CN110320429A - 一种芯子老化筛选方法 - Google Patents

一种芯子老化筛选方法 Download PDF

Info

Publication number
CN110320429A
CN110320429A CN201910624335.3A CN201910624335A CN110320429A CN 110320429 A CN110320429 A CN 110320429A CN 201910624335 A CN201910624335 A CN 201910624335A CN 110320429 A CN110320429 A CN 110320429A
Authority
CN
China
Prior art keywords
fuse
ageing
cabinet
aging
capacitor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910624335.3A
Other languages
English (en)
Inventor
邵淋锋
孟赵飞
宣澄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nantong Haimei Electronics Co Ltd
Original Assignee
Nantong Haimei Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nantong Haimei Electronics Co Ltd filed Critical Nantong Haimei Electronics Co Ltd
Priority to CN201910624335.3A priority Critical patent/CN110320429A/zh
Publication of CN110320429A publication Critical patent/CN110320429A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/01Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
    • G01R31/013Testing passive components
    • G01R31/016Testing of capacitors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G13/00Apparatus specially adapted for manufacturing capacitors; Processes specially adapted for manufacturing capacitors not provided for in groups H01G4/00 - H01G11/00

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

本发明公开了一种芯子老化筛选方法,包括装夹、常温老化漏电流检测、高温老化浪涌检测、恒温老化的多个工艺步骤。本发明中,芯子在赋能后直接进行老化工艺,老化工艺中步骤:常温老化和漏电流检测同时进行;高温老化和浪涌检测同时进行,当检测到不符合标准的芯子后,电容漏电流检测仪可以将该芯子的电连接切断,并且记录数据,在老化工序完成后由工人取走不合格的芯子,进而在后续的工序中全部为检测合格的产品,可以减少母排以及塑壳材料的浪费。

