CN216116117U - 一种可标记的测试治具和测试生产线 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电子设备检测领域，更具体地，涉及一种可标记的测试治具和测试生产线。所述的一种可标记的测试治具，用于测试电子基板，包括底座、升降装置、控制器以及标记装置，所述升降装置安装在所述底板上，所述标记装置可升降地安装在所述升降装置上，所述控制器与所述标记装置电连接，所述电子基板放置于所述底座上，所述标记装置用于在测试完成后对电子基板进行标记。后续操作人员或者设备可以通过辨认或者识别该标记，从而判断电子基板是否完成测试，防止漏测。

Description

一种可标记的测试治具和测试生产线

技术领域

本实用新型涉及电子设备检测领域，更具体地，涉及一种可标记的测试治具和测试生产线。

背景技术

通常，电子基板需要做各种各样的测试，测试完成之后，会在电子基板上进行标记，后续操作人员或者其他设备可以通过辨认或者识别电子基板上是否含有该标记，从而判断该电子基板是否完成测试，防止漏测问题。

现有技术中，测试完成的电子基板一般由操作人员使用记号笔等在电子基板的指定位置上进行标记。这种人工标记方法耗费大量的人力，生产效率低下，且由人工所做的标记，其尺寸大小难以统一，标记形状也五花八门，标记的位置各异，即使制定统一的标记标准，也难以做到所有标记的尺寸、形状以及位置完全一样，不利于后续辨认或者识别这一标记，难以杜绝由于标记不当所造成的辨认或者识别错误，导致漏测。

同时，当电子基板的测试频率较高时，由于操作人员疲劳导致标记错误的发生率大大增加，电子基板漏测的几率大大增加，造成电子基板的质量风险。

实用新型内容

本实用新型旨在克服上述现有技术的至少一种缺陷(不足)，提供一种可标记的测试治具和测试生产线，用于对测试完成后的电子基板进行标记，通过该标记判断电子基板是否完成测试。

本实用新型第一方面采取的技术方案是，

提供一种可标记的测试治具，用于测试电子基板，包括底座、升降装置、控制器以及标记装置，所述升降装置安装在所述底板上，所述标记装置可升降地安装在所述升降装置上，所述控制器与所述标记装置电连接，所述电子基板放置于所述底座上，所述标记装置用于在测试完成后对电子基板进行标记。

进一步地，所述控制器安装在所述底座内部。

进一步地，还包括安装板，所述标记装置通过所述安装板可升降地安装在所述升降装置上。

进一步地，所述底座上还安装有一上盖，且所述上盖位于所述底座和所述标记装置之间，所述上盖上设置有一通孔，所述标记装置通过所述通孔对所述电子基板进行标记。

进一步地，所述上盖通过若干个支柱安装在所述底座上。

进一步地，所述上盖上设有走线孔，所述控制器与所述标记装置电连接的走线穿过所述走线孔。

进一步地，所述上盖的材料为透明材料。

进一步地，所述标记装置为激光镭雕机。

进一步地，所述升降装置的驱动机构为气缸。

本实用新型第二方面采取的技术方案是，

提供一种测试生产线，包括所述的一种可标记的测试治具以及AOI设备(光学自动检测设备)，

所述AOI设备用于检测所述测试治具在所述电子基板上的标记。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

1.避免人工标记失误造成的产品不良，防止漏测，极大提高产品质量及直通率。

2.能较好地应对高频率的测试需求，防止人为标记疲劳造成的漏测。

3.激光镭射技术的局限性小，激光镭雕机的使用寿命长，方案实施难度低。

4.烧录、测试完成后，通过激光镭雕机镭射标记，标记的位置统一、形状一致、大小尺寸均匀，便于后续辨认或者识别电子基板上的标记。

5.增加AOI设备，对电子基板的外观及其上的标记进行检查，实现从根本上杜绝漏测等问题。

附图说明

图1为本实用新型的一种可标记的测试治具的第一结构图。

图2为本实用新型的一种可标记的测试治具的第二结构图。

具体附图说明：底座1、升降装置2、标记装置3、安装板4、上盖5、通孔51、走线孔52、支柱6、电子基板7。

具体实施方式

本实用新型附图仅用于示例性说明，不能理解为对本实用新型的限制。为了更好说明以下实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。

