CN204807860U - 液晶显示面板的测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种液晶显示面板的测试装置，其包括用于对前端设备输出的图像信号进行解码的解码器；用于对解码器解码后的数据进行处理的第一处理器，第一处理器与解码器连接；用于存储第一数据的存储器；用于根据第一处理器处理后的第二数据读取存储器中的第一数据的第二处理器，第二处理器与第一处理器以及存储器连接；以及用于输出测试信号至液晶显示面板的编码器；编码器与液晶显示面板、第一处理器以及第二处理器连接。其中，第一数据包括液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数，第二数据包括驱动芯片的时序参数。本实用新型的液晶显示面板的测试装置可确保液晶显示面板的正常测试，且无需重新烧录程序，操作方便、成本低。

Description

液晶显示面板的测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，特别涉及一种液晶显示面板的测试装置。

背景技术

液晶显示装置(LiquidCrystalDisplay，LCD)具备轻薄、节能、无辐射等诸多优点，因此已经逐渐取代传统的阴极射线管(CRT)显示器。目前液晶显示装置被广泛地应用于高清晰数字电视、台式计算机、个人数字助理(PDA)、笔记本电脑、移动电话、数码相机等电子设备中。

对于液晶显示装置的测试来说，中大尺寸的液晶显示装置的信号输入接口已经标准化，其可以与前端设备例如光学测试机台的输出接口进行匹配，以接收光学测试机台输出的低电压差分信号(LowVoltageDifferentialSignaling，LVDS)。但是，对于移动产业处理器接口(MobileIndustryProcessorInterface，MIPI)的小尺寸液晶显示装置来说，液晶显示装置接收光学测试机台输出的LVDS信号时，必须对LVDS信号进行进一步处理，使其与MIPI接口匹配，进而获取光学测试机台输出的LVDS信号。此外，小尺寸的液晶显示装置在进行测试时，必须对液晶显示装置的驱动芯片(DriverIC)进行参数配置，也就是说，液晶显示装置需要接收到DriverIC的配置参数，将DriverIC配置完善后即可接收到前端设备输出的图像信号。

图1为现有技术中小尺寸液晶显示装置的测试装置模块示意图。如图1所示，该测试装置包括LVDS解码器12、现场可编程门阵列(Field－ProgrammableGateArray，FPGA)14、单片机(MCU)16以及MIPI编码器18。其中，单片机16中烧录有液晶显示装置的DriverIC的配置参数，该配置参数包括初始化配置参数与时序参数，单片机16将配置参数发送至MIPI编码器18，由MIPI编码器18对其进行编码以转换为MIPI信号.进而将转换后的MIPI信号发送至后端的液晶显示装置，对液晶显示装置的DriverIC进行参数配置，液晶显示装置再接收到光学测试机台10输出的图像信号，进而实现液晶显示装置的测试。

然而，由于液晶显示装置的DriverIC中的时序参数由烧录到单片机16中的程序而定，而光学测试机台10中图像信号的时序参数来自光学测试机台10，当光学测试机台10设置的图像信号的时序参数与烧录到单片机中的程序时序参数不一致时，将会造成液晶显示装置无法进行正常的测试，甚至不能点亮液晶显示面板。此外，液晶显示装置的DriverIC的初始化配置参数也由烧录到单片机16中的程序而定，当需要测试不同机种或不同尺寸的液晶显示装置时，需要重新将初始化配置参数烧录到单片机16中，效率低下，操作复杂，不便于不同机种的液晶显示装置的测试，且烧录次数增加可能会造成单片机16的损坏，增加了成本。

因此，有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。

实用新型内容

鉴于以上问题，本实用新型提供一种液晶显示面板的测试装置，其可确保液晶显示面板的正常测试，且操作方便、成本低。

本实用新型提供一种液晶显示面板的测试装置，所述测试装置包括用于对前端设备输出的图像信号进行解码的解码器；用于对所述解码器解码后的数据进行处理的第一处理器，所述第一处理器与所述解码器连接；用于存储第一数据的存储器；用于根据所述第一处理器处理后的第二数据读取所述存储器中的第一数据的第二处理器，所述第二处理器与所述第一处理器以及所述存储器连接；以及用于输出测试信号至液晶显示面板的编码器；所述编码器与液晶显示面板、所述第一处理器以及所述第二处理器连接，其中，所述第一数据包括液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数，所述第二数据包括所述驱动芯片的时序参数。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的第一数据包括至少一种液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的第二数据还包括像素时钟信号、行同步信号、场同步信号、数据使能信号以及像素信号。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的解码器为低电压差分信号解码器。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的编码器为移动产业处理器接口信号编码器。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的第一处理器为现场可编程门阵列。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的第二处理器为进阶精简指令集微处理器。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的第二处理器与所述编码器、所述存储器之间的通信方式为串行通信。

