CN202189063U - 高速高精度模数转换器测试适配器 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供的高速高精度模数转换器测试适配器,包括测试***资源、测试板、测试插座,测试***资源与测试板相连,测试板与测试插座相连,测试***资源包括直流电压源、直流信号测量仪表、数字管脚以及交流信号源;直流电压源、直流信号测量仪表以及数字管脚通过插针与测试板相连,交流信号源通过SMA插座与测试板相连;测试插座和测试板的连接采用顶针式结构,测试插座上设置顶针和自锁弹簧,测试芯片通过该自锁弹簧顶针固定在测试插座上。测试插座与测试板间顶针式结构,减少由于打孔造成的高频信号波形破损,提高了模数转换器的测试精度和速度;测试芯片采取自锁弹簧顶针方式固定在测试插座上,有效的保护了测试芯片,增加了测试可靠性。
Description
[技术领域]
本实用新型涉及测试领域,特别是关于一种高速高精度模数转换器测试适配器。
[背景技术]
现阶段,高速高精度模数转换器测试适配器的测试插座采用固定打孔等直插接触方式,该接触方式使得现有高速高精度模数转换器测试适配器具有信号传输图形易破损、信号易反弹、高频测试精度低,高频测试的频宽窄的缺点,在现有技术中,测试芯片的固定现阶段采取机械压迫方式,被测芯片管脚的刚性压迫大,容易损坏被测芯片。
[发明内容]
本实用新型的目的在于提供一种解决上述问题的高速高精度模数转换器测试适配器,其具有信号传输图形好,信号不反弹,测试精度高的优点。
本实用新型提供的高速高精度模数转换器测试适配器,包括测试***资源、测试板、测试插座,测试***资源与测试板相连,测试板与测试插座相连,测试***资源包括直流电压源、直流信号测量仪表、数字管脚以及交流信号源;测试***资源中的直流电压源、直流信号测量仪表以及数字管脚通过插针与测试板相连,测试***资源中交流信号源通过SMA插座与测试板相连;所述的测试插座和测试板的连接采用顶针式结构。
其中,所述的测试插座上设置顶针和自锁弹簧,测试芯片通过该顶针和自锁弹簧固定在测试插座上。
本实用新型具有以下的优点:
测试插座与测试板的连接采用顶针式结构,可以减少由于打孔造成的高频信号波形破损,信号反弹等问题,大大高频测试的精度,拓展高频测试的频带宽度,提高了模数转换器的测试速度;测试芯片的采取自锁弹簧顶针方式固定在测试插座上,减少测试插座对测试芯片管脚的刚性压迫,大幅降低由于测试连接对测试芯片管脚的损伤,有效的保护了测试芯片,增加了测试可靠性,同时自锁弹簧顶针结构的引入,在保证良好接触的前提下有效的减少了测试芯片管脚与测试插座的接触面积,提高了测试芯片的管脚密度水平。
[附图说明]
图1为本实用新型的高速高精度模数转换器测试适配器连接框图。
[具体实施方式]
为更进一步阐述本发明为达成预定目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例,对依据本实用新型提出的高速高精度模数转换器测试适配器,其具体实施方式、结构、特征及其功效,说明如后。
本实用新型提供的高速高精度模数转换器测试适配器,如图1所示,包括测试***资源1、测试板2、测试插座3。高速高精度模数转换器的测试包括精度测试、信噪比测试、功耗测试、数字管脚测试等。测试***资源1包括直流电压源、直流信号测量仪表、数字管脚以及交流信号源。测试***资源1为高速高精度模数转换器测试适配器提供如下必需资源条件:一、满足转换器工作需要的可变直流电压源;二、直流信号测量仪表;三、可调频调幅的交流信号源,四、足够数量的数字管脚。所述的测试***资源1与测试板2相连,测试板2与测试插座3相连,测试芯片4为被测的高速高精度模数转换器,该芯片4与测试插座3相连。
其中,测试***资源1中的直流电压源、直流信号测量仪表以及数字管脚通过插针与测试板2相连,测试***资源1中交流信号源通过SMA插座(SMA为英文SMALL简写,SMA插座为一种微波高频连接器)与测试板2相连,如图1中,a代表测试***资源1与测试板2的插针连接方式,b代表测试***资源1与测试板2的SMA插座连接方式。
所述的测试插座3和测试板2的连接采用顶针式结构,该顶针式连接结构对比现阶段测试插座3打孔固定在测试板2的连接方式,可以减少由于打孔造成的高频信号波形破损,信号反弹等问题,大大高频测试的精度,拓展高频测试的频带宽度。
所述的测试插座3上设置顶针和自锁弹簧,测试芯片4通过该顶针和自锁弹簧固定在测试插座3上,此种固定方式对比现有机械压迫方式可以减少测试插座3对测试芯片4管脚的刚性压迫,大幅降低由于测试连接对测试芯片4管脚的损伤,有效的保护了测试芯片4,同时自锁弹簧顶针方式的引入,在保证测试芯片4和测试插座3良好接触的前提下有效的减少了测试芯片4管脚与测试插座的3接触面积,提高了测试芯片4的管脚密度水平。
测试插座3与测试板2的连接采用顶针式结构,可以减少由于打孔造成的高频信号波形破损,信号反弹等问题,大大高频测试的精度,拓展高频测试的频带宽度,提高了模数转换器的测试速度;测试芯片4的采取自锁弹簧顶针方式固定在测试插座3上,减少测试插座3对测试芯片4管脚的刚性压迫,大幅降低由于测试连接对测试芯片4管脚的损伤,有效的保护了测试芯片4,增加了测试可靠性,同时自锁弹簧顶针结构的引入,在保证良好接触的前提下有效的减少了测试芯片4管脚与测试插座3的接触面积,提高了测试芯片4的管脚密度水平。
