CN1826643A - 用于确定最佳写功率的方法和设备,以及这样的方法和设备使用的光记录媒体 - Google Patents

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Abstract

描述了用于利用OPC程序确定在高记录速度上的最佳写功率电平的方法和光记录设备。该方法包括在较低的记录速度上执行OPC程序，并且随后将所获得的结果定标到较高的记录速度。

Description

用于确定最佳写功率的方法和设备，以及这样的方法和 设备使用的光记录媒体
技术领域
本发明涉及用于设置在光记录设备中使用的辐射束的写功率电平的最佳值的方法，以便在光记录媒体上写入信息，通过将辐射束施加到光记录媒体上而将信息写在光记录媒体上，该方法包括：将一系列测试模式(test pattern)写在光记录媒体上的测试区域中的第一步骤，利用辐射束的写功率电平的不同值来写入每个测试模式；读取写入的测试模式以形成相应的读信号部分的第二步骤；和根据读信号部分来选择写功率电平的最佳值的第三步骤。
本发明还涉及使用根据本发明的方法的光记录设备，并且涉及由根据本发明的方法和设备使用的光记录媒体。
背景技术
在光记录中，根据第一段落的方法通常被称为Optimum PowerControl(最佳功率控制)(OPC)程序。例如，可以从欧洲专利No.EP0737962中获知这样的OPC程序和使用这个程序的记录设备。
在光记录中，通常利用这样的OPC程序来设置实际记录设备中的写功率电平。通过在光记录媒体上的测试区域中写入一系列测试模式来执行这个程序。这个测试区域通常被称为OPC-区域，其一般位于盘形记录媒体的内径处。在OPC程序中，利用辐射束的写功率电平的不同值来写入测试模式。随后，读回所写入的测试模式并形成相应的读信号部分。例如，通过测量这些信号部分的调制和/或不对称，每个部分与不同值的辐射束的写功率电平相关，可以导出最佳写功率电平的值。用于各种类型的光学媒体的OPC程序是公知的，其示例可以在用于这些类型的媒体之中每一个的各种标准(例如，诸如DVD+R4.7Gbytes Basic Format Specification；Format Description(基本格式规范；格式描述))中找到。
然而，问题在于：在较高旋转速度上，在盘的内径处不再能够执行OPC程序。通常相信，160Hz大约是盘状记录媒体用于可靠光记录的最大旋转速度。当以高于这个最大旋转速度的旋转速度旋转CD或DVD类型盘时，可能出现盘的物理变形。在DVD的情况中，这对于盘的内径大致对应于6x(倍)记录速度，即是基本DVD速度3.49m/s的6倍。因此，在超过6x的记录速度上，不再能使用在盘的内径上的OPC区域。
在一些***中，限定在外径上的OPC-区域。对于具有直径为120mm的盘而言，160Hz的旋转速度对于盘的外径大致对应于16x记录速度。因此，这样的在外径处具有OPC-区域的***将允许OPC-程序高达16x的记录速度。但是，例如，由于同种变化(homogeneity variation)，在外径处的OPC结果通常是不太可靠的。而且，盘的外部比内部更经常被指印沾污。因此，许多驱动器设计者优选在盘的内径处的OPC-区域。
对于记录质量而言，最佳写功率电平的正确值是重要的，尤其在较高记录速度上，其中在较高记录速度上可接受的功率余量通常小于较低速度上的余量。
发明内容
本发明的目的是提供一种方法和设备，其在记录媒体的内径处执行OPC程序，从而在较高记录速度上得到可靠的写功率电平设置。
通过提供根据绪言的方法来实现根据本发明的这个目的，该方法的特征在于，在第一步骤中，以低记录速度写入系列测试模式，并且在第三步骤中，根据读信号部分和根据表示在高记录速度上写功率电平的值与在低记录速度上写功率电平的值之间的关系的参数，选择在高记录速度上写功率电平的最佳值。以这样的方式，仍然以可接受的记录速度执行在盘的内径上测试模式的记录，同时仍然能可靠地确定在较高记录速度上写功率电平的最佳值，在哪些较高记录速度上在盘的内径上测试模式的记录不再是可靠的。
在一个实施例中，建议限定参数Phigh/Plow，其中Phigh是在高记录速度上的最佳写功率电平，而Plow是在OPC速度(也称为基本速度)上的最佳写功率电平。以这样的方式，通过在内径处在相对低的速度上执行OPC程序并且通过随后利用参数Phigh/Plow乘以在这个低速度上获得的结果，驱动器能确定在高记录速度上的最佳写功率。
注意，原则上，可以交替地使用当前存储在许多光记录媒体上的用于盘的高速度和低速度的指示功率值(Pind)。但是，这些值表示给出写功率值的指示，并且这些值的准确度不是非常大的。而且，对于内径OPC区域，给予低速度的Pind值，并将用于高速度的Pind值给予外径OPC区域。因此，媒体中的同种变化再次使得基于Pind值的比率是不太可靠的。
