CN1979198A - 输入/输出板的测试***及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种输入/输出板的测试***，该***包括：一计算机，用于向待测的输入/输出板提供进行测试的控制信号；一测试治具，用于将该计算机与该待测的输入/输出板连接起来；所述计算机包括一测试模块，用于测试该输入/输出板中的电可擦除可编程只读存储器芯片。本发明还提供一种输入/输出板的测试方法。本发明根据待测产品的特性，配合使用专用测试治具，对待测产品进行测试，测试成本低，且操作简单、实用。
Description
【技术领域】
本发明涉及一种印刷电路装配板的测试***及方法，尤其涉及一种输入/输出板的测试***及方法。
【背景技术】
刀片服务器是一种高密度的新型服务器，它由多个独立处理组件构成，这些处理组件外形纤薄，可以热插拔，所以人们形象的称这种服务器为“刀片服务器”。刀片服务器在当前的企业数据中心正被快速的应用，和传统机座式安装方式相比，刀片服务器能大幅减少机架空间、功率消耗与管理费用。
应用于刀片服务器中的输入/输出板是一种印刷电路装配(PrintedCircuit Board Assembly，简称PCBA)板，用于为刀片服务器提供若干端口，如USB端口、光驱端口、软驱端口等，同时为***提供一些指示信息，比如信息出错，压力超高报警等。PCBA板是依电路设计，将连接电路零件的电气布线绘制成布线图形，然后再以设计所指定的机械加工、表面处理等方式，在绝缘体上使电气导体重现所构成的电路板上装贴上所需的设备元件。
由于产线生产出来的输入/输出板会因为某些原因而导致其质量不合格，因此需要对其进行测试，以保证其质量。在以前的测试方法中，往往是通过将产线生产出来的输入/输出板直接安装到刀片服务器中，再通过相关操作来检验其功能的好坏，这样一来，当大批量测试时，所述刀片服务器就很容易损坏，无形中增加了测试成本，而且，测试过程完全是由测试人员来控制进行，其效率很低，且增加了人力成本。
【发明内容】
鉴于以上内容，有必要提供一种输入/输出板的测试***，其利用一计算机提供的控制信号通过一测试治具测试输入/输出板及其所连接的设备元件功能是否正常。
鉴于以上内容，还有必要提供一种输入/输出板的测试方法，其利用一计算机提供的控制信号通过一测试治具测试输入/输出板及其所连接的设备元件功能是否正常。
一种输入/输出板的测试***。该***包括：一计算机，用于向待测的输入/输出板提供进行测试的控制信号；一测试治具，用于将该计算机与该待测的输入/输出板连接起来；所述计算机包括一测试模块，用于测试该输入/输出板中的电可擦除可编程只读存储器芯片。
进一步地，所述的控制信号包括：通用串行总线信号、打印口信号及内部集成电路总线信号。
进一步地，所述的计算机包括一打印口、一全***管理总线及一通用串行总线端口。
进一步地，所述的测试治具包括一通用串行总线端口、一全***管理总线端口、一打印口、一电源端口及一输入/输出板连接端口，分别通过一电缆线与计算机中的通用串行总线端口、全***管理总线端口、打印口、电源端口及输入/输出板相连接，以将计算机中的控制信号转换成输入/输出板所对应的信号。
进一步地，所述测试模块还用于测试与该输入/输出板连接的光驱、软驱、通用串行总线盘及该输入/输出板上的发光二极管指示灯。
一种输入/输出板的测试方法，该输入/输出板的测试方法包括以下步骤：(a)对计算机进行端口模式修改及测试设置；(b)通过一测试治具连接该计算机与待测输入/输出板；(c)该计算机利用打印口控制信号检测该输入/输出板的待测状态；(d)利用该计算机的打印口控制信号打开该输入/输出板的内部集成电路总线设备的电源，使此内部集成电路总线处于工作状态；(e)逐一选择数据传输电路以进行该输入/输出板的测试；(f)获取计算机的内部集成电路总线信号测试该输入/输出板中的电可擦除可编程只读存储器芯片。
进一步地，所述的测试电可擦除可编程只读存储器芯片的步骤包括：(f1)读取标准的电可擦除可编程只读存储器芯片数据；(f2)对读取的标准电可擦除可编程只读存储器芯片数据进行修改；(f3)读取待测电可擦除可编程只读存储器芯片记录的数据；(f4)将修改后的标准电可擦除可编程只读存储器芯片数据与待测电可擦除可编程只读存储器芯片记录的数据进行比对，判断是否相同。
