CN1820206A - 测试装置以及测试方法 - Google Patents
测试装置以及测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN1820206A CN1820206A CN 200580000284 CN200580000284A CN1820206A CN 1820206 A CN1820206 A CN 1820206A CN 200580000284 CN200580000284 CN 200580000284 CN 200580000284 A CN200580000284 A CN 200580000284A CN 1820206 A CN1820206 A CN 1820206A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- pattern
- output
- title
- pattern row
- row
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
一种测试装置,包括第1信号比较器、第2信号比较器、标题图样列检出部、以及期待值比较部。1信号比较器依据处于第1选通时序中的输出信号的电压和一第1门限值电压进行比较后的结果以取得一输出图样的值,且因此亦取得第1输出图样列;第2信号比较器依据处于第2选通时序中的输出信号的电压和一第2门限值电压进行比较后的结果以取得一输出图样的值,且因此亦取得第2输出图样列;标题图样列检出部检出:第1输出图样列已与标题图样列相一致;期待值比较部在检出第1输出图样列已和标题图样列相一致时,使第2信号比较器所取得的第2输出图样列和期待值图样列的比较结果被输出。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试装置以及测试方法,其对一由电子装置所输出的信号的输出图样(pattern)和一预定的期待值图样进行比较,以判定该电子装置的良否。就藉由文献的参照而确认可编入的指定国而言,藉由参照下记的申请案中所记载的内容而编入本申请案中,以作为本申请案的记载的一部分。
特愿2004-179857 申请日2004年6月17日
特愿2004-192195 申请日2004年6月29日
特愿2004-183067 申请日2004年6月21日
特愿2004-212234 申请日2004年7月20日
背景技术
测试装置依据测试程式来对一种作为测试对象的被测试装置(DUT:DeviceUnder Test)进行测试。测试程式包含:各命令每一周期中测试装置应执行的命令;以及期待值图样,其用来与相对于被测试装置的各端而输出的测试图样或与被测试装置的各端所输出的输出图样相比较。然后,测试装置由记忆体依顺序读出该测试程式的命令。测试装置由记忆体读出各命令所对应的测试图样,以输出至被测试装置的各端。此种结果所输出的输出图样须与被测试装置预定应输出的期待值图样相比较。
举出被测试装置的输出信号的边缘(margin)检查用的测试以作为被测试装置的测试的一种形态。在此种测试中,例如,一方面使被测试装置的输出信号被该测试装置取入时的时序或此输出信号被取入时所用的门限(threshold)值电压等的参数发生变化,且一方面使被测试装置动作,以对已使用各参数值的测试的通过(pass)或失败(fail)进行记录。然后,以各参数作为座标轴,在各参数值所对应的座标上作成一种使用该参数值的测试的通过(pass)或失败(fail)之图。此种图称为Shmoo图。
现在,由于相关连的专利文件尚不清楚,因此省略其记载。
发明内容
藉由被测试装置,则由测试图样输入开始至对应于该测试图样所输出的图样被输出为止的周期数会存在着不特定的情况或不定的情况。此种被测试装置输出时的输出图样在与期待值图样相比较时,测试装置检出该被测试装置所输出的已预定的标题图样(header pattern)且此测试装置较佳是具备一种搜索(hunt)功能,其对该标题图样经一特定的周期之后所输出的比较对象的输出图样以及一种期待值图样进行比较。
因此,若使用一种具备上述搜索功能的测试装置以作成Shmoo图来进行检讨,则在测试装置输入该比较对象的输出图样时,须要使输入时的时序(timing)或门限值电压等的参数改变。然而,若使这些参数变化,则不能正确地输入上述的标题图样本身,于是不能检出该输出图样和期待值图样之间的一致或不一致。
又,若藉由搜索功能,则由被测试装置中输出图样列所输出的时序和与该输出图样列相比较的适合的期待值图样由记忆体读出时的时序之间会有不同的情况存在着。因此,为了适当地对各图样进行比较,时序不同的期待值图样列和输出图样列应成为同步。
又,藉由被测试装置,则输出图样列的输出开始时的时序会有不确定的情况发生。因此,对被测试装置进行输出所用的方法中须考虑该输出图样列的前头显示时所用的已预定的标题图样列。即,若使用该方法,在已检出该标题图样列时,则该标题图样中所继续输出的输出图样列须与期待值图样列相比较。然而,由于被测试装置的障碍等理由,在检出一种与标题图样列相一致的输出图样列时会有失败的情况发生。此时,以先前技术中对标题图样列的检出失败的原因来进行解析是因难的。
又,先前的测试装置中,应支援被测试装置的障碍解析,可对成为比较对象的输出图样和期待值图样的范围所在的比较视窗进行指定。即,在比较视窗的范围以外即使输出图样和期待值图样不一致时,亦不必进行障碍的检出而可继续进行测试。然而,在比较视窗的范围以外在标题图样列的检出失败时,此种意义的资讯一方面记录在错误日记(log)中且另一方面若通知该使用者,则测试对象范围外的不要的资料会与测试对象的比较结果相混合,于是会有障碍解析因难的情况发生。
因此,本发明的目的是提供一种可解决上述课题的测试装置。
依据本发明的第1形式以提供一种测试装置,此种对被测试装置的输出端所输出的输出信号的边缘进行测试用的测试装置,其包括:第1信号比较器,其由被测试装置的输出端所输出的输出图样列所含有的各别的输出图样中,依据处于预定的第1选通(strobe)时序中的输出信号的电压和一预定的第1门限值电压进行比较后的结果以取得该输出图样的值,且因此亦取得由输出端所输出的第1输出图样列;第2信号比较器,其由被测试装置的输出端所输出的输出图样列所含有的各别的输出图样中,依据处于预定的第2选通(strobe)时序中的输出信号的电压和一预定的第2门限值电压进行比较后的结果以取得该输出图样的值,且因此亦取得由输出端所输出的第2输出图样列;标题图样列检出部,其检出:第1输出图样列与预定的标题图样列已相一致;以及期待值比较部,在检出第1输出图样列和标题图样列已相一致时,使第2信号比较器所取得的第2输出图样列和第2输出图样列的期待值图样列的比较结果被输出。
亦可另外具备一种比较结果记忆部,其对应于第2选通时序和第2门限值电压,以记忆第2输出图样列和期待值图样列的比较结果。
亦可另外具备:测试控制部,其对使被测试装置中与标题图样列同一的输出图样列以及与期待值图样列同一的输出图样列被输出时的测试进行复数次;以及参数变更部,其在第2次测试中,使第2选通时序和第2门限值电压此二参数中至少其中一参数变更成与第1次测试不同的值。
测试控制部亦可在多次各别的测试中依据期待值比较部所输出的比较结果,使第2输出图样列输出一种与期待值图样列相一致的第2选通时序以及第2门限值电压的范围。
第1选通时序和第2选通时序以及第1门限值电压和第2门限值电压中的至少一参数亦可设定成互相不同的值。
在第1输出图样列与标题图样列相一致时,期待值比较部亦可使第1输出图样列取得后一预定的偏移(offset)时间之后所取得的第2输出图样列与期待值图样列的比较结果被输出。
应与标题图样列相一致的第1输出图样列以及应与期待值图样列相比较的第2输出图样列亦可以是由被测试装置的输出端以同一时序所输出的相同的图样列。
依据本发明的第2形式以提供一种测试装置,此种对被测试装置的输出端所输出的输出信号的边缘进行测试用的测试装置,其包括:测试图样输出部,其使被测试装置的输出端所预定的标题图样列输出时所用的测试图样列输出至被测试装置;信号比较器,其由被测试装置的输出端所输出的输出图样列所含有的各别的输出图样中,依据处于预定的选通(strobe)时序中的输出信号的电压和一门限值电压进行比较后的结果以取得该输出图样的值,且因此亦取得由输出端所输出的输出图样列;标题图样列检出部,其检出:第1信号比较器所取得的第1输出图样列已与标题图样列相一致;延迟时间取得部,其在测试图样开始输出之后取得一种与标题图样列一致的第1输出图样列被检出为止时的延迟时间;参数变更部,其在取得上述的延迟时间时,使选通时序和门限值电压中的至少一参数受到变更;测试控制部,其在藉由参数变更部造成参数变更时的状态下,藉由测试图样输出部以再度进行该测试图样列的输出;以及期待值比较部,其由测试图样列的输出再度开始而由已经过上述的延迟时间的时点所预定的偏移(offset)时间之后,使信号比较器所取得的第2输出图样列与第2输出图样列的期待值图样列的比较结果被输出。
依据本发明的第3实施形式以提供一种测试方法,此种对被测试装置的输出端所输出的输出信号的边缘藉由测试装置来进行测试时所用的测试方法,其包括:第1信号比较步骤,其由被测试装置的输出端所输出的输出图样列所含有的各别的输出图样中,依据处于预定的第1选通(strobe)时序中的输出信号的电压和一预定的第1门限值电压进行比较后的结果以取得该输出图样的值,且因此亦取得由输出端所输出的第1输出图样列;第2信号比较步骤,其由被测试装置的输出端所输出的输出图样列所含有的各别的输出图样中,依据处于预定的第2选通(strobe)时序中的输出信号的电压和一预定的第2门限值电压进行比较后的结果以取得该输出图样的值,且因此亦取得由输出端所输出的第2输出图样列;标题图样列检出步骤,其检出:第1输出图样列与预定的标题图样列已相一致;以及期待值比较步骤,在检出第1输出图样列和标题图样列已相一致时,使第2信号比较器所取得的第2输出图样列和第2输出图样列的期待值图样列的比较结果被输出。
依据本发明的第4实施形式以提供一种测试方法,此种对被测试装置的输出端所输出的输出信号的边缘藉由测试装置来进行测试时所用的测试方法,其包括:测试图样输出步骤,其使被测试装置的输出端所预定的标题图样列输出时所用的测试图样列输出至被测试装置;信号比较步骤,其由被测试装置的输出端所输出的输出图样列所含有的各别的输出图样中,依据处于预定的选通(strobe)时序中的输出信号的电压和一门限值电压进行比较后的结果以取得该输出图样的值,且因此亦取得由输出端所输出的输出图样列;标题图样列检出步骤,其检出:信号比较步骤所取得的第1输出图样列已与标题图样列相一致;延迟时间取得步骤,其在测试图样开始输出之后取得一种与标题图样列一致的第1输出图样列被检出为止时的延迟时间;参数变更步骤,上述的延迟时间已取得时,使选通时序和门限值电压中的至少一参数受到变更;测试控制步骤,其在藉由参数变更步骤造成参数变更时的状态下,藉由测试图样输出步骤以再度进行该测试图样列的输出;以及期待值比较步骤,其由测试图样列的输出再度开始时由已经过上述的延迟时间的时点所预定的偏移(offset)时间之后,使信号比较器所取得的第2输出图样列的与第2输出图样列的期待值图样列的比较结果被输出。
