CN215248106U - 芯片自动测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片自动测试设备，包括：测试机台，所述测试机台上阵列设置有多个测试模组；上下料机构，所述上下料机构设置于测试机台的侧边，用于放置芯片的料盘；飞梭机构，所述飞梭机构的一进出料端设置于上下料机构处，飞梭机构的另一进出料端设置于测试模组处；上下料机头机构，所述上下料机头机构设置于上下料机构的上方位置；测试机头机构，所述测试机头机构设置于测试机台的上方位置。本实用新型通过自动化测试代替了人工劳动，采用两块载料台的飞梭机构交替往复运动满足机台快速高效的需求，从而提高机台的整体效率，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组芯片同时上料、下料、测试的优点。

Description

芯片自动测试设备

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域，尤其涉及了一种芯片自动测试设备。

背景技术

功能测试项目是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生性能的情况进行相应条件加强实验的过程。

一般来说，电子器件，无论是原件、部件、零件、整机等都需要进行测试。测试由生产厂家或一流的电子电器检测技术公司来完成，其通过测试发现产品存在的问题并且及时修改，让到达消费者手中产品的问题尽量少或提高产品可靠性。

传统的芯片测试主要由人工将单一芯片放到测试设备进行测试，并由人眼观察测试芯片并对应记录测试结果，测试完成后再人工将测试芯片分类、摆盘等，生产效率低下，无法满足大规模高效生产的需求。

现有技术中采用机械手在芯片测试时进行上料和下料，把上下料区和测试区分开分别通过机械手取放，上下料区的机械手从料盘取料至飞梭来回往复运动，然后测试区处的机械手从飞梭上取料至测试区进行测试，测试区在测试芯片时，测试区的机械手将测试完的芯片取回放置飞梭上，然后飞梭运动至上下料区处，再由机械手出料，一般采用电机丝杠机构将飞梭在上下料区与测试区之间往复运送，这样只能一块飞梭来回往复运动，不能满足整个机台快速高效的需求。

为了提高生产效率，现有技术还有三维模组控制机械手取放料，然后再放置在单独的测试板上进行测试，由于料盘与测试板放置芯片的间距不一致，目前采用的上料方法是利用吸嘴逐一的吸取芯片进行上料或下料，虽然相较于人工，效率提高了不少，但存在如下缺陷：上料和下料速度还是较慢、效率较低，而且芯片在测试的时候，上料机械手取料后等待上料、下料机械手等待测试完取料，均有耗时。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的就在于提供了一种芯片自动测试设备，通过自动化测试代替了人工劳动，采用两块载料台的飞梭机构交替往复运动满足机台快速高效的需求，从而提高机台的整体效率，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组芯片同时上料、下料、测试的优点。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是这样的：一种芯片自动测试设备，包括：

测试机台，所述测试机台上阵列设置有多个测试模组，所述测试模组包括测试载具、测试加热组件、测试移动组件，所述测试载具用于放置、测试待测试的芯片，所述测试加热组件设置于测试载具的上方位置，测试移动组件驱动测试加热组件下压加热测试载具上的芯片；

上下料机构，所述上下料机构设置于测试机台的侧边，用于放置芯片的料盘；

飞梭机构，所述飞梭机构的一进出料端设置于上下料机构处，飞梭机构的另一进出料端设置于测试模组处；

上下料机头机构，所述上下料机头机构设置于上下料机构的上方位置，用于在上下料机构与飞梭机构之间取放芯片；

测试机头机构，所述测试机头机构设置于测试机台的上方位置，用于在测试载具与飞梭机构之间取放芯片；

所述飞梭机构包括底板、第一滑轨、第二滑轨、第一导向板、第二导向板、飞梭驱动模组，所述第一滑轨、第二滑轨平行设置于底板上；所述第一滑轨上滑动连接有第一支架，所述第一支架的上部设置有第一载料台；所述第一导向板上设置有第一导向槽，所述第一导向槽限定第一载料台的移动路径；所述第二滑轨上滑动连接有第二支架，所述第二滑轨上滑动连接有第二支架，所述第二支架的上部设置有第二载料台；所述第二导向板上设置有第二导向槽，所述第二导向槽限定第二载料台的移动路径；所述飞梭驱动模组分别与第一支架、第二支架相连接，用于驱动第一支架与第二支架进行相对运动。

