CN103377103A

CN103377103A - 存储数据测试方法、装置及***

Info

Publication number: CN103377103A
Application number: CN2012101336665A
Authority: CN
Inventors: 郭华定
Original assignee: Gree Electric Appliances Inc of Zhuhai
Current assignee: Gree Electric Appliances Inc of Zhuhai
Priority date: 2012-04-28
Filing date: 2012-04-28
Publication date: 2013-10-30
Anticipated expiration: 2032-04-28
Also published as: CN103377103B

Abstract

本发明公开了一种存储数据测试方法、装置及***，该方法包括：通过ARM工装读取IIC芯片的存储数据；将存储数据与预先设置的默认数据进行对比；根据对比结果生成对比报告。本发明通过自动读取IIC芯片的存储数据，并与默认数据进行对比，生成对比报告，从而实现了存储数据测试的智能化，且提高了测试效率和准确率。

Description

存储数据测试方法、装置及***

技术领域

本发明涉及嵌入式自动化测试领域，具体而言，涉及一种存储数据测试方法、装置及***。

背景技术

目前所有涉及程序开发的电子产品，都面临可靠性的问题，如何提高产品质量，必须要有可靠的实验测试方法验证，而IIC芯片数据多，验证难度大。

目前较先进的测试方法如下：用ALL11等芯片烧写设备读取IIC芯片中存储的数据，然后保存数据到PC机上，再人工放到EXCEL表格中，用已知的定义表与需要保存的数据进行对比。然后人工核查对比结果并生成对比报告。

上述方法完全人工操作，测试数据的效率低，测试一个IIC芯片须要2至5天(根据数据量而定)，且不能自动出测试对比报告。

发明内容

本发明提供了一种存储数据测试方法、装置及***，以至少解决相关技术中，IIC芯片存储数据的测试是人工操作，效率低的问题。

根据本发明的一个方面，提供了一种存储数据测试方法，包括：通过ARM工装读取IIC芯片的存储数据；将存储数据与预先设置的默认数据进行对比；根据对比结果生成对比报告。

优选地，在根据对比结果生成对比报告之后，上述方法还包括：当对比报告显示存储数据存在错误时，通过ARM工装将默认数据重新写入IIC芯片中。

优选地，默认数据包括以下至少之一：压缩机运行频率、内外风机转速、制冷/制热内环补偿、保护值、化霜时间。

优选地，对比报告包括以下至少之一：数据名称、数据地址、预先设置的默认数据、读取的存储数据、异常数据、测试结论。

优选地，所述对比报告是EXCEL格式，其中包括对异常数据进行提示。

根据本发明的另一个方面，提供了一种存储数据测试装置，包括：读取模块，用于通过ARM工装读取IIC芯片的存储数据；对比模块，用于将存储数据与预先设置的默认数据进行对比；生成模块，用于根据对比结果生成对比报告。

优选地，上述装置还包括：写入模块，用于在对比报告显示存储数据存在错误的情况下，通过ARM工装将默认数据重新写入IIC芯片中。

根据本发明的再一个方面，提供了一种存储数据测试***，包括ARM工装、IIC芯片和操作平台，其中，操作平台用于通过ARM工装读取IIC芯片的存储数据，将存储数据与预先设置的默认数据进行对比，并根据对比结果生成对比报告。

优选地，上述操作平台还用于在对比报告显示存储数据存在错误的情况下，通过ARM工装将默认数据重新写入IIC芯片中。

优选地，操作平台与ARM工装通过RS232转换器连接，ARM工装与IIC芯片通过通信线连接。

优选地，上述操作平台是计算机软件操作平台。

本发明通过自动读取IIC芯片的存储数据，并与默认数据进行对比，生成对比报告，从而实现了存储数据测试的智能化，且提高了测试效率和准确率。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的存储数据测试方法的流程图；

图2是根据本发明实施例的对比报告的示意图；

图3是根据本发明实施例的存储数据测试装置的结构框图；

图4是根据本发明优选实施例的存储数据测试装置的结构框图；

图5是根据本发明实施例的存储数据测试***的结构框图；

图6是根据本发明优选实施例的存储数据测试***的连接示意图；

图7是根据本发明优选实施例的Labview软件的操作流程图；

图8是根据本发明优选实施例的存储数据测试方法的流程图一；

图9是根据本发明优选实施例的存储数据测试方法的流程图二；

图10是根据本发明优选实施例的存储数据测试方法的流程图三。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

相关技术中，IIC芯片存储数据的测试完全人工操作，效率低，准确度低，且需要烧写设备，成本较高。所以，需要一种效率高，智能化，测试精度高，成本低的测试方法。本发明实施例提供了一种存储数据测试方法，图1是根据本发明实施例的存储数据测试方法的流程图，如图1所示，包括如下的步骤S102至步骤S106。