依据本发明的第5形式以提供一种测试装置,此种依据由被测试装置的输出端依序输出的输出图样列以及应与此输出图样列相比较的期待值图样列的比较结果来判定被测试装置的良否所用的测试装置,其包括:顺序控制部,其依序执行被测试装置的测试程式中所含有的多个命令,且由记忆体中读出已执行的各命令所对应的期待值图样;标题图样检出部,其在指示“与预定的标题图样列相一致的输出图样列的检出开始”所用的检出开始命令已执行时,检出:一与标题图样列相一致的输出图样列是否已由被测试装置中输出;期待值比较部,其对输出图样列和期待值图样列进行比较;以及时序调整部,其在与标题图样列相一致的输出图样列被检出时,使各别的期待值图样和应与该期待值图样相比较的输出图样成为同步且在同一周期中输入至期待值比较部中。
顺序控制部藉由多个步骤(其具有对输出图样和期待值图样进行比较所用的比较步骤)所构成的命令执行管线(pipeline)来执行各别的命令。时序调整部在比较步骤时在期待值图样输入时的时序中亦可对该应与期待值图样比较的输出图样在比较步骤中被输入时进行调整。
藉由顺序控制部,则在指示“标题图样列的检出终了”所用的检出终了命令被执行时,时序调整部亦可使一命令所对应的期待值图样和一命令执行时所取得的输出图样在同一周期中输入至期待值比较部中。
更包括多个标题图样列储存时所用的标题图样储存部。顺序控制部所执行的命令包含一种指示,其指出“由标题图样储存部选取该检出对象的标题图样列”以作为检出开始命令。就依据此检出开始命令所选择的标题图样列而言,此标题图样检出部亦可检出:与该标题图样列一致的输出图样列是否由被测试装置所输出。
亦可另外具备错误通知部,由标题图样列开始检出时所预定的期间内,在与标题图样列一致的输出图样列未被检出时,此错误通知部可通知“该标题图样列的检出已失败”。
依据本发明的第6实施形式以提供一种测试装置,其依据由被测试装置的输出端依序输出的输出图样列和应与此输出图样列相比较的期待值图样列的比较结果,以判定该被测试装置的良否,本测试方法包括:顺序控制步骤,其依序执行被测试装置的测试程式中所含有的多个命令,由记忆体中读出已执行的各命令所对应的期待值图样;标题图样检出步骤,其在指出“与预定的标题图样列相一致的输出图样列的检出开始”所用的检出开始命令已执行时,检出:与该标题图样列一致的输出图样列是否由被测试装置所输出;期待值比较步骤,其对输出图样列和期待值图样列进行比较;以及时序调整步骤,其在与标题图样列相一致的输出图样列被检出时,使各别的期待值图样和应与该期待值图样相比较的输出图样成为同步且在同一周期中在期待值比较步骤中进行比较。
依据本发明的第7形式以提供一种测试装置,此种依据由被测试装置的输出端依序输出的输出图样列以及应与此输出图样列相比较的期待值图样列的比较结果来判定被测试装置的良否所用的测试装置:标题图样检出部,其检出:一种与预定的标题图样列相一致的输出图样列是否由被测试装置所输出;期待值比较部,其在检出一种与该标题图样列相一致的输出图样列时,继续在此一与该标题图样列相一致的输出图样列中对由被测试装置所输出的输出图样列和该期待值图样列进行比较;以及选择写入部,其在与该标题图样列相一致的输出图样列被检出时,使期待值比较部所得到的比较结果储存在失效记忆体中,在与该标题图样列相一致的输出图样列未被检出时,被测试装置的输出图样列储存在失效记忆体中。
又,更可具备命令执行部,其在每个命令周期中依序执行多个命令,这些命令含有一种指出“标题图样列的检出开始”所用的检出开始命令。在检出开始命令已执行时,上述的选择写入部开始进行一种输出图样写入处理,其依序将被测试装置所输出的输出图样写入该失效记忆体中,在与该标题图样列相一致的输出图样列被检出时,亦可停止上述的输出图样写入处理,开始进行一种处理使期待值比较部所得到的比较结果依序储存在失效记忆体中。
又,在与该标题图样列相一致的输出图样列未被检出时,在检出开始命令开始执行后经过一预定的命令周期数为止的期间中,该选择写入部亦可将被测试装置所输出的输出图样列储存在失效记忆体中,在经过一预定的命令周期数之后亦可使已输出的输出图样列不储存在失效记忆体中。
依据本发明的第8形式以提供一种测试方法,此种依据由被测试装置的输出端依序输出的输出图样列以及应与此输出图样列相比较的期待值图样列的比较结果来判定被测试装置的良否所用的测试方法,其包括:标题图样检出步骤,其检出:一种与预定的标题图样列相一致的输出图样列是否由被测试装置所输出;期待值比较步骤,在检出一种与该标题图样列相一致的输出图样列时,继续在此一与该标题图样列相一致的输出图样列中对由被测试装置所输出的输出图样列和该期待值图样列进行比较;以及选择写入步骤,在与该标题图样列相一致的输出图样列被检出时,使期待值比较步骤所得到的比较结果储存在失效记忆体中,在与该标题图样列相一致的输出图样列未被检出时,被测试装置的输出图样列储存在失效记忆体中。
依据本发明的第9形式以提供一种测试装置,此种依据由被测试装置的输出端依序输出的输出图样列以及应与此输出图样列相比较的期待值图样列的比较结果来判定被测试装置的良否所用的测试装置,其包括:顺序控制部,其依序执行被测试装置的测试程式中所含有的多个命令,且由记忆体中读出已执行的各命令所对应的期待值图样;标题图样检出部,其在指示“与预定的标题图样列相一致的输出图样列的检出开始”所用的检出开始命令已执行时,检出“一与标题图样列相一致的输出图样列是否已由被测试装置中输出”;期待值比较部,在与标题图样列相一致的输出图样列被检出时,继续在与标题图样列相一致的输出图样列中对由被测试装置所输出的输出图样列和上述的期待值图样列进行比较;标题检出范围设定部,其对多个命令中与标题图样列相一致的输出图样列的检出成为有效时的有效范围进行设定;以及错误判断通知部,其在检出开始命令开始执行直至使标题图样列的检出终了时所用的检出终了命令被执行时为止的期间中,若与标题图样列相一致的输出图样列未被检出时,则在以检出开始命令至检出终了命令为止的命令是在有效范围内作为条件下通知一种错误信息,以显示该标题图样列的检出已失败。
又,更可具备一种标题检出范围设定暂存器,其储存着使有效范围开始时所用的命令的位址所在的开始位址以及使有效范围终了时所用的命令的位址所在的终了位址。标题检出范围设定部藉由使一种储存在标题检出范围设定暂存器中的值以设定一种有效范围。错误判断通知部亦可在标题检出范围设定暂存器中所储存的开始位址以及标题检出范围设定暂存器中所储存的终了位址之间以检出开始命令或检出终了命令被执行作为条件下通知一种错误信息,以显示该标题图样列的检出已失败。
又,更可具备一种比较有效范围设定部,其对应于至少一命令来设定一种比较视窗,此比较视窗显示“该一命令所对应的期待值图样和该输出图样的比较已成为有效”。在由检出开始命令至检出终了命令为止的期间的至少1个命令中设定一种比较视窗时,该标题检出范围设定部亦可在该检出开始命令至检出终了命令为止的期间中使标题图样列的检出成为有效。
依据本发明的第10实施形式以提供一种测试方法,其依据由被测试装置的输出端依序输出的输出图样列和应与此输出图样列相比较的期待值图样列的比较结果,以判定该被测试装置的良否,本测试方法包括:顺序控制步骤,其依序执行被测试装置的测试程式中所含有的多个命令,由记忆体中读出已执行的各命令所对应的期待值图样;标题图样检出步骤,其在指出“与预定的标题图样列相一致的输出图样列的检出开始”所用的检出开始命令已执行时检出:一与该标题图样列一致的输出图样列是否由被测试装置所输出;期待值比较步骤,其在与标题图样列一致的输出图样列被检出时,继续在与标题图样列一致的输出图样列中对由被测试装置所输出的输出图样列和该期待值图样列进行比较;标题检出范围设定步骤,其对多个命令中使与标题图样列一致的输出图样列的检出成为有效时的有效范围进行设定;以及错误判断通知步骤,其在检出开始命令开始执行至使标题图样列的检出终了所用的检出终了命令被执行为止的期间中,若与标题图样列一致的输出图样列未检出时,则以“检出开始命令至检出终了命令为止的命令是在有效范围内”作为条件,以通知一种错误信息,其显示该标题图样列的检出已失败。
又,上述的发明概要并未列举本发明的必要特征的全部,这些特征群的下位组合(sub-combination)亦属本发明的范围。
发明的效果
依据本发明,可对被测试装置所输出的输出信号的边缘适当地进行测试。又,即使在输出图样列的输出时序不确定时,输出图样列的输出仍可与期待值图样列的读出同步以进行比较。又,显示此测试的开始所用的标题图样未被检出时,亦可容易地追究其原因。又,亦可适当地设定标题图样列的检出成为有效时的范围。
为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附图式,作详细说明如下。
附图说明
图1是实施例1的测试装置10的构成图。
图2是实施例1所属的比较器180及搜索·比较部148的构成。
图3是实施例1所属的测试装置10中的测试动作图。
图4是实施例1的变形例所属的测试装置10的构成。
图5是实施例1的变形例所属的比较器180以及搜索·比较部148的构成。
图6是实施例1的变形例所属的测试装置10中的测试动作。
图7是实施例2的测试装置10的构成图。
图8是实施例2所属的搜索·比较部148的构成。
图9是藉由实施例2所属的搜索·比较部148以显示标题图样列被检出时的处理的时序图。
图10是实施例3的测试装置10的构成图。
图11是实施例3所属的搜索·比较部148的构成。
图12是实施例3所属的期待值图样列和输出图样列比较时处理的时序图。
图13是实施例4的测试装置10的构成图。
图14是实施例4所属的搜索·比较部148的构成。
图15是实施例4所属的测试控制装置195的构成。
图16是实施例4所属的搜索视窗的一例。
图17是实施例4所属的比较视窗的一例。
10:测试装置 100:被测试装置(DUT)
102:主记忆体 104:命令记忆体
106:测试图样记忆体 108:期待值图样记忆体
110:数位式捕捉(capture)记忆体 112:中央图样控制部
114:图样表列(list)记忆体 116:向量产生控制部
118:既定图样记忆体 120:中央捕捉控制部
122:图样结果记忆体 130:通道方块
140:通道图样产生部 142:顺序图样产生部
144:格式化控制部 146:顺序图样产生部
148:搜索·比较部 150:失效捕捉控制部
152:失效捕捉记忆体 160:时序产生部
170:驱动器 180:比较器
190:测试控制装置 192:测试控制部
194:参数变更部 195:测试控制装置
196:延迟时间取得部 200a~b:电压比较器
210a~b:延迟元件 220a~b:正反器(FF)
230a~b:搜索部 240a~b:对准部
250a~b:比较部 260,270:开关
300:标题图样列 305,310:比较对象图样列
320:期待值图样列 330:比较结果
500a~b:测试图样列 510a~b:既定图样列
520a~b:比较对象图样列 530a~b:期待值图样列
600:标题图样储存部 610:标题图样检出部
620:对准部 630:期待值比较部
640:时序调整部 650:选择器
660:错误通知部 700:标题图样检出部
710:对准部 720:期待值比较部
730:选择写入部 800:标题图样检出部
810:期待值比较部 820:标题检出范围设定暂存器
830:比较有效范围设定暂存器 840:错误判断通知部
850:选择器 900:标题检出范围设定部
910:比较有效范围设定部
具体实施方式
以下将依据本发明的实施形式来说明本发明,但以下的实施形式不是用来限定各项申请专利范围中所属的发明。又,各实施形式中所说明的特征的组合的全部不限于本发明的解决手段所必需者。
(实施例1)
