CN203203562U - 激光测厚装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种激光测厚装置，其测量机构跨设于穿带机构，测量机构主要包括两个激光发射器和一个接收器，穿带机构使得被测物体经过测量机构，进行厚度测量；伺服电机连接测量机构，使其可以在导轨上做直线运动，测量被测物体不同点的厚度。两个激光发射器和一个接收器组成的光路，不会因为被测物体振动而造成测量值的不准确。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种线性尺寸测量装置，具体涉及一种激光单接收器的厚度测量装置。
背景技术
现在工业上用来测量电池极片、卷材等材料厚度的测量仪器一般都使用激光测厚仪器，激光测量方法属于非接触式，可以在线测量，实时性能好，应用十分广泛。
现在的激光测厚仪器采用的是上下两条独立光路组成的双光路激光三角法，但这种双光路激光三角法测厚***中上下两个独立的测量***难以同步，使得被测物振动对测量的影响限制了该测厚方法精度的进一步提高。
实用新型内容
本实用新型目的是：提供一种受被测物体振动影响较小的激光厚度测量仪器。
本实用新型的技术方案是：一种激光测厚装置包括测量机构和穿带机构，测量机构跨设于穿带机构；测量机构包括呈C型的支架，所述支架的开口两端装设有两个激光发射器，所述支架的封闭端装设有接收器。
优选的，所述支架设置在导轨上，并且连接有伺服电机。
优选的，所述接收器包括从所述支架的封闭端依次设置同轴的CCD、成像透镜、玻璃片和孔径光阑。
优选的，所述穿带机构包括多个导向辊，所述导向辊的轴心两端铰接支撑架，所述导向辊的两侧分别设有出料装置和收料装置。
优选的，所述激光发射器的发射光路同轴。
本实用新型的优点是：两个激光发射器和接收器组成的光路***，当被测物体振动时，CCD可以同时获得被测物体上下表面的反射光，进行处理，不会因为被测物体的振动而造成数据的不精确；并且伺服电机可以控制支架在导轨上做直线运动，测量不同点的厚度，使数据具有多样性、可比性。
附图说明
下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：
图1为本实用新型实施例的剖视图；
图2为本实用新型实施例的俯视图；
图3辅助说明本实用新型测厚原理的理想光学***成像示意图。
其中：1.支架 2.激光发射器 3.接收器 31.CCD 32.成像透镜 33.玻璃片 34.孔径光阑 4.导轨 5.伺服电机 61.导向辊 62.支撑架 7.出料装置 8.收料装置 9.被测物体。
具体实施方式
实施例：
由图1结合图2所示，呈C型的支架1的开口两端装设有激光发射器2，激光发射器2的发射光路同轴，支架1的封闭端装设有接收器3，支架1设置在导轨4上，并且连接有伺服电机5；接收器3包括从支架1的封闭端依次设置同轴的CCD31、成像透镜32、玻璃片33和孔径光阑34；两个导向辊61分别设立在支架1的两侧，导向辊61的轴心两端铰接支撑架62，被测物体9由出料装置7出料经过导向辊61，由收料装置8收集。
两个激光发射器2和接收器3组成的光路***，不会因为被测物体9的振动而造成测量数值的不精确；伺服电机5可以控制支架1在导轨4上做直线运动，测量不同点的厚度，使数据具有多样性、可比性。
图3为辅助说明本发明测厚原理的理想光学***成像示意图。将经过成像透镜32的光轴且与CCD31感光面垂直的平面设定为参考平面，被测物体9上下表面的光斑可分别视为相对于参考平面上方和下方高度为△h1和△h2的两个物体，在成像透镜32后方所成像的像高分别为h1和h2，由几何光学知识可知：h1=βΔh1，h2=βΔh2，于是有：(h1+h2)=β(Δh1+Δh2)，式中β为成像透镜32的垂轴放大率，(△h1+△h2)为被测物的实际厚度，(h1+h2)为当CCD31上两光斑的距离。对***进行标定后即可通过光斑间距经过计算机计算得到被测物测量厚度。
本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种激光测厚装置，包括测量机构和穿带机构，测量机构跨设于穿带机构，其特征在于：测量机构包括呈C型的支架(1)，所述支架(1)的开口两端装设有激光发射器(2)，所述支架(1)的封闭端装设有接收器(3)。
2.根据权利要求1所述的激光测厚装置，其特征在于：所述支架(1)设置在导轨(4)上，并且连接有伺服电机(5)。
3.根据权利要求1所述的激光测厚装置，其特征在于：所述接收器(3)包括从所述支架(1)的封闭端依次设置同轴的CCD(31)、成像透镜(32)、玻璃片(33)和孔径光阑(34)。
4.根据权利要求1所述的激光测厚装置，其特征在于：所述穿带机构包括多个导向辊(61)，所述导向辊(61)的轴心两端铰接支撑架(62)，所述导向辊(61)的两侧分别设有出料装置(7)和收料装置(8)。
5.根据权利要求1所述的激光测厚装置，其特征在于：所述激光发射器(2)的发射光路同轴。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN 201320214774 CN203203562U (zh) | 2013-04-25 | 2013-04-25 | 激光测厚装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN 201320214774 CN203203562U (zh) | 2013-04-25 | 2013-04-25 | 激光测厚装置 |
Publications (1)
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ID=49147663
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| CN (1) | CN203203562U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107462175A (zh) * | 2017-06-21 | 2017-12-12 | 浙江龙游展宇有机玻璃有限公司 | 一种有机玻璃厚度测试装置及其检测方法 |
| CN107643052A (zh) * | 2017-10-10 | 2018-01-30 | 东莞市嘉仪自动化设备科技有限公司 | 一种薄片材料测厚用光谱共焦检测设备及其检测方法 |
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2013
- 2013-04-25 CN CN 201320214774 patent/CN203203562U/zh not_active Expired - Fee Related
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| CN107643052A (zh) * | 2017-10-10 | 2018-01-30 | 东莞市嘉仪自动化设备科技有限公司 | 一种薄片材料测厚用光谱共焦检测设备及其检测方法 |
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