CN219918939U - 一种测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例涉及天线测试技术领域,尤其公开了一种测试装置，包括底架、测试治具、测试仪器和控制器，所述底架设置有容置槽，所述容置槽用于放置所述待测试件，所述测试治具包括电路板，所述电路板固定于所述底架，所述电路板设置有探针，所述探针的一端位于所述容置槽，所述探针用于与位于所述容置槽的所述待测件抵接，所述测试仪器与所述电路板电连接，所述控制器分别与所述电路板和所述测试仪器电连接。通过上述方式，本实用新型实施例能够对待测试件进行性能测试。

Description

一种测试装置

技术领域

本实用新型实施例涉及天线测试技术领域，特别是涉及一种测试装置。

背景技术

近场通信(Near Field Communication，简称NFC)，是一种新兴的技术，配备有NFC天线的电子设备可以在彼此靠近的情况下进行数据交换，广泛应用于移动支付、电子票务、门禁、移动身份识别、防伪等领域。

然而，在实现本实用新型实施例的过程中，发明人发现：目前，NFC天线是由FPC和铁氧体通过穿插工艺制造而成的，在生产过程中会有发生应力作用而致铁氧体产生碎磁的情况，从而使得铁氧体的磁导率下降，进而使得NFC天线性能降低，无法满足使用需求，因此，在NFC天线生产过程中，有必要对NFC天线的性能进行测试，但是目前缺少对由FPC和铁氧体通过穿插工艺制造而成的NFC天线进行测试的专用工具。

实用新型内容

本实用新型实施例主要解决的技术问题是提供一种测试装置，能够对待检测件进行性能测试。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：提供一种测试装置，包括底架、测试治具、测试仪器和控制器，所述底架设置有容置槽，所述容置槽用于放置所述待测试件，所述测试治具包括电路板，所述电路板固定于所述底架，所述电路板设置有探针，所述探针的一端位于所述容置槽，所述探针用于与位于所述容置槽的所述待测件抵接，所述测试仪器与所述电路板电连接，所述控制器分别与所述电路板和所述测试仪器电连接。

可选的，所述底架设置有安装槽和通槽，所述电路板固定于所述安装槽，所述通槽分别与所述安装槽和所述容置槽连通，所述探针的一端穿过所述通槽位于所述容置槽。

可选的，所述测试治具包括第一连接线，所述第一连接线的一端与所述电路板电连接；

所述测试装置包括连接块，所述第一连接线的另一端固定于所述连接块。

可选的，所述底架设置有开口，所述开口与所述安装槽连通，所述连接块位于所述开口处，所述第一连接线的另一端穿过所述开口固定于所连接块。

可选的，所述测试治具包括驱动组件和抵持件，所述抵持件位于所述容置槽上方，所述驱动组件连接于所述底架，所述驱动组件与所述抵持件连接，所述驱动组件用于驱动所述抵持件升降，当所述抵持件位于下降位置时，所述抵持件与所述待测试件抵持，以使所述待测试件与所述探针抵接。

可选的，所述驱动组件包括驱动件和连接板，所述驱动件固定于所述底架，所述连接板分别与所述驱动件和所述抵持件连接。

可选的，所述驱动组件包括升降板，所述升降板分别与所述连接板和驱动件连接。

可选的，所述驱动组件包括导轨座，所述导轨座设置有滑槽，所述导轨座固定于所述底架，所述升降板滑动设置于所述滑槽。

可选的，所述测试治具还包括开关，所述开关固定于所述底架，所述开关与所述驱动件连接。

可选的，所述测试治具还包括检测件，所述检测件固定于所述驱动件，所述检测件与所述控制器电连接，所述检测件用于检测驱动件的伸缩杆是否伸出到位，以检测所述抵持件是否位于所述下降位置。

本实用新型实施例中，测试装置包括底架、测试治具、测试仪器和控制器，所述底架设置有容置槽，所述容置槽用于放置所述待测试件，所述测试治具包括电路板，所述电路板固定于所述底架，所述电路板设置有探针，所述探针的一端位于所述容置槽，所述探针用于与位于所述容置槽的所述待测件抵接，所述测试仪器与所述电路板电连接，所述控制器分别与所述电路板和所述测试仪器电连接。由于在测试仪器预先设置有性能参数，在生产过程中，通过人工将待测试件放置于容置槽，使得测试件与探针抵接，实现电路板与待测试件的电连接，控制器控制测试仪器对待测试件进行测试，将测试得到的性能参数与预先设置有的性能参数比对就可以判断待测试件是否合格。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例提供的测试装置的结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供的测试装置的底架的结构示意图；