图1是实施例1的测试装置10的构成图。测试装置10可对一种具备1个或多个端子的DUT(被测试装置)100进行测试且具有边缘测试功能,其可对被测试装置的输出端所输出的输出信号的边缘进行测试。此测试装置10具备:主记忆体102、中央图样控制部112、多个通道方块130以及测试控制装置190。
主记忆体102储存着DUT100的测试程式且记录着该测试程式执行后的“结果DUT100”所输出的输出图样。主记忆体102具备:命令记忆体104、多个测试图样记忆体106、多个期待值图样记忆体108以及数位式捕捉记忆体110。
命令记忆体104储存着该测试程式中所含有的各命令。多个测试图样记忆体106中的每一个都对应于DUT100的各端子而设置,且对应于各命令使执行该命令时的命令周期中所用的测试图样列分别储存在每个端子中。因此,此测试图样列在命令周期中含有一种对DUT100的端子应依序输出的多个测试图样。例如,测试装置10在1命令的每一周期会产生32位元的信号而对DUT100输出时,则测试图样记忆体106对应于各命令以储存1命令周期中所输出的32位元的信号所对应的32个测试图样所组成的测试图样列。
多个期待值图样记忆体108中的每一个都对应于DUT100的各端子而设置,且对应于各命令使执行该命令时的命令周期中所用的期待值图样列分别储存在每个端子中。因此,此期待值图样列在命令周期中含有应与DUT100的端子依序输出的多个输出图样依序相比较的多个期待值图样。数位式捕捉记忆体110记录着该测试程式执行后的结果DUT100所输出的输出图样。
在上述的描述中,命令记忆体104,多个测试图样记忆体106,多个期待值图样记忆体108及/或数位式捕捉记忆体110亦可进行设计以分割成构成主记忆体102所用的各别的记忆体模组,亦可设计成同一记忆体模组内的不同记忆体区域。
中央图样控制部112连接至主记忆体102及多个通道方块130,以进行DUT100的各端子所共通的处理。中央图样控制部112具有:图样表列记忆体114、向量产生控制部116、中央捕捉控制部120以及图样结果记忆体122。
图样表列记忆体114就测试程式的主例行事件(routine)和次例行事件而言储存着:命令记忆体104中该例行事件的开始/终了位址,测试图样记忆体106中的测试图样的开始位址,期待值图样记忆体108中的期待值图样的开始位址等等。向量产生控制部116在功能上用作顺序图样产生部146且同时用作本发明中所属的顺序控制部,或用作本发明中的命令执行部。然后,向量产生控制部116在每个命令周期中依序执行DUT100的测试程式中所含有的命令。更具体而言,向量产生控制部116在每个例行事件中由图样表列记忆体114依序读出由开始位址开始直至终了位址为止的各命令且依顺序执行。
中央捕捉控制部120由各通道方块130接受DUT100的各端子每个的良否判定结果,以统计各例行事件中每个DUT100的良否判定结果。图样结果记忆体122储存着各例行事件中每个DUT100的良否判定结果。
多个通道方块130中的每一个都对应于DUT100的各端子而设置。例如,通道方块130对应于DUT100的某一端子而设置,通道方块130b对应于DUT100的另一端子而设置。各别的通道方块130a、b由于互相采用大略相同的构成,则除了以下的不同点之外总称为“通道方块130”。各通道方块130具有通道图样产生部140,时序产生部160,驱动器170以及比较器180。即,例如,通道方块130a具有通道图样产生部140a,时序产生部160a,驱动器170a以及比较器180a。
通道图样产生部140产生该端子的测试用的测试图样列或期待值图样列,且进行DUT100的输出图样列和期待值图样列的比较。通道图样产生部140包含:既定图样记忆体118、顺序图样产生部142、格式化控制部144、顺序图样产生部146、搜索·比较部148、失效捕捉控制部150、失效捕捉记忆体152。即,例如,通道图样产生部140a包含:既定图样记忆体118a、顺序图样产生部142a、格式化控制部144a、顺序图样产生部146a、搜索·比较部148a、失效捕捉控制部150a、失效捕捉记忆体152a。
既定图样记忆体118对应于既定图样列识别用的既定图样识别资讯以储存着测试图样列及/或期待值图样列(以下总称为“图样列”)中已预先设定的既定图样列。因此,测试图样记忆体106及/或期待值图样记忆体108就与既定图样列相同的图样列而言储存着该既定图样列的既定图样识别资讯以取代该图样列本身。
顺序图样产生部142对应于须执行的例行事件而由向量产生控制部116接收应输出的测试图样列的开始位址。然后,顺序图样产生部142对应于各命令周期由该开始位址开始依序由测试图样记忆体106读出该测试图样列,且依序输出至格式化控制部144。此格式化控制部144在功能上用作驱动器170且同时用作本发明的测试图样输出部,且使测试图样列转换成该驱动器170控制用的格式。
顺序图样产生部146在功能上用作向量产生控制部116且同时用作本发明的顺序控制部。然后,顺序图样产生部146对应于须执行的例行事件而由向量产生控制部116接收该期待值图样列的开始位址。然后,顺序图样产生部146对应于各命令周期由该开始位址开始而由期待值图样记忆体108依序读出该期待值图样,以依序输出至该搜索·比较部148和失效捕捉控制部150。
搜索·比较部148藉由比较器180以输入DUT100所输出的输出图样列且与期待值图样列进行比较。因此,就由DUT100所输出的时序不确定的输出图样列而言,搜索·比较部148亦可在以由DUT100而来的特定的标题图样列已被输出作为条件下具有一种搜索功能,以开始进行一种与该期待值图样列的比较。此时,搜索·比较部148亦可在以“与该标题图样列相一致的输出图样列的检出开始进行时所需的检出开始命令已被执行”作为条件下,开始进行标题图样列的检出。藉由搜索功能,则搜索·比较部148例如依据标题图样列的检出开始至标题图样列被检出为止所需要的时间,以对输出图样列与期待值图样列相比较时的时序进行调整。
失效捕捉控制部150由搜索·比较部148接收DUT100的输出图样列及期待值图样列的一致/不一致的资讯,以产生一与该端子有关的DUT100的良否判定结果。失效捕捉记忆体152是本发明所属的比较结果记忆部的一例且储存着失效资讯,其含有一种成为与搜索·比较部148所进行的搜索处理的结果或期待值不一致的输出图样的值等。
时序产生部160产生该驱动器170在输出该测试图样列内的各测试图样时所需的时序且产生该比较器180在取入DUT100的输出图样时所需的时序。驱动器170在功能上用作该格式化控制部144且同时用作本发明中的测试图样输出部,在由时序产生部160所指定的时序中,藉由通道图样产生部140内的格式化控制部144使已输出的各测试图样输出至DUT100。比较器180在时序产生部160所指定的时序中取得由DUT100的端子所输出的输出图样,以供给至通道方块130内的搜索·比较部148和数位式捕捉记忆体110中。
又,通道图样产生部140亦可采用一种具备共通的顺图样产生部的构成,其具有上述的顺序图样产生部142和顺序图样产生部146的功能,以取代如上所示的各别地设有顺序图样产生部142和顺序图样产生部146的构成。
测试控制装置190具有一测试控制部192和一参数变更部194且可控制该测试装置10。在边缘测试中,测试控制部192控制该向量产生控制部116,以多次地进行测试,使标题图样和比较对象的输出图样输出至DUT100中。然后,该测试控制部192由失效捕捉记忆体152取得多次的测试结果,以输出至该测试装置10的使用者而成为DUT100的输出信号的边缘测定结果。在藉由测试控制部192所进行的各测试中,参数变更部194使测试中的输出信号的取入时序或门限值电压等的参数被变更。
图2是实施例1所属的比较器180及搜索·比较部148的构成。本实施例中,为了进行DUT100的1个输出端所对应的输出信号的边缘测试,则在标题图样的检出中须使用一种具有一比较器180a和一搜索·比较部148a的第1通道方块130a,在输出图样和期待值图样的一致检出时须使用一种具有一比较器180b和一搜索·比较部148b的第2通道方块130b。
比较器180a包含电压比较器200a,延迟元件210a和正反器220a。在由DUT100的输出端所输出的输出图样列中所含有的各别的输出图样中,电压比较器200a对输出信号的电压和预定的第1门限值电压VT1进行比较。更具体而言,电压比较器200a在输出信号的电压超过VT1时输出逻辑值“1”且在未超过时输出逻辑值“0”以作为该输出图样的值。延迟元件210a使第1通道方块130内的时序产生部160a所指定的时序只延迟该参数变更部194所指定的延迟量,以产生该输出信号的周期中已预定的第1选通时序的选通信号。正反器220a在第1选通时序中取入该电压比较器200a的输出信号。因此,在输出图样列中所含有的各别的输出图样中,正反器220a依据处于第1选通时序的输出信号的电压和第1门限值电压的比较结果以取得该输出图样的值。藉由上述的构成,则比较器180a可取得由输出端所输出的第1输出图样列。
比较器180b包含电压比较器200b,延迟元件210b以及正反器220b。电压比较器200b采用一种与电压比较器200a大约相同的功能和构成。电压比较器200b连接至一与连接至电压比较器200a的DUT100的输出端相同的输出端,在由该输出端所输出的输出图样列中所含有的各别的输出图样中,电压比较器200b对该输出信号的电压和预定的第2门限值电压VT2进行比较。延迟元件210b采用一种与延迟元件210a大约相同的功能和构成,以产生该输出信号的周期中已预定的第2选通时序的选通信号。正反器220b采用一种与正反器220a大约相同的功能和构成,且在第2选通时序中取入该电压比较器200b的输出信号。因此,在输出图样列中所含有的各别的输出图样中,正反器220b依据处于第2选通时序的输出信号的电压和第2门限值电压的比较结果以取得该输出图样的值。藉由上述的构成,则比较器180b可取得由输出端所输出的第2输出图样列。
搜索·比较部148a包含搜索部230a,对准部240a以及比较部250a。搜索部230a检出:由比较器180a所取得的第1输出图样列已与预定的图样列所在的标题图样列相一致。因此,搜索部230a使用1个或多个标题图样所构成的图样列以作为标题图样列,其可与由1个或多个输出图样所构成的第1输出图样列相比较。对准部240a以及比较部250a虽然采用一种分别与对准部240b以及比较部250b相同的功能和构成,但在边缘测试中未使用。
搜索·比较部148b包含搜索部230b,对准部240b,比较部250b,开关260以及开关270。搜索部230b虽然采用一种与搜索部230a相同的功能和构成,但在边缘测试中未使用。对准部240b使正反器220b所输出的第2输出图样列可与一种由第2通道方块130内的顺序图样产生部供给至比较部250b中的期待值图样列成为同步。更具体而言,对准部240b使第2输出图样列只延迟一种由连接至该对准部240的搜索部230所指定的周期数,以使第2输出图样列可与期待值图样列同步。在检出第1输出图样列和标题图样列相一致时,比较部250b对该比较器180b所取得的第2输出图样列以及由顺序图样产生部146所供给的第2输出图样列的期待值图样列进行比较,且使比较结果输出。
开关260使搜索部230a和搜索部230b中的一方连接至对准部240b。开关270使搜索部230a和搜索部230b中的一方连接至比较部250b。因此,在独立地使用该具有搜索·比较部148b的第2通道方块130时,开关260和开关270分别连接该搜索部230b,对准部240b以及比较部250b。另一方面,第1通道方块130和第2通道方块130成为一组以进行边缘测试时,则开关260分别连接该搜索部230a,对准部240b以及比较部250b。
