CN1719411A - 依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法 - Google Patents
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Abstract
一种依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，电脑的基本输出入***的参数载入该等记忆体模组的首位记忆体模组中，进行比对该首位记忆体模组中所储存的参数与该基本输出入***的原始参数是否相符合，若比对结果为符合，则进行后续的开机作业，否则将该首位记忆体模组标示为故障记忆体模组，并舍弃该故障的记亿体模块，而将该等参数载入下一组首位记忆体模组中，进行该下一组首位记忆体模组的比对，如此，依序进行比对，直到找出可进行开机的记忆体模组为止。电脑仅在所有可进行开机作业的记忆体模组都损坏时，才会发生无法开机的情形。因此，可免除传统开机模式于首位记忆体模组发生故障时即无法开机的情况。
Description
技术领域
本发明涉及一种开机的方法，尤其是指一种可自动找出可进行开机的记忆体模组，以避免无法开机的依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法。
背景技术
双直列记忆体模组(Dual In-line Memory Module，简称DIMM)与单直列记忆体模组(Single In-line Memory Module，简称：SIMM)是含有多组记忆体芯片(Memory Chip)的小型电路板。双直列记忆体模组的配置格式有72、144及168个端子(pin)，所谓“双(Dual)”表示金手指的左右边接到不同的信号，其内含随机存取记忆体(Random Access Memory，简称RAM)芯片，可以说是由两个单直列记忆体模型合并而成，它像单直列记忆体模组一样，也可以单面或双面制造。若将双直列记忆体模组安装在一主机板上，并不需成对的添加双直列记忆体模组，可以混合配对。例如，您可以将一条64兆字节(Mega Byte，简称：MB)的双直列记忆体模组，加装在32MB双直列记忆体模组旁边的插槽上。双直列记忆体模组与单直列记忆体模组的差异在于，前者的电路板两侧的端子，各有其独立电路，而后者两侧的端子的电路相连在一起，意即，双直列记忆体模组两侧的端子，各有其特殊定义，而使其提供较宽的存取路径，让它的数据传输速度较单直列记忆体模组快。
以168个端子的双直列记忆体模组而言，对其记忆体芯片的存取路径为64位元(bit)。若中央处理器(Central Processing Unit，简称：CPU)的总线(BUS)一样是64位的存取路径，便只需要对记忆体做一次完整存取(Access)动作，所以一个主机板(Main Board，或称Mother Board)上，只需要一个双直列记忆体模组。且该双直列记忆体模组内还包括一个抹除式只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，简称：EPROM)供基本输出入***(Basic Input Output System，简称：BIOS)储存各种参数，并根据该等参数，设定一芯片组(Chip set)达到最佳状态。在高阶个人电脑或是工作站上，使用的双直列记忆体模组则以200接脚为主，提供七十二位的存取总线，其中六十四位为资料本身，其余八位作为错误侦测码(Error Checking and CorrectionCode，简称：ECC)使用。
而基本输出入***是电脑开机启动中最基本的软件，为主机板出厂时，将开机的各种基本参数或程序烧录在Flash ROM中，意即其最基本的功能就是用来记忆电脑的基本设定值，同时使用者也可以透过基本输出入***来设定开机模式及该电脑中各硬件的相关参数。一般电脑在开机时，该基本输出入***会进行开机的检测工作(Power On Self Test)，以确定电脑各硬件的基本组态。譬如，一般电脑开机时，该基本输出入***会对记忆体进行三次的存取测试(若设成enabled之后则只会做一次，可加快开机的时间)，然后再将其储存的各种参数，载入该双直列记忆体模组的抹除式只读存储器中，令后续启动的软件(如：操作***)，可取得该电脑的各硬件的组态设定值。
惟，目前大部份电脑而言，请参阅图1所示，其基本输出入***将储存的各种参数，加载到记亿体模块的方式，是依下列的步骤进行处理：
(101)记忆体模组初始化n＝0；
(102)读取该记忆体模组的第n位记忆体模组的注册资料；
(103)判断该第n位记忆体模组是否存在？若存在，进行步骤(101)；否则，继续下列的步骤(104)；
(104)将n的数目加1；
(105)判断第n位的数目是否≤该***所支持最大记忆体模组数？若是，进行步骤(102)；否则，继续下列的步骤(106)；
(106)复制基本输出入***的参数至首位记忆体模组；
(107)比对该首位记忆体模组中所储存的参数，是否与该基本输出入***的原始参数相符合？若是，继续下列的步骤(108)；否则，进行步骤(109)；
(108)利用该首位记忆体模组所储存的参数，进行后续的开机作业，然后再结束；
(109)停机；
(110)将该第n位记忆体模组的资料设置于一记忆体控制器中，然后再进行步骤(104)。
因此可知，若该首位记忆体模组种所储存的参数与该基本输出入***的原始参数不符合，即该首位记忆体模组无法正常储存该基本输出入***的参数，则该基本输出入***将不会把其所储存的各种参数载入该等记忆体模组中，令该电脑无法顺利完成开机程序，造成电脑停机，程序无法继续执行，无画面，且***无任何的提示字符，非常不方便。
有鉴于前述公知开机模式于首位记忆体模组发生故障时，即无法开机的缺陷，本发明人乃依其从事电脑及服务器的制造经验和技术累积，针对上述缺陷悉心研究各种解决的方法，在经过不断的研究、实验与改进后，终于开发设计出本发明的一种依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，以克服公知技术所衍生的缺陷。