在此说明书中,本发明已参照其特定的实施例作了描述,但是,很显然仍可以做出各种修改和变换而不背离本发明的精神和范围。因此,本发明的说明书和附图被认为是说明性的而非限制性的。
Claims (2)
1.高速高精度模数转换器测试适配器,包括测试***资源、测试板、测试插座,测试***资源与测试板相连,测试板与测试插座相连,其特征在于,测试***资源包括直流电压源、直流信号测量仪表、数字管脚以及交流信号源;测试***资源中的直流电压源、直流信号测量仪表以及数字管脚通过插针与测试板相连,测试***资源中交流信号源通过SMA插座与测试板相连;所述的测试插座和测试板的连接采用顶针式结构。
2.如权利要求1所述的高速高精度模数转换器测试适配器,其特征在于,所述的测试插座上设置顶针和自锁弹簧,测试芯片通过该顶针和自锁弹簧固定在测试插座上。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2011203141728U CN202189063U (zh) | 2011-08-26 | 2011-08-26 | 高速高精度模数转换器测试适配器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN2011203141728U CN202189063U (zh) | 2011-08-26 | 2011-08-26 | 高速高精度模数转换器测试适配器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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CN202189063U true CN202189063U (zh) | 2012-04-11 |
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ID=45920505
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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CN2011203141728U Expired - Lifetime CN202189063U (zh) | 2011-08-26 | 2011-08-26 | 高速高精度模数转换器测试适配器 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN202189063U (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102759674A (zh) * | 2012-07-20 | 2012-10-31 | 航天科工防御技术研究试验中心 | 一种用于测试光耦的通用适配器 |
CN110514870A (zh) * | 2019-08-13 | 2019-11-29 | 中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所 | 一种硅摆加速度计信号调理装置及*** |
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2011
- 2011-08-26 CN CN2011203141728U patent/CN202189063U/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN102759674A (zh) * | 2012-07-20 | 2012-10-31 | 航天科工防御技术研究试验中心 | 一种用于测试光耦的通用适配器 |
CN110514870A (zh) * | 2019-08-13 | 2019-11-29 | 中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所 | 一种硅摆加速度计信号调理装置及*** |
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Legal Events
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C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
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Granted publication date: 20120411 |
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CX01 | Expiry of patent term |