图3是实施例1所属的测试装置10中的测试动作图。
在可获得Shmoo图时的边缘测试中,测试控制部192进行多次测试,每次测试都使一与标题图样列相同的输出图样列和一与期待值图样列相同的输出图样列输出至DUT100中。更具体而言,测试控制部192藉由向量产生控制部116以重复地执行该测试的测试程式。
参数变更部194在已进行多次的各别的测试中依序使比较器180b中所设定的第2选通时序和第2门限值电压变更。即,第1测试后在进行第2测试时,参数变更部194在第2测试中使第2选通时序和第2门限值电压中的至少一种参数变更成一种与第1测试不同的值。另一方面,参数变更部194在各测试中使比较器180a中设定用的第1选通时序和第1门限值电压维持在DUT100的输出信号可正确地取入时之值。即,参数变更部194将第1选通时序和第1门限值电压设定在一种由DUT100的方法所决定的理想值。
在各测试中,向量产生控制部116,顺序图样产生部142,格式化控制部144以及驱动器170对DUT100输出一种测试图样列,其使一种与标题图样列相同的输出图样列和一种与期待值图样列相同的输出图样列被输出。DUT100接受该测试图样列以输出一种标题图样列300和一种应与期待值图样列相比较的比较对象图样列305。
比较器180a使用一已设定成理想值的第1选通时序和第1门限值电压,依序取得DUT100所输出的输出图样D0、D1、…D10且输出成第1输出图样的系列。又,比较器180b使用第2选通时序和第2门限值电压,依序取得DUT100所输出的输出图样D0、D1、…D10且输出成第2输出图样的系列。因此,第1选通时序,第2选通时序和第1门限值电压,第2门限值电压此4种参数中至少一种是以边缘测定作为目的而被设定成互相不同的值。因此,藉由第2选通时序和第2门限值电压的设定,则比较器180b可能会错误地取得DUT100所输出的输出图样。于是,为了使错误发生时所得到的情况显示出来,则比较器180b所取得的输出图样须显示成D0’、D1’、…D10’。
本例中,搜索部230a中须设定标题图样列D1、D2、D3。
因此,若比较器180a输出第1输出图样列D1、D2、D3时,则搜索部230a检出“第1输出图样列已与标题图样列相一致”。然后,对准部240b使比较器180b所输出的第2输出图样的系列成为与顺序图样产生部146所供给的期待值图样列320同步。
其次,比较部250b对该比较器180b对应于比较对象图样列305而取得的第2输出资料列D5、D6、D7以及该第2输出资料列的期待值图样列320所在的ED5、ED6、ED7进行比较,以输出一种比较结果330,其包含各图样中每个图样的一致(T:True)或不一致(F:False)。因此,由取得标题图样列300所对应的第1输出图样列开始直至取得该比较对象图样列305所对应的第2输出图样列为止的偏移时间是由测试程序所预先指定。然后,在第1输出图样列与标题图样列300一致时,比较部250b使由取得第1输出图样列开始而经一预定的偏移时间之后所取得的第2输出图样列所在的比较对象图样列310与期待值图样列320的比较结果被输出。
由比较部250b所获致的比较结果经由第2通道方块130内的失效捕捉控制部150b以供给至第2通道方块130内的失效捕捉记忆体152中。然后,失效捕捉记忆体152对应于第2选通时序和第2门限值电压以记忆第2输出图样列和期待值图样列的比较结果。
使第2选通时序及/或第2门限值电压改变,以多次进行以上所示的测试,其结果是第2选通时序和第2门限值电压的各设定值所对应的比较结果会储存在失效捕捉记忆体152b中。测试控制部192在多次测试的每一测试中由失效捕捉记忆体152b取得该比较部250b所输出的比较结果,且依据此比较结果对该测试装置10的使用者输出第2输出图样列与期待值图样列成为一致时的第2选通时序和第2门限值电压的范围。此时,测试控制部192亦可对使用者显示各别与第2选通时序和第2门限值电压有关的通过/失败已绘出的Shmoo图。
依据以上所示的测试装置10,可一方面使用适当的选通时序和门限值电压以检出标题图样,且另一方面使选通时序和门限值电压改变,以测试是否正确地取得该输出信号。
又,在上述的描述中,标题图样列300,比较对象图样列305,比较对象图样列310以及期待值图样列320亦可包含多种图样,但亦可只由单一的图样所构成而不是由多种图样所构成。
又,应与标题图样列300一致的第1输出图样列以及应与比较结果330比较的第2输出图样列所在的比较对象图样列305亦可以是由DUT100的输出端以相同的时序所输出的同一图样列。此时,由搜索部230a所进行的标题图样列的检出和由比较部250b所进行的期待值图样列的比较是以并行方式而进行。然后,比较部250b使标题图样列被检出的时点时的比较结果储存至失效捕捉记忆体152b中。
图4是实施例1的变形例所属的测试装置10的构成。图4中符号与图1相同的构件由于所具备的功能或构成与图1大约相同,则以下除了不同点之外都不再说明。又,图1中所示的通道方块130a、b、…在本例中由于互相具有大约相同的功能,则这些通道方块总称为通道方块130。
本变形例中所属的测试装置10使用1个通道方块130,以进行DUT100的1个输出端所对应的输出信号的边缘测试。为了实现此种边缘测试,则搜索·比较部148由顺序图样产生部142接收一种已使测试程式为基准的测试图样的输出开始的时序,且预先取得一种由该测试图样的输出开始直至标题图样列被取得为止时的延迟时间。然后,在边缘测试时,搜索·比较部148使用该延迟时间,以对该比较对象图样列被输出时的时序作特别限定。
图5是实施例1的变形例所属的比较器180以及搜索·比较部148的构成。图5中,符号与图2相同的构件由于所具有的功能和构成大致上与图2相同,则以下除了不同点之外不再另外说明。
比较器180采用一种与图2中所示的比较器180a/b相同的功能和构成。搜索·比较部148包含搜索部230,对准部240,比较部250以及延迟时间取得部196。搜索部230,对准部240和比较部250所采用的功能和构成分别与图2中所示的搜索部230a/b,对准部240a/b以及比较部250a/b相同。
延迟时间取得部196为了测定上述的延迟时间以进行该测试程式时,须由顺序图样产生部142接收一种在意义上是“已使测试程式为基准的测试图样的输出开始”的测试图样输出开始通知。又,延迟时间取得部196由搜索部230接收一种在意义上是“已检出该比较器180所取得的输出图样列是与标题图样列相一致”的标题图样检出通知。然后,依据该测试图样输出开始通知已被接收后的时序以及标题图样检出通知已被接收后的时序,延迟时间取得部196在该测试图样的输出开始之后取得一种使与标题图样列一致时所用的输出图样列被检出为止时的延迟时间且予以储存着。
又,为了进行边缘测试,则在延迟时间取得部196中该测试图样的输出开始时,须由顺序图样产生部142再度接收一种在意义上是“测试图样的输出已开始”的测试图样输出开始通知。然后,延迟时间取得部196依据该测试图样输出开始通知已被接收后的时序以及该延迟时间,以对该比较对象图样列被输出时的时序作特别限定,且在比较部250中对“该比较对象图样列和期待值图样列的比较”进行指示。
图6是实施例1的变形例所属的测试装置10中的测试动作。
首先,为了算出上述的延迟时间,测试装置10依据该测试控制部192而来的指示以执行一种在边缘测试中所使用的测试程式。此时,参数变更部194使可适当地取得DUT100的输出信号时的选通时序和门限值电压设定于比较器180中。
若藉由向量产生控制部116和顺序图样产生部142来执行上述的测试程式,则格式化控制部144和驱动器170使由DUT100的输出端输出既定图样列510a时所用的测试图样列500a输出至DUT100。延迟时间取得部196藉由测试图样输出开始通知以便由顺序图样产生部142接收一种已使该测试图样列500a的输出开始的时序。搜索部230若检出该比较器180所取得的输出图样列和既定图样列510a一致时,则藉由标题图样检出通知来通知该延迟时间取得部196。此延迟时间取得部196由测试图样列500a的输出开始后的时序和既定图样列510a已检出后的时序中取得该测试图样列500a的输出开始后直至一种与既定图样列510a相一致的输出图样列被检出为止时的延迟时间。
在延迟时间TD已取得的情况下,参数变更部194使选通时序和门限值电压此二种参数中的至少一种参数被变更。即,例如,在测试图样列500a输出用的测试程式的执行已终了之后,参数变更部194亦可将上述参数变更。
其次,在参数变更部194已使参数变更后的状态中,测试控制部192对该向量产生控制部116指示一种测试程式以便再度执行。因此,此测试控制部192藉由格式化控制部144和驱动器170以再度进行该测试图样列的输出。延迟时间取得部196由顺序图样产生部142再接收该测试图样输出开始通知以开始计时,且等待由DUT100以取得该比较对象图样列520b。更具体而言,延迟时间取得部196由于该测试图样列500b再度开始输出而需由已经过该延迟时间TD之后的时点开始,以等待一预先指定的偏移时间TO后的时序的到来。此种偏移时间TO是一种由既定图样列510a或510b被输出开始直至比较对象图样列520a或520b被输出为止之间的时间。然后,延迟时间取得部196由于该测试图样列500b再度开始输出而需对“由已经过该延迟时间TD之后的时点开始直至该偏移时间TO之后该比较对象图样列520b和期待值图样列530b的比较”进行指示。比较部250接收此种指示且在该测试图样列500b再度开始输出而由已经过该延迟时间TD之后的时点开始直至该偏移时间TO之后使比较器180所取得的比较对象图样列520b和比较对象图样列520b的期待值图样列530b的比较结果被输出。
依据本变形例的测试装置10,首先,使用适当的选通时序和门限值电压,以计测该测试图样列500a开始输出时至取得该既定图样列510a为止时的延迟时间TD。因此,边缘测试中即使不能检出该既定图样列510b,则依据已计测的延迟时间TD和已预定的偏移时间TO仍可对取得该比较对象图样列520b时的时序作特别限定。
(实施例2)
图7是实施例2之测试装置10的构成图。本例中的测试装置10亦可未具备图1等所示的测试装置10中的既定图样记忆体118。就其它的构成而言,具有与图1相同的符号的构件由于具备一种与图1大略相同的功能或构成,因此以下除了不同点之外其它的说明将省略。又,图1中所示的通道方块130a、b、…在本例中由于互相具有大略相同的功能,则这些方块总称为通道方块130。
图8是实施例2所属的搜索·比较部148的构成。搜索·比较部148具有标题图样储存部600,标题图样检出部610,对准部620,期待值比较部630,时序调整部640,选择器650以及错误通知部660。标题图样储存部600储存着多个标题图样列。标题图样检出部610依据由向量产生控制部116所接收的信号以判断:指示“与标题图样列一致的输出图样列的检出开始”所用的检出开始命令是否已执行。因此,检出开始命令含有一种“由标题图样储存部600选择该检出对象的标题图样列”时所用的指示。
在该检出开始命令已执行时,标题图样检出部610依据该检出开始命令而由标题图样储存部600选择该检出对象的标题图样。然后,就依据该检出开始命令所选择的标题图样列而言,标题图样检出部610检出:与该标题图样列一致的输出图样列是否已由被测试装置100输出。具体而言,标题图样检出部610由比较器180的输出信号中检出一种与标题图样列一致的输出图样列。
