CN215931032U - 一种用于液位检测的检测电路及液位检测装置 - Google Patents

一种用于液位检测的检测电路及液位检测装置 Download PDF

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武海川
杨俊鹏
余杰
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Abstract

本实用新型涉及一种用于液位检测的检测电路,包括信号发生电路、驱动电路和信号检验电路,所述信号发生电路连接所述驱动电路;所述信号发生电路,用于产生电平方向交替变化的驱动信号;所述驱动电路,用于连接液位检测装置的探针,以根据所述驱动信号在探针上产生电平方向交替变化的检测信号;所述信号检验电路,连接所述驱动电路,以在液体介质导通所述探针时产生检验信号。本实用新型的技术方案,能够有效地减缓探针腐蚀的发生,延长液位检测装置的使用寿命。

Description

一种用于液位检测的检测电路及液位检测装置
技术领域
本实用新型一般地涉及电气控制领域。更具体地,本实用新型涉及一种用于液位检测的检测电路及液位检测装置。
背景技术
在工业、农业乃至日常生活等领域,液位检测是一种常见的需求。例如,在一种应用场景中,对于密闭的容器内的液体量,可以通过液位传感器来测量容器内的液位,进而根据液位的具体值来控制相关执行机构(例如阀门等)执行不同的动作。又如,在另一种应用场景中,在容器内设置液位开关,在液体达到设定高度时,液位开关自动触发执行机构,由执行机构执行相应的动作。
上述的液位传感器和液位开关的类型很多,基于的原理各不相同,各有优缺点。常见的液位检测方式包括:磁浮式、内浮式、磁翻板式、投入式等接触式液位检测方式,以及激光测量、静压式测量和电容式测量等非接触式液位检测方式,例如激光测量的准确性较高,但限制性条件较多。静压式测量不受液位高度限制,但高度越高,则传感器精度要求就越高,长时间使用或者更换液体时需要重复校准。电容式测量主要通过检测由于液面高度变化而导致的电容值变化来测量液位高度,这种检测方法容易受到容器材质和溶液属性的影响,例如塑料容器和挂料情况容易影响电容传感器输出模拟量的精度。
一种液位检测的原理是利用液体导电的性质。图1A和图1B展示了一种液位开关的原理,液位开关包括探头1和检测电路2,探头1包括两个探针,即第一探针11和第二探针12,第一探针11处于图示的上方,第二探针12处于图示的下方。检测电路2根据第一探针11和第二探针12之间的信号(或者说导通状态),以判断液体的液位。
如图1A所示,第二探针12处于液位13以下,第一探针11处于液位13以上,也就是说,第二探针12浸没在液体中,而第一探针11尚未被液体浸没。此时的检测电路2,由于第一探针11与第二探针12之间未形成电路通路,因此无法检测到相应信号(或者说检测到不导通的状态)。如图1B所示,第二探针12处于液位13以下,第一探针11也处于液位13以下,也就是说,液体液位13已经上升到将第一探针11浸没的高度。此时的检测电路2,由于第一探针11与第二探针12之间通过液体形成电路通路,因此能够检测到相应信号(或者说检测到导通的状态)。
基于此,将第一探针11置于设定位置处,在检测电路2检测到相应信号时即表示液体的液位13已经达到或者超过设定位置,据此,后端控制***控制即可控制相关执行机构动作,或者将液体液位13达到设定位置的信息发送出去。
以上液位开关的例子,其主要面临腐蚀问题。探针一般采用金属元件构成,而金属元件在潮湿环境中会产生电化学腐蚀。特别是图1A和图1B中,检测电路需要在第一探针11和第二探针12之间加载电压乃至产生电流。对于作为负极的探针而言(不论是第一探针11作为负极,还是第二探针12作为负极),其腐蚀较为严重。而且加载的电压越大,产生的电流越强,则腐蚀的速度越快。腐蚀后的探针表面被氧化,失去导电能力。因此,探针的腐蚀大大缩短了探针的使用寿命。
