CN209070021U - 一种电容测试电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种电容测试电路,包括:多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板;所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上,所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机,所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪,所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器。本实用新型电路结构简单、成本低廉,直接利用高温老化板作为电容测试用的载体,无需将电容从高温老化板上拆卸,避免了多次的拆装可能引起电容的遗失和损坏等后果,提高测试结果的可靠性。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子电路领域,具体地,涉及一种电容测试电路。
背景技术
电容是电子电器设备使用最广泛的基础电子元器件之一,广泛应用于电路中的隔直、通交、耦合、旁路、滤波等方面,几乎所有的电子电器设备都需要使用电容。
随着工业技术的飞速发展,电子电器设备对电容的数量和质量需求越来越高。特别是在军用设备领域,对于电容的筛选测试工作是必不可少的,电容的质量直接影响到武器装备的可靠性,因此国家对电容器的测试需求越来越高。在电容测试之前需要进行电容高温老化试验,试验完成以后,需要将电容从高温老化板上拆卸下来,然后对电容进行测试。该过程不仅繁琐,而且多次的拆装可能引起电容的遗失和损坏等后果,并且受到很多人为的不可控因素干扰,导致测试可靠性严重降低。显然目前的测试手段已经无法满足电容测试的需求。
实用新型内容
针对现有技术中的缺陷,本实用新型的目的是提供一种电容测试电路。
根据本实用新型提供的一种电容测试电路,包括:多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板;
所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上,所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机,所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪,所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器。
较佳的,所述第一通信线缆包括RS232通讯线缆。
较佳的,所述第二通信线缆包括GPIB线缆。
较佳的,所述高温老化板包括10个单元,每个单元包括16个电容安装部,每个单元中安装的16个待测电容共地连接。
较佳的,所述多路开关控制器包括160路开关电路和170根探针,其中160根探针与160路开关电路一一对应连接,且160根探针分别压在一个所述电容安装部中待测电容的顶端,另外10根探针分别连接一个所述单元,作为待测电容的底端。
根据本发明提供的一种电容测试电路,包括:多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板;
所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上,所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机,所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪,所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器;
所述高温老化板包括10个单元,每个单元包括16个电容安装部,每个单元中安装的16个待测电容共地连接;
所述多路开关控制器包括160路开关电路和170根探针,其中160根探针与160路开关电路一一对应连接,且160根探针分别压在一个所述电容安装部中待测电容的顶端,另外10根探针分别连接一个所述单元,作为待测电容的底端。
较佳的,所述第一通信线缆包括RS232通讯线缆。
较佳的,所述第二通信线缆包括GPIB线缆。
与现有技术相比,本实用新型具有如下的有益效果:
本实用新型电路结构简单、成本低廉,直接利用高温老化板作为电容测试用的载体,无需将电容从高温老化板上拆卸,避免了多次的拆装可能引起电容的遗失和损坏等后果,提高测试结果的可靠性。
在本实用新型的基础上做进一步的改进,就可以实现多种类型的自动化测试,大大提高了测试效率,节省了大量的时间成本和人力成本。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述,本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为本实用新型的工作原理图;
图3为本实用新型电容容量和损耗角参数的测试结果示意图;
图4为本实用新型电容漏电流参数的测试结果示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本实用新型进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本实用新型,但不以任何形式限制本实用新型。应当指出的是,对本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变化和改进。这些都属于本实用新型的保护范围。
如图1所示,本实用新型提供的一种电容测试电路,包括:多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板。
多路开关控制器安装于高温老化板上,多路开关控制器通过第一通信线缆连接计算机,计算机通过第二通信线缆连接电容漏电流测试仪和LCR测试仪,电容漏电流测试仪和LCR测试仪分别通过测试线缆连接多路开关控制器。
在本实施例中,第一通信线缆采用RS232通讯线缆,第二通信线缆采用GPIB线缆。