在另一实施例中，从记录媒体本身中读取参数Phigh/Plow。该参数Phigh/Plow可以存储在记录媒体上包括表示记录处理(包括OPC-程序)的记录参数的区域中。包括记录参数的这样的区域例如位于ADIP(Address in Pre-groove预槽中的地址)中。
通过在盘的一个位置上使用两个速度，在盘研制或格式验证期间可以非常准确地获得存储在盘中的参数Phigh/Plow的值。此外，利用严格定义的这个参数Phigh/Plow的描述，能够使舍入误差非常小，在任何情况下显著小于在例如使用指示功率值(Pind)时的情况。例如：N＝200(Phigh/Plow-1)将得到0.5％的准确度，其中N是存储在盘中的数字值，其与参数Phigh/Plow相关。
附图说明
下面将参照附图说明本发明的这些和其他方面以及优点，其中：
图1表示根据本发明的记录载体；
图2表示根据本发明的方法的流程图；和
图3表示根据本发明的记录设备。
具体实施方式
图1表示具有直径为120mm的盘状光记录媒体1，该直径是最常用于CD和DVD类型盘的直径。盘1包括具有内径为44mm和外径为117mm的圆形区域2。这个区域通常被称为Information Zone(信息带)，其包含根据单个螺旋槽3形成的伺服道。每个伺服道形成360度的连续螺旋形的转动。信息被记录在伺服道的槽中。
由OPC-程序使用的测试区域4位于信息带2的内径处。例如，对于DVD类型盘而言，这个测试区域4被称为内盘测试带(Inner DiscTest Zone)并且位于半径为22.616mm-23.052mm处。
信息带中的伺服道包含偏离标称中心线的相位调制的正弦偏差，一般称为摆动。这个摆动包括称为ADIP(Address in Pre-groove)的寻址信息。通常，这个ADIP包含盘上位置的物理地址信息。但是，在某些区域中，该ADIP也包含关于盘参数的信息，诸如表示记录处理的记录参数。例如，对于DVD类型盘，被称为内盘识别带的这样的区域位于引入带(Lead-in zone)中，该引入带位于信息带的内径处(即，在半径为23.4mm到半径为24.0mm的区域处)。在根据本发明的盘中，有关DAIP中的盘参数的信息包括参数Phigh/Plow的值，该值对于每个盘是预定的。
图2表示根据本发明的方法中的步骤的流程图。在第一步骤S1中，在盘1上在测试区域4中写入一系列的测试模式，利用不同值的辐射束35的写功率电平来写每个测试模式。在第二步骤S2中，读回写入的测试模式，以形成读信号部分，每个部分对应于不同值的写功率电平。在第三步骤S3的第一部分S3.1中，根据读信号部分选择写功率电平的最佳值。上述步骤在OPC程序中是公知的(例如，从EP0737962中公知)。
根据本发明，(在第一步骤S1中)记录在测试区域4中的测试模式以低记录速度被记录。现在，对于所述低记录速度上的记录而言，在第三步骤S3的第一部分S3.1中确定的写功率电平的最佳值是有效的。
随后，根据用于在所述低记录速度上记录的写功率电平的这个最佳值和根据表示在高记录速度上的写功率电平的值与在低记录速度上的写功率电平的值之间关系的参数，在第三步骤S3的第二步骤S3.2中选择用于在高记录速度上记录的写功率电平的最佳值。在一个实施例中，从盘上的ADIP(例如，在盘初始化过程中)获得参数Phigh/Plow。现在，通过利用参数Phigh/Plow乘以用于在所述低记录速度上记录的写功率电平的最佳值，获得用于在高记录速度上记录的写功率电平的最佳值。
图3表示根据本发明的光记录设备的实施例，用于在光记录媒体1上记录信息，例如，诸如DVD类型盘。例如，形式为光可检测标记的信息通过将具有写功率电平的辐射束35照射在记录媒体上被记录在记录媒体上。该设备包括用于发射辐射束35的辐射源34，例如半导体激光器。辐射束通过分束器6和物镜7会聚到记录媒体上。从记录媒体中反射的辐射通过物镜会聚，并且在通过分束器之后，入射到检测***8上，该检测***将入射的辐射转换成电检测器信号。这些电检测器信号被施加给电路9，该电路从这些电检测器信号中导出表示从记录媒体中读取的信息的读信号部分SR。辐射源34、分束器35、物镜7、检测器***8和电路9一起形成读单元100。
在控制单元12的控制下，在位于记录媒体的内径处的测试区域中记录一系列的测试模式，但是以低记录速度记录。利用辐射源35的写功率电平的不同值记录每个测试模式。例如，可以利用逐步增加的写功率电平记录后续的测试模式。
通过读单元100读回所记录的测试模式，以形成相应的读信号部分SR。在设置装置11中对这些读信号部分进行处理，以确定用于在低记录速度上记录的写功率电平的最佳值。而且，通过利用参数Phigh/Plow乘以用于在低记录速度上记录的确定的写功率电平的最佳值，由设置装置11确定用于在高记录速度上记录的写功率电平的最佳值。这个参数Phigh/Plow由读单元100从记录媒体1的ADIP中读取，并被提供给设置装置11。通过记录媒体的制造来预先确定参数Phigh/Plow并在记录媒体的制造期间将其预先记录在记录媒体的ADIP中。