实用新型内容
本实用新型提供了一种用于液位检测的检测电路及液位检测装置,用于解决或者至少用于延缓液位检测装置中探针的腐蚀。
根据本实用新型的第一方面,提供了一种用于液位检测的检测电路,包括信号发生电路、驱动电路和信号检验电路,所述信号发生电路连接所述驱动电路;所述信号发生电路,用于产生电平方向交替变化的驱动信号;所述驱动电路,用于连接液位检测装置的探针,以根据所述驱动信号在探针上产生电平方向交替变化的检测信号;所述信号检验电路,连接所述驱动电路,以在液体介质导通所述探针时产生检验信号。
在本实用新型第一方面的一个实施例中,所述信号发生电路包括:一个方波发生器,用于产生电平方向交替变化的方波信号。
在本实用新型第一方面的一个实施例中,所述方波发生器包括时钟芯片及其***电路。
在本实用新型第一方面的一个实施例中,所述驱动电路包括第一探针驱动电路和第二探针驱动电路;所述第一探针驱动电路用于连接第一探针,所述第二探针驱动电路用于连接第二探针,以在第一探针和第二探针之间产生所述检测信号。
在本实用新型第一方面的一个实施例中,第一探针驱动电路包括第一开关管支路,第二探针驱动电路包括第二开关管支路;所述第一探针驱动电路包括串联的第一开关管和第二开关管,第一开关管和第二开关管之间的串联点用于连接第一探针;所述第二探针驱动电路包括串联的第三开关管和第四开关管,第三开关管和第四开关管之间的串联点用于连接第二探针;所述驱动信号用于驱动所述第一开关管、第二开关管、第三开关管和第四开关管;第一开关管和第四开关管用于形成所述检测信号的正向导通回路,第二开关管和第三开关管用于形成所述检测信号的反向导通回路。
在本实用新型第一方面的一个实施例中,所述第一开关管、第二开关管、第三开关管和第四开关管为金属-氧化物半导体场效应晶体管。
在本实用新型第一方面的一个实施例中,所述第二探针驱动电路还包括反相器,用于对接收到的所述驱动信号进行电平反转后连接所述第二开关管支路。
在本实用新型第一方面的一个实施例中,所述信号检验电路串联于所述正向导通回路和/或反向导通回路中。
在本实用新型第一方面的一个实施例中,所述信号检验电路包括光耦元件,光耦元件的原边与正向导通回路或反向导通回路串联,副边用于连接处理所述检验信号的处理器。
根据本实用新型的第二方面,还提供了一种液位检测装置,所述液位检测装置包括探头和检测电路,所述探头包括第一探针和第二探针,所述检测电路采用上述本实用新型第一方面任一实施例所述的检测电路。
本实用新型的技术方案,能够在探针之间产生电平方向交替变化的检测信号,因此探头中每个探针的极性也在交替变化;也就是说,每个探针均在短暂的时间周期内成为负极或正极,从而延缓了每个探针的腐蚀;而且每个探针在成为负极后很快又成为正极,从失去电子状态变为得到电子的状态,部分抵消了电化学腐蚀的效果,削弱了电化学反应的强度。综上所述,本实用新型的技术方案能够延缓液位检测装置中探针的腐蚀,提高液位检测装置的使用寿命。
附图说明
通过参考附图阅读下文的详细描述,本实用新型示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中,以示例性而非限制性的方式示出了本实用新型的若干实施方式,并且相同或对应的标号表示相同或对应的部分,其中:
图1A是一种液位开关的结构原理示意图(低液位);
图1B是一种液位开关的结构原理示意图(高液位);
图2是根据本实用新型实施例的一种用于液位检测的检测电路示意图;
图3是根据本实用新型实施例的信号发生电路原理图;
图4是根据本实用新型实施例的驱动电路原理示意图;
图5是根据本实用新型实施例的一种驱动电路的结构示意图;
图6是根据本实用新型实施例的又一种驱动电路的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