本实用新型的液晶显示面板的测试装置利用第一处理器将前端设备输出的信号进行处理，再将处理后的包括液晶显示面板驱动芯片的时序参数的第二数据发送至第二处理器，使得驱动芯片的时序参数与前端设备的参数一致，并且第二处理器根据该第二数据读取存储器中存储的驱动芯片的初始化配置参数，进而再将该第二数据与初始化配置参数进行编码，以输出至液晶显示面板，确保了液晶显示面板可以正常进行测试。此外，将初始化参数存储在存储器中，对不同机种的液晶显示面板的驱动芯片进行初始化设置时，只需读取存储器中存储的数据即可，无需重新进行驱动IC程序的烧录，操作方便且成本低。

附图说明

图1为现有技术中小尺寸液晶显示装置的测试装置模块示意图。

图2为本实用新型一实施例所提供的液晶显示面板的测试装置模块示意图。

图3为本实用新型的一实施例所提供的液晶显示面板的测试装置的时序参数的时序示意图。

具体实施方式

为更进一步阐述本实用新型为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的液晶显示面板的测试装置其具体实施方式、方法、步骤、结构、特征及功效，详细说明如后。

有关本实用新型的前述及其他技术内容、特点与功效，在以下配合参考图式的较佳实施例的详细说明中将可清楚的呈现。通过具体实施方式的说明，当可对本实用新型为达成预定目的所采取的技术手段及功效得以更加深入且具体的了解，然而所附图式仅是提供参考与说明之用，并非用来对本实用新型加以限制。

请参考图2，图2为本实用新型一实施例所提供的液晶显示面板的测试装置100模块示意图。如图2所示，本实用新型的液晶显示面板的测试装置100包括解码器20、第一处理器22、第二处理器24、存储器26以及编码器28。解码器20与第一处理器22连接，第一处理器22与第二处理器24以及编码器28连接，第二处理器24与存储器26以及编码器28连接，编码器28与液晶显示面板连接(图中未标识)。

其中，解码器20接收前端设备例如光学测试机台10输出的图像信号，该图像信号为LVDS信号，光学测试机台10以串行输出的方式输出该LVDS信号，解码器20接收该LVDS信号，并对其进行解码，以将LVDS信号转换为晶体管－晶体管逻辑(Transistor－TransistorLogic，TTL)电平信号。其中，解码后的数据包括图像的红(Red，R)色像素信息、绿(Green，G)色像素信息、蓝(Blue，B)色像素信息，并且还包括图像的行同步信号(HorizontalSynchronizingSignal，HSYNC或HS)、场同步信号(VerticalSynchronizingSignal，VSYNC或VS)、像素时钟(PixelClock，PCLK)信号以及数据使能(DataEnable，DE)信号，由于光学测试机台10与解码器20之间采用串行通信方式进行通信，因此解码器20接收到的R、G、B像素信息分别为奇通道R、G、B像素信息和偶通道R、G、B像素信息。

解码器20将解码后的数据以并行通信的方式发送至第一处理器22，第一处理器22接收解码后的数据，并对解码后的数据进行整合、侦测以得到第二数据。进一步地，第一处理器22将奇通道的R、G、B像素信息与偶通道的R、G、B像素信息整合为一个奇偶交错的完整的R、G、B像素信息，且以接收到的PCLK信号作为时钟参考，分别对HS信号、VS信号以及DE信号进行采样，以侦测出液晶显示面板的驱动芯片的时序参数。在本实施方式中，该第二数据包括上述的时序参数。