Claims (6)

1、用于设置在光记录设备中使用的辐射束(35)的写功率电平的最佳值的一种方法，以便在光记录媒体(1)上写入信息，通过将辐射束施加到光记录媒体而在光记录媒体上写入信息，该方法包括：
在光记录媒体上在测试区域中写入一系列的测试模式的第一步骤(S1)，利用辐射束的写功率电平的不同值写入每个测试模式；
读写入的测试模式以形成相应的读信号部分的第二步骤(S2)；和
根据读信号部分选择写功率电平的最佳值的第三步骤(S3)，
其特征在于，在第一步骤中，在低记录速度上写入系列的测试模式，并且在第三步骤中，根据读信号部分和根据表示在高记录速度上写功率电平的值与在低记录速度上写功率电平的值之间的关系的参数，选择在高记录速度上写功率电平的最佳值。
2、根据权利要求1所述的方法，其中从记录媒体中读取表示在高记录速度上写功率电平的值与在低记录速度上写功率电平的值之间的关系的参数(Phigh/Plow)。
3、一种光记录设备，用于在光记录媒体(1)上记录信息，包括：
辐射源(34)，用于发射用于在记录媒体上记录信息的辐射束(35)，该辐射束具有可控制的写功率电平的值；
控制单元(12)，用于在记录媒体中在测试区域中记录一系列的测试模式，每个模式具有不同值的写功率电平；
读单元(100)，用于读取所记录的测试模式和用于形成相应的读信号部分(SR)；和
设置装置(11)，用于根据读信号部分设置写功率电平的最佳值，
其特征在于，该控制单元(12)用于在低记录速度上在记录媒体中在测试区域中记录系列的测试模式，并且
设置装置(11)用于根据读信号部分和根据表示在高记录速度上写功率电平的值与在低记录速度上写功率电平的值之间的关系的参数来设置在高记录速度上写功率电平的最佳值。
4、根据权利要求3的设备，其中读单元用于从记录媒体中读取表示在高记录速度上写功率电平的值与在低记录速度上写功率电平的值之间的关系的参数(Phigh/Plow)。
5、一种光记录媒体，包括具有表示记录处理的记录参数的区域，所述区域包括表示在高记录速度上写功率电平的值与在低记录速度上写功率电平的值之间的关系的参数。
6、根据权利要求5所述的光记录媒体，其中该参数与Phigh/Plow相关，其中Phigh是在高记录速度上的最佳写功率电平，而Plow是在OPC速度上的最佳写功率电平。
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