CN207611091U - 电阻性能检测装置与*** - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种电阻性能检测装置与***，涉及电阻脉冲试验领域。该电阻性能检测装置通过切换开关闭合后使得所述第一回路导通时，直流电源为高压电容充电预设定的时间，待高压电容充满电以后，自动切换切换开关使得所述第二回路导通，此时高压电容对电阻进行脉冲冲击预设定的次数，待电阻冷却以后，测试电阻的阻值，若电阻阻值的变化量与脉冲冲击之前的阻值相比小于标准规定的±5％，则认为合格，操作简单方便，操作体验感高，并且仅需切换开关、直流电源以及高压电容即可搭建电阻性能检测装置，成本低廉，且节省了检测时间。

Description

电阻性能检测装置与***

技术领域

本实用新型涉及电阻脉冲试验领域，具体而言，涉及一种电阻性能检测装置与***。

背景技术

电阻器(Resistor)在日常生活中一般直接称为电阻。是一个限流元件，将电阻接在电路中后，电阻器的阻值是固定的一般是两个引脚，它可限制通过它所连支路的电流大小。电阻元件的电阻值大小一般与温度，材料，长度，还有横截面积有关，衡量电阻受温度影响大小的物理量是温度系数，其定义为温度每升高1℃时电阻值发生变化的百分数。电阻的主要物理特征是变电能为热能，也可说它是一个耗能元件，电流经过它就产生内能。电阻在生产后需要对电阻的性能进行测试，以提高电阻成品的合格率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种电阻性能检测装置与***，其旨在改善上述的问题。

本实用新型提供一种技术方案：

第一方面，本实用新型实施例提供了一种电阻性能检测装置，用于对一待测电阻进行检测，所述电阻性能检测装置包括直流电源、切换开关以及高压电容，所述直流电源、所述高压电容、所述切换开关依次串联形成第一回路，所述待测电阻、所述切换开关以及所述高压电容串联形成第二回路，所述切换开关闭合后使得所述第一回路导通或所述第二回路导通。

进一步地，所述切换开关为继电器，所述直流电源、所述高压电容、所述继电器的静触点、所述继电器的第一动触点依次串联形成第一回路，所述待测电阻、所述继电器的第二动触点、所述继电器的静触点以及所述高压电容串联形成第二回路。

进一步地，所述电阻性能检测装置还包括程控电源，所述程控电源与所述继电器电连接。

进一步地，所述切换开关包括控制开关、MOS管，所述直流电源、控制开关、所述MOS管、所述高压电容依次串联形成第一回路，所述待测电阻以及所述高压电容串联形成第二回路。

进一步地，所述高压电容的电容容量在300μf～500μf之间。

第二方面，本实用新型实施例还提供了一种电阻性能检测***，用于对一待测电阻进行检测，所述电阻性能检测***包括直流电源、切换开关、高压电容以及电压波形采集装置，所述直流电源、所述高压电容、所述切换开关依次串联形成第一回路，所述待测电阻、所述切换开关以及所述高压电容串联形成第二回路，所述切换开关闭合后使得所述第一回路导通或所述第二回路导通，所述电压波形采集装置分别连接于所述待测电阻的两端。

进一步地，所述切换开关为继电器，所述直流电源、所述高压电容、所述继电器的静触点、所述继电器的第一动触点依次串联形成回路，所述待测电阻、所述继电器的第二动触点、所述继电器的静触点以及所述高压电容串联形成回路。

进一步地，所述电阻性能检测***还包括程控电源，所述程控电源与所述继电器电连接。

进一步地，所述切换开关包括控制开关、MOS管，所述直流电源、控制开关、所述MOS管、所述高压电容依次串联形成第一回路，所述待测电阻以及所述高压电容串联形成第二回路。