实施例1

如图1所示(控制器未示出)，本实施例提供一种可标记的测试治具，用于测试电子基板7，包括底座1、升降装置2、控制器以及标记装置3，升降装置2安装在底板上，标记装置3可升降地安装在升降装置2上，控制器与标记装置3电连接，电子基板7放置于底座1上，标记装置3用于在测试完成后对电子基板7进行标记。

本实施例优选地，测试治具与一上位机电连接，可以在上位机中预先设置测试控制程序，上位机执行该程序以使测试治具对电子基板7进行相应的测试，测试完毕之后，上位机发送测试完毕信号到控制器中，以使控制器发送标记信号到标记装置3中，标记装置3根据接收到的标记信号对电子基板7进行标记，记录测试完成。

操作人员根据电子基板7上是否有测试治具的标记装置3所标记的标记，从而判断该电子基板7是否已测试完成。

本实施例提供的一种可标记的测试治具，能够在电子基板7测试结束之后，通过标记装置3在电子基板7上进行标记，避免了人工标记失误所造成的漏测，提高产品直通率。即使在高频率的电子基板7测试下，也能够对所有完成测试的电子基板7进行标记，防止操作人员标记疲劳所造成的漏测。

进一步地，控制器安装在底座1内部。

控制器的安装方式有多种，只需要能够实现与标记装置3的电连接即可。同样地，控制器与标记装置3的电连接方式也有多种，可以为无线电连接，也可以为有线电连接。

本实施例优选地，将控制器安装在底座1内部，能够节省空间。

进一步地，还包括安装板4，标记装置3通过安装板4可升降地安装在升降装置2上。

本实施例优选地，标记装置3安装在安装板4上，安装板4可升降地安装在升降装置2上，以使标记装置3垂直方向上可升降。进一步优选地，标记装置3可以可移动地安装在安装板4上，以使标记装置3在水平方向上可移动且垂直方向上可升降。

通过标记装置3对测试完毕的电子基板7进行标记时，可以根据实际情况调节标记装置3的位置，以使标记装置3可以在电子基板7上的指定位置进行标记，避免影响电子基板7上安装的其他器件的正常工作。

进一步地，如图2所示，底座1上还安装有一上盖5，且上盖5位于底座1和标记装置3之间，上盖5上设置有一通孔51，标记装置3通过通孔51对电子基板7进行标记。

本实施例优选地，在底座1和标记装置3之间还设置有一上盖5，上盖5可以对放置在底座1上的电子基板7起到一定的保护作用，避免因其他物件砸落造成电子基板7的损坏。

本实施例优选地，上盖5的形状可以有多种，例如，矩形、多边形等，只需要能够对电子基板7起到保护作用即可。

进一步地，上盖5通过若干个支柱6安装在底座1上。

上盖5的安装方式可以有多种，只需要能够将上盖5安装在底座1上即可。

本实施例优选地，可以将若干个支柱6安装在底座1的周边，然后在将上盖5安装在若干个支柱6上，标记装置3位于上盖5的上方。

上盖5的安装方式简单，结构方便，不会阻碍电子基板7放置在底座1上。

进一步地，上盖5上设有走线孔52，控制器与标记装置3电连接的走线穿过走线孔52。

本实施例优选地，当控制器与标记装置3的电连接方式为有线连接时，控制器与标记装置3之间通过走线连接，走线穿过上盖5上的走线孔52，而无需绕过上盖5，可以使得走线的长度变短。当控制器放置在底座1的内部时，底座1上也应该设置有走线孔52，以使走线可以通过走线孔52穿出底座1，与标记装置3电连接。