Description

一种芯子老化筛选方法
技术领域
本发明涉及电容器生产技术领域,尤其涉及一种芯子老化筛选方法。
背景技术
电容器通常简称其容纳电荷的本领为电容,是一种容纳电荷的器件。电容器是电子设备中大量使用的电子元件之一,广泛应用于电路中的隔直通交,耦合,旁路,滤波,调谐回路,能量转换,控制等方面。
电容器的生产过程中需要进行老化工艺,但是现有的老化工艺仍然存在不足之处,由于现有的老化工艺大多在电容器芯子封装完成后进行,然而此时发现的不合格产品就无法拆解循环利用,进而导致母排和塑壳材料的浪费;其次,漏电流检测与老化筛选为两个步骤,分开进行会造成大量的时间浪费,不利于生产效率的提高。
发明内容
本发明的目的在于:为了解决现有电容器生产中老化工艺会造成母排和塑壳材料浪费以及漏电流检测和老化筛选分开进行占用大量时间的问题,而提出的一种芯子老化筛选方法。
为了实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:
一种芯子老化筛选方法,包括以下步骤:
(1)装夹:将赋能后的芯子通过老化检测箱内的夹具固定;
(2)常温老化漏电流检测:将老化检测箱的温度设定在23~27℃进行4~5小时的常温老化,并且在常温老化的同时开启电容漏电流检测仪,检测芯子的漏电流;
(3)高温老化浪涌检测:设置老化检测箱的温度为85~95℃,进行4~5小时的高温老化,高温老化的同时开启电容浪涌检测仪,对芯子进行浪涌检测;
(4)恒温老化:设置老化检测箱的温度为80℃进行老化2小时。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述芯子老化筛选方法使原有工序时间从13~16小时缩短至8~12小时。
一种老化检测箱,包括箱体、加热装置、电容漏电流检测仪、电容浪涌检测仪、夹具和箱门,所述加热装置安装于箱体的内部底表壁,箱门铰接于箱体的一侧,电容漏电流检测仪和电容浪涌检测仪均安装于箱体的顶部,所述箱体的内部固定连接有多个隔板,多个隔板的顶部均固定连接有多个夹具,所述夹具上设置有连接块。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述电容漏电流检测仪和电容浪涌检测仪均通过导线与连接块电连接。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述箱体的一侧连通有循环管,循环管的顶部连通有循环泵,循环泵与箱体的顶部连通,所述隔板的内部开设有多个通孔。
综上所述,由于采用了上述技术方案,本发明的有益效果是:
1、本发明中,芯子在赋能后直接进行老化工艺,老化工艺中步骤2使常温老化和漏电流检测同时进行,步骤3使高温老化和浪涌检测同时进行,当检测到不符合标准的芯子后,电容漏电流检测仪可以将该芯子的电连接切断,并且记录数据,在老化工序完成后由工人取走不合格的芯子,进而在后续的工序中全部为检测合格的产品,可以减少母排以及塑壳材料的浪费。
2、本发明中,箱体内部的隔板上设置了通孔,并且箱体的外侧设置了循环管和循环泵,循环泵可以将加热装置产生的热空气通过循环管从箱体的底部抽至箱体的顶部,以促进箱体内部的热交换,提高箱体整体的升温速度,进而通过缩短箱体的升温时间以及老化工艺和检测同步进行的生产方式提高了生产效率,节省了生产时间。
附图说明
图1为本发明提出的一种芯子老化筛选方法的工艺流程示意图;
图2为本发明提出的一种芯子老化筛选方法的老化检测箱结构示意图。
图例说明:
1、箱体;2、加热装置;3、电容漏电流检测仪;4、电容浪涌检测仪;5、隔板;6、夹具;7、连接块;8、循环管;9、循环泵;10、箱门;11、通孔。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例1
请参阅图1和图2,一种芯子老化筛选方法,包括以下步骤:
(1)装夹:将赋能后的芯子通过老化检测箱内的夹具固定;
(2)常温老化漏电流检测:将老化检测箱的温度设定在24℃进行4小时的常温老化,并且在常温老化的同时开启电容漏电流检测仪,检测芯子的漏电流;
(3)高温老化浪涌检测:设置老化检测箱的温度为85℃,进行4小时的高温老化,高温老化的同时开启电容浪涌检测仪,对芯子进行浪涌检测;
(4)恒温老化:设置老化检测箱的温度为80℃进行老化2小时。
通过该方法使在芯子赋能后直接进行老化以及检测工艺,将不合格的产品直接剔除,使得在后续工艺中的产品均为检测合格的芯子,进而有助于减少母排以及塑壳材料的浪费;其次老化工序和检测工序同时进行,有效的将原老化以及检测工序的时间从13~16小时缩短至11~12小时,提升了生产效率,有助于企业提高产量。