图3是本实用新型实施例提供的测试装置的底架的底板的结构示意图；

图4是本实用新型实施例提供的测试装置的测试治具的结构示意图；

图5是本实用新型实施例提供的测试装置的连接块的结构示意图；

图6是本实用新型实施例提供的测试装置的控制器、测试仪器、测试治具的电路板、测试治具的检测件和报警器的连接示意图。

附图标记说明：

100、测试装置；1、底架；11、底板；111、容置槽；112、安装槽；113、通槽；114、开口；115、避让缺口；12、支脚；13、盖板；14、开关安装座；2、测试治具；21、电路板；211、探针；22、驱动组件；221、安装板；222、驱动件；223、升降板；224、连接板；225、导轨座；2251、滑槽；23、抵持件；24、开关；3、连接块；31、固定孔；4、测试仪器；25、检测件；5、控制器；6、警报器。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面结合附图和具体实施例，对本实用新型进行更详细的说明。需要说明的是，当元件被表述“锁紧于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。当一个元件被表述“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件、或者其间可以存在一个或多个居中的元件。本说明书所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本说明书中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是用于限制本实用新型。本说明书所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1、图2和图6，测试装置100包括底架1、测试治具2、连接块3、测试仪器4和控制器5。底架1用于供待测试件放置。测试治具2连接于底架1，测试治具2用于与待测试件电连接。连接块3固定于底架1，连接块3与部分的测试治具2固定，以便测试治具2与测试仪器4电连接。测试仪器4用于测试待测试件的性能，根据测试得到的性能参数与预先设置有的性能参数比对，从而判断待测试件是否合格。控制器5分别与所述测试治具2和测试仪器4电连接，控制器5用于根据测试治具2的信息控制测试仪器4对待测试件进行测试。

在一些实施例中，待测试件是NFC天线。

对于上述底架1，请参阅图2和图3，底架1包括底板11、支脚12和盖板13。底板11分别与支脚12和盖板13连接。底板11设置有容置槽111、安装槽112、通槽113和开口114。容置槽111设置于底板11的第一表面，容置槽111用于放置待测试件。安装槽112设置于底板11的第二表面，第二表面和第一表面相对，安装槽112用于收容测试治具2的部分。通槽113设置于安装槽112的槽底，通槽113分别与容置槽111和安装槽112连通，通槽113用于供测试治具2的另一部分穿过。开口114设置于底板11的第二表面，开口114与安装槽112连通，开口114用于供测试治具2的再一部分穿过。盖板13盖设于安装槽112的槽口，以使安装槽112与外界隔开，避免异物进入安装槽112与测试治具2的另一部分接触。支脚12固定于底板11的第二表面，支脚12用于支撑底板11。

对于上述测试治具2，请参阅图4，测试治具2包括电路板21、第一连接线(图未示)、驱动组件22、抵持件23和开关24。电路板21固定于安装槽112内。电路板21设置有探针211，探针211的一端穿过通槽113位于容置槽111，探针211用于与位于容置槽111的待测试件抵接，以实现待测试件与电路板21电连接。第一连接线的一端与电路板21电连接，第一连接线的另一端穿过开口114与连接块3固定。驱动组件22分别与底板11和抵持件23连接，开关24固定于底板11，开关24与驱动组件22连接，驱动组件22用于驱动抵持件23相对于底板11座升降运动。驱动组件22包括安装板221、驱动件222、升降板223、连接板224和导轨座225。安装板221固定于底板11。驱动件222固定于安装板221。升降板223与驱动件222连接。连接板224与升降板223的一侧连接。导轨座225固定于底板11，导轨座225设置有滑槽2251，滑槽2251收容升降板223的另一侧，升降板223可沿着滑槽2251滑动，导轨座225用于使得升降板223在滑动时不会发生晃动的情况。抵持件23位于容置槽111上方，抵持件23与连接板224连接，抵持件23可相对于容置槽111做升降运动，其中，驱动件222用于驱动抵持件23做升降运动，当抵持件23位于下降位置时，抵持件23与待测试件抵持，以使待测试件与探针211抵接，保证待测试件与电路板21电连接，以免出现待测试件与探针211出现接触不良，从而使得测试失误。开关24连接于底板11，开关24与驱动件222连接，开关24用于控制驱动件222启停。

在一些实施例中，驱动件222是气缸，开关24是气动阀开关，底架1还包括开关安装座14，底板11设置有避让缺口115，开关安装座14连接于底板11的第一表面，并且位于避让缺口115的上方。气动阀开关固定于开关安装座14，部分开关安装座14位于避让缺口115处，从而气动阀开关连接于底板11。但是驱动件222和开关24的结构不限于此，驱动件222也可以是电缸，开关24是按钮，电缸和按钮均与控制器5电连接。

在一些实施例中，测试治具2还包括检测件25，检测件25固定于驱动件222，检测件25用于检测驱动件222的伸缩杆是否伸出到位，从而检测抵持件23是否位于下降位置。检测件25可以为磁性开关，但是不限于此，只要能检测驱动件222的伸缩杆伸出到位即可。

对于上述连接块3，请参阅图5，连接块3固定于开口114处，连接块3设置有固定孔31，固定孔31供第一连接线的另一端固定，以便第一连接线与测试仪器4的第二连接线连接，以实现电路板21与测试仪器4电连接。

需要说明的是：第一连接线是SMA Cable线，测试仪器4的第二连接线是N-SMA RFCable线。

在一些实施例中，测试仪器4是网络分析仪，测试仪器4会预先设置有性能参数、合格显示信息和不合格显示信息，例如，当测试仪器4测试待测试件的性能参数位于预先设置的性能参数范围内，网络分析仪输出合格显示信息，当测试仪器4测试待测试件的性能参数位于预先设置的性能参数范围外，网络分析仪输出不合格显示信息，以供测试人员观察。

对于上述控制器5，请参阅图6，控制器5分别与电路板21、测试仪器4和检测件25电连接。控制器5用于根据检测件25的检测信息来控制测试仪器4。当对待测试件进行测试，人工将待测试放置于容置槽111，然后拨动开关24，驱动件222驱动抵持件23下降，当抵持件23位于下降位置时，抵持件23与待测试件抵接，以使待测试件与探针211抵接，控制器5控制测试仪器4对待测试件进行测试，将测试得到的性能参数与预先设置有的性能参数进行比对，当测试的性能参数位于预先设置有的性能参数内，则说明待测试件合格，测试仪器4输出合格显示信息，否则说明待测试件不合格，测试仪器4输出不合格显示信息。测试人员根据测试仪器4的显示信息，将测试后的测试件按照合格与不合格的归类放置。

在一些实施例中，测试装置100还包括警报器6，警报器6固定于底板11，警报器6与控制器5电连接。当测试的待测试件是合格时，控制器5控制器5警报器6闪烁第一种灯光，当测试的待测试件是不合格时，控制器5控制器5警报器6闪烁第二种灯光，通过不同灯光更加方便测试人员观察。

在本实用新型实施例中，测试装置100包括底架1、测试治具2、测试仪器4和控制器5，底架1设置有容置槽111，容置槽111用于放置待测试件，测试治具2包括电路板21，电路板21固定于底架1，电路板21设置有探针211，探针211的一端位于容置槽111，探针211用于与位于容置槽111的待测件抵接，测试仪器4与电路板21电连接，控制器5分别与电路板21和测试仪器4电连接。由于在测试仪器4预先设置有性能参数，在生产过程中，通过人工将待测试件放置于容置槽111，使得测试件与探针211抵接，实现电路板21与待测试件的电连接，控制器5控制测试仪器4对待测试件进行测试，将测试得到的性能参数与预先设置有的性能参数比对就可以判断待测试件是否合格。

需要说明的是，本实用新型的说明书及其附图中给出了本实用新型的较佳的实施例，但是，本实用新型可以通过许多不同的形式来实现，并不限于本说明书所描述的实施例，这些实施例不作为对本实用新型内容的额外限制，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。并且，上述各技术特征继续相互组合，形成未在上面列举的各种实施例，均视为本实用新型说明书记载的范围；进一步地，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种测试装置，用于待测试件，其特征在于，包括：

底架，设置有容置槽，所述容置槽用于放置所述待测试件；

测试治具，包括电路板，所述电路板固定于所述底架，所述电路板设置有探针，所述探针的一端位于所述容置槽，所述探针用于与位于所述容置槽的所述待测件抵接；

测试仪器，与所述电路板电连接；

控制器，分别与所述电路板和所述测试仪器电连接。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

所述底架设置有安装槽和通槽，所述电路板固定于所述安装槽，所述通槽分别与所述安装槽和所述容置槽连通，所述探针的一端穿过所述通槽位于所述容置槽。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，

所述测试治具包括第一连接线，所述第一连接线的一端与所述电路板电连接；

所述测试装置包括连接块，所述第一连接线的另一端固定于所述连接块。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，

所述底架设置有开口，所述开口与所述安装槽连通，所述连接块位于所述开口处，所述第一连接线的另一端穿过所述开口固定于所连接块。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

所述测试治具包括驱动组件和抵持件，所述抵持件位于所述容置槽上方，所述驱动组件连接于所述底架，所述驱动组件与所述抵持件连接，所述驱动组件用于驱动所述抵持件升降，当所述抵持件位于下降位置时，所述抵持件与所述待测试件抵持，以使所述待测试件与所述探针抵接。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，

所述驱动组件包括驱动件和连接板，所述驱动件固定于所述底架，所述连接板分别与所述驱动件和所述抵持件连接。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，

所述驱动组件包括升降板，所述升降板分别与所述连接板和驱动件连接。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，

所述驱动组件包括导轨座，所述导轨座设置有滑槽，所述导轨座固定于所述底架，所述升降板滑动设置于所述滑槽。

9.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，

所述测试治具还包括开关，所述开关固定于所述底架，所述开关与所述驱动件连接。

10.根据权利要求6-9中任意一项所述的测试装置，其特征在于，

所述测试治具还包括检测件，所述检测件固定于所述驱动件，所述检测件与所述控制器电连接，所述检测件用于检测驱动件的伸缩杆是否伸出到位，以检测所述抵持件是否位于所述下降位置。