相较于现有技术，所述的输入/输出板的测试***及方法利用工控PC(Personal Computer)提供的内部集成电路总线以及打印口等特殊功能，直接从PC中引出与待测产品对应的通用串行、内部集成等总线信号以及控制信号对待测产品进行控制，再配合使用专用的治具及软件就可以对待侧产品进行功能性测试，测试成本低，且操作简单、实用。
【附图说明】
图1是本发明输入/输出板的测试***较佳实施例的硬件架构图。
图2是本发明测试模块的子功能模块图。
图3是本发明输入/输出板的测试方法较佳实施例的作业流程图。
图4是本发明输入/输出板的测试方法较佳实施例中测试EEPROM芯片的流程图。
【具体实施方式】
为了便于理解，针对本发明涉及的专业术语作如下解释：
EEPROM：Electrically Erasable&Programmable ROM，电可擦除可编程只读存储器；
LPT：打印口；
I2C Bus：Inter-Integrated Circuit Bus，内部集成电路总线；
SMBus：System Management Bus，全***管理总线，是I2C Bus的子集；
SFC：Shopping Floor Control，一种生产管理服务器；
USB：Universal Serial Bus，通用串行总线；
LED：Light-emitting Diode，发光二极管；
PCB：Printed Circuit Board，印刷电路板。
参阅图1所示，是本发明输入/输出板的测试***较佳实施例的硬件架构图，该硬件架构包括：一计算机1，一测试治具2、一待测的输入/输出板3及一SFC服务器4。其中，计算机1用于向待测的输入/输出板3提供控制信号，以及将测试结果通过显示屏幕(未图示)显示出来；测试治具2用于将计算机1与待测的输入/输出板3连接起来，该测试治具2一侧与计算机1的各个端口相连接，另一侧与待测的输入/输出板3相连，将计算机1中的控制信号传送到待测的输入/输出板3中；SFC服务器4是通过一局域网适配器14与计算机1相连，用于存储标准的EEPROM芯片数据，检测产品的路由，以确定该待测的输入/输出板3是否已经完成测试，并且将测试后的结果导入到该SFC服务器4的数据库中。
其中，所述的计算机1包括：至少一个USB端口10，用于提供USB信号，以读取待测输入/输出板3上连接的资料存储装置，如光驱41、软驱43、U盘42等；一SMBus 11，用于向待测的输入/输出板3提供I2C信号，用来控制待测输入/输出板3上的I2C设备，如输入/输出板内置芯片30、LED指示灯34等，该输入/输出板内置芯片30包括压力传感芯片、EEPROM芯片等；一LPT 12，用于提供控制信号，用来对待测的输入/输出板3进行控制，如检测待测输入/输出板3的存在性、打开待测输入/输出板3的I2C设备电源；一电源13，用于向待测输入/输出板3提供电源，此电源最佳值为12V；所述局域网适配器14，用于连接SFC服务器4；一测试模块15，用于对待测输入/输出板3进行功能测试。本实施例以测试EEPROM芯片为例进行输入/输出板内置芯片30的测试说明。
其中，所述的测试治具2采用4层PCB设计，其包括一USB端口、一SMBus端口、一LPT、一电源端口及一输入/输出板连接端口，分别通过一电缆线与计算机1中的USB端口10、SMBus端口11、LPT 12、电源端口13及输入/输出板3相连接，以将计算机1中的控制信号转换成输入/输出板3所对应的信号。
其中，待测的输入/输出板3所包括的需要测试的元件有：EEPROM芯片，用于记录输入/输出板3的数据，该数据包括标识数据(例如：生产日期、厂商名称等)、参数数据(例如：硬件的烧录数据)等，当记录的输入/输出板3的数据出现错误时，会使相应的指示灯闪烁以提出***出错警告；一光驱端口31，用于连接所述光驱41；一USB端口32，用于连接所述U盘42；及一软驱端口33，用于连接所述软驱43；及五个LED指示灯34，该LED指示灯34包括：电源指示灯、***出错指示灯等，用于提示电源状态、及***出错等信息，如通电时，电源指示灯会保持灯亮的状态，以及当***出错时，相应的指示灯会闪烁以提示操作者。
参阅图2所示，是本发明测试模块的子功能模块图。该测试模块15包括一获取子模块151，用于获取计算机1的控制信号，包括USB信号，I2C Bus信号及LPT控制信号等；一测试子模块152，用于利用所述获取子模块151获取到的控制信号对输入/输出板3及其所连接的设备元件进行功能测试，其中，需测试的设备元件包括所述EEPROM芯片、所述光驱41、所述U盘42、所述软驱43及所述LED指示灯34；及一判断子模块153，用于判断输入/输出板3及其所连接的设备元件功能是否正常；一存储子模块154，用于将测试结果存储到SFC服务器4中；及一结果报告子模块155，用于报告测试结果。
