CN117405940A - 一种抗干扰滤波器性能测试装置 - Google Patents

一种抗干扰滤波器性能测试装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种抗干扰滤波器性能测试装置，包括电源模块、主控模块、信号检测模块、数据采集模块和测试模块，所述电源模块与所述主控模块、所述信号检测模块、数据采集模块以及所述测试模块依次连接；所述数据采集模块包括信号插口；所述信号检测模块包括测试接口；所述信号插口与所述测试接口连接，建立所述数据采集模块和所述信号检测模块的数据传输通路；所述电源模块用于给所述主控模块供电；所述数据采集模块通过所述数据传输通路与所述信号检测模块通信连接。本发明操作简单，并且能够快速得到测试数据，提高了测试效率。

Description

一种抗干扰滤波器性能测试装置
技术领域
本发明涉及滤波器测试技术领域，具体为一种抗干扰滤波器性能测试装置。
背景技术
滤波器是由电容、电感和电阻组成的滤波电路。滤波器可以对电源线中特定频率的频点或该频点以外的频率进行有效滤除，得到一个特定频率的电源信号，或消除一个特定频率后的电源信号。滤波器是一种选频装置，可以使信号中特定的频率成分通过，而极大地衰减其他频率成分。利用滤波器的这种选频作用，可以滤除干扰噪声或进行频谱分析。换句话说，凡是可以使信号中特定的频率成分通过，而极大地衰减或抑制其他频率成分的装置或***都称之为滤波器。
现有的滤波器进行测试时，往往采用老式机型进行测试，其一是无法得到准确的测试结果，二是需要相关人员进行大量的测试操作，费时费力，大大降低测试效率，本发明提出一种抗干扰滤波器性能测试装置，以达到更快分析测试数据的目的，提高测试效率，降低人工操作的工作量，以解决上述问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种抗干扰滤波器性能测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种抗干扰滤波器性能测试装置，包括电源模块、主控模块、信号检测模块、数据采集模块和测试模块，所述电源模块与所述主控模块、所述信号检测模块、数据采集模块以及所述测试模块依次连接；所述数据采集模块包括信号插口；所述信号检测模块包括测试接口；
所述信号插口与所述测试接口连接，并建立所述数据采集模块和所述信号检测模块的数据传输通路；
所述电源模块用于给所述主控模块供电；
所述数据采集模块通过所述数据传输通路与所述信号检测模块通信连接；
所述主控模块用于将预设的检测信号发送至所述信号检测模块；
所述信号检测模块用于将所述检测信号发送至所述数据采集模块。
优选的，所述电源模块包括：所述电源模块包括：电源开关；所述电源开关与外部电源连接，所述电源开关用于控制电源模块的通断。
优选的，所述电源模块还包括：第一发光二极管；
所述第一发光二极管用于确定所述电源模块是否正常工作，其中，所述第一发光二极管发光表征所述电源模块正常工作。。
优选的，试验电压测试单元、阻抗测试单元和漏电流测试单元；所述试验电压测试单元、所述阻抗测试单元和所述漏电流测试单元均与主控模块连接；所述测试接口包括：试验电压测试接口、阻抗测试接口和漏电流测试接口；
所述试验电压测试单元通过所述试验电压测试接口与所述数据采集模块连接；
所述阻抗测试单元通过所述阻抗测试接口与所述数据采集模块连接；
所述漏电流测试单元通过所述漏电流测试接口与所述数据采集模块连接。
优选的，所述试验电压测试单元包括：至少一个电压检测电路；所述试验电压测试接口与所述主控模块连接。
优选的，所述电压测试电路还包括：第二发光二极管；所述试验电压测试接口包括：第一输入电压通道；所述第二发光二极管与所述第一输入电压通道连接；
所述第二发光二极管用于确定所述第一输入电压通道是否正常工作，其中，所述第二发光二极管发光表征所述第一输入电压通道正常工作。
优选的，所述阻抗测试单元包括：第三发光二极管；所述阻抗测试接口包括：第二输入电压通道；所述第三发光二极管与所述第二输入电压通道连接；
所述第三发光二极管用于确定所述第二输入电压通道是否正常工作，其中，所述第三发光二极管发光表征所述第二输入电压通道正常工作。
优选的，所述漏电流测试单元包括第四发光二极管；所述漏电流测试接口包括：第三输入电压通道；所述第四发光二极管与所述第三输入电压通道连接；
所述第四发光二极管同于确定所述第三输入电压通道是否正常工作，其中，所述第四发光二极管发光表征所述第三输入电压通道正常工作。
