CN1591624A - 球面像差校正板、使用该板的光读取装置及校正方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及球面像差校正板、使用该板的光读取装置及校正方法，特别涉及用于光盘驱动器的光读取装置的球面像差校正板。该校正板用于备有能高速访问的调节器的光读取装置中，不仅不会增加慧差像差，而且还能校正球面像差。球面像差校正板(19)由斜面(33a、35a)以彼此相互对峙的状态配置的2块楔形板(33、35)构成。2块楔形板(33、35)具有一定的折射率，至少可以朝与光轴垂直的方向相对地移动。2块楔形板(33、35)以相互的斜面33a、35a彼此接触的状态移动。取而代之，2块楔形板虽然在彼此最接近的情况下，相互的斜面彼此接触，但是，在此以外的情况下，相互的斜面也可以处于分离的状态。

Description

球面像差校正板、使用该板的光读取装置及校正方法
技术领域
本发明涉及一种球面像差校正元件，特别是涉及用于光盘驱动器的光读取装置的球面像差校正板。
背景技术
众所周知，光读取装置，是通过物镜把从作为光源的半导体激光器射出的激光在光盘信号记录面上聚光，并用作为光检测单元的光检测器检测从该信号记录面上返回的光的装置。
一般来说，光读取装置具有：半导体激光器(激光二极管)、衍射光栅、偏振光光束分离器、视准透镜、立起的反射镜(立上げミラ一)(固定反射镜)、1/4波长板、物镜、传感器透镜及光检测器(光电二极管)。
从半导体激光器射出的1束激光，利用衍射光栅分离成3束激光，穿过偏振光光束分离器。这些穿过偏振光光束分离器的激光，由视准透镜变成平行光后，由立起的反射镜的反射面反射，以直角弯曲，用1/4波长板把直线偏振光变成圆形偏振光，通过物镜，朝光盘的信号记录面上聚光(照射)。
来自光盘的信号记录面的反射光(返回光)，通过物镜，由1/4波长板把偏振光方向相对光往路的偏振光方向弯曲成90°，通过立起的反射镜的反射面反射，以直角弯曲，通过视准透镜后，由偏振光光束分离器反射，最后通过传感器透镜并由光检测器检测。
例如，光盘为蓝光(Blue-ray)盘等的高密度光盘的情况下，必须让对焦时的光盘信号记录面上的激光束点的尺寸足够的小。为此，采用的方法是，让作为发光源的激光二极管的波长变短，增大物镜的数值孔径NA。激光二极管的波长为例如405nm，物镜的数值孔径NA为例如0.85。
在这种情况下，对焦时的点尺寸小到例如直径φ是0.35μm。但是，由于光盘的盘厚度误差产生球面像差，从而增大了光盘信号记录面上的激光束点尺寸。并且，如本技术领域技术公知的那样，所谓光盘的“盘厚度”是指光盘的激光束入射面与信号记录面之间的距离。确定蓝光(Blue-ray)盘的盘厚度是0.1±0.002mm的规格。另外，所谓“球面像差”是指从光轴上的1点射出的光线通过透镜之后，不聚集在轴上的1点，而向前后偏离的现象。具体来说，例如在平行光入射到透镜的情况下，其光轴附近的光线与离开光轴的光线在不同的轴上位置聚焦。因此，会使再生抖动、自已记录再生抖动劣化。
因此，长期以来，采用各种缩小球面像差的方法。这些方法大致区分为以下叙述的两种方法。
第1方法是，使用作为球面像差校正元件的液晶设备(液晶元件)的方法(参照例如专利文献1、专利文献2、专利文献3)。在该第1种方法中，根据需要对液晶设备施加电压，通过改变光轴中心附近与外周的折射率，使球面像差变为最小的校正方法。
把液晶元件搭载在光读取装置上的例子已经是公知的技术(参照例如专利文献4)。这样的光读取装置，当液晶元件的中心与物镜的中心不重合时，相反，会产生慧型像差等。这里，所谓“慧型像差”是指：由具有对称轴的光学***产生的轴外物点的像不聚集在1点上，虽然相对于包含主光线的子午面(子午平面)是对称的，但是相对于球缺面(弧矢面)成为非对称分布的像差。因此，就必须以让光轴与调节器的物镜第1面侧(入射光侧)重合的形式把液晶元件***。这里，调节器包括：包含固定物镜的透镜架的可动部；通过从可动部两侧延伸的多根吊线，沿着聚焦方向及跟踪方向可变位地支持该可动部用的阻尼基座。正是因为这样，有必要把液晶元件组装到可动部上，使该液晶元件作为在相对物镜始终保持一定位置关系的状态下的可动部的一部分。结果，增加了调节器可动部本身的重量，不仅物镜，而且与液晶元件为一体的可动部都必须在聚焦方向和跟踪方向变位，导致不能高速访问。
第2种方法是，根据光盘的盘厚度有意识地将发散光与收敛光射入物镜，以此校正总球面像差的方法，
作为第2种方法的一个例子，是在光轴方向上移动视准透镜，变成发散光与会聚光的方法(参照例如专利文献5)。但是，利用这种方法，在光轴方向上移动视准透镜的情况下，由于视准透镜的中心偏离光轴中心，所以，有可能增加慧型像差。