发明内容
本发明要解决的技术问题是：提供一种依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，以可自动找出可进行开机的记忆体模组，而免除无法开机的缺失。
本发明的技术解决方案是：一种依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，该方法是于该电脑的基本输出入***(BIOS)将其所储存的各种参数，载入该电脑的主机板的记忆体模组插槽上所安装的记忆体模组前，先对该等记忆体模组依序进行侦测，以挑选出可使用的记忆体模组；
再将该基本输出入***的各种参数，载入该等可使用记忆体模组的首位记忆体模组中；
然后，再进行比对该首位记忆体模组中所储存的参数，与该基本输出入***的原始参数是否相符合，若比对结果为符合，则利用该首位记忆体模组所储存的参数，进行后续的开机作业；
否则将该首位记忆体模组标示为故障记忆体模组，并舍弃该故障的记忆体模组，而将该等参数载入下一组首位记忆体模组中，并进行该下一组首位记忆体模组的比对，如此，依序不断地进行比对，直到找出可进行开机的记忆体模组为止。
如上所述的依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，其中当该电脑进行后续的开机作业时，该基本输出入***可将无法正常存取的记忆体模组的信息，传送到该电脑的主机板所设的控制电路，令该电脑的显示器可显示一错误信息画面，使该画面可供观察，并作为维修该电脑的依据。
如上所述的依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，其中该记忆体模组可为一双直列记忆体模组。
如上所述的依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，其中该电脑可为一个人电脑。
如上所述的依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，其中该电脑可为一伺服机。
如上所述的依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，其中该记忆体模组设有至少一个模块，该电脑以「bit0」表示第1位记忆体模组(DIMM#1)、以「bit1」表示第2位记忆体模组(DIMM#2)、以「bit(n-1)」表示第n位记亿体模块(DIMM#n)，另外，增加一字节旗标记录记忆体模组的好坏，以将好的记忆体模组以旗标值为0来表示，故障的记忆体模组则以旗标值为1来表示。
本发明的依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，电脑的基本输出入***将其所储存的各种参数载入该电脑的记忆体模组时，将参数载入该等记忆体模组的首位记忆体模组中，再进行比对该首位记忆体模组中所储存的参数与该基本输出入***的原始参数是否相符合，若比对结果为符合，则进行后续的开机作业，否则将该首位记忆体模组标示为故障记忆体模组，并舍弃该故障的记亿体模块，而将该等参数载入下一组首位记忆体模组中，进行该下一组首位记忆体模组的比对，如此，依序进行比对，直到找出可进行开机的记忆体模组为止。电脑仅在所有可进行开机作业的记忆体模组都损坏时，才会发生无法开机的情形。因此，可免除传统开机模式于首位记忆体模组发生故障时即无法开机的情况。
附图说明
图1为公知开机模式的动作流程图。
图2为本发明开机模式的动作流程图。
具体实施方式
为了能对本发明的技术方案、形状、构造装置特征及其功效，做更进一步的认识与了解，兹举实施例配合附图，详细说明如下：
本发明为一种依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，该方法于该电脑(如：个人电脑、伺服机…等)的基本输出入***(BIOS)将其所储存的各种参数，加载到该电脑的主机板的记忆体模组插槽上所安装的记忆体模组(如：双直列记忆体模组)前，先对该等记忆体模组依序进行侦测，以挑选出可使用的记忆体模组，再将该基本输出入***的各种参数，载入该等可使用记忆体模组的首位记忆体模组中，然后再进行比对该首位记忆体模组中所储存的参数与该基本输出入***的原始参数是否相符合，若比对结果为符合(表示该首位记忆体模组可正常存取参数)，则利用该首位记忆体模组所储存的参数，进行后续的开机作业，否则将该首位记忆体模组标示为故障记忆体模组，并舍弃该故障的记忆体模组，而将该等参数载入下一组首位记忆体模组中，并进行该下一组首位记忆体模组的比对，如此，依序不断地进行比对，直到找出可进行开机的记忆体模组为止，该电脑仅在所有可进行开机作业的记忆体模组都损坏的情况下，才会发生无法开机的情形，因此，可免除传统开机模式于首位记忆体模组发生故障时，即无法开机的情况。
在本发明中，当该电脑进行后续的开机作业时，该基本输出入***可将无法正常存取的记忆体模组的信息，传送到该电脑的主机板所设的控制电路，令该电脑的显示器可显示一错误信息画面，使该画面可供使用者观察，并作为维修该电脑的依据。
在本发明中，该记忆体模组设有至少一个模块(如：设有四个模块)，其中该电脑以「bit0」表示第1位记忆体模组(DIMM#1)，以「bit1」表示第2位记忆体模组(DIMM#2)、以「bit2」表示第3位记忆体模组(DIMM#3)、以「bit3」表示第4位记忆体模组(DIMM#4)，以「bit(n-1)」表示第n位记忆体模组(DIMM#n)，另外，该记忆体模组好坏的标示方式，可利用增加一字节旗标方式表示，将好的记忆体模组以旗标值为0来表示，故障的记忆体模组则以旗标值为1来表示。(例如：标示第1位记忆体模组为故障时，以bit0旗标值1来表示)，
在本发明的一实施例中，请参阅图2所示，当该电脑进行开机处理时，其基本输出入***将依下列的步骤进行处理：
(201)记忆体模组初始化n＝0；
(202)读取该记忆体模组的第n位记忆体模组的注册资料；
(203)判断该第n位记忆体模组是否存在？若存在，进行步骤(210)；否则，进行步骤(204)；
(204)将n的数目加1；