优选的，所述主控模块包括：主控芯片、基准芯片和第五发光二极管；
所述基准芯片和所述第五发光二极管均与所述主控芯片连接；
所述第五发光二极管用于确认所述主控芯片是否正常工作，其中，所述第五发光二极管发光表征所述主控芯片正常工作。
优选的，所述性能测试方法包括以下步骤：
S1：打开电源开关，电源模块中的第一发光二极管点亮，表征整个装置的供电正常；
S2：将待测试滤波器与数据采集模块、主控模块以及测试模块依次连接，具体通过测试接口与信号插口分别连接，通过第二发光二极管、第三发光二极管以及第四发光二极管点亮，表征所述试验电压测试单元、所述阻抗测试单元以及所述漏电流测试单元均正常工作；
S3：通过信号检测模块与测试模块连接的各个输入电压通道，对待测试滤波器进行测试；
S4：通过所述数据采集模块得到所述试验电压测试单元、所述阻抗测试单元以及漏电流测试单元中回馈的数据并储存。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：在测试抗干扰滤波器时，只需要通过信号插口与阻抗测试接口、试验电压测试接口和漏电流测试接口进行连接，简单快捷，减少了大量的测试操作，通过不同的发光二极管能够快速判断整个装置中某个模块是否正常运作，本发明测试方式简单，同时能够快速得到对应数据。
附图说明
图1为本发明的测试装置结构示意图；
图2为本发明的测试方法流程图；
图3为本发明的漏电流测试单元结构示意图。
图中：1、电源模块；2、主控模块；3、信号检测模块；4、数据采集模块；5、测试模块；6、信号插口；7、测试接口；8、电源开关；9、第一发光二极管；10、试验电压测试单元；11、阻抗测试单元；12、漏电流测试单元；13、试验电压测试接口；14、阻抗测试接口；15、漏电流测试接口；16、第二发光二极管；17、第一输入电压通道；18、第三发光二极管；19、第二输入电压通道；20、第四发光二极管；21、第三输入电压通道；22、主控芯片；23、基准芯片；24、第五发光二极管。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-3，本发明提供一种技术方案：一种抗干扰滤波器性能测试装置，包括电源模块1、主控模块2、信号检测模块3、数据采集模块4和测试模块5，所述电源模块1与所述主控模块2、所述信号检测模块3、数据采集模块4以及所述测试模块5依次连接；所述数据采集模块4包括信号插口6；所述信号检测模块3包括测试接口7；
所述信号插口6与所述测试接口7连接，并建立所述数据采集模块4和所述信号检测模块3的数据传输通路；
所述电源模块1用于给所述主控模块2供电；
所述数据采集模块4通过所述数据传输通路与所述信号检测模块3通信连接；
所述主控模块2用于将预设的检测信号发送至所述信号检测模块3；
所述信号检测模块3用于将所述检测信号发送至所述数据采集模块4。
在本实施例中，电源模块1包括：电源开关8；电源开关8与外部电源连接，电源开关8用于控制电源模块1的通断。
在本实施例中，电源模块1还包括：第一发光二极管9；
第一发光二极管9用于确定电源模块1是否正常工作，其中，第一发光二极管9发光表征电源模块1正常工作。
在本实施例中，测试模块5包括试验电压测试单元10、阻抗测试单元11和漏电流测试单元12；试验电压测试单元10、阻抗测试单元11和漏电流测试单元12均与主控模块2连接；测试接口7包括：试验电压测试接口13、阻抗测试接口14和漏电流测试接口15；
试验电压测试单元10通过试验电压测试接口13与数据采集模块4连接；
阻抗测试单元11通过阻抗测试接口14与数据采集模块4连接；
漏电流测试单元12通过漏电流测试接口15与数据采集模块4连接。
在本实施例中，试验电压测试单元10包括：至少一个电压检测电路；试验电压测试接口13与主控模块2连接。
在本实施例中，电压测试电路还包括：第二发光二极管16；试验电压测试接口13包括：第一输入电压通道17；第二发光二极管16与第一输入电压通道17连接；
第二发光二极管16用于确定第一输入电压通道17是否正常工作，其中，第二发光二极管16发光表征第一输入电压通道17正常工作。
在本实施例中，阻抗测试单元11包括：第三发光二极管18；阻抗测试接口14包括：第二输入电压通道19；第三发光二极管18与第二输入电压通道19连接；
第三发光二极管18用于确定第二输入电压通道19是否正常工作，其中，第三发光二极管18发光表征第二输入电压通道19正常工作。
在本实施例中，漏电流测试单元12包括第四发光二极管20；漏电流测试接口15包括：第三输入电压通道；第四发光二极管20与第三输入电压通道21连接；