图2展示了根据本实用新型实施例的一种用于液位检测的检测电路。为了便于更好地理解本实用新型的电路装置的工作原理,图1中还绘出了探头1和处理器。本实用新型所适用的探头1可以采用如图1A所示的探头,包括第一探针11和第二探针12,这种探头1由两根电极杆分别构成的两个探针;例如在其他实施例中,探头1也可以采用其他构型,例如圆筒式探针,其包括封闭筒体,以及筒体内设有长短不一的多根电极杆,其长度分别与不同的液位相对应。处理器用于处理检测电路2产生的信号。
如图2所示,一种用于液位检测的检测电路2,包括信号发生电路21、驱动电路22和信号检验电路23。信号发生电路21连接驱动电路22,信号检验电路23连接驱动电路。其中,信号发生电路21用于产生电平方向交替变化的驱动信号31;驱动电路22接收信号发生电路21产生的驱动信号31,根据驱动信号31形成检测信号32,并且加载在探头1上(例如,探头1可以包括图1A所示的探针11和探针12)。其中,驱动信号31是电平方向交替变化的,例如可以正负方向周期性地变化;检测信号32也是电平方向交替变化的,变化规律与驱动信号31直接相关。信号检验电路23连接驱动电路22,以在液体介质导通探针时产生检验信号。例如,在图1B中,液体介质导通了第一探针11和第二探针12,则产生一个检验信号33。该检验信号33的产生表明液体介质导通了探针,其可以是一个开关量信号,用于指示如图1B中液位13达到设定位置,也可以是一个模拟量信号,用于指示具体的液位,对此本实用新型不做限制。对于上述检验信号33,可以送入单片机等处理器中,以对检验信号33进行后续处理形成液位信息,例如可以将液位信息发送到用户,也可以根据液位信息执行相对应的操作。
由于能够在探针之间产生电平方向交替变化的检测信号,因此探头中每个探针的极性也在交替变化。一方面,每个探针均周期性地成为为负极或正极,延缓了每个探针的腐蚀;另一方面,每个探针在成为负极后很快又成为正极,从失去电子状态变为得到电子的状态,部分抵消了电化学腐蚀的效果,削弱了电化学反应的强度。因此本实用新型的技术方案能够延缓液位检测装置中探针的腐蚀,提高液位检测装置的使用寿命。
以上介绍了本实用新型的一种实施例,从整体上描述了本实用新型的技术方案,下面结合附图对技术细节进行介绍。
图3展示了根据本实用新型实施例的一种信号发生电路的电路原理图。这里需要指出的是,图3中的电路装置可以理解为图2中的信号发生电路21的一种示例性的实现方式。因此,结合图2所描述的信号发生电路21的细节也同样适用于图3中的电路装置的描述并且下文不再赘述。
如图3所示,信号发生电路包括一个方波发生器,用于产生电平方向交替变化的方波信号。该方波发生器的主体是时钟芯片U2,该时钟芯片U2及其***电路构成了方波发生器。在一个实施例中,时钟芯片U2可以采用NE555,NE555为8脚时基集成电路,属于555系列的计时IC的其中的一种型号,其只需简单的电阻器、电容器,即可完成特定的振荡延时作用,可以与TTL或CMOS等逻辑电路的高、低电平匹配。其输出端的供给电流大,可直接驱动多种类型的负载电路,而且计时精确度高、温度稳定度行较好。
如图3所示,NE555的引脚1(GND)为接地引脚,连接地电位。引脚2(TRIG)为触发引脚,用于触发NE555,启动时钟芯片的时间周期。引脚3为输出引脚,在时间周期开始时输出高电平,时间周期结束时输出低电平,图3中,引脚3(OUT)的输出表示为NE555 CL OUT。引脚4(RESET)为复位引脚,当连接低电平时会重置定时器,图3中,引脚4(RESET)连接至高电平(5V_C)。引脚5的作用是:准许由外部电压改变触发和闸限电压。当计时器经营在稳定或振荡的运作方式下,该引脚的输入能够用于调整输出频率。引脚6为重置锁定引脚。引脚7为放电引脚,该接脚和引脚3有相同的电流输出能力,当引脚3为低电平时,引脚7对地导通,当引脚3为高电平时,引脚7对地为高阻态。引脚8为时钟芯片的正电源端。供应电压的范围是+4.5V至+16V。