第一处理器22将时序参数发送至第二处理器24，第二处理器24根据第一处理器22发送的该时序参数读取存储在存储器26中的第一数据，并将该第一数据与该时序参数发送至编码器28，编码器28将该第一数据与该时序参数进行编码，以将编码后的MIPI信号数据发送至液晶显示面板。此外，编码器28还接收第一处理器22发送的为TTL格式的图像信号的R、G、B像素信息、HS信号、VS信号以及DE信号，并且将该些信号发送至液晶显示面板。需要说明的是，在本实施方式中，第一数据包括液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数。液晶显示面板根据编码器28发送的初始化配置参数对驱动芯片进行初始化，并根据时序参数对编码器28发送的图像信号进行显示，以实现液晶显示面板的测试。

在本实用新型的较佳实施方式中，液晶显示面板测试装置的第一数据包括至少一种液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数。

在本实用新型的一实施方式中，第一数据为一种液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数，也就是说，第一数据为分辨率既定的一种液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数。当存储器26中只存储一种液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数时，若要进行不同机种的液晶显示器的驱动芯片的初始化设置，只需将存储器26进行更换，而无需重新烧录程序，降低了由于频繁烧录程序造成处理器损坏而带来的损失，成本低。

在本实用新型的另一实施方式中，第一数据为多种液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数。也就是说，第一数据中包括了不同的液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数。当对不同的液晶显示面板的驱动芯片进行初始化设置时，第二处理器24只需读取存储器26中存储的不同的液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数即可，无需对存储器26进行更换，操作方便。

在本实用新型的一实施方式中，第二数据还包括PCLK信号、HS信号、VS信号、DE信号以及R、G、B像素信号。

在本实用新型的一实施方式中，解码器20为LVDS信号解码器。

在本实用新型的一实施方式中，编码器28为MIPI信号编码器。

在本实用新型的一实施方式中，第一处理器22为FPGA。

在本实用新型的一实施方式中，第二处理器24为进阶精简指令集(AdvancedRISCMachine，ARM)微处理器。

在本实用新型的一实施方式中，液晶显示面板测试装置中的第二处理器24与编码器28、存储器26之间的通信方式为串行通信。

上述针对液晶显示面板的测试装置100做了详细的描述，现在结合图3来具体说明第一处理器22如何侦测液晶显示面板的驱动芯片的时序参数。请参考图3，图3为本实用新型的一实施例所提供的液晶显示面板的测试装置100的时序参数的时序示意图。假设，光学测试机台10输出的图像信号刷新频率为60HZ，即每秒切换60帧画面，如图3所示，每帧的起始点到下一帧的起始点为VS信号的一个周期，每个VS信号的周期包含场同步信号宽度(VerticalSynchronizingSignalWide，VSW)、场前空白(VerticalForwardPorch，VFP)区域、场后空白(VerticalBlackPorch，VBP)区域以及场有效(VerticalACTIVE，VACTIVE)区域。每一个VACTIVE区域内包括n个HS信号周期，n等于分辨率的行数，也就是说，当液晶显示器的分辨率为1024*768时，n的数目为768。每个HS信号的周期内包含行同步信号宽度(HorizontalSynchronizingSignalWide，HSW)、行前空白(HorizontalForwardPorch，HFP)区域、行后空白(HorizontalBlackPorch，HBP)以及行有效(HorizontalACTIVE，HACTIVE)区域。此外，在VACTIVE区域内的每个行HS信号周期对应一个DE信号，只有当DE信号有效时，液晶显示面板的当前行的栅极打开，每一个PCLK传送一个数据，在DE信号有效的时间内完成一行数据的传送。

具体地，第一处理器22侦测到的上述VSW、VFP、VBF、VACTIVE、HSW、HFP、HBP、HACTIVE等信号的高电平均为1，低电平均为0。第一处理器22将接收到的PCLK信号作为VS信号、HS信号以及DE信号的参考时钟，以侦测VSW、VFP、VBP、VACTIVE、HSW、HFP、HBP、HACTIVE等参数，并将VSW、VFP、VBP、VACTIVE、HSW、HFP、HBP、HACTIVE等参数存储在其内部的寄存器中。