作为一种优选方案，所述第一支架通过支架滑块连接有升降线轨，所述第一载料台设置于升降线轨的顶部；所述升降线轨的侧壁通过设置第一滚轮与第一导向槽连接，所述第一导向槽呈U形状。

作为一种优选方案，所述第二导向槽为直线槽，第二支架的侧壁通过第二滚轮与第二导向槽连接。

作为一种优选方案，所述飞梭驱动模组包括飞梭电机、飞梭传动带，所述飞梭传动带通过两个飞梭从动轮布设于第一滑轨、第二滑轨之间，且飞梭传动带分别与第一支架、第二支架相连接，所述飞梭电机通过飞梭主动轮与其中一个飞梭从动轮相连接。

作为一种优选方案，所述上下料机头机构包括至少两组上下料吸嘴组件、吸嘴间距调节组件、上下料运动组件，上下料吸嘴组件设置于吸嘴间距调节组件上，吸嘴间距调节组件设置于上下料运动组件上，进而所述上下料运动组件在X向、Y向、Z向上驱动上下料吸嘴组件运动。

作为一种优选方案，所述吸嘴间距调节组件包括调节固定板、调节导向板、调节驱动组件、传动连接件，所述调节固定板上贯穿开设有水平通孔，且调节固定板的一侧固定设置有水平直线导轨、另一侧设置有竖直直线导轨；所述上下料吸嘴组件滑动设置于水平直线导轨上；所述调节导向板滑动设置于竖直直线导轨上；所述调节导向板上开设有若干呈扇形状分散的调节导向槽，所述传动连接件的一端与上下料吸嘴组件固定连接、另一端延伸穿过水平通孔设置于调节导向槽内；所述调节驱动组件驱动调节导向板在竖直直线导轨上运动，进而通过传动连接件带动上下料吸嘴组件在水平直线导轨上运动。

作为一种优选方案，所述测试机头机构包括至少两组测试吸嘴组件、测试运动组件，测试吸嘴组件设置于测试运动组件上，进而所述测试运动组件在X向、Y向、Z向上驱动测试吸嘴组件运动。

作为一种优选方案，所述上下料机构包括至少一个上下料组件，所述上下料组件包括上下料料框、上下料丝杆、上下料螺母、上下料电机，所述上下料电机设置于上下料料框的下方位置，所述上下料电机通过上下料皮带与上下料螺母传动连接，所述上下料丝杆套设于上下料螺母内，且上下料丝杆的上部从上下料料框的底部贯穿设置于上下料料框内。

作为一种优选方案，所述上下料组件处设置有移料盘模组，所述移料盘模组包括同步带直线模组、移料升降气缸、移料夹爪，所述同步带直线模组驱动移料夹爪在至少两个上下料组件间运动，所述移料升降气缸驱动移料夹爪在上下料组件上做升降运动，所述移料夹爪用于上下料组件处夹取料盘。

作为一种优选方案，所述芯片自动测试设备还包括芯片旋转模组，所述芯片旋转模组包括旋转驱动组件、旋转夹爪，所述旋转驱动组件驱动旋转夹爪做旋转运动，所述旋转夹爪处设置有旋转传感器，且旋转夹爪用于固定芯片。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

(1)采用两块载料台的飞梭机构交替往复运动满足机台快速高效的需求，从而提高机台的整体效率；

(2)通过自动化测试代替了人工劳动，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组芯片同时上料、下料、测试的优点；

(3)上下料吸嘴组件在水平方向实现间距的增大或缩小调整，从而支持上下料吸嘴组件在吸附料盘与载料台两者以不同间距大小放置的芯片，实现多个芯片的同时上料或下料，极大提升上下料效率，上下料吸嘴组件又设置单独的吸嘴气缸，可以单独对芯片进行上料或下料；