如图3所示,电阻R3、电阻R5和电容C3依次串联,电阻R3一端连接正电源端5V_C,另一端连接电阻R5,电容C3一端连接电阻R5,另一端接地;电阻R6与电阻R5并联;电阻R3与电容C3的串联点连接时钟芯片的引脚2。因此,电阻R5、电阻R6以及电容C3共同组成了RC振荡电路,为时钟芯片U2提供时钟源。电阻R7为时钟芯片的输出端(引脚3)的上拉电阻,连接到正电源端5V_C,用于保证时钟芯片U2的输出驱动能力。基于上述电路,时钟芯片U2输出正负交替变化的方波,方波的频率则可以根据具体情况进行调整。
可替换地,信号发生电路21还可以采用单片机来实现,通过为单片机编程,使单片机的IO口输出频率可变的方波信号。
图4展示了一种驱动电路。这里需要指出的是,图4中的电路装置可以理解为图2中的驱动电路22的一种示例性的实现方式。因此,结合图2所描述的驱动电路22的细节也同样适用于图4中的电路装置的描述并且下文不再赘述。
如图4所示,在一个实施例中,驱动电路22包括第一探针驱动电路221和第二探针驱动电路222;所述第一探针驱动电路221用于连接第一探针11,所述第二探针驱动电路222用于连接第二探针12。第一探针驱动电路221和第二探针驱动电路222用于根据信号发生电路21输出的方波,形成可以加载于第一探针11和第二探针12上的电平方向交替变化的检测信号32。
在一个实施例中,第一探针驱动电路221和第二探针驱动电路222的原理是:根据信号发生电路21输出的方波频率,在一个时钟周期内,第一探针驱动电路221将高电平连接到第一探针11,第二探针驱动电路222将低电平连接到第二探针12;在另一个时钟周期内,第一探针驱动电路221将低电平连接到第一探针11,第二探针驱动电路222将高电平连接到第二探针12。
具体地,图5展示了一种具体的实施方式,这里需要指出的是,在图5中,展示了图4中部分电路的进一步的细节特征。因此,结合图4所描述的驱动电路22也同样适用于图5中的电路装置的描述。举例来说,可以将第二探针驱动电路222接地,而交替地使第一探针驱动电路221连接正电源和负电源。如图5所示,第一探针驱动电路221包括一组开关(如图5中虚线框所示),该组开关在上述驱动信号31的驱动下,交替地导通正电源和负电源,即在一个时间周期内导通正电源,在另一个时间周期内导通负电源。如此,便在第一探针11和第二探针12上形成了电平方向交替变化的检测信号32。
图5所示的电路中,正电源可以采用常规电源,负电源可以通过负电压产生电路来生成。负电压产生电路的原理是,通过电容充电等效出一个电源,将该等效的电源串联在地电位之后,该等效出的电源的负极则产生负电压。在一个实施例中,也可以采用市售产品来实现上述负电压产生电路,例如ICL7600,LT1054和MC34063等器件。上述开关可以采用开关管实现,例如MOS管或三极管等电子开关。
图6展示了另一种驱动电路的实现方式,图6中的电路装置可以理解为图4中的驱动电路22的一种示例性的实现方式。因此,结合图4所描述的驱动电路22的细节也同样适用于图6中的电路装置的描述。
如图6所示,第一探针驱动电路221包括第一开关管支路,第二探针驱动电路包括第二开关管支路;驱动信号31用于驱动所述第一开关管支路和第二开关管支路,以在第一探针11和第二探针12之间产生所述检测信号32。图6中,CLK_IN引脚连接图3中时钟芯片U2的输出端(NE555_CLK_OUT),CONNECT_A引脚用于连接第一探针11,CONNECT_B引脚用于连接第二探针12。
