CN214539890U - 一种检测芯片的夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种检测芯片的夹具,包括检测台,所述检测台的顶端面两侧固定焊接有承接架,检测台的顶端面中部固定焊接有第一电机,所述第一电机的输出轴与主动轴的一端固定连接,所述主动轴的另一端通过轴承转动安装在承接架上,所述主动轴上固定连接有主锥齿轮。本实用新型通过驱动第一电机工作带动主锥齿轮转动,使两个从锥齿轮带动两个第一螺杆转动,使两个第一夹板相互靠近,并配合第二夹板即可固定芯片,从而实现一个电机工作带动两条检测线上的芯片同时被固定,由于第一夹板和第二夹板位置均可调,适应了不同尺寸芯片的检测,而且驱动第二电机工作可带动转盘转动来调节芯片的朝向,使芯片的检测更加全面。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片检测技术领域,具体涉及一种检测芯片的夹具。
背景技术
单片机是一种集成电路芯片,是采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器CPU、随机存储器RAM、只读存储器ROM、多种I/O口和中断***、定时器/计数器等功能集成到一块硅片上构成的一个小而完善的微型计算机***,在工业控制领域广泛应用。
目前,单片机这类芯片生产后均需要进行抽样检测,需在指定的检测台上进行。但目前在检测台上用于芯片固定的夹具大多结构固定,可以夹持的芯片的尺寸也是固定,不能适应不同尺寸芯片的检测固定;且芯片在输送时往往是排列混乱的,导致每个芯片送至夹具上时的朝向、方位均不同,导致芯片无法被固定并检测。
实用新型内容
实用新型目的:本实用新型目的是提供一种检测芯片的夹具,解决了上述背景技术中提出的问题
技术方案:本实用新型一种检测芯片的夹具,包括检测台,所述检测台的顶端面两侧固定焊接有承接架,检测台的顶端面中部固定焊接有第一电机,所述第一电机的输出轴与主动轴的一端固定连接,所述主动轴的另一端通过轴承转动安装在承接架上,所述主动轴上固定连接有主锥齿轮,所述主锥齿轮的两侧均啮合有从锥齿轮,所述从锥齿轮远离主动轴的端面中部固定连接有水平设置的第一螺杆,所述第一螺杆的另一端通过轴承转动安装在承接架上,第一螺杆上螺纹连接有滑块,所述滑块的底端固定连接有第一夹板;
位于所述第一夹板下方的检测台顶端面上设有两组转槽,所述转槽内嵌有转盘,所述转盘的底端面中部通过传动轴与第二电机的输出轴固定连接,所述第二电机与检测台固定连接。
进一步的,两组所述第一螺杆上的螺纹朝向相反。
进一步的,所述承接架的两侧均螺纹连接有水平设置的第二螺杆,所述第二螺杆位于承接架内侧的一端固定连接有第二夹板,第二螺杆位于承接架外侧的一端固定连接有手轮。
进一步的,所述检测台上内嵌有两组输送机构,所述输送机构包括内嵌在检测台上的输送架,所述输送架的两端分别转动安装有驱动主轴和驱动从轴,所述驱动主轴的一端通过传动轴与固定安装在输送架上的第三电机输出轴固定连接,驱动主轴和驱动从轴之间套设有输送带。
进一步的,所述输送架的两组内侧壁上均通过铰接轴转动安装有导向板,两组所述导向板相向一侧均固定焊接有前倾板,所述前倾板上均转动连接有多个等间距排列的滚轮,两组所述导向板远离输送架的一端均与电推杆相铰接,所述电推杆的另一端与输送架相铰接。
有益效果:本实用新型通过驱动第一电机工作带动主锥齿轮转动,使两个从锥齿轮带动两个第一螺杆转动,使两个第一夹板相互靠近,并配合第二夹板即可固定芯片,从而实现一个电机工作带动两条检测线上的芯片同时被固定,由于第一夹板和第二夹板位置均可调,适应了不同尺寸芯片的检测,而且驱动第二电机工作可带动转盘转动来调节芯片的朝向,使芯片的检测更加全面;通过驱动两个电推杆同步伸出带动导向板转动,改变两个导向板之间的间距,限定芯片通过两个导向板时的空间,再配合前倾板上的滚轮,即可实现芯片方位的自动矫正,使芯片送至转盘上方之前就排列整齐,避免因为芯片排列混乱造成不便于夹持固定的麻烦。
附图说明
图1为本实用新型剖视图;
图2为图1中A-A向的剖视图;
图3为输送架的俯视图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步描述:
如图1至图3所示,本实用新型一种检测芯片的夹具,包括检测台1,检测台1的顶端面两侧固定焊接有承接架2,检测台1的顶端面中部固定焊接有第一电机3,第一电机3的输出轴与主动轴4的一端固定连接,主动轴4的另一端通过轴承转动安装在承接架2上,主动轴4上固定连接有主锥齿轮5,主锥齿轮5的两侧均啮合有从锥齿轮6,从锥齿轮6远离主动轴4的端面中部固定连接有水平设置的第一螺杆7,第一螺杆7的另一端通过轴承转动安装在承接架2上,两组第一螺杆7上的螺纹朝向相反,第一螺杆7上螺纹连接有滑块8,滑块8的底端固定连接有第一夹板9;
承接架2的两侧均螺纹连接有水平设置的第二螺杆10,第二螺杆10位于承接架2内侧的一端固定连接有第二夹板11,第二螺杆10位于承接架2外侧的一端固定连接有手轮12人员通过转动手轮12,即可使第二螺杆10转动并带动第二夹板11位置改变;通过驱动第一电机3工作带动主锥齿轮5转动,使两个从锥齿轮6带动两个第一螺杆7转动,使两个第一夹板9相互靠近,并配合第二夹板11即可固定芯片,从而实现一个电机工作带动两条检测线上的芯片同时被固定,由于第一夹板9和第二夹板11位置均可调,适应了不同尺寸芯片的检测;
位于第一夹板9下方的检测台1顶端面上设有两组转槽,转槽内嵌有转盘13,转盘13的底端面中部通过传动轴与第二电机14的输出轴固定连接,第二电机14与检测台1固定连接;驱动第二电机14工作可带动转盘13转动来调节芯片的朝向,使芯片的检测更加全面;
检测台1上内嵌有两组输送机构,输送机构包括内嵌在检测台1上的输送架15,输送架15的两端分别转动安装有驱动主轴16和驱动从轴17,驱动主轴16的一端通过传动轴与固定安装在输送架15上的第三电机18输出轴固定连接,驱动主轴16和驱动从轴17之间套设有输送带19;输送架15的两组内侧壁上均通过铰接轴转动安装有导向板20,两组导向板20相向一侧均固定焊接有前倾板21,前倾板21上均转动连接有多个等间距排列的滚轮22,两组导向板20远离输送架15的一端均与电推杆23相铰接,电推杆23的另一端与输送架15相铰接;通过驱动两个电推杆23同步伸出带动导向板20转动,改变两个导向板20之间的间距,限定芯片通过两个导向板20时的空间,再配合前倾板21上的滚轮22,即可实现芯片方位的自动矫正,使芯片送至转盘13上方之前就排列整齐,避免因为芯片排列混乱造成不便于夹持固定的麻烦。
工作原理:使用时,首先将芯片送至输送架15内侧的输送带19上,驱动第三电机18工作带动驱动主轴16转动,使输送带19运行并带动输送带19上的芯片分别向两个转盘13运输;同时驱动输送架15内侧的两个电推杆23伸长,带动两个导向板20转动,使芯片经过两个导向板20时,其分别与前倾板21上的多个滚轮22接触,并在滚轮22影响下被导向两个导向板20之间的空间内,从该空间内排出,使经过的所有芯片均排列整齐,便于后续的检测;
当输送带19上的芯片运输至转盘13上后,先驱动第二电机14工作带动转盘13转动,使两个芯片调整至合适的朝向;接着驱动第一电机3工作带动主动轴4和主锥齿轮5转动,使两个从锥齿轮6带动第一螺杆7转动,使第一夹板9朝向相互远离的方向移动,直至第一夹板9带动芯片与第二夹板11接触,即完成利用第一夹板9和第二夹板11对芯片的夹持固定,此时即可使用检测的器械对芯片进行检测。
Claims (5)
1.一种检测芯片的夹具,其特征在于:包括检测台,所述检测台的顶端面两侧固定焊接有承接架,检测台的顶端面中部固定焊接有第一电机,所述第一电机的输出轴与主动轴的一端固定连接,所述主动轴的另一端通过轴承转动安装在承接架上,所述主动轴上固定连接有主锥齿轮,所述主锥齿轮的两侧均啮合有从锥齿轮,所述从锥齿轮远离主动轴的端面中部固定连接有水平设置的第一螺杆,所述第一螺杆的另一端通过轴承转动安装在承接架上,第一螺杆上螺纹连接有滑块,所述滑块的底端固定连接有第一夹板;
位于所述第一夹板下方的检测台顶端面上设有两组转槽,所述转槽内嵌有转盘,所述转盘的底端面中部通过传动轴与第二电机的输出轴固定连接,所述第二电机与检测台固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种检测芯片的夹具,其特征在于:两组所述第一螺杆上的螺纹朝向相反。
3.根据权利要求1所述的一种检测芯片的夹具,其特征在于:所述承接架的两侧均螺纹连接有水平设置的第二螺杆,所述第二螺杆位于承接架内侧的一端固定连接有第二夹板,第二螺杆位于承接架外侧的一端固定连接有手轮。
4.根据权利要求1所述的一种检测芯片的夹具,其特征在于:所述检测台上内嵌有两组输送机构,所述输送机构包括内嵌在检测台上的输送架,所述输送架的两端分别转动安装有驱动主轴和驱动从轴,所述驱动主轴的一端通过传动轴与固定安装在输送架上的第三电机输出轴固定连接,驱动主轴和驱动从轴之间套设有输送带。
5.根据权利要求4所述的一种检测芯片的夹具,其特征在于:所述输送架的两组内侧壁上均通过铰接轴转动安装有导向板,两组所述导向板相向一侧均固定焊接有前倾板,所述前倾板上均转动连接有多个等间距排列的滚轮,两组所述导向板远离输送架的一端均与电推杆相铰接,所述电推杆的另一端与输送架相铰接。
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CN202023211107.0U CN214539890U (zh) | 2020-12-28 | 2020-12-28 | 一种检测芯片的夹具 |
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Cited By (2)
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CN114291507A (zh) * | 2021-12-31 | 2022-04-08 | 苏州欣华锐电子有限公司 | 一种全自动烧录设备 |
CN114910230A (zh) * | 2022-05-06 | 2022-08-16 | 嘉兴市扬佳科技合伙企业(有限合伙) | 一种半导体器件的使用耐久性能测试装置 |
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