(4)设置有芯片旋转模组，当料盘上的芯片的方向与测试载具上的放置方向不一致时，可以通过芯片旋转模组进行方向调整。

附图说明

图1是本实用新型的整体结构正视图；

图2是本实用新型的整体结构俯视图；

图3是本实用新型的整体结构侧视图；

图4是本实用新型中飞梭机构的结构示意图一；

图5是本实用新型中飞梭机构的结构示意图二；

图6是本实用新型中测试模组的结构示意图；

图7是本实用新型中上下料机头机构的结构示意图；

图8是本实用新型中图7的A处放大图；

图9是本实用新型中吸嘴间距调节组件的结构示意图；

图10是本实用新型中测试吸嘴组件的结构示意图；

图11是本实用新型中上下料组件的结构示意图；

图12是本实用新型中移料盘模组的结构示意图；

图13是本实用新型中芯片旋转模组的结构示意图一；

图14是本实用新型中芯片旋转模组的结构示意图二；

其中：测试机台1、测试模组2、测试载具3、测试加热组件4、测试移动组件5、上下料机构6、飞梭机构7、上下料机头机构8、测试机头机构9、底板10、第一滑轨11、第二滑轨12、第一导向板13、第二导向板14、飞梭驱动模组15、第一支架16、第一载料台17、第一导向槽18、第二支架19、第二载料台20、第二导向槽21、支架滑块22、升降线轨23、飞梭电机24、飞梭传动带25、飞梭从动轮26、飞梭主动轮27、飞梭转动杆28、测试主板29、测试插板30、测试插槽31、加热棒32、加热安装件33、测试直线模组34、测试升降气缸35、加热传感器36、上下料吸嘴组件37、吸嘴间距调节组件38、上下料运动组件39、调节固定板40、调节导向板41、调节驱动组件42、传动连接件43、水平通孔44、水平直线导轨45、竖直直线导轨46、调节导向槽47、上下料滑动支架48、上下料吸嘴气缸49、上下料吸嘴50、X向移动模组51、Y向移动模组52、Z向移动模组53、调节丝杆54、调节螺母55、调节电机56、调节联轴器57、测试吸嘴组件58、测试运动组件59、测试吸嘴升降气缸60、测试吸嘴头61、吸嘴头支架62、测试吸嘴安装板63、上下料组件64、上下料料框65、上下料丝杆66、上下料螺母67、上下料电机68、上下料皮带69、分并上下料组件70、待料上下料组件71、空料上下料组件72、NG料上下料组件73、移料盘模组74、同步带直线模组75、移料升降气缸76、移料夹爪77、移料板78、移料气缸79、移料爪子80、芯片旋转模组81、旋转驱动组件82、旋转夹爪83、旋转传感器84、旋转驱动电机85、旋转驱动主轮86、旋转驱动导向轮87、旋转驱动从轮88、旋转传动皮带89。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本实用新型作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，而不能以此来限制本实用新型的保护范围。

实施例：

如图1～6所示，一种芯片自动测试设备，包括：

测试机台1，所述测试机台1上阵列设置有多个测试模组2，所述测试模组2包括测试载具3、测试加热组件4、测试移动组件5，所述测试载具3用于放置、测试待测试的芯片，所述测试加热组件4设置于测试载具3的上方位置，测试移动组件5驱动测试加热组件4下压加热测试载具3上的芯片；

上下料机构6，所述上下料机构6设置于测试机台1的侧边，用于放置芯片的料盘；

飞梭机构7，所述飞梭机构7的一进出料端设置于上下料机构6处，飞梭机构7的另一进出料端设置于测试模组2处；

上下料机头机构8，所述上下料机头机构8设置于上下料机构6的上方位置，用于在上下料机构6与飞梭机构7之间取放芯片；

测试机头机构9，所述测试机头机构9设置于测试机台1的上方位置，用于在测试载具3与飞梭机构7之间取放芯片；

所述飞梭机构7包括底板10、第一滑轨11、第二滑轨12、第一导向板13、第二导向板14、飞梭驱动模组15，所述第一滑轨11、第二滑轨12平行设置于底板10上；所述第一滑轨11上滑动连接有第一支架16，所述第一支架16的上部设置有第一载料台17；所述第一导向板13上设置有第一导向槽18，所述第一导向槽18限定第一载料台17的移动路径；所述第二滑轨12上滑动连接有第二支架19，所述第二滑轨12上滑动连接有第二支架19，所述第二支架19的上部设置有第二载料台20；所述第二导向板14上设置有第二导向槽21，所述第二导向槽21限定第二载料台20的移动路径；所述飞梭驱动模组15分别与第一支架16、第二支架19相连接，用于驱动第一支架16与第二支架19进行相对运动。