在与该标题图样列一致的输出图样列已被检出时,该时序调整部640依据标题图样列的检出开始时至标题图样列已被检出为止所经过的时间,使输出图样列的输出时序调节用的参数设定在对准部620中。例如,时序调整部640亦可使输出时序列延迟用的延迟量设定在对准部620中。藉由适当地设定该延迟量,则可使输出图样列和期待值图样列同步。
对准部620由比较器180输入该被测试装置100所输出的输出图样列。然后,对准部620使已输入的输出图样列只延迟一种由时序调整部640所设定的延迟量,且然后发送至期待值比较部630和选择器650中。又,在标题图样列未检出时,对准部620亦可使输出图样列未延迟而使其输出保持原状。
更具体而言,对准部620具有纵向连接的多个正反器以及选择器,其可选取多个正反器的任一个的输出且将其输出。然后,初段的正反器依顺序输入该输出图样列。选择器依据时序调整部640所设定的延迟量来选择任一正反器的输出且将其输出。因此,对准部620可使输出图样所通过的正反器的数目改变,以使输出图样列和期待值图样列的时序相一致。
在标题图样列已检出时,期待值比较部630对由该对准部620所输入的输出图样列和由顺序图样产生部146所输入的期待值图样列进行比较,且将该比较结果依序发送至选择器650。在标题图样列已检出时,此选择器650输入该期待值比较部630所获致的比较结果且发送至失效捕捉控制部150。另一方面,在标题图样列未检出时,此选择器650使由对准部620所输入的输出图样列发送至失效捕捉控制部150。
由标题图样列的检出开始一预定的期间内,若与该标题图样列一致的输出图样列未被检出时,则错误通知部660将“标题图样列的检出已失败”通知该测试装置10的使用者。因此,使用者可适当地知道“标题图样列不能检出”的错误已发生,且同时可容易地藉由调查该失效捕捉记忆体152中所储存的至错误发生为止时的输出图样列以追究该错误的发生原因。
图9是实施例2所属的期待值图样列和输出图样列相比较时的处理的时序图。向量产生控制部116藉由具有命令执行步骤(其用来执行命令)和比较步骤(其对输出图样和期待值图样进行比较)的多个步骤所构成的命令执行管线来执行各别的命令。更具体而言,在命令执行步骤中,向量产生控制部116在每个命令周期中依序执行多个命令,包含:PKTST命令,其指示“标题图样列的检出已开始”;以及PKTEND命令,其指示“该标题图样列的检出已终了”。此处,PKTST命令是本发明的检出开始命令的一例,PKTEND命令是本发明的检出终了命令的一例。
就多个命令的各命令而言,顺序图样产生部146由期待值图样记忆体108中依序读出该命令所对应的期待值图样。例如,顺序图样产生部146读出PKTST命令所对应的期待值图样所具有的ED1。又,顺序图样产生部146读出PKTST命令的下一NOP命令所对应的期待值图样所具有的ED2。此处,由于比较步骤是在命令执行步骤之后才执行,则比较步骤中期待值图样列被输入时的时序较命令执行步骤中所对应的命令被执行时的时序更加延后。
在比较步骤中,比较器180取得一种由DUT100的输出端所输出的输出时序,以供给至搜索·比较部148。例如,比较器180依序取得输出图样列D1、D2、D3、…Dn、Dn+1以及Dn+2,以供给至搜索·比较部148。对准部620使该输出图样列只延迟该时序调整部640所设定的延迟量,且使该输出图样输出至期待值比较部630。
更具体而言,在藉由对准部620中设定适当的延迟量以使比较步骤中期待值图样列ED1、ED2以及ED3被输入时的时序中,时序调整部640在比较步骤中对该与ED1、ED2以及ED3进行比较的输出图样列D1、D2、D3的输入进行调整。同样,在比较步骤中期待值图样列EDn、EDn+1以及EDn+2被输入时的时序中,时序调整部640在比较步骤中使应与EDn、EDn+1以及EDn+2相比较的输出图样列Dn、Dn+1以及Dn+2被输入。因此,时序调整部640使各别的期待值图样和应与该期待值图样相比较的输出图样成为同步,且可在同一周期中输入至期待值比较部630中。
因此,依据本实施例中的测试装置10,即使由被测试装置100而来的输出图样的输出开始后的时序是不确定之时,仍可使期待值图样和输出图样适当地同步。
在向量产生控制部116执行PKTEND命令时,时序调整部640藉由期待值比较部630来进行一种使“输出图样不会延迟”的设定。因此,期待值比较部630使已输入的输出图样列未被延迟的原来形式输出至期待值比较部630中。更具体而言,PKTEND命令执行之后,顺序图样产生部146读出期待值图样列EDm、EDm+1以及EDm+2。此处,由于比较步骤是在该命令执行步骤之后才执行,则比较步骤中期待值图样列被输入时的时序较命令执行步骤中相对应的命令被执行时的时序更加延后。
在比较步骤中,比较器180依序取得此输出图样列Dm、Dm+1以及Dm+2以供给至搜索·比较部148。对准部620使该输出图样列未延迟而输出至期待值比较部630。结果,期待值比较部630对该输出图样Dm+1和期待值图样EDm进行比较,且将该比较结果Rm写入至失效记忆体中。
如上所述,PKTEND命令已执行时,时序调整部640使对准部620中已设定的延迟量返回到标题图样检出前的状态。结果,时序调整部640可使某一命令所对应的期待值图样和该命令执行时由被测试装置100所取得的输出图样在同一周期中输入至期待值比较部630中。因此,只能对该被测试装置100的测试的一部分来控制“是否使该期待值图样和输出图样成为同步”。
(实施例3)
图10是实施例3的测试装置10的构成图。本例中的测试装置10亦可未具备图1等所示的测试装置10中的既定图样记忆体118。就其它的构成而言,具有与图1相同的符号的构件由于所具备的功能或构成大致与图1相同,因此以下除了不同点之外都不再说明。又,图1中所示的通道方块130a、b、…在本例中由于互相之间具有大致相同的功能,则这些通道方块总称为通道方块130。
图11是实施例3所属的搜索·比较部148的构成。搜索·比较部148具有标题图样检出部700,对准部710,期待值比较部720以及选择写入部730。标题图样检出部700由比较器180输入一种由被测试装置100所输出的输出图样列。然后,标题图样检出部700依据由向量产生控制部116所接收的信号以判断一种指示“与标题图样列成为一致的输出图样列的检出开始”所用的检出开始命令是否已执行。若此检出开始命令已执行,则标题图样检出部700检出“与预定的标题图样列成为一致的输出图样列是否已由被测试装置100输出”。
在标题图样列已检出时,标题图样检出部700依据一种由标题图样列的检出开始直至标题图样列已被检出为止时所经过的时间,使输出图样列的输出时序在调节时所用的参数设定在对准部710中。例如,标题图样检出部700亦可使输出图样列延迟用的延迟量设定在对准部710中。藉由适当地设定此延迟量,则可使输出图样列和期待值图样列成为同步。
对准部710由比较器180输入一种由该被测试装置100所输出的输出图样列。然后,对准部710使已输入的输出图样列只延迟一种由该标题图样检出部700所设定的延迟量,以发送至期待值比较部720和选择写入部730中。在一种与该标题图样列一致的输出图样列被检出时,期待值比较部720继续在该与标题图样列一致的输出图样列中对一种由被测试装置100所输出的输出图样列以及该期待值图样列进行比较。此处,所谓与标题图样列一致的输出图样列中存续的输出图样列包括:与标题图样列一致的输出图样列中只连续地输出的输出图样,以及与标题图样列一致的输出图样列输出之后其它的图样被输出后被输出的输出图样。
在与标题图样列一致的输出图样列被检出时,选择写入部730使一种由期待值比较部720所输入的比较结果发送至失效捕捉控制部150。因此,在与标题图样列一致的输出图样列被检出时,选择写入部730可使期待值比较部720所获致的比较结果储存在失效捕捉记忆体152中。
另一方面,在与标题图样列一致的输出图样列未被检出时,选择写入部730使对准部710所输入的输出图样发送至失效捕捉控制部150中。因此,在与标题图样列一致的输出图样列未被检出时,选择写入部730可使被测试装置100的输出图样列储存在失效捕捉记忆体152中。
图12是藉由实施例3所属的搜索·比较部148使标题图样列被检出时的处理的时序图。向量产生控制部116藉由一种包含命令执行步骤和比较步骤的多个步骤的管线(pipeline)来执行多个命令的各个命令。更具体而言,在命令执行步骤中,向量产生控制部116在每个命令周期中依序执行多个命令,其包含一种指示“标题图样列的检出开始”所用的检出开始命令。
例如,向量产生控制部116依序执行上述的检出开始命令,命令2以及命令3,最后执行该检出终了命令。
然后,就多个命令的各个命令而言,顺序图样产生部146由期待值图样记忆体108依序读出该命令所对应的期待值图样。例如,顺序图样产生部146依序读出该检出开始命令所对应的期待值图样1,命令2所对应的期待值图样2以及命令3所对应的期待值图样3。此处,由于比较步骤是在命令执行步骤之后执行,则比较步骤中期待值图样列被参照时的时序较命令执行步骤中所对应的命令被执行时的时序更为延后。
在比较步骤中,比较器180取得一种由DUT100的端子所输出的输出图样,以供给至搜索·比较部148。例如,搜索·比较部148取得输出图样1,途中一部分被省略,然后依序取得标题图样列,输出图样N以及输出图样N+1。
由检出开始命令开始执行直至标题图样列被检出为止的期间中,对准部710由于未接收一种使输出图样列延迟用的延迟量的设定,于是使已取得的输出图样列未被延迟而输出至选择写入部730中。选择写入部730接收此输出图样列且在失效捕捉控制部150中作出指示,然后使输出图样列写入至失效捕捉记忆体152中。因此,在检出开始命令已执行时,选择写入部730开始进行一种输出图样写入处理,以依序将该被测试装置100所输出的输出图样写入至失效捕捉记忆体152中。
此处,在与标题图样列一致的输出图样列未被检出时,则在由检出开始命令被执行时直至经过一已预定的命令周期数为止时该选择写入部730只使被测试装置100所输出的输出图样列储存在失效捕捉记忆体152中。即,选择写入部730使经过该命令周期数之后所输出的输出图样列未储存在失效捕捉记忆体152中。因此,只有对标题图样列未被检出的原因追究是有效的图样才可有效地保存着。但在与标题图样列一致的输出图样列未被检出时亦可采用其它方式,此时,选择写入部730亦可使检出开始命令被执行直至检出终了命令被执行为止的期间中所输出的全部的输出图样列继续储存在失效捕捉记忆体152中。
另一方面,在与标题图样列一致的输出图样列被检出时,标题图样检出部700应使期待值图样和输出图样的读出的时序成为一致,且将所定的延迟量设定在对准部710中。结果,对准部710继续在标题图样列中使由被测试装置100所输出的输出图样列被延迟而成为与期待值图样列的输出的时序相一致。
期待值比较部720接收此输出图样列且继续在与标题图样列一致的输出图样列中对由被测试装置所输出的输出图样列以及期待值图样列进行比较。此时,该选择写入部730在失效捕捉控制部150中作出指示,使期待值比较部720所获致的比较结果储存在失效捕捉记忆体152中。因此,在与标题图样列一致的输出图样列被检出时,选择写入部730停止该输出图样的写入处理,以开始进行一种处理,使期待值比较部720所获致的比较结果依序储存在失效捕捉记忆体152中。
又,即使在标题图样列被检出时,失效捕捉记忆体152亦可使检出以前所输出的输出图样列未消去而继续保持着,且亦可藉由该比较结果来写入该检出以前所输出的输出图样列。