高温老化板包括10个单元,每个单元包括16个电容安装部,每个单元中安装的16个待测电容共地连接。多路开关控制器包括160路开关电路和170根探针,其中160根探针与160路开关电路一一对应连接,且160根探针分别压在一个电容安装部中待测电容的顶端,另外10根探针分别连接一个单元,作为待测电容的底端。这样就构成了一共160路的测试回路。
如图2所示,在上述电容测试电路的基础上,本实施例对其做了进一步改进,提供一种使用方法如下:
针对某型号的封装规格为0603的陶瓷电容(标称容量10nF,容量范围10%,额定电压50V,漏电流不大于0.05uA)进行电容量、损耗角和漏电流的测试。
步骤一:将待测电容安装于高温老化板;
步骤二:按照附图1所示,将多路开关控制器安装于高温老化板上,通过RS232串口与计算机连接;计算机通过GPIB线缆连接LCR测试仪和电容漏电流测试仪;LCR测试仪和电容漏电流测试仪的测试端口分别连接多路开关控制器,组成电容自动化测试***;
步骤三:启动多路开关控制器、测试仪和计算机,处于正常工作状态;
步骤四:测试电容容量和损耗角参数,在计算机界面设定选择LCR测试仪(E4980A)、电容量10nF,测量判据10%,计算机控制多路开关控制器分别导通10个测试单元的160 路开关回路,同时LCR测试仪对该测试回路进行容量和损耗角的参数测试,依次将测试数据发送至计算机,计算机对测试数据进行记录、存储和处理,并且对不合格数据进行标记。测试结果如附图3所示。结果显示,被测电容的电容值范围为9.5nF-10.6nF,损耗角范围为1%-1.2%,符合型号规定的参数要求。
步骤五:测试电容漏电流参数,在计算机界面设定选择电容漏电流测试仪(TH2689),设定充电电压50V、充电时间10s、充电电流1mA、合格判据设置0.05uA。充电状态时,多路开关控制器的160路开关回路全部导通,同时对160只电容进行充电;测试状态时,多路开关控制器的160路开关回路全部截止,只导通需要测试的开关回路,电容漏电流测试仪对该开关回路的电容进行漏电流参数测试,并将测试数据发送至计算机,直至所有电容测试完毕;放电状态时,160路开关回路全部导通,160只电容通过多路开关控制器内部的放电电阻进行放电。测试结果如附图4所示。结果显示,被测电容的漏电流均小于0.05uA,符合型号规定的参数要求。
进行电容漏电流参数测试时,电容自动化测试***的高效率可以得到充分体现。由于160只电容是同时进行充放电的,因此充放电时间一共仅需30s左右,160只电容的测试时间为1s/只,一共为160s。因此,所有电容测试完成仅需三分多钟。然而,人工测试160只电容漏电流参数的平均测试时间为两个多小时。综上对比可知,本发明的有效性和高效性得到了充分体现。
在本申请的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。
以上对本实用新型的具体实施例进行了描述。需要理解的是,本实用新型并不局限于上述特定实施方式,本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变化或修改,这并不影响本实用新型的实质内容。在不冲突的情况下,本申请的实施例和实施例中的特征可以任意相互组合。
Claims (8)
1.一种电容测试电路,其特征在于,包括:多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板;
所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上,所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机,所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪,所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器。
2.根据权利要求1所述的电容测试电路,其特征在于,所述第一通信线缆包括RS232通讯线缆。
3.根据权利要求1所述的电容测试电路,其特征在于,所述第二通信线缆包括GPIB线缆。
4.根据权利要求1所述的电容测试电路,其特征在于,所述高温老化板包括10个单元,每个单元包括16个电容安装部,每个单元中安装的16个待测电容共地连接。
5.根据权利要求4所述的电容测试电路,其特征在于,所述多路开关控制器包括160路开关电路和170根探针,其中160根探针与160路开关电路一一对应连接,且160根探针分别压在一个所述电容安装部中待测电容的顶端,另外10根探针分别连接一个所述单元,作为待测电容的底端。
6.一种电容测试电路,其特征在于,包括:多路开关控制器、计算机、电容漏电流测试仪、LCR测试仪和高温老化板;
所述多路开关控制器安装于所述高温老化板上,所述多路开关控制器通过第一通信线缆连接所述计算机,所述计算机通过第二通信线缆连接所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪,所述电容漏电流测试仪和所述LCR测试仪分别通过测试线缆连接所述多路开关控制器;
所述高温老化板包括10个单元,每个单元包括16个电容安装部,每个单元中安装的16个待测电容共地连接;
所述多路开关控制器包括160路开关电路和170根探针,其中160根探针与160路开关电路一一对应连接,且160根探针分别压在一个所述电容安装部中待测电容的顶端,另外10根探针分别连接一个所述单元,作为待测电容的底端。
7.根据权利要求6所述的电容测试电路,其特征在于,所述第一通信线缆包括RS232通讯线缆。
8.根据权利要求6所述的电容测试电路,其特征在于,所述第二通信线缆包括GPIB线缆。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN110320429A (zh) * | 2019-07-11 | 2019-10-11 | 南通海美电子有限公司 | 一种芯子老化筛选方法 |
CN110879314A (zh) * | 2019-12-12 | 2020-03-13 | 苏州市运泰利自动化设备有限公司 | 电容测量方法、***、电子设备及存储介质 |
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- 2018-08-17 CN CN201821331016.0U patent/CN209070021U/zh active Active
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