优选的，所述第一支架16通过支架滑块22连接有升降线轨23，所述第一载料台17设置于升降线轨23的顶部；所述升降线轨23的侧壁通过设置第一滚轮(由于安装于构件内，图中并未示出)与第一导向槽18连接，所述第一导向槽18呈U形状。

进一步的，第一支架16移动时，带动升降线轨23在第一导向槽18内运动，第一导向槽18中间位置比两端位置低，因此升降线轨23沿着第一导向槽18移动时，即沿着第一支架16上下滑动，实现升降功能。

更为优选的，所述第二导向槽21为直线槽，第二支架19的侧壁通过第二滚轮(由于安装于构件内，图中并未示出)与第二导向槽21连接。

进一步的，通过设置直线槽来保证第二支架19移动的直线度，通过设置第二导向板14对第二支架19的运动路径进行限制，有利于第一载料台17与第二载料台20之间的相对运动。

优选的，所述飞梭驱动模组15包括飞梭电机24、飞梭传动带25，所述飞梭传动带25通过两个飞梭从动轮26布设于第一滑轨11、第二滑轨12之间，且飞梭传动带25分别与第一支架16、第二支架19相连接，所述飞梭电机24通过飞梭主动轮27与其中一个飞梭从动轮26相连接。

具体的，通过飞梭驱动模组15驱动第一载料台17与第二载料台20相对运动，从而实现第一载料台17与第二载料台20交替往复运动，从而能够快速的把待测的和已测试过的芯片往复运送于上下料机构6和测试机台1，也大大提高了检测的整体效率；通过第一导向板13限定第一载料台17的运动路线，使第一载料台17与第二载料台20在中间相遇时相互避开，使得第一载料台17与第二载料台20在同一直线上往复运动，占用空间小，使得飞梭机构7的结构更加紧凑。

更为具体的，通过将第一载料台17与第二载料台20固定在飞梭传动带25两侧，由于飞梭传动带25运动的特性，实现第一载料台17与第二载料台20相对运动，结构简单，易于实现。

进一步的，为了提高传动效率的稳定性，飞梭从动轮26通过飞梭转动杆28连接飞梭主动轮27，飞梭主动轮27通过飞梭传动带25与飞梭电机24输出端连接，飞梭电机24启动时，驱动飞梭主动轮27转动，从而带动飞梭从动轮26转动，使得飞梭传动带25绕着飞梭从动轮26转动，从而带动第一支架16与第二支架19交底往复运动。

具体的，所述测试载具3包括测试主板29、测试插板30，所述测试插板30设置于测试主板29上，测试插板30上开设有多个放置测试芯片的测试插槽31，所述测试插槽31的底部内设置有测试探针(由于安装于构件内，图中并未示出)。

更为具体的，所述测试加热组件4包括加热棒32、加热安装件33，所述加热棒32固定设置于加热安装件33上。

进一步的，所述测试移动组件5包括测试直线模组34、测试升降气缸35，所述测试升降气缸35设置于测试直线模组34上，测试直线模组34驱动测试升降气缸35在水平方向运动，所述测试升降气缸35的推杆与加热安装件33固定连接，测试升降气缸35驱动加热安装件33上的加热棒32在竖直方向运动。

具体的，所述测试载具3上还设置有加热传感器36，用于感应测试插槽31内芯片的位置。

进一步的，将待测试的芯片放置于测试插槽31内，加热传感器36感应到测试插槽31内有芯片时，测试直线模组34驱动测试升降气缸35上的加热棒32运动至待测试的芯片上方位置，测试升降气缸35驱动加热棒32向下运动下压待测试的芯片与测试探针紧密接触，进而对芯片进行测试。

优选的，如图7～9所示，所述上下料机头机构8包括至少两组上下料吸嘴组件37、吸嘴间距调节组件38、上下料运动组件39，上下料吸嘴组件37设置于吸嘴间距调节组件38上，吸嘴间距调节组件38设置于上下料运动组件39上，进而所述上下料运动组件39在X向、Y向、Z向上驱动上下料吸嘴组件37运动。