第一处理器22在侦测到每个HS信号的上升沿开始PCLK信号计数，并且到下一个HS上升沿时结束PCLK信号计数，所得的PCLK信号数作为HS信号的周期。在HS信号的一个周期内，当第一处理器22接收到HS信号上升沿时开始计数，到HS信号下降沿时结束计数，计数得到的PCLK信号的上升沿个数为参数HSW；第一处理器22侦测第一次接收到的DE信号的上升沿与距离该上升沿最近的HS信号的下降沿之间的的PCLK信号数，并将该PCLK信号数作为参数HBP；第一处理器22侦测接收到DE信号的下降沿与距离该下降沿最近的HS信号的上升沿之间的PCLK信号数，并将该PCLK信号数作为参数HFP；第一处理器22侦测一个DE信号的上升沿与下降沿之间的PCLK信号数，并将该PCLK信号数作为参数HACTIVE。

进一步地，第一处理器22从接收到的VS信号的上升沿开始计数，到该VS信号的下降沿时结束计数，其间包含的HS信号数作为参数VSW；第一处理器22侦测第一次接收到的DE信号的上升沿最近的VS信号的下降沿到该DE信号的上升沿前面最近的HS信号的上升沿之间的HS信号数，并将该信号数作为参数VBP；第一处理器22侦测到VS信号的再一次上升沿到前面最近一次DE信号的下降沿之间的HS信号数作为参数VFP；在一个VS信号的周期内，第一处理器22侦测到第一个DE信号的上升沿前的HS信号上升沿时开始计数，到最后一个DE信号的下降沿后的HS信号的上升沿时结束计数，这之间的HS信号数作为参数VACTIVE。

综上所述，液晶显示面板的测试装置100在测试过程中，液晶显示面板的驱动芯片的时序参数可通过第一处理器22侦测前端设备发出的图像信号的时序来得到，若更改前端设备的图像信号的时序，则可以同步地得到液晶显示面板的驱动芯片的时序参数，进而使得液晶显示面板的驱动芯片的时序参数与前端设备的信号时序一致。

本实用新型的液晶显示面板的测试装置100利用第一处理器22将前端设备输出的信号进行处理，再将处理后的包括液晶显示面板驱动芯片的时序参数的第二数据发送至第二处理器24，使得驱动芯片的时序参数与前端设备的参数一致，并且第二处理器22根据该第二数据读取存储器26中存储的驱动芯片的初始化配置参数，进而再将该第二数据与初始化配置参数进行编码，以输出至液晶显示面板，确保了液晶显示面板可以正常进行测试。此外，将初始化参数存储在存储器26中，对不同机种的液晶显示面板的驱动芯片进行初始化设置时，只需读取存储器中26存储的数据即可，无需重新进行程序的烧录，操作方便且成本低。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (8)

1.一种液晶显示面板的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：

用于对前端设备输出的图像信号进行解码的解码器；

用于对所述解码器解码后的数据进行处理的的第一处理器，所述第一处理器与所述解码器连接；

用于存储第一数据的存储器；

用于根据所述第一处理器处理后的第二数据读取所述存储器中的第一数据的第二处理器，所述第二处理器与所述第一处理器以及所述存储器连接；以及

用于输出测试信号至液晶显示面板的编码器；所述编码器与液晶显示面板、所述第一处理器以及所述第二处理器连接；

其中，所述第一数据包括液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数，所述第二数据包括所述驱动芯片的时序参数。

2.根据权利要求1所述的液晶显示面板的测试装置，其特征在于，所述第一数据包括至少一种液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数。

3.根据权利要求1所述的液晶显示面板的测试装置，其特征在于，所述第二数据还包括像素时钟信号、行同步信号、场同步信号、数据使能信号以及像素信号。

4.根据权利要求1所述的液晶显示面板的测试装置，其特征在于，所述解码器为低电压差分信号解码器。

5.根据权利要求1所述的液晶显示面板的测试装置，其特征在于，所述编码器为移动产业处理器接口信号编码器。

6.根据权利要求1所述的液晶显示面板的测试装置，其特征在于，所述第一处理器为现场可编程门阵列。

7.根据权利要求1所述的液晶显示面板的测试装置，其特征在于，所述第二处理器为进阶精简指令集微处理器。

8.根据权利要求1所述的液晶显示面板的测试装置，其特征在于，所述第二处理器与所述编码器、所述存储器之间的通信方式为串行通信。