一种老化检测箱,包括箱体1、加热装置2、电容漏电流检测仪3、电容浪涌检测仪4、夹具6和箱门10,加热装置2安装于箱体1的内部底表壁,箱门10铰接于箱体1的一侧,电容漏电流检测仪3和电容浪涌检测仪4均安装于箱体1的顶部,箱体1的内部固定连接有多个隔板5,多个隔板5的顶部均固定连接有多个夹具6,夹具6上设置有连接块7,电容漏电流检测仪3和电容浪涌检测仪4均通过导线与连接块7电连接,箱体1的一侧连通有循环管8,循环管8的顶部连通有循环泵9,循环泵9与箱体1的顶部连通,隔板5的内部开设有多个通孔11,在该设计中,循环泵9可通过循环管8加热装置2加热的空气传输至箱体1的顶部,进而促进箱体1内部的空气热交换,加速了箱体1内部的空气升温,使原有升温时间从1~2小时缩短至0.5~1小时,不仅缩短了时间还节省了电力的消耗,使原有用电量从千个产品30~40度降低至10~20度,节能效果好,降低了企业的成本,进而提高产品的竞争力。
实施例2
请参阅图1和图2,一种芯子老化筛选方法,包括以下步骤:
(1)装夹:将赋能后的芯子通过老化检测箱内的夹具固定;
(2)常温老化漏电流检测:将老化检测箱的温度设定在25℃进行4小时的常温老化,并且在常温老化的同时开启电容漏电流检测仪,检测芯子的漏电流;
(3)高温老化浪涌检测:设置老化检测箱的温度为88℃,进行4小时的高温老化,高温老化的同时开启电容浪涌检测仪,对芯子进行浪涌检测;
(4)恒温老化:设置老化检测箱的温度为80℃进行老化2小时。
通过该方法使在芯子赋能后直接进行老化以及检测工艺,将不合格的产品直接剔除,使得在后续工艺中的产品均为检测合格的芯子,进而有助于减少母排以及塑壳材料的浪费;其次老化工序和检测工序同时进行,有效的将原老化以及检测工序的时间从13~16小时缩短至10~11小时,提升了生产效率,有助于企业提高产量。
一种老化检测箱,包括箱体1、加热装置2、电容漏电流检测仪3、电容浪涌检测仪4、夹具6和箱门10,加热装置2安装于箱体1的内部底表壁,箱门10铰接于箱体1的一侧,电容漏电流检测仪3和电容浪涌检测仪4均安装于箱体1的顶部,箱体1的内部固定连接有多个隔板5,多个隔板5的顶部均固定连接有多个夹具6,夹具6上设置有连接块7,电容漏电流检测仪3和电容浪涌检测仪4均通过导线与连接块7电连接,箱体1的一侧连通有循环管8,循环管8的顶部连通有循环泵9,循环泵9与箱体1的顶部连通,隔板5的内部开设有多个通孔11,在该设计中,循环泵9可通过循环管8加热装置2加热的空气传输至箱体1的顶部,进而促进箱体1内部的空气热交换,加速了箱体1内部的空气升温,使原有升温时间从1~2小时缩短至0.5~1小时,不仅缩短了时间还节省了电力的消耗,使原有用电量从千个产品30~40度降低至10~20度,节能效果好,降低了企业的成本,进而提高产品的竞争力。
实施例3
请参阅图1和图2,一种芯子老化筛选方法,包括以下步骤:
(1)装夹:将赋能后的芯子通过老化检测箱内的夹具固定;
(2)常温老化漏电流检测:将老化检测箱的温度设定在26℃进行4小时的常温老化,并且在常温老化的同时开启电容漏电流检测仪,检测芯子的漏电流;
(3)高温老化浪涌检测:设置老化检测箱的温度为92℃,进行4小时的高温老化,高温老化的同时开启电容浪涌检测仪,对芯子进行浪涌检测;
(4)恒温老化:设置老化检测箱的温度为80℃进行老化2小时。
通过该方法使在芯子赋能后直接进行老化以及检测工艺,将不合格的产品直接剔除,使得在后续工艺中的产品均为检测合格的芯子,进而有助于减少母排以及塑壳材料的浪费;其次老化工序和检测工序同时进行,有效的将原老化以及检测工序的时间从13~16小时缩短至9~10小时,提升了生产效率,有助于企业提高产量。
一种老化检测箱,包括箱体1、加热装置2、电容漏电流检测仪3、电容浪涌检测仪4、夹具6和箱门10,加热装置2安装于箱体1的内部底表壁,箱门10铰接于箱体1的一侧,电容漏电流检测仪3和电容浪涌检测仪4均安装于箱体1的顶部,箱体1的内部固定连接有多个隔板5,多个隔板5的顶部均固定连接有多个夹具6,夹具6上设置有连接块7,电容漏电流检测仪3和电容浪涌检测仪4均通过导线与连接块7电连接,箱体1的一侧连通有循环管8,循环管8的顶部连通有循环泵9,循环泵9与箱体1的顶部连通,隔板5的内部开设有多个通孔11,在该设计中,循环泵9可通过循环管8加热装置2加热的空气传输至箱体1的顶部,进而促进箱体1内部的空气热交换,加速了箱体1内部的空气升温,使原有升温时间从1~2小时缩短至0.5~1小时,不仅缩短了时间还节省了电力的消耗,使原有用电量从千个产品30~40度降低至10~20度,节能效果好,降低了企业的成本,进而提高产品的竞争力。