以上,依据图12,该测试装置10在该标题图样列被检出为止时的期间中使输出图样列写入至失效捕捉记忆体152中,在标题图样列被检出时,该输出图样列和期待值图样列的比较结果写入至失效捕捉记忆体152中。因此,在标题图样列未检出时可容易地解析其原因。又,在标题图样列被检出时,可有效地活用该失效捕捉记忆体152的记忆容量。
(实施例4)
图13是实施例4的测试装置10的构成图。本例中的测试装置10具备一种测试控制装置195以取代图1等所示的测试装置10中的测试控制装置190。又,测试装置10亦可不具备一种既定图样记忆体118。就其它构成而言,具有与图1同一符号的构件由于所具备的功能和构成大约与图1者相同,因此以下除了不同点之外不再作说明。又,图1中所示的通道方块130a、b、…在本例中由于互相之间具有大约相同的功能,这些通道方块于是总称为通道方块130。
图14是实施例4的搜索·比较部148的构成图。搜索·比较部148具有标题图样检出部800,期待值比较部810,标题检出范围设定暂存器820,比较有效范围设定暂存器830,错误判断通知部840以及选择器850。在由向量产生控制部116所执行的命令已设定在标题检出范围设定暂存器820中且在与标题图样列一致的输出图样列的检出成为有效时的有效范围的情况下,该标题图样检出部800判断该检出开始命令是否已执行。然后,在“检出开始命令”已执行时,标题图样检出部800由比较器180取得一种由被测试装置100所输出的输出图样列,以检出“与标题图样列一致的输出图样列是否已由被测试装置100所输出”。
期待值比较部810由比较器180取得该被测试装置100所输出的输出图样列,且由顺序图样产生部146取得该期待值图样列。然后,在与标题图样列一致的输出图样列被检出时,该期待值比较部810继续在与标题图样列一致的该输出图样列中对由被测试装置100所输出的输出图样列和期待值图样列进行比较。此时,期待值比较部810使比较对象的期待值图样设定在比较有效范围设定暂存器830中,亦能与“期待值图样列和输出图样列的比较成为有效时的有效范围内的任何命令”相对应以作为条件,以对该期待值图样与输出图样进行比较。
标题检出范围设定暂存器820在由向量产生控制部116所执行的多个命令中对使与标题图样列一致的输出图样列的检出成为有效时的有效范围开始时的命令的位址所在的开始位址以及使有效范围终了时所用的命令的位址所在的终了位址被储存着。上述的有效范围称为搜索视窗。例如,标题检出范围设定暂存器820亦可藉由测试控制装置195以接收上述的位址的设定。
在藉由向量产生控制部116所执行的多个命令中,比较有效范围设定暂存器830使一种与输出图样的比较成为有效时的期待值图样所对应的命令的开始位址以及使与输出图样的比较成为有效时的期待值图样所对应的命令的终了位址被储存着。由该开始位址至终了位址为止的范围称为比较视窗。例如,比较有效范围设定暂存器830亦可接收一种藉由测试控制装置195来进行的上述位址的设定。
又,期待值图样记忆体108中对同一命令而言每个端子对应于多个期待值图样时,比较有效范围设定暂存器830亦可另外储存一种参数,其显示“哪一个期待值图样作为该比较视窗的开始点”。同样,比较有效范围设定暂存器830亦可另外储存一种参数,其显示“哪一个期待值图样作为该比较视窗的终了点”。因此,可更详细地指定该作为比较视窗用的图样的范围。又,可使用其它方式以取代上述方式,此时,比较有效范围设定暂存器830亦可储存一种由测试开始直至比较视窗的开始为止所经过的命令周期数以及一种由测试开始直至比较视窗的终了为止所经过的命令周期数,以作为该比较视窗显示用的参数。因此,在比较视窗的指定方法中,由于可使用各种不同的方法,则对各种障碍而言可进行迅速且适当的障碍解析。
在检出开始命令被执行时开始直至使标题图样列的检出终了时所用的检出终了命令被执行为止的期间中,若与标题图样列一致的输出图样列未被检出时,则该错误判断通知部840以“检出开始命令至检出终了命令为止的命令是位于搜索视窗内”作为条件,以对使用者等通知一种错误,其显示“标题图样列的检出已失败”。
在与标题图样列一致的输出图样列被检出时,选择器850选择该期待值比较器810所获致的比较结果,然后传送至失效捕捉控制部150,且藉由失效捕捉控制部150而储存在失效捕捉记忆体152中。另一方面,在与标题图样列一致的输出图样列未被检出时,选择器850选择该比较器180所取得的输出图样列,然后传送至失效捕捉控制部150,且藉由失效捕捉控制部150而储存在失效捕捉记忆体152中。因此,标题图样列未被检出的障碍发生时可容易地进行障碍的原因追究。
图15是实施例4所属的测试控制装置195的构成。测试控制装置195具有标题检出范围设定部900和比较有效范围设定部910。标题检出范围设定部900在命令记忆体104中所储存的多个命令中设定一种使与标题图样列一致的输出图样列的检出成为有效时的有效范围(即,搜索视窗)。具体而言,标题检出范围设定部900对应于使用者等的指示,使指示“该搜索视窗的开始位址和终了位址”所用的值储存在标题检出范围设定暂存器820中。
又,标题检出范围设定部900在由检出开始命令至检出终了命令为止的期间中的至少1个命令中在藉由比较有效范围设定部910来设定一种比较视窗时,亦可在检出开始命令至检出终了命令为止的期间中有效地设定该标题图样列的检出。
具体而言,标题检出范围设定部900亦可在比较视窗每次进行新设定时进行下一个处理。首先,标题检出范围设定部900藉由扫描该命令记忆体104,以对检出开始命令和检出终了命令的全部的组进行检出。其次,标题检出范围设定部900就各别的检出开始命令来判断:由该检出开始命令至相对应的检出终了命令为止的至少1个命令中该比较视窗是否已重新设定。然后,标题检出范围设定部900在该比较视窗已重新设定后的检出开始命令和相对应的检出终了命令为止的期间中使标题图样列的检出成为有效。
图16是实施例4所属的搜索视窗的一例。本图中在由向量产生控制部116所读出的依序执行的多个各别的命令中,以该命令执行时的时序使被测试装置100所输出的输出图样对应地显示出来。例如,在检出开始命令的一例的PKTST命令执行时的时序中显示“该输出资料D0已输出”。又,在PKTST命令之后所执行的NOP命令被执行时的时序中显示“该输出资料D1已输出”。
接着该NOP命令以依序执行多个命令之后,另又执行NOP命令。以该NOP命令执行时的时序以输出该输出资料Dn。其次,执行该检出终了命令的一例的PKTEND命令。此处,即使在由PKTST命令至PKTEND命令为止的任一命令中亦未设定上述的搜索视窗。因此,在由PKTST命令至PKTEND命令为止的各别的命令被执行时,标题图样列未检出。而且,在由PKTST命令至PKTEND命令为止的各别的命令被执行时,即使标题图样列未被检出,错误判断通知部840亦不通知一种显示“标题图样列未被检出”所用的错误信息。
然后,向量产生控制部116在PKTEND命令执行后依序执行其它命令,然后再执行PKTST命令,以该PKTST命令被执行时的时序,使输出资料Dm由被测试装置100输出。其次,执行NOP命令,以此NOP命令执行时的时序使输出资料Dm+1被输出。接着该NOP命令以依序执行多个命令之后,更执行NOP命令。以此NOP命令执行时的时序使输出资料D1被输出。其次,执行PKTEND命令,以该PKTEND命令被执行时的时序,使此输出资料D1+1被输出。
此处,显示“搜索视窗的开始位址”所用的参数HUNT_ST显示:该PKTST命令中先开始执行的命令的位址。然后,此搜索视窗的终了位址显示用的参数HUNT_END显示:较该PKTEND命令更后才执行的命令的位址。即,此二种PKTST命令和PKTEND命令是在搜索视窗的范围中。因此,在由PKTST命令至PKTEND命令为止的各别的命令被执行时,标题图样检出部800检出一种与标题图样列一致的输出图样列。而且,在由PKTST命令至PKTEND命令为止的各别的命令被执行时,即使未检出该标题图样列时,错误判断通知部840亦会通知一种显示“标题图样列未被检出”所用的错误信息。
因此,即使向量产生控制部116执行PKTST命令和PKTEND命令的多个组时,藉由使适当的值储存在标题检出范围暂存器820中,亦可将“标题图样列是否已检出”独立地设定在PKTST命令和PKTEND命令的各组中。因此,测试程式不能改写的被测试装置100的障碍解析可容易地实现。
图17是实施例4所属的比较视窗的一例。本图中在由向量产生控制部116所读出的依序执行的多个各别的命令中,以该命令执行时的时序使被测试装置100所输出的输出图样对应地显示出来。例如,在检出开始命令的一例的PKTST命令执行时的时序中显示“该输出资料D0已输出”。又,在PKTST命令之后所执行的NOP命令被执行时的时序中显示“该输出资料D1已输出”。其它命令和输出资料的对应关系由于与图16大致相同而不再说明。
此处,由最初已执行的PKTST命令开始至相对应的PKTEND命令为止的任一命令中亦未设定一种比较视窗。因此,标题检出范围设定部900在由PKTST命令至PKTEND命令为止的期间中使标题图样列的检出成为无效。另一方面,由随后所执行的PKTST命令开始直至相对应的PKTEND命令为止的期间的任一命令中未设定一种比较视窗。具体而言,CPEW_ST是一种显示该比较视窗的开始位址所用的参数,其显示较该PKTST命令更后执行的命令的位址。又,CPEW_END是一种显示该比较视窗的终了位址所用的参数,其显示该PKTEND命令中先执行的命令的位址。
因此,由该PKTST命令开始至PKTEND命令为止的各别的命令已执行时,该标题图样检出部800检出一种与标题图样列一致的输出图样列。然后,在与标题图样列一致的输出图样列未被检出时,错误判断通知部840通知一种显示“标题图样列的检出已失败”所用的错误信息。结果,只就比较对象中所设定的命令部分而言,由于已通知“标题图样列的检出失败”,则被测试装置100的障碍解析中除了不要的资讯以外可使障碍解析的效率提高。
以上,虽然使用各实施形式来说明本发明,但本发明的技术范围不限于上述各实施形式。上述各实施形式中可施加各种改良。施加此种变更或改良后的形式亦包含在本发明的技术所可得到的范围中。
产业上的可利用性
如以上所示,依据本发明可适当地对被测试装置所输出的输出信号的边缘作适当的测试。又,输出图样列的输出时序即使不确定之时,输出图样列的输出仍可与期待值图样列的读出成为同步且进行比较。又,显示此测试的开始所用的标题图样未被检出时,可容易地追究其原因。此外,亦可适当地设定一种使标题图样列的检出成为有效时的范围。
虽然本发明已以较佳实施例揭露如上,然其并非用以限定本发明,任何熟习此技艺者,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作些许的更动与润饰,均属于本发明的技术方案的范围之内。
Claims (24)
1、一种测试装置,是一种对被测试装置的输出端所输出的输出信号的边缘进行测试用的测试装置,其特征在于包括:
第1信号比较器,其由被测试装置的输出端所输出的输出图样列所含有的各别的输出图样中,依据处于预定的第1选通时序中的输出信号的电压和一预定的第1门限值电压进行比较后的结果以取得该输出图样的值,且因此亦取得由输出端所输出的第1输出图样列;
第2信号比较器,其由被测试装置的输出端所输出的输出图样列所含有的各别的输出图样中,依据处于预定的第2选通时序中的输出信号的电压和一预定的第2门限值电压进行比较后的结果以取得该输出图样的值,且因此亦取得由输出端所输出的第2输出图样列;
标题图样列检出部,其检出:第1输出图样列已与预定的标题图样列相一致;以及