进一步地，所述电压波形采集装置为示波器。

本实用新型提供的电阻性能检测装置与***的有益效果是：该电阻性能检测装置通过切换开关闭合后使得所述第一回路导通时，直流电源为高压电容充电预设定的时间，待高压电容充满电以后，自动切换切换开关使得所述第二回路导通，此时高压电容对电阻进行脉冲冲击预设定的次数，待电阻冷却以后，测试电阻的阻值，若电阻阻值的变化量与脉冲冲击之前的阻值相比小于标准规定的±5％，则认为合格，操作简单方便，操作体验感高，并且仅需切换开关、直流电源以及高压电容即可搭建电阻性能检测装置，成本低廉，且节省了检测时间。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型实施例提供的电阻性能检测装置的其中一种实施方式的电路连接框图；

图2为本实用新型实施例提供的电阻性能检测装置的另一种实施方式的电路连接框图；

图3为本实用新型实施例提供的电阻性能检测***的其中一种实施方式的电路连接框图；

图4为本实用新型实施例提供的电阻性能检测***的另一种实施方式的电路连接框图。

图标：101-直流电源；102-继电器；103-高压电容；104-待测电阻；105-程控电源；106-控制开关；107-MOS管；108-示波器。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

实施例

请参阅图1、图2，本实用新型实施例提供了一种电阻性能检测装置，用于对一待测电阻104进行检测。该电阻性能检测装置包括程控电源105、直流电源101、切换开关以及高压电容103，直流电源101、高压电容103、切换开关依次串联形成第一回路，待测电阻104、切换开关以及高压电容103串联形成第二回路，切换开关闭合后使得第一回路导通或第二回路导通。程控电源105与切换开关电连接，程控电源105用于为切换开关供电。

具体地，如图1所示，作为一种实施例，切换开关可以采用继电器102，直流电源101、高压电容103、继电器102的静触点、继电器102的第一动触点依次串联形成第一回路，当继电器102的静触点与第一动触点连接时第一回路导通，直流电源101为高压电容103充电，待测电阻104、继电器102的第二动触点、继电器102的静触点以及高压电容103串联形成第二回路，当继电器102的静触点与第二动触点连接时第二回路导通，高压电容103放电对电阻进行脉冲冲击试验。

另外，如图2所示，作为另外一种实施例，切换开关包括控制开关106、MOS管107，直流电源101、控制开关106、MOS管107、高压电容103依次串联形成第一回路，待测电阻104以及高压电容103串联形成第二回路。当控制开关106闭合时，MOS管107导通，此时直流电源101向高压电容103充电，待高压电容103充满电后，断开控制开关106，此时高压电容103放电对电阻进行脉冲冲击试验。

本实施例中，高压电容103的电容容量在300μf～500μf之间，例如，高压电容103的电容容量可以为300μf、400μf、500μf，在此不做限制。

由于进行脉冲试验时，电阻会升温，因此，试验完毕后，待电阻冷却一段时间，例如，冷却2个小时测试电阻的阻值，若电阻阻值的变化量与脉冲冲击之前的阻值相比小于标准规定的±5％，则认为合格，上述的操作简单方便，操作体验感高。

经发明人试验，对采用电容容量为400μf高压电容103分别对10个插件功率电阻(例如，TR100型插件功率电阻或TO-263型插件功率电阻)进行脉宽300ms的脉冲冲击100次，10个插件功率电阻进行脉冲冲击试验后结果阻值如表1所示，其中，R为脉冲冲击试验前插件功率电阻的阻值，R1为脉冲冲击试验后插件功率电阻的阻值，R3为阻值变化差。

表1

请参阅图3、图4，本实用新型实施例还提供了一种电阻性能检测***，用于对一待测电阻104进行检测。需要说明的是，本实施例所提供的电阻性能检测***，其基本原理及产生的技术效果和上述实施例相同，为简要描述，本实施例部分未提及之处，可参考上述的实施例中相应内容。

该电阻性能检测***包括程控电源105、直流电源101、切换开关、高压电容103以及电压波形采集装置，直流电源101、高压电容103、切换开关依次串联形成第一回路，待测电阻104、切换开关以及高压电容103串联形成第二回路，切换开关闭合后使得第一回路导通或第二回路导通，电压波形采集装置分别连接于待测电阻104的两端。程控电源105与切换开关电连接。