(205)判断第n位的数目是否≤该***所支持最大记忆体模组数？若是，进行步骤(202)；否则，继续下列的步骤(206)；
(206)复制基本输出入***的参数至可使用的记忆体模组的首位记忆体模组中；
(207)比对该首位记忆体模组中所储存的参数，是否与该基本输出入***的原始参数相符合？若是，继续下列的步骤(208)；否则，进行步骤(209)；
(208)将该首位记忆体模组标示为好的模块(旗标值为0)，并利用该首位记忆体模组所储存的参数，进行后续的开机作业，然后再结束；
(209)将该首位记忆体模组标示为故障的模块(旗标值为1)，令舍弃该故障的记忆体模组，并设置n的数目等于0，以及清除记忆体控制器中的资料，然后再进行步骤(202)；
(210)将该第n位记忆体模组的资料设置于一记忆体控制器中，然后再进行步骤(204)。
据上述可知，本发明的方法可于该电脑的复数个记忆体模组中，自动进行比对，而找出可进行开机的记忆体模组，令后续启动的软件(如：操作***)，可取得该电脑的各硬件的组态设定值，免除传统开机模式于首位记忆体模组发生故障时，即无法开机的情况。而且本发明并可将无法正常存取的记忆体模组的信息(即发生故障的记忆体模组)，显示于显示器上，供维修者维修该电脑的参考，可谓便捷无比。
虽然本发明已以具体实施例揭示，但其并非用以限定本发明，任何本领域的技术人员，在不脱离本发明的构思和范围的前提下或依本发明专利保护范围所作的等同变化与修饰，皆应仍属本专利涵盖之范畴。
Claims (6)
1.一种依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，该方法是于该电脑的基本输出入***将其所储存的各种参数，载入该电脑的主机板的记忆体模组插槽上所安装的记忆体模组前，先对该等记忆体模组依序进行侦测，以挑选出可使用的记忆体模组；
再将该基本输出入***的各种参数，载入该等可使用记忆体模组的首位记忆体模组中；
然后，再进行比对该首位记忆体模组中所储存的参数，与该基本输出入***的原始参数是否相符合，若比对结果为符合，则利用该首位记忆体模组所储存的参数，进行后续的开机作业；
否则将该首位记忆体模组标示为故障记忆体模组，并舍弃该故障的记忆体模组，而将该等参数载入下一组首位记忆体模组中，并进行该下一组首位记忆体模组的比对，如此，依序不断地进行比对，直到找出可进行开机的记忆体模组为止。
2.如权利要求1所述的依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，其特征在于：当该电脑进行后续的开机作业时，该基本输出入***可将无法正常存取的记忆体模组的信息，传送到该电脑的主机板所设的控制电路，令该电脑的显示器可显示一错误信息画面，使该画面可供观察，并作为维修该电脑的依据。
3.如权利要求1所述的依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，其特征在于：该记忆体模组可为一双直列记忆体模组。
4.如权利要求1所述的依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，其特征在于：该电脑可为一个人电脑。
5.如权利要求1所述的依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，其特征在于：该电脑可为一伺服机。
6.如权利要求1所述的依序选择可开机的记忆体模组进行开机的方法，其特征在于：该记忆体模组设有至少一个模块，该电脑以「bit0」表示第1位记忆体模组(DIMM#1)、以「bit1」表示第2位记忆体模组(DIMM#2)、以「bit(n-1)」表示第n位记亿体模块(DIMM#n)，另外，增加一字节旗标记录记忆体模组的好坏，以将好的记忆体模组以旗标值为0来表示，故障的记忆体模组则以旗标值为1来表示。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CNB2004100624340A CN100367208C (zh) | 2004-07-07 | 2004-07-07 | 依序选择可开机的内存模块进行开机的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CNB2004100624340A CN100367208C (zh) | 2004-07-07 | 2004-07-07 | 依序选择可开机的内存模块进行开机的方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN1719411A true CN1719411A (zh) | 2006-01-11 |
| CN100367208C CN100367208C (zh) | 2008-02-06 |
Family
ID=35931253
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CNB2004100624340A Expired - Fee Related CN100367208C (zh) | 2004-07-07 | 2004-07-07 | 依序选择可开机的内存模块进行开机的方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN100367208C (zh) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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|---|---|
| CN100367208C (zh) | 2008-02-06 |
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|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
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