实施例4
请参阅图1和图2,一种芯子老化筛选方法,包括以下步骤:
(1)装夹:将赋能后的芯子通过老化检测箱内的夹具固定;
(2)常温老化漏电流检测:将老化检测箱的温度设定在27℃进行4小时的常温老化,并且在常温老化的同时开启电容漏电流检测仪,检测芯子的漏电流;
(3)高温老化浪涌检测:设置老化检测箱的温度为95℃,进行4小时的高温老化,高温老化的同时开启电容浪涌检测仪,对芯子进行浪涌检测;
(4)恒温老化:设置老化检测箱的温度为80℃进行老化2小时。
通过该方法使在芯子赋能后直接进行老化以及检测工艺,将不合格的产品直接剔除,使得在后续工艺中的产品均为检测合格的芯子,进而有助于减少母排以及塑壳材料的浪费;其次老化工序和检测工序同时进行,有效的将原老化以及检测工序的时间从13~16小时缩短至8~9小时,提升了生产效率,有助于企业提高产量。
一种老化检测箱,包括箱体1、加热装置2、电容漏电流检测仪3、电容浪涌检测仪4、夹具6和箱门10,加热装置2安装于箱体1的内部底表壁,箱门10铰接于箱体1的一侧,电容漏电流检测仪3和电容浪涌检测仪4均安装于箱体1的顶部,箱体1的内部固定连接有多个隔板5,多个隔板5的顶部均固定连接有多个夹具6,夹具6上设置有连接块7,电容漏电流检测仪3和电容浪涌检测仪4均通过导线与连接块7电连接,箱体1的一侧连通有循环管8,循环管8的顶部连通有循环泵9,循环泵9与箱体1的顶部连通,隔板5的内部开设有多个通孔11,在该设计中,循环泵9可通过循环管8加热装置2加热的空气传输至箱体1的顶部,进而促进箱体1内部的空气热交换,加速了箱体1内部的空气升温,使原有升温时间从1~2小时缩短至0.5~1小时,不仅缩短了时间还节省了电力的消耗,使原有用电量从千个产品30~40度降低至10~20度,节能效果好,降低了企业的成本,进而提高产品的竞争力。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种芯子老化筛选方法,其特征在于:包括以下步骤:
(1)装夹:将赋能后的芯子通过老化检测箱内的夹具固定;
(2)常温老化漏电流检测:将老化检测箱的温度设定在23~27℃进行4~5小时的常温老化,并且在常温老化的同时开启电容漏电流检测仪,检测芯子的漏电流;
(3)高温老化浪涌检测:设置老化检测箱的温度为85~95℃,进行4~5小时的高温老化,高温老化的同时开启电容浪涌检测仪,对芯子进行浪涌检测;
(4)恒温老化:设置老化检测箱的温度为80℃进行老化2小时。
2.根据权利要求1所述的一种芯子老化筛选方法,其特征在于:所述芯子老化筛选方法使原有工序时间从13~16小时缩短至8~12小时。
3.一种老化检测箱,其特征在于:包括箱体(1)、加热装置(2)、电容漏电流检测仪(3)、电容浪涌检测仪(4)、夹具(6)和箱门(10),所述加热装置(2)安装于箱体(1)的内部底表壁,箱门(10)铰接于箱体(1)的一侧,电容漏电流检测仪(3)和电容浪涌检测仪(4)均安装于箱体(1)的顶部,所述箱体(1)的内部固定连接有多个隔板(5),多个隔板(5)的顶部均固定连接有多个夹具(6),所述夹具(6)上设置有连接块(7)。
4.根据权利要求3所述的一种老化检测箱,其特征在于,所述电容漏电流检测仪(3)和电容浪涌检测仪(4)均通过导线与连接块(7)电连接。
5.根据权利要求3所述的一种老化检测箱,其特征在于,所述箱体(1)的一侧连通有循环管(8),循环管(8)的顶部连通有循环泵(9),循环泵(9)与箱体(1)的顶部连通,所述隔板(5)的内部开设有多个通孔(11)。
CN201910624335.3A 2019-07-11 2019-07-11 一种芯子老化筛选方法 Pending CN110320429A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910624335.3A CN110320429A (zh) 2019-07-11 2019-07-11 一种芯子老化筛选方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910624335.3A CN110320429A (zh) 2019-07-11 2019-07-11 一种芯子老化筛选方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN110320429A true CN110320429A (zh) 2019-10-11