图6中,第一探针驱动电路221包括串联的第一开关管Q1和第二开关管Q2,第一开关管Q1和第二开关管Q2之间的串联点用于连接CONNECT_A引脚;第二探针驱动电路222包括串联的第三开关管Q3和第四开关管Q4,第三开关管Q3和第四开关管Q4之间的串联点用于连接CONNECT_B引脚;在一个时间周期,第一开关管Q1和第四开关管Q4用于形成检测信号32的正向导通回路,即正向导通回路的电流流通方向是5V_C、Q1、CONNECT_A、CONNECT_B、Q4和地;在另一个时间周期,第二开关管Q2和第三开关管Q3用于形成检测信号32的反向导通回路,即反向导通回路的电流流通方向是5V_C、Q3、CONNECT_B、CONNECT_A、Q2和地。正向导通回路导通时,第一探针11为高电平,第二探针12为低电平;反向导通回路导通时,第一探针11位低电平,第二探针12为高电平。
如图6所示,信号发生电路21产生的驱动信号31连接CLK_IN引脚,以直接驱动第一开关管Q1和第二开关管Q2,并且驱动信号31经过反相器U3驱动第三开关管Q3和第四开关管Q4。第一开关管Q1和第二开关管Q2互补导通,第三开关管Q3和第四开关管Q4互补导通。也就是说,基于驱动信号31,一种状态是:第一开关管Q1导通,第二开关管Q2截止,第三开关管Q3截止,第四开关管Q4导通;另一种状态是:第一开关管Q1截止,第二开关管Q2导通,第三开关管Q3导通,第四开关管Q4截止。而根据上文描述可知,驱动信号31是电平方向交替变化的方波信号,因此上述两种状态将会交替出现,从而在第一探针11和第二探针12上产生电平方向交替变化的检测信号32。
另外,上述反相器U3可以归属于第二探针驱动电路,用于对接收到的驱动信号31进行电平反转后连接第三开关管Q3和第四开关管Q4。可替换地,若信号发生电路21采用单片机实现,例如由单片机的两个IO口分别驱动第一开关管Q1/第二开关管Q2,以及第三开关管Q3/第四开关管Q4,由于单片机IO口的输出是可以配置的,因此可以省略图6中的反相器U3。
更进一步地,第一开关管Q1、第二开关管Q2、第三开关管Q3和第四开关管Q4可以采用金属-氧化物半导体场效应晶体管(MOS管)。
为了检验液位信息,本实用新型还设置了信号检验电路23对检测信号32进行检验,以确定第一探针11和第二探针12之间的导通状态。例如,根据图1A和图1B的应用情景,当检测信号32能够经过第一探针11和第二探针12,则说明液体介质的液位达到设定位置;反之,当检测信号32无法经过第一探针11和第二探针12,则说明液体介质的液位未达到设定位置。
信号检验电路23可以串联于上述正向导通回路和/或反向导通回路中。如图6所示,二极管D1、光耦元件U1构成了一种信号检验电路23。其中,二极管D1串联在正向导通回路中,即二极管D1的方向与正向导通回路中的电流方向相同。光耦元件U1的原边(发光二极管)与二极管D1反向并联,形成了反向导通回路的电流流通的通路。光耦元件U1的副边输出检验信号33,具体地,光耦元件U1的副边连接处理器(如图2中所示的处理器),例如,可以是副边一端连接电源5V_C,另一端OUT2(该端子输出检验信号33)连接处理器,并且通过电容C1接地。
如图6中的信号检测电路的电路原理是:当液体介质液位达到设定位置时,正向导通回路和反向导通回路均可以导通。当正向导通回路导通时,光耦元件U1截止,OUT2接地,从而输出低电平,当反向导通回路导通时,光耦元件U1导通,OUT2连接电源5V_C,从而输出高电平。当液体介质液位未达到设定位置时,正向导通回路和反向导通回路均不可导通,光耦元件U1始终处于截止状态,OUT2接地,从而输出低电平。因此,当处理器采样到OUT2输出高低电平交替的信号时,则表明液体介质液位达到设定位置,当处理器采样到OUT2始终输出低电平时,则表明液体介质液位尚未达到设定位置。