期待值比较部,其输出:在检出第1输出图样列已和标题图样列相一致时,使第2信号比较器所取得的第2输出图样列和第2输出图样列的期待值图样列的比较结果。
2、根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于其中另外具备比较结果记忆部,其对应于第2选通时序和第2门限值电压,以记忆第2输出图样列和期待值图样列的比较结果。
3、根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于其中另外具备:
测试控制部,其对使被测试装置中与标题图样列同一的输出图样列以及与期待值图样列同一的输出图样列被输出时的测试进行多次;以及
参数变更部,其在第2次测试中,使第2选通时序和第2门限值电压的至少其中一参数变更成与第1次测试不同的值。
4、根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于其中测试控制部可在多次各别的测试中依据期待值比较部所输出的比较结果,使第2输出图样列输出一种与期待值图样列相一致的第2选通时序以及第2门限值电压的范围。
5、根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于其中第1选通时序和第2选通时序以及第1门限值电压和第2门限值电压中的至少一参数可设定成互相不同的值。
6、根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于其中在第1输出图样列与标题图样列相一致时,期待值比较部可使第1输出图样列取得后一预定的偏移时间之后所取得的第2输出图样列的与期待值图样列的比较结果被输出。
7、根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于其中应与标题图样列相一致的第1输出图样列以及应与期待值图样列相比较的第2输出图样列,可以是由被测试装置的输出端以同一时序所输出的相同的图样列。
8、一种测试装置,是一种对被测试装置的输出端所输出的输出信号的边缘进行测试用的测试装置,其特征在于包括:
测试图样输出部,其使被测试装置的输出端所预定的标题图样列输出时所用的测试图样列输出至被测试装置;
信号比较器,其由被测试装置的输出端所输出的输出图样列所含有的各别的输出图样中,依据处于预定的选通时序中的输出信号的电压和一门限值电压进行比较后的结果以取得该输出图样的值,且因此亦取得由输出端所输出的输出图样列;
标题图样列检出部,其检出:第1信号比较器所取得的第1输出图样列已与标题图样列相一致;
延迟时间取得部,其在测试图样开始输出之后取得一种与标题图样列一致的第1输出图样列被检出为止时的延迟时间;
参数变更部,其在取得上述的延迟时间时,使选通时序和门限值电压此二参数的至少一参数受到变更;
测试控制部,其在藉由参数变更部造成参数变更时的状态下,藉由测试图样输出部以再度进行该测试图样列的输出;以及
期待值比较部,其由测试图样列的输出再度开始,而由已经过上述的延迟时间的时点所预定的偏移时间之后,使信号比较器所取得的第2输出图样列的与第2输出图样列的期待值图样列的比较结果被输出。
9、一种测试方法,是一种对被测试装置的输出端所输出的输出信号的边缘藉由测试装置来进行测试时用的测试方法,其特征在于包括:
第1信号比较步骤,其由被测试装置的输出端所输出的输出图样列所含有的各别的输出图样中,依据处于预定的第1选通时序中的输出信号的电压和一预定的第1门限值电压进行比较后的结果以取得该输出图样的值,且因此亦取得由输出端所输出的第1输出图样列;
第2信号比较步骤,其由被测试装置的输出端所输出的输出图样列所含有的各别的输出图样中,依据处于预定的第2选通时序中的输出信号的电压和一预定的第2门限值电压进行比较后的结果以取得该输出图样的值,且因此亦取得由输出端所输出的第2输出图样列;
标题图样列检出步骤,其检出:第1输出图样列已与预定的标题图样列相一致;以及
期待值比较步骤,在检出第1输出图样列和标题图样列已相一致时,使在第2信号比较步骤所取得的第2输出图样列和第2输出图样列的期待值图样列的比较结果被输出。
10、一种测试方法,其特征在于包括:
测试图样输出步骤,其使被测试装置的输出端所预定的标题图样列输出时所用的测试图样列输出至被测试装置;
信号比较步骤,其由被测试装置的输出端所输出的输出图样列所含有的各别的输出图样中,依据处于预定的选通时序中的输出信号的电压和一门限值电压进行比较后的结果以取得该输出图样的值,且因此亦取得由输出端所输出的输出图样列;
标题图样列检出步骤,其检出:在信号比较步骤所取得的第1输出图样列已与标题图样列相一致;
延迟时间取得步骤,其在测试图样开始输出之后,取得一种与标题图样列一致的第1输出图样列被检出为止时的延迟时间;
参数变更步骤,上述的延迟时间已取得时,使选通时序和门限值电压此二参数中的至少一参数受到变更;
测试控制步骤,其在藉由参数变更步骤造成参数变更时的状态下,藉由测试图样输出步骤以再度进行该测试图样列的输出;以及
期待值比较步骤,其由测试图样列的输出再度开始时由已经过上述的延迟时间的时点所预定的偏移时间之后,使信号比较器所取得的第2输出图样列的与第2输出图样列的期待值图样列的比较结果被输出。
11、一种测试装置,其依据由被测试装置的输出端依序输出的输出图样列以及应与此输出图样列相比较的期待值图样列的比较结果来判定被测试装置的良否,其特征在于包括:
顺序控制部,其依序执行被测试装置的测试程式中所含有的多个命令,且由记忆体中读出已执行的各命令所对应的期待值图样;
标题图样检出部,其在指示“与预定的标题图样列相一致的输出图样列的检出开始”所用的检出开始命令已执行时,检出:一与标题图样列相一致的输出图样列是否已由被测试装置中输出;
期待值比较部,其对输出图样列和期待值图样列进行比较;以及
时序调整部,其在与标题图样列相一致的输出图样列被检出时,使各别的期待值图样和应与该期待值图样相比较的输出图样成为同步且在同一周期中输入至期待值比较部中。
12、根据权利要求11所述的测试装置,其特征在于其中顺序控制部藉由多个步骤所构成的命令执行管线来执行各别的命令,其中上述的多个步骤具有对输出图样和期待值图样进行比较所用的比较步骤,以及
时序调整部在比较步骤时在期待值图样输入时的时序中可对该应与期待值图样比较的输出图样在比较步骤中被输入时进行调整。
13、根据权利要求11所述的测试装置,其特征在于其中藉由顺序控制部,在指示“标题图样列的检出终了”所用的检出终了命令被执行时,时序调整部使一命令所对应的期待值图样和一命令执行时所取得的输出图样在同一周期中输入至期待值比较部中。
14、根据权利要求11所述的测试装置,其特征在于更包括多个标题图样列储存时所用的标题图样储存部,
顺序控制部所执行的命令包含一种指示,其指出“由标题图样储存部选取该检出对象的标题图样列”以作为检出开始命令,以及
就依据此检出开始命令所选择的标题图样列而言,此标题图样检出部亦可检出:与该标题图样列一致的输出图样列是否由被测试装置所输出。
15、根据权利要求11所述的测试装置,其特征在于其中可另外具备错误通知部,由标题图样列开始检出时所预定的期间内,在与标题图样列一致的输出图样列未被检出时,此错误通知部可通知“该标题图样列的检出已失败”。
16、一种测试方法,其依据由被测试装置的输出端依序输出的输出图样列和应与此输出图样列相比较的期待值图样列的比较结果,以判定该被测试装置的良否,其特征在于包括:
顺序控制步骤,其依序执行被测试装置的测试程式中所含有的多个命令,由记忆体中读出已执行的各命令所对应的期待值图样;
标题图样检出步骤,其在指出“与预定的标题图样列相一致的输出图样列的检出开始”所用的检出开始命令已执行时检出:与该标题图样列一致的输出图样列是否由被测试装置所输出;
期待值比较步骤,其对输出图样列和期待值图样列进行比较;以及
时序调整步骤,其在与标题图样列相一致的输出图样列被检出时,使各别的期待值图样和应与该期待值图样相比较的输出图样成为同步且在同一周期中在期待值比较步骤中进行比较。
17、一种测试装置,其依据由被测试装置的输出端依序输出的输出图样列以及应与此输出图样列相比较的期待值图样列的比较结果来判定被测试装置的良否,其特征在于包括:
标题图样检出部,其检出:一种与预定的标题图样列相一致的输出图样列是否由被测试装置所输出;
期待值比较部,其在检出一种与该标题图样列相一致的输出图样列时,继续在此一与该标题图样列相一致的输出图样列中对由被测试装置所输出的输出图样列和该期待值图样列进行比较;以及
选择写入部,其在与该标题图样列相一致的输出图样列被检出时,使期待值比较部所得到的比较结果储存在失效记忆体中,在与该标题图样列相一致的输出图样列未被检出时,被测试装置的输出图样列储存在失效记忆体中。
18、根据权利要求17所述的测试装置,其特征在于更包括命令执行部,其在每个命令周期中依序执行多个命令,这些命令含有一种指出“标题图样列的检出开始”所用的检出开始命令,其中
在检出开始命令已执行时,该选择写入部开始进行一种输出图样写入处理,其依序将被测试装置所输出的输出图样写入该失效记忆体中,在与该标题图样列相一致的输出图样列被检出时,停止上述的输出图样写入处理,开始进行一种使期待值比较部所得到的比较结果依序储存在失效记忆体中的处理。
19、根据权利要求18所述的测试装置,其特征在于其中与该标题图样列相一致的输出图样列未被检出时,在检出开始命令开始执行后经过一预定的命令周期数为止的期间中,该选择写入部将被测试装置所输出的输出图样列储存在失效记忆体中,在经过一预定的命令周期数之后使已输出的输出图样列不储存在失效记忆体中。
20、一种测试方法,其依据由被测试装置的输出端依序输出的输出图样列以及应与此输出图样列相比较的期待值图样列的比较结果来判定被测试装置的良否,其特征在于包括:
标题图样检出步骤,其检出:一种与预定的标题图样列相一致的输出图样列是否由被测试装置所输出;
期待值比较步骤,在检出一种与该标题图样列相一致的输出图样列时,继续在此一与该标题图样列相一致的输出图样列中对由被测试装置所输出的输出图样列和该期待值图样列进行比较;以及
选择写入步骤,在与该标题图样列相一致的输出图样列被检出时,使期待值比较步骤所得到的比较结果储存在失效记忆体中,在与该标题图样列相一致的输出图样列未被检出时,被测试装置的输出图样列储存在失效记忆体中。
21、一种测试装置,其依据由被测试装置的输出端依序输出的输出图样列以及应与此输出图样列相比较的期待值图样列的比较结果来判定被测试装置的良否,其特征在于包括:
顺序控制部,其依序执行被测试装置的测试程式中所含有的多个命令,且由记忆体中读出已执行的各命令所对应的期待值图样;
标题图样检出部,其在指示“与预定的标题图样列相一致的输出图样列的检出开始”所用的检出开始命令已执行时,检出“一与标题图样列相一致的输出图样列是否已由被测试装置中输出”;
期待值比较部,在与标题图样列相一致的输出图样列被检出时,继续在与标题图样列相一致的输出图样列中对由被测试装置所输出的输出图样列和上述的期待值图样列进行比较;
标题检出范围设定部,其对多个命令中与标题图样列相一致的输出图样列的检出成为有效时的有效范围进行设定;以及
错误判断通知部,其在检出开始命令开始执行直至使标题图样列的检出终了时所用的检出终了命令被执行时为止的期间中,若与标题图样列相一致的输出图样列未被检出时,则在以检出开始命令至检出终了命令为止的命令是在有效范围内作为条件下通知一种错误信息,以显示该标题图样列的检出已失败。