作为其中一种实施方式，如图3所示，切换开关为继电器102，直流电源101、高压电容103、切换开关的静触点、切换开关的第一动触点依次串联形成第一回路，待测电阻104、切换开关的第二动触点、切换开关的静触点以及高压电容103串联形成第二回路。

作为另一种实施方式，如图4所示，切换开关包括控制开关106、MOS管107，直流电源101、控制开关106、MOS管107、高压电容103依次串联形成第一回路，待测电阻104以及高压电容103串联形成第二回路。

电压波形采集装置可以采用但不限于示波器109，操作人员可以通过示波器109观察通过电阻的电压波形。

综上所述，本实用新型提供的电阻性能检测装置与***，打开程控电源的开关，通过切换开关闭合后使得所述第一回路导通时，直流电源为高压电容充电预设定的时间，待高压电容充满电以后，自动切换切换开关使得所述第二回路导通，此时高压电容对电阻进行脉冲冲击预设定的次数，待电阻冷却以后，测试电阻的阻值，若电阻阻值的变化量与脉冲冲击之前的阻值相比小于标准规定的±5％，则认为合格，操作简单方便，操作体验感高，并且仅需切换开关、直流电源以及高压电容即可搭建电阻性能检测装置，成本低廉，且节省了检测时间。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电阻性能检测装置，用于对一待测电阻进行检测，其特征在于，所述电阻性能检测装置包括直流电源、切换开关以及高压电容，所述直流电源、所述高压电容、所述切换开关依次串联形成第一回路，所述待测电阻、所述切换开关以及所述高压电容串联形成第二回路，所述切换开关闭合后使得所述第一回路导通或所述第二回路导通。

2.根据权利要求1所述的电阻性能检测装置，其特征在于，所述切换开关为继电器，所述直流电源、所述高压电容、所述继电器的静触点、所述继电器的第一动触点依次串联形成第一回路，所述待测电阻、所述继电器的第二动触点、所述继电器的静触点以及所述高压电容串联形成第二回路。

3.根据权利要求2所述的电阻性能检测装置，其特征在于，所述电阻性能检测装置还包括程控电源，所述程控电源与所述继电器电连接。

4.根据权利要求1所述的电阻性能检测装置，其特征在于，所述切换开关包括控制开关、MOS管，所述直流电源、控制开关、所述MOS管、所述高压电容依次串联形成第一回路，所述待测电阻、所述高压电容串联形成第二回路。

5.根据权利要求1所述的电阻性能检测装置，其特征在于，所述高压电容的电容容量在300μf～500μf之间。

6.一种电阻性能检测***，用于对一待测电阻进行检测，其特征在于，所述电阻性能检测***包括直流电源、切换开关、高压电容以及电压波形采集装置，所述直流电源、所述高压电容、所述切换开关依次串联形成第一回路，所述待测电阻、所述切换开关以及所述高压电容串联形成第二回路，所述切换开关闭合后使得所述第一回路导通或所述第二回路导通，所述电压波形采集装置分别连接于所述待测电阻的两端。

7.根据权利要求6所述的电阻性能检测***，其特征在于，所述切换开关为继电器，所述直流电源、所述高压电容、所述继电器的静触点、所述继电器的第一动触点依次串联形成第一回路，所述待测电阻、所述继电器的第二动触点、所述继电器的静触点以及所述高压电容串联形成第二回路。

8.根据权利要求7所述的电阻性能检测***，其特征在于，所述电阻性能检测***还包括程控电源，所述程控电源与所述继电器电连接。

9.根据权利要求6所述的电阻性能检测***，其特征在于，所述切换开关包括控制开关、MOS管，所述直流电源、控制开关、所述MOS管、所述高压电容依次串联形成第一回路，所述待测电阻以及所述高压电容串联形成第二回路。

10.根据权利要求6所述的电阻性能检测***，其特征在于，所述电压波形采集装置为示波器。