从图6中可以看出,二极管D1处于正向导通回路中,光耦元件U1的发光二极管处于反向导通回路中,因此,二极管D1和光耦元件中的发光二极管的方向可以交换,也就是说,二极管D1的方向改变,同时光耦元件U1中的发光二极管的方向也改变。从图6中还可以看到,正向导通回路和反向导通回路之间还串设有一个限流电阻R4,用于限制流过第一探针11和第二探针12的电流。
在另一个实施例中,信号检验电路23还可以采用其他构型,例如,设置一个采样电阻与限流电阻R4串联,通过采样该采样电阻两端的电压,来确定正向导通回路和反向导通回路的状态。即在正向导通回路和反向导通回路能够经过液体介质导通时,采样电阻两端的电压能够达到一定值,而在正向导通回路和反向导通回路无法经过液体介质导通时,采样电阻两端的电压基本为零。
综上所述,信号发生电路21产生驱动信号31,驱动电路22接收驱动信号31,产生检测信号32并且加载在探头1上,根据液体介质液位的不同,检测信号32能够通过液体介质导通,或者由于没有液体介质而无法导通;信号检验电路23对这种是否导通的状态进行检验,得到检验信号33,将检验信号33送入处理器(如后台***等),处理器即可确认液体介质的液位状态。
可替换地,图6所示的驱动电路还可以进行变型,例如,保留第二开关管Q2和第三开关管Q3,省略第一开关管Q1和第四开关管Q4。这种变型,相当于只保留了反向导通回路。这种变型方式,当液体介质液位达到设定位置时,反向导通回路可以导通(第二开关管Q2和第三开关管Q3导通时),也可以不导通(第二开关管Q2和第三开关管Q3截止时);当液体介质液位未达到设定位置时,反向导通回路不导通。因此,当液体介质液位达到设定位置时,信号检测电路23的OUT2引脚也将输出高低电平交替变化的信号;当液体介质液位未达到设定位置时,信号检测电路23的OUT2引脚将始终输出低电平信号。
又如,还可以保留第一开关管Q1和第四开关管Q4,省略第二开关管Q2和第三开关管Q3,同时将二极管D1的方向改变,光耦元件的发光二极管的方向改变。这种变型,相当于只保留了正向导通回路。其电路原理与上述变型方式类同,故而不再赘述。
根据本实用新型的另一方面,本实用新型还提供了一种基于液体导电原理的液位检测装置,该液位检测装置可以是液位开关,即在液位达到设定位置时发出信号的液位检测装置,例如图1A、图1B所展示的。该液位检测装置可以是液位传感器,即能够根据液位输出具体值的液位检测装置,例如上述检测电路实施例中提及的采用圆筒式探头的液位检测装置,探头包括封闭筒体,筒体内设有长短不一的多根电极杆,其长度分别与不同的液位相对应,利用这种探头,结合以上实施例所述的检测电路,可以实现对液位具体值的检测。虽然上述实施例中是以液位开关为例进行阐述和叙述的,但本领域技术人员应当理解,本实用新型也可以适用于液位传感器。
具体地,液位检测装置包括探头和检测电路,该检测电路可以采用以上实施例中所介绍的检测电路,检测电路输出的检测信号加载到探头上,探头置于液体介质中。更进一步的,液位检测装置还可以包括处理器和执行机构,执行机构响应于处理器的指令,根据液位的不同状态执行相应的动作;例如,执行机构可以是微动开关,报警装置等。
根据本说明书的上述描述,本领域技术人员还可以理解如下使用的术语,例如“上”、“下”等指示方位或位置关系的术语是基于本说明书的附图所示的方位或位置关系的,其仅是为了便于阐述本实用新型的方案和简化描述的目的,而不是明示或暗示所涉及的装置或元件必须要具有所述特定的方位、以特定的方位来构造和进行操作,因此上述的方位或位置关系术语不能被理解或解释为对本实用新型方案的限制。
在本说明书的上述描述中,除非另有明确的规定和限定,术语“相连”或“连接”等术语应该做广义的理解。例如,就术语“连接”来说,其可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,或者可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。因此,除非本说明书另有明确的限定,本领域技术人员可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