22、根据权利要求21所述的测试装置,其特征在于其中更包括一种标题检出范围设定暂存器,其储存着使有效范围开始时所用的命令的位址所在的开始位址以及使有效范围终了时所用的命令的位址所在的终了位址,
标题检出范围设定部,藉由使一种储存在标题检出范围设定暂存器中的值以设定一种有效范围,以及
错误判断通知部,亦可在标题检出范围设定暂存器中所储存的开始位址以及标题检出范围设定暂存器中所储存的终了位址之间以“检出开始命令或检出终了命令被执行”作为条件下通知一种错误信息,以显示该标题图样列的检出已失败。
23、根据权利要求21所述的测试装置,其特征在于更包括比较有效范围设定部,其对应于至少一命令来设定一种比较视窗,此比较视窗显示“该一命令所对应的期待值图样和该输出图样的比较已成为有效”,其中
在由检出开始命令至检出终了命令为止的期间的至少1个命令中设定一种比较视窗时,该标题检出范围设定部可在该检出开始命令至检出终了命令为止的期间中使标题图样列的检出成为有效。
24、一种测试方法,其依据由被测试装置的输出端依序输出的输出图样列和应与此输出图样列相比较的期待值图样列的比较结果,以判定该被测试装置的良否,其特征在于包括:
顺序控制步骤,其依序执行被测试装置的测试程式中所含有的多个命令,由记忆体中读出已执行的各命令所对应的期待值图样;
标题图样检出步骤,其在指出“与预定的标题图样列相一致的输出图样列的检出开始”所用的检出开始命令已执行时检出:一与该标题图样列一致的输出图样列是否由被测试装置所输出;
期待值比较步骤,其在与标题图样列一致的输出图样列被检出时,继续在与标题图样列一致的输出图样列中对由被测试装置所输出的输出图样列和该期待值图样列进行比较;
标题检出范围设定步骤,其对多个命令中使与标题图样列一致的输出图样列的检出成为有效时的有效范围进行设定;以及
错误判断通知步骤,其在检出开始命令开始执行至使标题图样列的检出终了所用的检出终了命令被执行为止的期间中,若与标题图样列一致的输出图样列未检出时,则以“检出开始命令至检出终了命令为止的命令是在有效范围内”作为条件,以通知一种错误信息,其显示该标题图样列的检出已失败。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP179857/2004 | 2004-06-17 | ||
JP2004179857A JP4511880B2 (ja) | 2004-06-17 | 2004-06-17 | 試験装置及び試験方法 |
JP183067/2004 | 2004-06-21 | ||
JP192195/2004 | 2004-06-29 | ||
JP212234/2004 | 2004-07-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1820206A true CN1820206A (zh) | 2006-08-16 |
CN100559204C CN100559204C (zh) | 2009-11-11 |
Family
ID=35771724
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNB2005800002843A Active CN100559204C (zh) | 2004-06-17 | 2005-06-14 | 测试装置以及测试方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4511880B2 (zh) |
CN (1) | CN100559204C (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102057287A (zh) * | 2008-06-09 | 2011-05-11 | 株式会社爱德万测试 | 测试装置 |
CN102288901A (zh) * | 2011-09-01 | 2011-12-21 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 一种仿真数据的处理方法 |
CN102057288B (zh) * | 2008-06-10 | 2014-02-12 | 爱德万测试株式会社 | 测试模块、测试装置及测试方法 |
TWI475235B (zh) * | 2010-08-18 | 2015-03-01 | Kingtiger Technology Canada Inc | 決定系統內之資料有效視窗及測試積體電路裝置之方法 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7213182B2 (en) * | 2005-01-19 | 2007-05-01 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method |
JP5113624B2 (ja) | 2007-05-24 | 2013-01-09 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置 |
KR20100034757A (ko) | 2007-07-17 | 2010-04-01 | 가부시키가이샤 어드밴티스트 | 전자 디바이스, 호스트 장치, 통신 시스템, 및 프로그램 |
KR101138196B1 (ko) | 2008-01-23 | 2012-05-14 | 가부시키가이샤 어드밴티스트 | 시험 장치 |
US8666691B2 (en) | 2008-12-08 | 2014-03-04 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method |
US20110184687A1 (en) * | 2010-01-25 | 2011-07-28 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07225263A (ja) * | 1994-02-09 | 1995-08-22 | Advantest Corp | ビット誤り測定器 |
JP3214830B2 (ja) * | 1998-02-27 | 2001-10-02 | アジレント・テクノロジー株式会社 | Icテスト用データ処理装置 |
JP2002139557A (ja) * | 2000-11-02 | 2002-05-17 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
-
2004
- 2004-06-17 JP JP2004179857A patent/JP4511880B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2005
- 2005-06-14 CN CNB2005800002843A patent/CN100559204C/zh active Active
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102057287A (zh) * | 2008-06-09 | 2011-05-11 | 株式会社爱德万测试 | 测试装置 |
CN102057287B (zh) * | 2008-06-09 | 2013-08-21 | 株式会社爱德万测试 | 测试装置 |
CN102057288B (zh) * | 2008-06-10 | 2014-02-12 | 爱德万测试株式会社 | 测试模块、测试装置及测试方法 |
US8949062B2 (en) | 2008-06-10 | 2015-02-03 | Advantest Corporation | Test module, test apparatus, and test method |
TWI475235B (zh) * | 2010-08-18 | 2015-03-01 | Kingtiger Technology Canada Inc | 決定系統內之資料有效視窗及測試積體電路裝置之方法 |
CN102288901A (zh) * | 2011-09-01 | 2011-12-21 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 一种仿真数据的处理方法 |
CN102288901B (zh) * | 2011-09-01 | 2016-05-11 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 一种仿真数据的处理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006003216A (ja) | 2006-01-05 |
JP4511880B2 (ja) | 2010-07-28 |
CN100559204C (zh) | 2009-11-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN1820206A (zh) | 测试装置以及测试方法 | |
CN1269041C (zh) | 半导体集成电路和存储器测试方法 | |
CN1599913A (zh) | 虹膜识别***和方法以及具有其程序的存储介质 | |
CN1885273A (zh) | 一种逻辑测试的功能覆盖率分析方法 | |
CN101046812A (zh) | 一种数据库表记录构造与检查的方法及其装置 | |
CN1171389C (zh) | 用于生成循环冗余校验代码的并行循环冗余校验生成电路 | |
CN1684503A (zh) | 用于防止由于强光的进入导致图像变暗的摄像装置 | |
CN1319185A (zh) | 气体类型识别*** | |
CN1536581A (zh) | 半导体集成电路及其检查方法 | |
CN1732388A (zh) | 半导体试验装置 | |
CN1700357A (zh) | 用于内置错误诊断的半导体存储器件 | |
CN1278421C (zh) | 半导体装置 | |
CN101065725A (zh) | 命令供给装置 | |
CN1183456C (zh) | 摄影机***及附件装置 | |
CN1862511A (zh) | 一种软件单元的测试方法 | |
CN100347993C (zh) | 基于通讯多端口有限状态机的协议互操作性测试生成方法 | |
CN100351900C (zh) | 采用prml维特比检测器的磁带读通道 | |
CN1747070A (zh) | 半导体电路装置及测试半导体装置*** | |
CN1266481C (zh) | 用于半导体集成电路的故障检测方法 | |
CN1848680A (zh) | 比较电路以及红外线遥控接收机 | |
CN1260655C (zh) | 数据的锁存时刻调整装置 | |
CN1135567C (zh) | 半导体存储装置的块选择线选择电路 | |
CN1698062A (zh) | 信息编码装置、信息解码装置及其方法和程序 | |
CN1103143C (zh) | 纠错方法和纠错装置 | |
CN1381847A (zh) | 半导体存储器装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |