CN203432511U - 一种测量阴球、阳球体表面划痕深度的量具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种测量阴球、阳球体表面划痕深度的量具，旨在提供一种能能够采用正交测量方法测量阴球、阳球体表面划痕深度的量具。本实用新型包括测量杆、测量基座、紧定螺钉，测量基座为底部开口的凹形圆筒体，测量基座设有轴向圆心孔，百分表测量杆穿过轴向圆心孔安装在测量基座上，测量基座筒体侧面上部开径向螺纹孔直至轴向圆心孔，紧定螺钉安装在径向螺纹孔内。该实用新型结构简单，操作方便，测量效率和精度高，易于实现。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种量具，特别涉及一种测量阴球、阳球体表面划痕深度测量的量具。
背景技术
当被测实体为平面时，利用正交的测量方法测量实体的划痕深度是不难实现的，但对于球面的划痕深度如何实现正交测量，常规测量工具难以实现。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种能够采用正交测量方法测量阴球、阳球体表面划痕深度的量具。
为解决存在的技术问题，本实用新型采用的技术方案是，测量阴球、阳球体表面划痕深度的量具包括测量杆、测量基座、紧定螺钉，所述基座为底部开口的凹形圆筒体，测量基座设有轴向圆心孔，测量杆穿过轴向圆心孔安装在测量基座上，测量基座筒体侧面上部开径向螺纹孔直至轴向圆心孔，紧定螺钉安装在径向螺纹孔内。所述测量杆采用百分表或标尺或游标卡尺或旋转千分尺，根据测量精度进行选择，为提高测量精度，所述测量杆底端为锥体。
当基座底面与测量杆接触校准球面时，基座底面与测量接触点在同一弧面内，且基座底面与测量接触点组成的弧面与校准球面同弧面；测量杆底面接触校准球面时，测量杆底面的接触点在同一弧面内，测量杆底面与校准球面的接触点组成的弧面和基座底面与校准球面的接触点组成的同一弧面，且测量杆底面轴心线与基座垂线和基座底面与校准球面的接触点组成的平面中心垂线重合。
本实用新型的有益效果：本实用新型引用了齿轮传递的测量原理直接测量球面的划痕深度差，解决了关于球面划痕深度的测量难题，解决了球面划痕深度的任意情况下正交的测量方法，将三维复杂形状的测量，简化为两维的直接测量，同时该实用新型结构简单，操作方便，测量效率和精度高。
附图说明
图1是测量阴阳球体表面划伤的量具的结构视图，其中1为测量杆、2为测量基座、3为紧固螺钉；
图2是阳球“零位”校准和测量示意图，其中4为被测阳球工件；
图3是阴球“零位”校准和测量示意图，其中5为被测阴球工件。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明做进一步说明：
图1所示，测量阴球、阳球体表面划痕深度的量具包括百分表测量杆(1)、测量基座(2)、紧定螺钉(3)，测量基座(2)为底部开口的凹形圆筒体，测量基座(2)设有轴向圆心孔，百分表测量杆(1)穿过轴向圆心孔安装在测量基座(2)上，测量基座(2)筒体侧面上部开径向螺纹孔直至轴向圆心孔，紧定螺钉(3)安装在径向螺纹孔内，百分表测量杆(1)底端为锥体。
图2、图3所示，利用本实用新型测量阴球、阳球表面划伤深度时使用的具体步骤：首先，将测量阴球或阳球表面划伤深度的量具放置在被测工件(4)或被测工件(5)上的球面内，使测量基座(2)底面圆弧棱边接触被测工件(4)的校准球面或被测工件(5)的校准球面，调节百分表测量杆(1)接触到校准球面后锁紧紧定螺钉(3)，并将百分表测量杆(1)上指示表的零位进行归零，此时百分表测量杆(1)底端、测量基座(2)底端已构建成一个初始理想球体；然后将测量阴球或阳球表面划伤深度的量具在被测球体表面进行移动，保持百分表测量杆(1)、测量基座(2)底面圆弧棱边良好接触被测工件(4)的校准球面或被测工件(5)的校准球面，百分表测量杆(1)底端锥体尖端接触到被测工件(4)或被测工件(5)的球面，百分表测量杆(1)上指示表的变化量即为球体表面的划痕深度。
上述是对本实用新型做出的特别描述。对于本领域的技术人员而言，任何不脱离本实用新型的精神的改进及替代都落入本发明的保护范围内。本实用新型的保护范围以其权利要求所限定。
Claims (3)
1.一种测量阴球、阳球体表面划痕深度的量具，其特征是：包括测量杆(1)、测量基座(2)、紧定螺钉(3)，测量基座(2)为底部开口的凹形圆筒体，测量基座(2)设有轴向圆心孔，百分表测量杆(1)穿过轴向圆心孔安装在测量基座(2)上，测量基座(2)筒体侧面上部开径向螺纹孔直至轴向圆心孔，紧定螺钉(3)安装在径向螺纹孔内。
2.根据权利要求1所述的一种测量阴球、阳球体表面划痕深度的量具，其特征在于：测量杆(1)选择百分表或标尺或游标卡尺或旋转千分尺。
3.根据权利要求1所述的一种测量阴球、阳球体表面划痕深度的量具，其特征在于：所述测量杆(1)底端为锥体。
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2013
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