另外,本说明书中所使用的术语“第一”或“第二”等用于指代编号或序数的术语仅用于描述目的,而不能理解为明示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”或“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本说明书的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个或更多个等,除非另有明确具体的限定。
虽然本说明书已经示出和描述了本实用新型的多个实施例,但对于本领域技术人员显而易见的是,这样的实施例只是以示例的方式提供的。本领域技术人员会在不偏离本实用新型思想和精神的情况下想到许多更改、改变和替代的方式。应当理解的是在实践本实用新型的过程中,可以采用对本文所描述的本实用新型实施例的各种替代方案。所附权利要求书旨在限定本实用新型的保护范围,并因此覆盖这些权利要求范围内的模块组成、等同或替代方案。

Claims (10)

1.一种用于液位检测的检测电路,其特征在于,包括信号发生电路、驱动电路和信号检验电路,所述信号发生电路连接所述驱动电路;
所述信号发生电路,用于产生电平方向交替变化的驱动信号;
所述驱动电路,用于连接液位检测装置的探针,以根据所述驱动信号在探针上产生电平方向交替变化的检测信号;
所述信号检验电路,连接所述驱动电路,以在液体介质导通所述探针时产生检验信号。
2.根据权利要求1所述的用于液位检测的检测电路,其特征在于,
所述信号发生电路包括:一个方波发生器,用于产生电平方向交替变化的方波信号。
3.根据权利要求2所述的用于液位检测的检测电路,其特征在于,
所述方波发生器包括时钟芯片及其***电路。
4.根据权利要求1所述的用于液位检测的检测电路,其特征在于,
所述驱动电路包括第一探针驱动电路和第二探针驱动电路;
所述第一探针驱动电路用于连接第一探针,所述第二探针驱动电路用于连接第二探针,以在第一探针和第二探针之间产生所述检测信号。
5.根据权利要求4所述的用于液位检测的检测电路,其特征在于,
第一探针驱动电路包括第一开关管支路,第二探针驱动电路包括第二开关管支路;所述第一探针驱动电路包括串联的第一开关管和第二开关管,第一开关管和第二开关管之间的串联点用于连接第一探针;所述第二探针驱动电路包括串联的第三开关管和第四开关管,第三开关管和第四开关管之间的串联点用于连接第二探针;
所述驱动信号用于驱动所述第一开关管支路和第二开关管支路;所述第一开关管和第四开关管用于形成所述检测信号的正向导通回路,所述第二开关管和第三开关管用于形成所述检测信号的反向导通回路。
6.根据权利要求5所述的用于液位检测的检测电路,其特征在于,
所述第一开关管、第二开关管、第三开关管和第四开关管为金属-氧化物半导体场效应晶体管。
7.根据权利要求5所述的用于液位检测的检测电路,其特征在于,
所述第二探针驱动电路还包括反相器,用于对接收到的所述驱动信号进行电平反转后连接所述第二开关管支路。
8.根据权利要求5所述的用于液位检测的检测电路,其特征在于,
所述信号检验电路串联于所述正向导通回路和/或反向导通回路中。
9.根据权利要求8所述的用于液位检测的检测电路,其特征在于,
所述信号检验电路包括光耦元件,光耦元件的原边与正向导通回路或反向导通回路串联,副边用于连接处理所述检验信号的处理器。
10.一种液位检测装置,其特征在于,所述液位检测装置包括探头和检测电路,所述探头包括第一探针和第二探针,所述检测电路采用如权利要求1-9任一项所述的检测电路。
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