步骤S102，通过ARM工装读取IIC芯片的存储数据。

步骤S104，将存储数据与预先设置的默认数据进行对比。

步骤S106，根据对比结果生成对比报告。

上述实施例中，通过自动读取IIC芯片的存储数据，并与默认数据进行对比，生成对比报告，从而实现了存储数据测试的智能化，且提高了测试效率和准确率，且不需要烧写设备，节约了成本。上述默认数据是预先写入ARM的。上述方法中，读取存储数据，将已知的数据和读取的存储数据进行对比，自动生成EXCEL格式的对比报告，与要求不相符的数据自动提醒(例如，用“▲▲▲”表示异常)，与已知数据相符的不进行提示。

本发明实施例还提供了一种优选实施方式，在上述步骤S106之后，当对比报告显示存储数据存在错误时，通过ARM工装将默认数据重新写入IIC芯片中。本优选实施方式对数据存在错误的IIC芯片，进行重新写入，在一定程度上保证了其数据的准确性。

本发明实施例还提供了另一种存储数据测试方法，即，将预先设定的默认数据或者测试合格的数据写入IIC芯片，再将写入数据的IIC芯片安装到相应的控制器上进行生产，代替了原有烧写设备。

上述默认数据包括以下至少之一：压缩机运行频率、内外风机转速、制冷/制热内环补偿、保护值、化霜时间。默认数据是由开发人员提供的，例如IIC芯片AT24C08A总共有1024个数据。

上述对比报告包括以下至少之一：数据名称、数据地址、预先设置的默认数据、读取的存储数据、异常数据、测试结论。对比报告的示意图如图2所示，一行是1个数据，D列(已知默认数据)与E列(存储数据值)进行对比，查看已知默认数据(开发人员提供)与存储数据值是否一致。当默认数据与存储数据值完全一致时，则对比结果不显示任何内容或者显示“正常”；如果数据异常，可以通过显示符号进行提醒，例如图2中12行用“▲▲▲”表示数据异常。

本发明实施例还提供了一种存储数据测试装置，该装置可以用于实现上述存储数据测试方法。图3是根据本发明实施例的存储数据测试装置的结构框图，如图3所示，包括读取模块32、对比模块34和生成模块36。

读取模块32，用于通过ARM工装读取IIC芯片的存储数据；对比模块34，连接至读取模块32，用于将读取模块32读取的存储数据与预先设置的默认数据进行对比，其中上述预先设置的默认数据是预先写入ARM中的；生成模块36，连接至对比模块34，用于根据对比模块34的对比结果生成对比报告。

如图4所示，上述装置还包括：写入模块38，连接至生成模块36，用于在生成模块36生成的对比报告显示存储数据存在错误的情况下，通过ARM工装将默认数据重新写入IIC芯片中。

上述默认数据包括以下至少之一：压缩机运行频率、内外风机转速、制冷/制热内环补偿、保护值、化霜时间。

上述对比报告包括：数据名称、数据地址、预先设置的默认数据、读取的存储数据、异常数据、测试结论。

需要说明的是，装置实施例中描述的存储数据测试装置对应于上述的方法实施例，其具体的实现过程在方法实施例中已经进行过详细说明，在此不再赘述。

另外，本发明实施例还提供了一种存储数据测试***，如图5所示，该***包括ARM工装52、IIC芯片54和操作平台56，其中操作平台56用于通过ARM工装52读取IIC芯片54的存储数据，将存储数据与预先设置的默认数据进行对比，其中上述预先设置的默认数据是预先写入ARM中的，并根据对比结果生成对比报告。

优选地，上述操作平台56还用于在对比报告显示存储数据存在错误的情况下，通过ARM工装52将默认数据重新写入IIC芯片54中。

操作平台56与ARM工装52通过RS232转换器58连接，ARM工装52与IIC芯片54通过通信线连接。在IIC芯片54已经装在控制器板上不能拆卸的情况下，ARM工装52与IIC芯片54对应引脚连接。

优选地，上述操作平台56是计算机软件操作平台。

下面以Labview软件为例，结合图6所示的***连接示意图和图8至图10所示的流程图对本发明的实现过程进行详细描述。

如图6所示，软件与工装之间可用通信线连接。Labview软件(在PC机上)通过通信线与转换器(RS232转485)连接，转换器通过两芯通信线与ARM工装连接，ARM工装通过四芯通信线与IIC芯片座工装连接。

图7是根据本发明优选实施例的Labview软件的操作流程图，如图7所示，首先打开Labview软件，选择机型，选择已知的定义表(即存储数据的地址，数据内容，已知的默认数据)，然后读取存储数据，自动对比结果，导出测试结果。其中，PC机上的Labview软件平台对已知的数据和读取的数据进行对比，自动生成EXCEL格式对比报告，与要求不相符的数据自动提醒(带“▲▲▲”表示异常)，与已知数据相符的不进行提示。

本发明实施例提供了三种具体方案，如下：

方案一(如图8所示)：

步骤S802，用两芯通信线将Labview软件与ARM工装连接，ARM工装与IIC芯片座工装连接。

步骤S804，将默认数据或者合格的数据写入ARM中，打开Labview软件，ARM工装上电。

步骤S806，操作软件可自动读取IIC芯片中的存储数据。

步骤S808，将读取的存储数据进行与已知默认数据进行对比并出测试报告。

方案二(如图9所示)：

步骤S902，用两芯通信线将Labview软件与ARM工装连接，ARM工装与IIC芯片座工装连接。

步骤S904，打开Labview软件，ARM工装上电。

步骤S906，在Labview软件平台中进行数据测试之后，将测试合格的数据写入IIC芯片中。

步骤S908，写入数据的IIC芯片装入控制器进行生产。

本方案可写入已经测试合格的数据到IIC芯片中，并进行生产，代替原有烧写设备。

方案三(如图10所示)：

步骤S1002，用两芯通信线将Labview软件与ARM工装连接，ARM工装与IIC芯片座工装连接。

步骤S1004，ARM工装与被测控制器IIC芯片的对应引脚连接。

步骤S1006，打开Labview软件，ARM工装上电(同步或不同步均可)。

步骤S1008，操作软件可自动读或写存储数据到IIC芯片中，若是读取存储数据，即可与已知默认数据进行对比并出测试报告。

需要注意的是，上述三种方案中Labview软件与ARM工装上电同步或不同步，对测试结果没有影响，三者之间严格按要求连接，任何方式都可以操作，无弊端。如果需要将IIC芯片装到控制器验证存储数据，则将通过具体测试验证，人工出测试报告。

由上述可知，整个方案分三部分：Labview软件平台、ARM工装，IIC芯片座工装。其中，IIC芯片座工装可以测试贴片的IIC芯片和双列直插式(Dual inline-pin Package，简称为DIP)封装芯片。本发明适用于所有控制器上装有IIC芯片的控制板(如：ST和ATMEL等厂家生产的IC24C02、IC24C08等)的存储数据测试。

上述方案有如下有益效果：连接方便，操作简单；Labview软件可自动生成对比报告，无论数据量多大，测试周期20分钟可自动出对比报告；软件自动对比，确保每个数据都可测试；不需要外购昂贵的设备，节约成本；进行数据对比，可判断写入的存储数据与逻辑要求是否一致。

需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机***中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

综上所述，根据本发明的上述实施例，提供了一种存储数据测试方法、装置及***。本发明通过自动读取IIC芯片的存储数据，并与默认数据进行对比，生成对比报告，从而实现了存储数据测试的智能化，且提高了测试效率和准确率。

显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims

1.一种存储数据测试方法，其特征在于包括：

通过ARM工装读取IIC芯片的存储数据；

将所述存储数据与预先设置的默认数据进行对比；

根据对比结果生成对比报告。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据对比结果生成对比报告之后，所述方法还包括：

当所述对比报告显示所述存储数据存在错误时，通过所述ARM工装将所述默认数据重新写入所述IIC芯片中。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述默认数据包括以下至少之一：压缩机运行频率、内外风机转速、制冷/制热内环补偿、保护值、化霜时间。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述对比报告包括以下至少之一：数据名称、数据地址、预先设置的默认数据、读取的存储数据、异常数据、测试结论。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述对比报告是EXCEL格式，其中包括对异常数据进行提示。

6.一种存储数据测试装置，其特征在于包括：

读取模块，用于通过ARM工装读取IIC芯片的存储数据；

对比模块，用于将所述存储数据与预先设置的默认数据进行对比；

生成模块，用于根据对比结果生成对比报告。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

写入模块，用于在所述对比报告显示所述存储数据存在错误的情况下，通过所述ARM工装将所述默认数据重新写入所述IIC芯片中。

8.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述默认数据包括以下至少之一：压缩机运行频率、内外风机转速、制冷/制热内环补偿、保护值、化霜时间。

9.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述对比报告包括以下至少之一：数据名称、数据地址、预先设置的默认数据、读取的存储数据、异常数据、测试结论。

10.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述对比报告是EXCEL格式，其中包括对异常数据进行提示。

11.一种存储数据测试***，其特征在于，包括ARM工装、IIC芯片和操作平台，其中，所述操作平台，用于通过所述ARM工装读取所述IIC芯片的存储数据，将所述存储数据与预先设置的默认数据进行对比，并根据对比结果生成对比报告。

12.根据权利要求11所述的***，其特征在于，所述操作平台还用于在所述对比报告显示所述存储数据存在错误的情况下，通过所述ARM工装将所述默认数据重新写入所述IIC芯片中。

13.根据权利要求11或12所述的***，其特征在于，所述操作平台与所述ARM工装通过RS232转换器连接，所述ARM工装与所述IIC芯片通过通信线连接。

14.根据权利要求11或12所述的***，其特征在于，所述操作平台是计算机软件操作平台。