进一步的，所述的判断子模块153还用于判断是否所有通道都已选择完毕，判断是否从SFC服务器4中得到确认信息，及判断标准的EEPROM芯片数据与当前EEPROM芯片记录的数据是否相同。
其中，所述的通道是指各种设备之间进行数据传输的电路，其分为A通道及B通道。所述A通道与B通道功能相同，各自独立工作，在一个特定的时刻，只有一个通道在工作，另一通道作为备用通道，而当一个通道出现故障的时候，***会自动切换到另外一个通道进行数据传输。
参阅图3所示，是本发明输入/输出板的测试方法较佳实施例的流程图。在测试之前，使用者需要进行的操作包括：在BIOS(Basic InputOutput System，基本输入输出***)菜单里修改打印口模式为：EPP1.9，禁止安装软驱及光驱，且禁止计算机1的U盘、光驱自动运行。于步骤S10中，该使用者对测试的相关设备利用电缆线进行连接，包括计算机1与测试治具2进行连接，测试治具2与输入/输出板3进行连接，以及将输入/输出板3上的各端口连接上相关的设备，包括光驱41、软驱43及U盘42等。于步骤S11中，计算机1通过网络与SFC服务器4通信，用户将待测输入/输出板3的序列号传送到SFC服务器4，接受产品路由检测，以确定该产品是否已经完成测试，若已经完成测试，则更换下一输入/输出板3进行测试；于步骤S12中，计算机1通过LPT控制信号检测待测输入/输出板3是否存在，即计算机1通过LPT控制信号检测待测输入/输出板3的接脚处于高电平或低电平(本实施例设置高电平代表待测输入/输出板3的存在)，若不存在，则结束流程，若存在，则于步骤S13中，计算机1利用所述LPT控制信号打开待测输入/输出板3的I2C设备的电源，使I2C Bus处于工作状态，所述I2C设备包括输入/输出板内置芯片30、LED指示灯34等；于步骤S14中，选择一个通道，该通道是指各种设备之间进行数据传输的电路，其分为A通道或B通道，所述A通道与B通道功能相同，各自独立工作，在一个特定的时刻，只有一个通道在工作，另一通道作为备用通道，而当一个通道出现故障的时候，***会自动切换到另外一个通道进行数据传输；于步骤S15中，获取子模块151获取计算机1的访问USB设备的信号并传送给测试子模块152，对待测输入/输出板3连接的光驱41、软驱43及U盘42进行功能测试，在此步骤中，测试子模块152会自动检测光驱41、软驱43及U盘42是否存在，并且向其中读写数据及验证数据的正确性，并且打开及关闭光驱41的门以供判断子模块153判断其功能是否良好；于步骤S16中，获取子模块151获取计算机1的I2C信号并传送给测试子模块152，测试EEPROM芯片，在此测试过程中，该I2C信号用于从SFC服务器4获取标准的EEPROM芯片数据，及根据当前EEPROM芯片的I2C地址和I2C协议读取当前输入/输出板3中的EEPROM芯片记录的数据，该I2C协议规定了硬件的访问标准、读取方式等；又于步骤S17中，测试子模块152利用所述获取的I2C信号，测试LED指示灯34，在此测试的过程中，测试子模块152首先测试控制电源的指示灯，若在上电时电源灯保持灯亮的状态，则判断子模块153判断其功能良好，否则判断其功能异常，测试子模块152测试其余四灯时，若其闪烁和熄灭状况良好，则判断子模块153确定其功能正常，否则其功能异常；于步骤S18中，判断子模块153判断是否所有的通道都选择完毕；若所有通道都选择完毕，则于步骤S19中，将测试结果保存到计算机1中的一日志文件中；于步骤S20中，将测试结果传送到SFC服务器4中；于步骤S21中，判断子模块153判断是否从SFC服务器4中获取确认信息，以确认存储子模块154是否已经将测试结果存储到SFC服务器4的数据库中；若存储子模块154已经将测试结果存储到SFC服务器4中，则于步骤S22中，结果报告子模块155显示测试结果。
进一步的，于步骤S18中，若有通道没有选择，则转入步骤S14，继续选择通道进行测试。
进一步的，于步骤S21中，若未得到SFC服务器4的确认信息，则于步骤S23中显示网络连接错误信息，并于步骤S22中由结果报告子模块155显示测试结果。
