 ist ein Substrat 1 zu erkennen, das eine Vielzahl von Kanälen 2 aufweist, die sich durch die Dicke des Substrates 1 hindurch erstrecken. Das Substrat ist hier ein quaderförmiger Körper, dessen eine Fläche eine Schicht 3 aus wärmeleitfähigem Material aufweist. Diese Fläche sei im folgenden als Wärmeeinleitungsfläche bezeichnet. Sie steht in unmittelbarem Kontakt mit einem zu kühlenden Gegenstand 6, der beispielsweise ein Mikroprozessor, ein Chip, ein sonstiges elektronisches oder elektrisches Bauelement oder aber auch ein sonstiger zu kühlender Körper sein kann.
  • Das Substrat 1 besteht beispielsweise aus Silizium oder einem ähnlichen Material. Das Strukturieren des Substrates, hier also das Fertigen der Kanäle 2 erfolgt mit Hilfe geeigneter Lithographie- und Ätzverfahren, wie sie in der Halbleiterindustrie angewandt werden. Die Strukturbildung kann dabei in genau definierter Weise erfolgen, indem beispielsweise die Anzahl, Abmessungen sowie Anordnung bzw. räumliche Verteilung der Kanäle 2 vorgegeben werden. Durch Wahl der Parameter kann ein Verhältnis von Wärmeabgabefläche zu Wärmeeinleitungsfläche von z. B. 400 bis 700 und mehr erreicht werden. Die Wärmeabgabefläche ist hier nicht nur die Ober fläche 4 des Substrates, sondern primär die demgegenüber sehr viel größere Innenfläche der Kanäle 2. Diese Innenflächen, die Oberfläche 4 sowie die Seitenflächen mit Ausnahme der Wärmeeinleitungsfläche bilden die Wärmeabgabefläche. Natürlich sind auch alle anderen, im Stammpatent dargelegten Ausführungsformen des strukturierten Substrates möglich und hiermit mit einbezogen.
  • Zusätzlich wird mindestens eine Oberfläche der Wärmeabgabefläche, vorzugsweise jedoch alle Wärmeabgabeflächen, also auch die Kanäle, mit einer rauhen Oberfläche versehen. Dieses Aufrauhen wird z. B. durch Aufbringen von wärmeleitfähigen Partikeln 11 auf das bereits strukturierte Substrat durchgeführt. Diese Partikel können unmittelbar auf das Substrat aufgebracht werden. Sind einige Oberflächen des Substrates mit einer wärmeleitenden Schicht 3 versehen, so werden diese Partikel 11 auf die wärmeleitende Schicht 3 aufgebracht. Durch diese Aufrauhung der Oberfläche wird die Wärmeabgabefläche weiter vergrößert. Der Vergrößerungsfaktor beträgt gegenüber dem Stammpatent mindestens 2, vorzugsweise mehr als 10 oder höher. Hierdurch kann das Verhältnis von Wärmeabgabefläche zu Wärmeeinleitungsfläche 1000 bis 7000 oder mehr betragen.
  • Die Abmessungen der Partikel 11 liegen in der Größenordnung von wenigen Mikrometern oder kleiner, insbesondere bis in den Bereich von einigen Nanometern. Solche Partikel können z. B. aus Metalloxiden bestehen, wie beispielsweise Eisen-Oxid. Andere Materialien sind natürlich auch möglich.
  • Statt einzelner Partikel kann auch eine poröse, schwammartig ausgebildete dünne Oxidschicht aufgebracht werden.
  • Durch die vergrößerte Oberfläche erhält man eine bessere Wärmekopplung zwischen der Oberfläche und einem anströmenden Fluid, wie z. B. Luft. Zusätzlich wird auch die Wärmeabstrahlung verbessert. Die abgestrahlte Leistung ist gemäß dem Stefan-Boltzmann-Gesetz proportional der Abstrahlfläche, hier also der Wärmeabgabefläche, und der vierten Potenz der Temperatur (T4). Demzufolge stellt sich die Nettostrahlungsleistung eines Körpers mit der Temperatur T bei einer Umgebungstemperatur von T0 wie folgt dar: Pnetto = e σ A(T4 – T0 4),wobei e der Emissionsgrad (0 ≤ e ≤ 1) und σ die Stefan-Boltzmann-Konstante (= 5,6703 × 10–8 W m–2 K–4) ist. Die Materialeigenschaften der Beschichtung gehen in den Emissionsgrad e ein.
  • Einen guten Emissionsgrad e erhält man mit Metallen (AL, CU etc.) oder Oxidverbindungen, die durch Bedampfungsverfahren aufgebracht werden.
  • 2 zeigt schematisch einen vergrößerten Ausschnitt eines Querschnittes des Substrates 1, bei dem ebenfalls Kanäle 2 durch das Substrat verlaufen, deren Seitenwände jedoch gegenüber der Vertikalen geneigt sind. Die Kanalwände bilden im Querschnitt eine von der Wärmequelle 6 weggerichtete trapezartige Form. Der "Böschungswinkel" dieser trapezartigen Struktur (Pyramidenstümpfe) kann bei Silizium als Grundmaterial z. B. 54,76° betragen. Dieser Winkel kann durch entsprechend veränderte Lage der Kristallebenen variiert werden. Auch hier sind die Kanalwände mit Partikeln 11 beschichtet, wodurch die wärmeabstrahlende Oberfläche vergrößert ist. Wenn die Kanalwände mit einer wärmeleitenden Schicht 7 beschichtet sind, so ist diese mit den Partikeln 11 versehen. Dies gilt auch in Bezug auf die Oberfläche 4 mit der wärmeleitenden Schicht 8 sowie die Unterseite mit der wärmeleitenden Schicht 3.