第四发光二极管20同于确定第三输入电压通道21是否正常工作，其中，第四发光二极管20发光表征第三输入电压通道21正常工作。
在本实施例中，主控模块2包括：主控芯片22、基准芯片23和第五发光二极管24；
基准芯片23和第五发光二极管24均与主控芯片22连接；
第五发光二极管24用于确认主控芯片22是否正常工作，其中，第五发光二极管24发光表征主控芯片22正常工作。
工作原理：打开电源开关8，电源模块1中的第一发光二极管点亮，表征整个装置的供电正常，将待测试滤波器与数据采集模块4、主控模块2以及测试模块5依次连接，具体通过测试接口7与信号插口6分别连接，通过第二发光二极管16、第三发光二极管18以及第四发光二极管20点亮，表征试验电压测试单元10、阻抗测试单元11以及漏电流测试单元12均正常工作，通过信号检测模块3与测试模块5连接的各个输入电压通道，对待测试滤波器进行测试，通过数据采集模块4得到试验电压测试单元10、阻抗测试单元11以及漏电流测试单元12中回馈的数据并储存。
应当理解，本申请披露的权利要求、说明书及附图中的可能术语“第一”或“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。本申请披露的说明书和权利要求书中使用的术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本申请披露说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的，而并不意在限定本申请披露。如在本申请披露说明书和权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。还应当进一步理解，在本申请披露说明书和权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
虽然本申请的实施方式如上，但所述内容只是为便于理解本申请而采用的实施例，并非用以限定本申请的范围和应用场景。任何本申请所述技术领域内的技术人员，在不脱离本申请所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本申请的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。
还应当理解，本文示例的执行指令的任何模块、单元、组件、服务器、计算机、终端或设备可以包括或以其他方式访问计算机可读介质，诸如存储介质、计算机存储介质或数据存储设备(可移除的)和/或不可移动的)例如磁盘、光盘或磁带。计算机存储介质可以包括以用于存储信息的任何方法或技术实现的易失性和非易失性，可移动和不可移动介质，例如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据。

Claims (10)

1.一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于，包括：电源模块(1)、主控模块(2)、信号检测模块(3)、数据采集模块(4)和测试模块(5)，所述电源模块(1)与所述主控模块(2)、所述信号检测模块(3)、数据采集模块(4)以及所述测试模块(5)依次连接；所述数据采集模块(4)包括信号插口(6)；所述信号检测模块(3)包括测试接口(7)；
所述信号插口(6)与所述测试接口(7)连接，并建立所述数据采集模块(4)和所述信号检测模块(3)的数据传输通路；
所述电源模块(1)用于给所述主控模块(2)供电；
所述数据采集模块(4)通过所述数据传输通路与所述信号检测模块(3)通信连接；
所述主控模块(2)用于将预设的检测信号发送至所述信号检测模块(3)；
所述信号检测模块(3)用于将所述检测信号发送至所述数据采集模块(4)。
2.根据权利要求1所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述电源模块(1)包括：电源开关(8)；所述电源开关(8)与外部电源连接，所述电源开关(8)用于控制电源模块(1)的通断。
3.根据权利要求2所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述电源模块(1)还包括：第一发光二极管(9)；
所述第一发光二极管(9)用于确定所述电源模块(1)是否正常工作，其中，所述第一发光二极管(9)发光表征所述电源模块(1)正常工作。