参阅图4所示，是本发明输入/输出板的测试方法较佳实施例中测试EEPROM芯片的流程图。于步骤S160中，获取子模块151从SFC服务器4获取标准的EEPROM芯片数据；于步骤S161中，测试子模块152对获取的标准EEPROM芯片数据中的变量数据进行修改，使变量数据与当前输入/输出板3相对应，该变量数据不是固定的，不同输入/输出板3对应的变量数据是不同的，例如：输入/输出板3的序列号、硬件的烧录时间等；于步骤S162中，获取子模块151根据当前EEPROM芯片的I2C地址和I2C协议读取当前输入/输出板3中的EEPROM芯片记录的数据；于步骤S163中，判断子模块153将修改后的标准EEPROM芯片数据和当前输入/输出板3中的EEPROM芯片记录的数据进行比对，判断两者是否相同；若修改后的标准EEPROM芯片数据和当前输入/输出板3中的EEPROM芯片记录的数据相同，则于步骤S165中，判断子模块153判断EEPROM芯片功能正常；否则，于步骤S164中，判断子模块153判断EEPROM芯片功能异常。
Claims (10)
1.一种输入/输出板的测试***，其特征在于，该***包括：
一计算机，用于向待测的输入/输出板提供进行测试的控制信号；
一测试治具，用于将该计算机与该待测的输入/输出板连接起来；
所述计算机包括一测试模块，用于测试该输入/输出板中的电可擦除可编程只读存储器芯片。
2.如权利要求1所述的输入/输出板的测试***，其特征在于，所述的控制信号包括：通用串行总线信号、打印口信号及内部集成电路总线信号。
3.如权利要求1所述的输入/输出板的测试***，其特征在于，所述的计算机包括一打印口、一全***管理总线及一通用串行总线端口。
4.如权利要求3所述的输入/输出板的测试***，其特征在于，所述的测试治具包括一通用串行总线端口、一全***管理总线端口、一打印口、一电源端口及一输入/输出板连接端口，分别通过一电缆线与计算机中的通用串行总线端口、全***管理总线端口、打印口、电源端口及输入/输出板相连接，以将计算机中的控制信号转换成输入/输出板所对应的信号。
5.如权利要求1所述的输入/输出板的测试***，其特征在于，所述测试模块还用于测试与该输入/输出板连接的光驱、软驱、通用串行总线盘及该输入/输出板上的发光二极管指示灯。
6.一种输入/输出板的测试方法，其特征在于，该输入/输出板的测试方法包括以下步骤：
对一计算机进行端口模式修改及测试设置；
通过一测试治具连接该计算机与待测输入/输出板；
该计算机利用打印口控制信号检测该输入/输出板的待测状态；
利用该计算机的打印口控制信号打开该输入/输出板的内部集成电路总线设备的电源，使此内部集成电路总线处于工作状态；
逐一选择数据传输电路以进行该输入/输出板的测试；
获取计算机的内部集成电路总线信号测试该输入/输出板中的电可擦除可编程只读存储器芯片。
7.如权利要求6所述的输入/输出板的测试方法，其特征在于，所述的测试电可擦除可编程只读存储器芯片的步骤包括：
读取标准的电可擦除可编程只读存储器芯片数据；
对读取的标准电可擦除可编程只读存储器芯片数据进行修改；
读取待测电可擦除可编程只读存储器芯片记录的数据；
将修改后的标准电可擦除可编程只读存储器芯片数据与待测电可擦除可编程只读存储器芯片记录的数据进行比对，判断是否相同。
8.如权利要求6所述的输入/输出板的测试方法，其特征在于，所述的对该计算机进行端口模式修改及测试设置的步骤包括：
在基本输入输出***菜单里修改打印口模式；
禁止该计算机安装软驱及光驱，及禁止该计算机的资料存储装置自动运行。
9.如权利要求6所述的输入/输出板的测试方法，其特征在于，所述的计算机包括一打印口、一全***管理总线及一通用串行总线端口。
10.如权利要求9所述的输入/输出板的测试方法，其特征在于，所述的测试治具包括一通用串行总线端口、一全***管理总线端口、一打印口、一电源端口及一输入/输出板连接端口，分别通过一电缆线与计算机中的通用串行总线端口、全***管理总线端口、打印口、电源端口及输入/输出板相连接，以将计算机中的控制信号转换成输入/输出板所对应的信号。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| C17 | Cessation of patent right | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20100825 Termination date: 20131206 |