优选的，所述吸嘴间距调节组件38包括调节固定板40、调节导向板41、调节驱动组件42、传动连接件43，所述调节固定板40上贯穿开设有水平通孔44，且调节固定板40的一侧固定设置有水平直线导轨45、另一侧设置有竖直直线导轨46；所述上下料吸嘴组件37滑动设置于水平直线导轨45上；所述调节导向板41滑动设置于竖直直线导轨46上；所述调节导向板41上开设有若干呈扇形状分散的调节导向槽47，所述传动连接件43的一端与上下料吸嘴组件37固定连接、另一端延伸穿过水平通孔44设置于调节导向槽47内；所述调节驱动组件42驱动调节导向板41在竖直直线导轨46上运动，进而通过传动连接件43带动上下料吸嘴组件37在水平直线导轨45上运动。

具体的，所述上下料吸嘴组件37包括上下料滑动支架48、上下料吸嘴气缸49、上下料吸嘴50，所述上下料滑动支架48的上部滑动设置于水平直线导轨45上，所述上下料滑动支架48的下部与上下料吸嘴气缸49固定连接，所述上下料吸嘴50与上下料吸嘴气缸49的推杆相连接。

进一步的，上下料滑动支架48连接于上下4组的水平直线导轨45上，沿着水平直线导轨45滑动进而带动下部的上下料吸嘴气缸49移动，所述传动连接件43连接于上下料滑动支架48上。更进一步的，本实施例中上下料吸嘴组件37有4组，4组上下料吸嘴组件37在水平方向上等间距运动，由于每组上下料吸嘴组件37单独设置有上下料吸嘴气缸49，进而带动每组上下料吸嘴气缸49上的上下料吸嘴50单独升降运动。

更为具体的，所述上下料运动组件39包括X向移动模组51、Y向移动模组52、Z向移动模组53，所述Y向移动模组52设置于X向移动模组51上，所述Z向移动模组53设置于Y向移动模组52上，所述吸嘴间距调节组件38设置于Z向移动模组53上。

具体的，所述X向移动模组51为本领域公知的电机同步带传动，这里就不再一一赘述了；所述Y向移动模组52为本领域公知的直线模组传动，这里就不再一一赘述了；所述Z向移动模组53为本领域公知的电机丝杠传动，这里就不再一一赘述了。

更为具体的，所述吸嘴间距调节组件38的调节固定板40设置于Z向移动模组53上。

进一步的，所述调节驱动组件42包括调节丝杆54、调节螺母55、调节电机56，所述调节电机56设置于调节固定板40上，所述调节电机56与调节丝杆54之间通过调节联轴器57连接，所述调节丝杆54套设于调节螺母55内，且调节螺母55固定连接于调节导向板41上。更进一步的，调节电机56在动作时带动调节导向板41沿着竖直直线导轨46的滑动方向移动，调节导向板41开设有呈扇形状分散的调节导向槽47，由于调节导向槽47内设置有与上下料吸嘴组件37固定连接的传动连接件43，调节导向槽47抵压传动连接件43进而带动上下料吸嘴组件37移动，而上下料吸嘴组件37设置于水平直线导轨45上，被限制沿着水平直线导轨45滑动，在调节导向板41的驱动下沿着水平直线导轨45方向实现间距的增大或缩小调整，从而支持上下料吸嘴组件37在吸附料盘与第一载料台17、第二载料台20以不同间距大小放置的芯片，实现多个芯片的同时上料或下料，极大提升上下料效率。

进一步的，水平直线导轨45采用为线轨，在水平方向上平行设置有4组，所述水平通孔44设置于4组水平直线导轨45之间。

优选的，所述测试机头机构9包括至少两组测试吸嘴组件58、测试运动组件59，测试吸嘴组件58设置于测试运动组件59上，进而所述测试运动组件59在X向、Y向、Z向上驱动测试吸嘴组件58运动。

具体的，所述测试运动组件59与上下料运动组件39的结构相同，这里就不再一一赘述了。

更为具体的，如图10所示，每组所述测试吸嘴组件58包括测试吸嘴升降气缸60、测试吸嘴头61、吸嘴头支架62，所述吸嘴头支架62设置于测试吸嘴升降气缸60上，测试吸嘴头61设置于吸嘴头支架62上，所述测试吸嘴升降气缸60通过测试吸嘴安装板63连接于测试运动组件59上。

优选的，如图11所示，所述上下料机构6包括至少一个上下料组件64，所述上下料组件64包括上下料料框65、上下料丝杆66、上下料螺母67、上下料电机68，所述上下料电机68设置于上下料料框65的下方位置，所述上下料电机68通过上下料皮带69与上下料螺母67传动连接，所述上下料丝杆66套设于上下料螺母67内，且上下料丝杆66的上部从上下料料框65的底部贯穿设置于上下料料框65内。

具体的，所述上下料电机68通过上下料皮带69驱动上下料螺母67，进而传动上下料丝杆66旋转，从而带动上下料料框65内的料盘做升降运动。

更为具体的，在本实施例中，上下料组件64有若干组，分别为分并上下料组件70、待料上下料组件71、空料上下料组件72、NG料上下料组件73，分并上下料组件70的料盘用于放置测试合格的芯片，待料上下料组件71的料盘用于放置待测试的芯片，空料上下料组件72用于回收空的料盘，NG料上下料组件73用于放置测试不合格的芯片。

优选的，如图12所示，所述上下料组件64处设置有移料盘模组74，所述移料盘模组74包括同步带直线模组75、移料升降气缸76、移料夹爪77，所述同步带直线模组75驱动移料夹爪77在至少两个上下料组件64间运动，所述移料升降气缸76驱动移料夹爪77在上下料组件64上做升降运动，所述移料夹爪77用于上下料组件64处夹取料盘。

具体的，所述移料夹爪77包括移料板78、移料气缸79、移料爪子80，所述移料气缸79固定设置于移料板78上，所述移料爪子80设置于移料气缸79的推杆上。进一步的，所述移料气缸79有四个，每两个移料气缸79的移料爪子80形成一组夹爪结构。

优选的，如图13～14所示，所述芯片自动测试设备还包括芯片旋转模组81，所述芯片旋转模组81包括旋转驱动组件82、旋转夹爪83，所述旋转驱动组件82驱动旋转夹爪83做旋转运动，所述旋转夹爪83处设置有旋转传感器84，且旋转夹爪83用于固定芯片。

具体的，所述旋转驱动组件82包括旋转驱动电机85、旋转驱动主轮86、旋转驱动导向轮87、旋转驱动从轮88，所述旋转驱动电机85与旋转驱动主轮86相连接，旋转驱动主轮86、旋转驱动导向轮87、旋转驱动从轮88通过旋转传动皮带89相连接，所述旋转夹爪83设置于旋转驱动从轮88上。

更为具体的，设置有芯片旋转模组81时，当料盘上的芯片的方向与测试载具3上的放置方向不一致时，可以通过芯片旋转模组81进行方向调整。

具体实施时，先上下料机头机构8从待料上下料组件71的料盘上进行取料，放置飞梭机构7的第一载料台17或第二载料台20上，飞梭机构7输送芯片到测试模组2处，测试机头机构9取芯片放置测试模组2中进行测试，测试结束后测试机头机构9将测试模组2中的芯片取回，放置飞梭机构7的第一载料台17或第二载料台20，飞梭机构7输送芯片到上下料机构6处，取回的料如果是合格的芯片则放入分并上下料组件70的料盘内，如果是不合格的芯片则放入NG料上下料组件73的料盘内，重复以上动作，当待料上下料组件71的料盘上的芯片被取完后，移料盘模组74夹取空料盘回收至空料上下料组件72上。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种芯片自动测试设备，其特征在于，包括：

测试机台，所述测试机台上阵列设置有多个测试模组，所述测试模组包括测试载具、测试加热组件、测试移动组件，所述测试载具用于放置、测试待测试的芯片，所述测试加热组件设置于测试载具的上方位置，测试移动组件驱动测试加热组件下压加热测试载具上的芯片；

上下料机构，所述上下料机构设置于测试机台的侧边，用于放置芯片的料盘；

飞梭机构，所述飞梭机构的一进出料端设置于上下料机构处，飞梭机构的另一进出料端设置于测试模组处；

上下料机头机构，所述上下料机头机构设置于上下料机构的上方位置，用于在上下料机构与飞梭机构之间取放芯片；

测试机头机构，所述测试机头机构设置于测试机台的上方位置，用于在测试载具与飞梭机构之间取放芯片；

所述飞梭机构包括底板、第一滑轨、第二滑轨、第一导向板、第二导向板、飞梭驱动模组，所述第一滑轨、第二滑轨平行设置于底板上；所述第一滑轨上滑动连接有第一支架，所述第一支架的上部设置有第一载料台；所述第一导向板上设置有第一导向槽，所述第一导向槽限定第一载料台的移动路径；所述第二滑轨上滑动连接有第二支架，所述第二支架的上部设置有第二载料台；所述第二导向板上设置有第二导向槽，所述第二导向槽限定第二载料台的移动路径；所述飞梭驱动模组分别与第一支架、第二支架相连接，用于驱动第一支架与第二支架进行相对运动。

2.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试设备，其特征在于：所述第一支架通过支架滑块连接有升降线轨，所述第一载料台设置于升降线轨的顶部；所述升降线轨的侧壁通过设置第一滚轮与第一导向槽连接，所述第一导向槽呈U形状。

3.根据权利要求2所述的一种芯片自动测试设备，其特征在于：所述第二导向槽为直线槽，第二支架的侧壁通过第二滚轮与第二导向槽连接。

4.根据权利要求3所述的一种芯片自动测试设备，其特征在于：所述飞梭驱动模组包括飞梭电机、飞梭传动带，所述飞梭传动带通过两个飞梭从动轮布设于第一滑轨、第二滑轨之间，且飞梭传动带分别与第一支架、第二支架相连接，所述飞梭电机通过飞梭主动轮与其中一个飞梭从动轮相连接。

5.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试设备，其特征在于：所述上下料机头机构包括至少两组上下料吸嘴组件、吸嘴间距调节组件、上下料运动组件，上下料吸嘴组件设置于吸嘴间距调节组件上，吸嘴间距调节组件设置于上下料运动组件上，进而所述上下料运动组件在X向、Y向、Z向上驱动上下料吸嘴组件运动。

6.根据权利要求5所述的一种芯片自动测试设备，其特征在于：所述吸嘴间距调节组件包括调节固定板、调节导向板、调节驱动组件、传动连接件，所述调节固定板上贯穿开设有水平通孔，且调节固定板的一侧固定设置有水平直线导轨、另一侧设置有竖直直线导轨；所述上下料吸嘴组件滑动设置于水平直线导轨上；所述调节导向板滑动设置于竖直直线导轨上；所述调节导向板上开设有若干呈扇形状分散的调节导向槽，所述传动连接件的一端与上下料吸嘴组件固定连接、另一端延伸穿过水平通孔设置于调节导向槽内；所述调节驱动组件驱动调节导向板在竖直直线导轨上运动，进而通过传动连接件带动上下料吸嘴组件在水平直线导轨上运动。

7.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试设备，其特征在于：所述测试机头机构包括至少两组测试吸嘴组件、测试运动组件，测试吸嘴组件设置于测试运动组件上，进而所述测试运动组件在X向、Y向、Z向上驱动测试吸嘴组件运动。

8.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试设备，其特征在于：所述上下料机构包括至少一个上下料组件，所述上下料组件包括上下料料框、上下料丝杆、上下料螺母、上下料电机，所述上下料电机设置于上下料料框的下方位置，所述上下料电机通过上下料皮带与上下料螺母传动连接，所述上下料丝杆套设于上下料螺母内，且上下料丝杆的上部从上下料料框的底部贯穿设置于上下料料框内。

9.根据权利要求8所述的一种芯片自动测试设备，其特征在于：所述上下料组件处设置有移料盘模组，所述移料盘模组包括同步带直线模组、移料升降气缸、移料夹爪，所述同步带直线模组驱动移料夹爪在至少两个上下料组件间运动，所述移料升降气缸驱动移料夹爪在上下料组件上做升降运动，所述移料夹爪用于上下料组件处夹取料盘。

10.根据权利要求1所述的一种芯片自动测试设备，其特征在于：所述芯片自动测试设备还包括芯片旋转模组，所述芯片旋转模组包括旋转驱动组件、旋转夹爪，所述旋转驱动组件驱动旋转夹爪做旋转运动，所述旋转夹爪处设置有旋转传感器，且旋转夹爪用于固定芯片。

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