4.根据权利要求1所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：测试模块(5)包括试验电压测试单元(10)、阻抗测试单元(11)和漏电流测试单元(12)；所述试验电压测试单元(10)、所述阻抗测试单元(11)和所述漏电流测试单元(12)均与主控模块(2)连接；所述测试接口(7)包括：试验电压测试接口(13)、阻抗测试接口(14)和漏电流测试接口(15)；
所述试验电压测试单元(10)通过所述试验电压测试接口(13)与所述数据采集模块(4)连接；
所述阻抗测试单元(11)通过所述阻抗测试接口(14)与所述数据采集模块(4)连接；
所述漏电流测试单元(12)通过所述漏电流测试接口(15)与所述数据采集模块(4)连接。
5.根据权利要求4所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述试验电压测试单元(10)包括：至少一个电压检测电路；所述试验电压测试接口(13)与所述主控模块(2)连接。
6.根据权利要求5所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述电压测试电路还包括：所述电压测试电路还包括：第二发光二极管(16)；所述试验电压测试接口(13)包括：第一输入电压通道(17)；所述第二发光二极管(16)与所述第一输入电压通道(17)连接；
所述第二发光二极管(16)用于确定所述第一输入电压通道(17)是否正常工作，其中，所述第二发光二极管(16)发光表征所述第一输入电压通道(17)正常工作。
7.根据权利要求4所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述阻抗测试单元(11)包括：第三发光二极管(18)；所述阻抗测试接口(14)包括：第二输入电压通道(19)；所述第三发光二极管(18)与所述第二输入电压通道(19)连接；
所述第三发光二极管(18)用于确定所述第二输入电压通道(19)是否正常工作，其中，所述第三发光二极管(18)发光表征所述第二输入电压通道(19)正常工作。
8.根据权利要求4所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述漏电流测试单元(12)包括第四发光二极管(20)；所述漏电流测试接口(15)包括：第三输入电压通道；所述第四发光二极管(20)与所述第三输入电压通道(21)连接；
所述第四发光二极管(20)同于确定所述第三输入电压通道(21)是否正常工作，其中，所述第四发光二极管(20)发光表征所述第三输入电压通道(21)正常工作。
9.根据权利要求1所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述主控模块(2)包括：主控芯片(22)、基准芯片(23)和第五发光二极管(24)；
所述基准芯片(23)和所述第五发光二极管(24)均与所述主控芯片(22)连接；
所述第五发光二极管(24)用于确认所述主控芯片(22)是否正常工作，其中，所述第五发光二极管(24)发光表征所述主控芯片(22)正常工作。
10.根据权利要求1至9任一所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：基于性能测试装置的测试方法包括以下步骤：
S1：打开电源开关(8)，电源模块(1)中的第一发光二极管点亮，表征整个装置的供电正常；
S2：将待测试滤波器与数据采集模块(4)、主控模块(2)以及测试模块(5)依次连接，具体通过测试接口(7)与信号插口(6)分别连接，通过第二发光二极管(16)、第三发光二极管(18)以及第四发光二极管(20)点亮，表征所述试验电压测试单元(10)、所述阻抗测试单元(11)以及所述漏电流测试单元(12)均正常工作；
S3：通过信号检测模块(3)与测试模块(5)连接的各个输入电压通道，对待测试滤波器进行测试；
S4：通过所述数据采集模块(4)得到所述试验电压测试单元(10)、所述阻抗测试单元(11)以及漏电流测试单元(12)中回馈的数据并储存。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN117890715A (zh) * 2024-03-14 2024-04-16 大连海事大学 基于大数据信息分析的滤波器电性能测试***

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