Family

ID=68121936

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910624335.3A Pending CN110320429A (zh) 2019-07-11 2019-07-11 一种芯子老化筛选方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110320429A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114675119A (zh) * 2022-05-31 2022-06-28 陕西半导体先导技术中心有限公司 半导体功率器件可靠性检测箱及检测方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201927496U (zh) * 2010-12-31 2011-08-10 宁波新容电器科技有限公司 电容器内芯老化试验夹具
CN104882279A (zh) * 2015-05-28 2015-09-02 南通华裕电子有限公司 一种高比容铝电解电容器老化方法
CN105047437A (zh) * 2015-07-03 2015-11-11 南通新三能电子有限公司 一种能够老化超高压铝电解电容器的夹具及其老化工艺
CN108120940A (zh) * 2017-12-28 2018-06-05 佛山市实达科技有限公司 一种锂离子电池电芯老化筛选方法
CN207601238U (zh) * 2017-11-18 2018-07-10 湖南艾华集团股份有限公司 电容器老化设备
CN108761211A (zh) * 2018-05-09 2018-11-06 江苏伊施德创新科技有限公司 一种钽电容的后道生产检测工艺及生产线
CN208224312U (zh) * 2018-04-27 2018-12-11 江苏伊施德创新科技有限公司 一种用于电容器的批量老炼夹具
CN208314099U (zh) * 2018-06-29 2019-01-01 江西联晟电子股份有限公司 一种超级电容器的老化治具
CN109188180A (zh) * 2018-11-01 2019-01-11 苏州六赫机械有限公司 一种牛角型电解电容漏电测试装置、方法及***
CN209070021U (zh) * 2018-08-17 2019-07-05 华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所) 一种电容测试电路

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201927496U (zh) * 2010-12-31 2011-08-10 宁波新容电器科技有限公司 电容器内芯老化试验夹具
CN104882279A (zh) * 2015-05-28 2015-09-02 南通华裕电子有限公司 一种高比容铝电解电容器老化方法
CN105047437A (zh) * 2015-07-03 2015-11-11 南通新三能电子有限公司 一种能够老化超高压铝电解电容器的夹具及其老化工艺
CN207601238U (zh) * 2017-11-18 2018-07-10 湖南艾华集团股份有限公司 电容器老化设备
CN108120940A (zh) * 2017-12-28 2018-06-05 佛山市实达科技有限公司 一种锂离子电池电芯老化筛选方法
CN208224312U (zh) * 2018-04-27 2018-12-11 江苏伊施德创新科技有限公司 一种用于电容器的批量老炼夹具
CN108761211A (zh) * 2018-05-09 2018-11-06 江苏伊施德创新科技有限公司 一种钽电容的后道生产检测工艺及生产线
CN208314099U (zh) * 2018-06-29 2019-01-01 江西联晟电子股份有限公司 一种超级电容器的老化治具
CN209070021U (zh) * 2018-08-17 2019-07-05 华东计算技术研究所(中国电子科技集团公司第三十二研究所) 一种电容测试电路
CN109188180A (zh) * 2018-11-01 2019-01-11 苏州六赫机械有限公司 一种牛角型电解电容漏电测试装置、方法及***

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114675119A (zh) * 2022-05-31 2022-06-28 陕西半导体先导技术中心有限公司 半导体功率器件可靠性检测箱及检测方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102360047B (zh) 一种高温老化测试仪及其恒温控制方法
CN101378092A (zh) 太阳电池及组件隐裂检测装置及其测试方法
CN110320429A (zh) 一种芯子老化筛选方法
CN104882279A (zh) 一种高比容铝电解电容器老化方法
CN105068437A (zh) 基于电力载波的语音识别智能控制***
CN108400700A (zh) 一种防触电开关电源
CN209710573U (zh) 一种智能型plc控制柜
CN206920478U (zh) 一种电力自动化仪表
CN102728472B (zh) 高压静电除尘节能设备的控制方法
CN205543888U (zh) 一种自动降温除潮电气箱
CN208569134U (zh) 一种可控制通风量智能光交箱散热装置
CN106813782A (zh) 微型贴装红外热释电传感器
CN114553025B (zh) 用于dali电源的电能参数检测和反馈的方法及装置
CN205005021U (zh) 太阳能n型电池双玻组件测试仪
CN207611987U (zh) 一种继电器仪表室
CN208971839U (zh) 一种智能散热电子镇流器
CN210111431U (zh) 一种智能控制的恒温恒湿控制箱
CN207183214U (zh) 一种双玻组件在线绝缘耐压测试工装
CN211152408U (zh) 一种终端触发式节能数据采集仪
CN205178336U (zh) 一种ups输入输出配电柜
CN210690627U (zh) 一种信号采集控制器
CN208284988U (zh) 一种防爆型静电溢流保护器
CN107589711A (zh) 一种plc自动控制柜
CN204330968U (zh) 基于plc的igbt集成模块测试装置
CN206573875U (zh) 一种基于安卓客户端的家电智能控制***

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20191011