Claims (9)

  1. Kühlvorrichtung mit einem Substrat (1), das eine Wärmeeinleitungsfläche, die in thermischen Kontakt zu einem zu kühlenden Gegenstand (6) bringbar ist, und eine Wärmeabgabefläche aufweist, wobei die Wärmeabgabefläche aufgrund einer vorgegebenen Strukturierung (2) in Form von Kanälen (2), die sich durch das Substrat (1) hindurch erstrecken und im wesentlichen senkrecht zur Wärmeeinleitungsfläche stehen, größer ist als die Wärmeeinleitungsfläche, wobei die Wärmeeinleitungsfläche eine vorgegebene Strukturierung in Form von Furchen (9) aufweist, die in Strömungsverbindung mit den Kanälen (2) stehen, dadurch gekennzeichnet, daß die Wärmeabgabefläche eine rauhe Oberfläche aufweist, um die wirksame Oberfläche zu vergrößern.
  2. Kühlvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die rauhe Oberfläche der Wärmeabgabefläche durch aufgebrachte Partikel (11) erzeugt ist.
  3. Kühlvorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Partikel (11) Metall- oder Metalloxidpartikel sind.
  4. Kühlvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Partikel (11) direkt auf das strukturierte Substrat (1) aufgebracht sind.
  5. Kühlvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Partikel (11) auf eine auf das strukturierte Substrat (1) aufgebrachte wärmeleitende Beschichtung (3, 4, 7) aufgebracht sind.
  6. Kühlvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß das strukturierte Substrat (1) eine trapezartige Querschnittsform aufweist, wobei geneigte Seitenwände ebenfalls mit den Partikeln (11) beschichtet sind.
  7. Kühlvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die rauhe Oberfläche (11) der Wärmeabgabefläche durch eine aufgebrachte schwammartig poröse Schicht gebildet ist.
  8. Verfahren zur Herstellung einer Kühlvorrichtung nach gemäß Patent 100 41 829.
  9. Verfahren zur Herstellung einer Kühlvorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß auf die Oberfläche des Substrates Partikel oder eine schwammartig, poröse Schicht aufgebracht werden, die die Oberfläche aufrauhen und dadurch die wirksame Oberfläche vergrößern.
DE10049274A 2000-08-25 2000-09-28 Kühlvorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung Expired - Fee Related DE10049274B4 (de)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/362,865 US7044212B1 (en) 2000-08-25 2000-08-25 Refrigeration device and a method for producing the same
DE10049274A DE10049274B4 (de) 2000-08-25 2000-09-28 Kühlvorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung
PCT/EP2001/009089 WO2002017390A2 (de) 2000-08-25 2001-08-07 Kühleinrichtung und verfahren zu deren herstellung
KR10-2003-7002768A KR20030024916A (ko) 2000-08-25 2001-08-07 냉각장치와 그 제조방법
EP01971879A EP1354352A2 (de) 2000-08-25 2001-08-07 Kühleinrichtung und verfahren zu deren herstellung
JP2002521358A JP2004518269A (ja) 2000-08-25 2001-08-07 冷却装置及びその製造プロセス
TW090120228A TW507520B (en) 2000-08-25 2001-08-17 Cooling device and method for its manufacture

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2000141829 DE10041829B4 (de) 2000-08-25 2000-08-25 Kühlvorrichtung
DE10049274A DE10049274B4 (de) 2000-08-25 2000-09-28 Kühlvorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10049274A1 DE10049274A1 (de) 2002-05-29
DE10049274B4 true DE10049274B4 (de) 2008-07-24

Family

ID=26006813

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10049274A Expired - Fee Related DE10049274B4 (de) 2000-08-25 2000-09-28 Kühlvorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7044212B1 (de)
EP (1) EP1354352A2 (de)
JP (1) JP2004518269A (de)
KR (1) KR20030024916A (de)
DE (1) DE10049274B4 (de)
TW (1) TW507520B (de)
WO (1) WO2002017390A2 (de)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7044212B1 (en) 2000-08-25 2006-05-16 Net Nanofiltertechnik Gmbh Refrigeration device and a method for producing the same
GB2384618A (en) * 2002-01-25 2003-07-30 Denselight Semiconductors Pte A structure for thermal management in an optoelectronic device.
US20060105182A1 (en) * 2004-11-16 2006-05-18 Applied Materials, Inc. Erosion resistant textured chamber surface
DE10332162A1 (de) * 2003-07-15 2005-02-03 Access Materials&Processes Latentwärmespeichersystem
US7135357B2 (en) 2003-10-06 2006-11-14 E. I. Du Pont De Nemours And Company Process for making an organic electronic device having a roughened surface heat sink
DE102004002990A1 (de) * 2004-01-21 2005-08-18 Robert Dr. Simmoteit Material und Verfahren zum Stoffaustausch und Stofftransfer
KR100712837B1 (ko) * 2004-04-29 2007-05-02 엘지전자 주식회사 히트 싱크 및 그 표면처리방법
DE102004046790B3 (de) * 2004-09-27 2006-06-14 Kermi Gmbh Fluid-Kühleinrichtung zur Kühlung wenigstens einer Verlustwärme erzeugender Komponente
KR100619775B1 (ko) * 2005-02-15 2006-09-11 엘지전자 주식회사 냉난방 동시형 멀티 에어컨
US7593230B2 (en) * 2005-05-05 2009-09-22 Sensys Medical, Inc. Apparatus for absorbing and dissipating excess heat generated by a system
DE102006055755B4 (de) * 2006-09-18 2008-12-24 Fpe Fischer Gmbh Gehäuse für ein elektrisches Gerät und elektrisches Gerät damit
DE102008005547B4 (de) * 2008-01-23 2013-08-29 Infineon Technologies Ag Leistungshalbleitermodul und Schaltungsanordnung mit einem Leistungshalbleitermodul
US8537548B2 (en) * 2008-01-29 2013-09-17 Intel Corporation Method, apparatus and computer system for vortex generator enhanced cooling
KR101446828B1 (ko) * 2008-06-18 2014-10-30 브루사 일렉트로닉 아게 전자소자용의 냉각장치
JP5246334B2 (ja) * 2009-06-10 2013-07-24 トヨタ自動車株式会社 半導体装置
TWI411389B (zh) * 2010-05-18 2013-10-01 Ckm Building Material Corp 利用微孔板體散熱之方法
KR20120000282A (ko) * 2010-06-25 2012-01-02 삼성전자주식회사 히트 스프레더 및 그를 포함하는 반도체 패키지
CN103162268A (zh) * 2011-12-14 2013-06-19 欧司朗股份有限公司 散热装置和具有该散热装置的照明装置
TWI556375B (zh) * 2013-05-21 2016-11-01 蔡承恩 複合式散熱片及其熱電裝置
CN104538836B (zh) * 2014-12-31 2018-02-02 西安炬光科技股份有限公司 一种用于高功率半导体激光器的液体制冷片
US9612633B2 (en) * 2015-02-19 2017-04-04 Compulab Ltd. Passively cooled serviceable device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19641731A1 (de) * 1996-07-05 1998-01-15 Ernst Messerschmid Inst Fuer R Vorrichtung zur Kühlung von mindestens zwei Elektroden aufweisenden Lichtbogengeneratoren
DE19626227C2 (de) * 1996-06-29 1998-07-02 Bosch Gmbh Robert Anordnung zur Wärmeableitung bei Chipmodulen auf Mehrschicht-Keramikträgern, insbesondere für Multichipmodule, und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE19744281A1 (de) * 1997-10-07 1999-06-02 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung zum Kühlen von Halbleiterbauelementen und ihre Verwendung

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE223570C (de)
DE7913126U1 (de) 1979-05-07 1979-08-23 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Kuehlkoerper aus stranggepresstem aluminium fuer leistungshalbleiter
DE8228451U1 (de) 1982-10-09 1983-02-17 Standard Elektrik Lorenz Ag, 7000 Stuttgart Kühlblech
DE8533265U1 (de) 1985-11-26 1986-03-06 Bicc-Vero Elektronics GmbH, 2800 Bremen Frontplatte für Elektronik-Steckbaugruppen
US4859805A (en) 1987-09-19 1989-08-22 Nippon Cmk Corp. Printed wiring board
US4962416A (en) * 1988-04-18 1990-10-09 International Business Machines Corporation Electronic package with a device positioned above a substrate by suction force between the device and heat sink
US5002123A (en) * 1989-04-20 1991-03-26 Microelectronics And Computer Technology Corporation Low pressure high heat transfer fluid heat exchanger
DE8908678U1 (de) 1989-07-17 1990-11-15 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Leistungsbaugruppe
US5345107A (en) * 1989-09-25 1994-09-06 Hitachi, Ltd. Cooling apparatus for electronic device
US5018573A (en) * 1989-12-18 1991-05-28 Carrier Corporation Method for manufacturing a high efficiency heat transfer surface and the surface so manufactured
US5213868A (en) * 1991-08-13 1993-05-25 Chomerics, Inc. Thermally conductive interface materials and methods of using the same
US5455382A (en) * 1991-10-31 1995-10-03 Sumitomo Metal Industries, Ltd. IC package heat sink fin
US5285350A (en) * 1992-08-28 1994-02-08 Aavid Engineering, Inc. Heat sink plate for multiple semi-conductors
DE9214061U1 (de) 1992-10-17 1992-12-24 Ets Claude Kremer S.a.r.l., Vianden Kühlkörper
US5504378A (en) 1994-06-10 1996-04-02 Westinghouse Electric Corp. Direct cooled switching module for electric vehicle propulsion system
US5476818A (en) * 1994-08-19 1995-12-19 Motorola, Inc. Semiconductor structure and method of manufacture
US5506753A (en) 1994-09-26 1996-04-09 International Business Machines Corporation Method and apparatus for a stress relieved electronic module
DE4442023C2 (de) 1994-11-25 1997-02-06 Bosch Gmbh Robert Siliziumkörper mit einem Durchbruch mit frei definierbarer Austrittsöffnung und Verfahren zu seiner Herstellung
JP3269397B2 (ja) 1995-09-19 2002-03-25 株式会社デンソー プリント配線基板
DE19619060A1 (de) 1996-05-13 1997-11-20 Austerlitz Electronic Gmbh Kühlkörper aus Metall für Elektronikmodule
US5781411A (en) * 1996-09-19 1998-07-14 Gateway 2000, Inc. Heat sink utilizing the chimney effect
US5825087A (en) * 1996-12-03 1998-10-20 International Business Machines Corporation Integral mesh flat plate cooling module
US5896271A (en) * 1997-07-21 1999-04-20 Packard Hughes Interconnect Company Integrated circuit with a chip on dot and a heat sink
CA2238128A1 (en) 1998-05-20 1999-11-20 Hualon Microelectronics Corporation 3-step etching for contact window
US6478082B1 (en) * 2000-05-22 2002-11-12 Jia Hao Li Heat dissipating apparatus with nest wind duct
US7044212B1 (en) 2000-08-25 2006-05-16 Net Nanofiltertechnik Gmbh Refrigeration device and a method for producing the same
JP3841633B2 (ja) * 2000-10-16 2006-11-01 ヤマハ株式会社 半導体レーザモジュール

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19626227C2 (de) * 1996-06-29 1998-07-02 Bosch Gmbh Robert Anordnung zur Wärmeableitung bei Chipmodulen auf Mehrschicht-Keramikträgern, insbesondere für Multichipmodule, und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE19641731A1 (de) * 1996-07-05 1998-01-15 Ernst Messerschmid Inst Fuer R Vorrichtung zur Kühlung von mindestens zwei Elektroden aufweisenden Lichtbogengeneratoren
DE19744281A1 (de) * 1997-10-07 1999-06-02 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung zum Kühlen von Halbleiterbauelementen und ihre Verwendung

Also Published As

Publication number Publication date
EP1354352A2 (de) 2003-10-22
US7044212B1 (en) 2006-05-16
KR20030024916A (ko) 2003-03-26
DE10049274A1 (de) 2002-05-29
WO2002017390A3 (de) 2003-08-21
JP2004518269A (ja) 2004-06-17
WO2002017390A2 (de) 2002-02-28
TW507520B (en) 2002-10-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10049274B4 (de) Kühlvorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung
DE112005001094B4 (de) Thermoelektrische Nano-Draht-Einrichtung und elektronisches System mit der Nano-Draht-Einrichtung
US11015879B2 (en) Interface-free thermal management system for high power devices co-fabricated with electronic circuit
DE60030287T2 (de) Mikro-kühlvorrichtung
DE112005001431B4 (de) Thermoelektrisches Modul, Verfahren zu dessen Herstellung und System mit dem thermoelektrischen Modul
DE102008060777A1 (de) Verfahren und Anordnung zur Kühlung von wärmeentwickelnden Computerkomponenten
DE102013206480A1 (de) Halbleiterbauelement und Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelements
DE112017002842T5 (de) Kühlkörper und Kühleinrichtung
DE102010043904A1 (de) Leistungselektroniksubstrat für direkte Substratkühlung
DE102010003533B4 (de) Substratanordnung, Verfahren zur Herstellung einer Substratanordnung, Verfahren zur Herstellung eines Leistungshalbleitermoduls und Verfahren zur Herstellung einer Leistungshalbleitermodulanordnung
DE102005033150A1 (de) Mikrostrukturierter Kühler und dessen Verwendung
EP0013362B1 (de) Vorrichtung zur Wärmeübertragung, insbesondere für integrierte Schaltungen
DE102018118070B4 (de) Monolithische Phasenänderung-Wärmeabführvorrichtung
DE102007050405B4 (de) Elektrische Leistungskomponente, insbesondere Leistungshalbleiter-Modul, mit einer Kühlvorrichtung und Verfahren zum flächigen und wärmeleitenden Anbinden einer Kühlvorrichtung an eine elektrische Leistungskomponente
DE19626227C2 (de) Anordnung zur Wärmeableitung bei Chipmodulen auf Mehrschicht-Keramikträgern, insbesondere für Multichipmodule, und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE102017207361A1 (de) Kühler zur Kühlung von elektrischen Anordnungen
DE102014111533A1 (de) Chipanordnung
DE102020207150A1 (de) Vorrichtung für das wärmemanagement von elektronikbauteilen
EP1905076A1 (de) Anordnung eines elektrischen bauelements und einer zwei-phasen-kühlvorrichtung und verfahren zum herstellen der anordnung
DE102014109489B4 (de) Elektrisch leitendes element, halbleitervorrichtung mit dem elektrisch leitenden element und verfahren zum herstellen einer wärmesenke
DE10035170B4 (de) Keramikkörper mit Temperiervorrichtung, Verfahren zum Herstellen und Verwendung des Keramikkörpers
DE10218530B4 (de) Integrierte Schaltung mit thermisch abgeschirmter elektrischer Widerstandsbahn
WO2007009868A1 (de) Anordnung eines elektrischen bauelements und einer zwei- phasen- kühlvorrichtung und verfahren zum betreiben der anordnung
DE10041829B4 (de) Kühlvorrichtung
WO2003026009A2 (de) Leistungselektronikeinheit

Legal Events

Date Code Title Description
AF Is addition to no.

Ref country code: DE

Ref document number: 10041829

Format of ref document f/p: P

AF Is addition to no.

Ref document number: 10041829

Country of ref document: DE

Kind code of ref document: P

8110 Request for examination paragraph 44
8125 Change of the main classification

Ipc: H05K 7/20 AFI20051017BHDE

AF Is addition to no.

Ref document number: 10041829

Country of ref document: DE

Kind code of ref document: P

8364 No opposition during term of opposition
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20140417