进一步地，上盖5的材料为透明材料。

本实施例优选地，上盖5使用透明材料制成，便于操作人员即使隔着上盖5也可以清楚看到电子基板7的情况，有利于对电子基板7进行标记。

进一步地，标记装置3为激光镭雕机。

本实施例优选地，激光镭雕机通过发射激光的方式对放置在底座1上的电子基板7进行标记。激光镭雕机包括激光头，激光从激光头中射出，穿过上盖5的通孔51，在电子基板7上进行标记。可以理解的是，上盖5的通孔51还可以起到定位标记的指定位置的作用，将通孔51对准电子基板7上的指定位置，以使激光镭雕机的激光头对准通孔51，从而在电子基板7的指定位置上发射激光。

激光镭射技术的局限性小，激光镭雕机的使用寿命长，通过激光镭雕机对完成测试的电子基板7进行标记，操作简单，实施难度低。同时，通过激光镭雕机镭射的标记的大小尺寸均匀，形状一致，激光镭雕机还可以在所有完成测试的电子基板7的统一的指定位置上进行标记，便于操作人员或者其他设备快速辨认或者识别该标记，从而判断该电子基板7是否完成测试。

本实施例进一步优选地，电子基板7完成标记之后还可以经过AOI设备(光学自动检测设备)进行标记检查，找出没有标记的电子基板7并对该电子基板7进行测试，防止漏测。标记的大小尺寸均匀、形状一致、位置统一，有利于后续的标记检查。

进一步地，升降装置2的驱动机构为气缸。

本实施例优选地，升降装置2包括驱动机构，驱动机构可以为气缸或者液压装置等可以提供升降动力的机构。

本实施例优选地，电子基板7可以是PCB板或者PCBA板等。

实施例2

本实施例提供一种测试生产线，包括实施例1的一种可标记的测试治具以及AOI设备(光学自动检测设备)，

AOI设备用于检测测试治具在电子基板7上的标记。

AOI设备可以用于电子基板7的外观检测以及标记检查，避免完成了测试之后的电子基板7没有被标记。

本实施例优选地，电子基板7可以是PCB板或者PCBA板等。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型技术方案所作的举例，而并非是对本实用新型的具体实施方式的限定。凡在本实用新型权利要求书的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种可标记的测试治具，用于测试电子基板，其特征在于，包括底座、升降装置、控制器以及标记装置，所述升降装置安装在所述底座上，所述标记装置可升降地安装在所述升降装置上，所述控制器与所述标记装置电连接，所述电子基板放置于所述底座上，所述标记装置用于在测试完成后对电子基板进行标记。

2.根据权利要求1所述的一种可标记的测试治具，其特征在于，所述控制器安装在所述底座内部。

3.根据权利要求1所述的一种可标记的测试治具，其特征在于，还包括安装板，所述标记装置通过所述安装板可升降地安装在所述升降装置上。

4.根据权利要求1所述的一种可标记的测试治具，其特征在于，所述底座上还安装有一上盖，且所述上盖位于所述底座和所述标记装置之间，所述上盖上设置有一通孔，所述标记装置通过所述通孔对所述电子基板进行标记。

5.根据权利要求4所述的一种可标记的测试治具，其特征在于，所述上盖通过若干个支柱安装在所述底座上。

6.根据权利要求4所述的一种可标记的测试治具，其特征在于，所述上盖上设有走线孔，所述控制器与所述标记装置电连接的走线穿过所述走线孔。

7.根据权利要求4所述的一种可标记的测试治具，其特征在于，所述上盖的材料为透明材料。

8.根据权利要求1到7任一项所述的一种可标记的测试治具，其特征在于，所述标记装置为激光镭雕机。

9.根据权利要求1到7任一项所述的一种可标记的测试治具，其特征在于，所述升降装置的驱动机构为气缸。

10.一种测试生产线，其特征在于，包括如权利要求1到9任一项所述的一种可标记的测试治具以及AOI设备，

所述AOI设备用于检测所述测试治具在所述电子基板上的标记。

Images