另外，作为第2种方法的另一个例子，提出了这样的一种方法(参照例如专利文献6)，借助于给***激光二极管与视准透镜之间的衍射型光学元件透镜上施加电压，改变衍射型光学元件透镜的折射率。作为构成衍射型光学元件透镜的衍射型光学元件，可以使用液晶元件。但是，这种方法适用于共同再生厚度不同的多个光盘用的光读取中，根据衍射型光学元件透镜折射率的变化，对一个光盘的少许盘厚度的变化是不能进行球面像差校正的。
【专利文献1】特开2000-353333号公报
【专利文献2】特开2001-331963号公报
【专利文献3】特开2002-237077号公报
【专利文献4】特开2002-237076号公报
【专利文献5】特开平9-17023号公报
【专利文献6】特开平10-143903号公报
发明内容
如上述，以往第1方法存在的问题是，由于调节器的可动部自身重量的增加，不能进行高速访问。
另一方面，以往第2方法，不光增加了慧型像差，也会出现对于一个光盘的盘厚度变化引起的球面像差很难校正的问题。
因此，本发明的目的是，提供一种球面像差校正板，可用于备有能高速访问的调节器的光读取装置中、并能校正球面像差。
本发明的另一目的是，提供一种不仅不会增加慧型像差，还能校正球面像差的球面像差校正板。
本发明的再一目的是，提供一种能够对一个光盘的少许盘厚度变化引起的球面像差进行校正的球面像差校正板。
根据本发明的第1形式，可以得到球面像差校正板19、19A，在由无限光学***构成的光读取装置中，由置于发散光中的斜面33a、35a彼此相互对峙的状态下配置的2块楔形板33、35构成，2块楔形板具有一定的折射率，至少可以朝与光轴垂直的方向相对地移动。
上述球面像差校正板19中，2块楔形板在相互的斜面彼此接触的状态下移动。另外，上述球面像差校正板19A中，2块楔形板在彼此最接近的情况下，相互的斜面彼此接触，但是，在此以外的情况下，相互的斜面彼此处于分离的状态。再者，2块楔形板33、35，最好是其两面涂有反射防止涂层。
根据本发明的第2形式，可以得到光读取装置，是至少备有半导体激光器13、光束分离器17、视准透镜21、物镜27及光检测器31的光读取装置，其特征是，具有***半导体激光器与视准透镜之间的发散光中的球面像差校正板19、19A，该球面像差校正板对于光盘11的因盘厚度变化引起的球面像差进行校正，并具有一定的折射率，球面像差校正板的有效板厚是可以调整的。
在上述光读取装置中，最好是，球面像差校正板19、19A由斜面33a、35a彼此相互对峙的状态下配置的2块楔形板33、35构成，2块楔形板具有一定的折射率，至少可以朝与光轴垂直的方向相对地移动。另外，最好是，2块楔形板33、35，其两面涂有反射防止涂层。光盘11是例如蓝光(Blue-ray)盘。再者，希望球面像差校正板19、19A***光束分离器17与所述视准透镜21之间。
根据本发明的第3形式，可以得到球面像差校正方法，是在至少备有半导体激光器13、光束分离器17、球面像差校正板19、19A、视准透镜21、物镜27及光检测器31的光读取装置中，对光盘11的盘厚度误差引起的球面像差进行校正的方法，其特征是，包括下述步骤：检测盘厚度；根据所检测的盘厚度，改变配置在发散光中的球面像差校正板19、19A的有效板厚，使球面像差变为最小。
在上述球面像差校正方法中，球面像差校正板19、19A由斜面33a、35a彼此相互对峙的状态下配置的2块楔形板33、35构成，使改变球面像差校正板的有效板厚的步骤，可以是让2块楔形板至少朝与光轴垂直的方向相对地移动。
另外，上述符号是为了便于理解发明所标注的符号，只不过是一个例子而已，当然，本发明并不限于此。
本发明的球面像差校正板，由于由斜面彼此相互对峙的状态下配置的2块楔形板构成，2块楔形板具有一定的折射率，至少可以朝与光轴垂直的方向相对地移动。因此，通过让2块楔形板相对地移动，可以调整其有效板厚。在这里，所谓“有效薄厚”不一定是指物理的板厚，是指有效地作为折射率作用的板厚。根据光盘的盘厚度，通过改变该球面像差校正板的有效薄厚，调整物镜的入射光平行度，由此，可以对光盘的盘厚度所产生的球面像差进行校正，使其变为最小。
附图说明
图1是表示采用本发明的球面像差校正板的光读取装置的光学***的图。
图2是表示本发明第1实施例的球面像差校正板的概略构成的各个状态(形态)的正面图。
图3是表示根据本发明第2实施例的球面像差校正板的概略构成的各个状态(形态)的正面图。
图4是表示光盘的盘厚度与球面像差为最小的球面像差校正板的有效板厚的关系的一个例子的曲线图。
图5是曲线图，表示未进行球面像差校正和有球面像差校正的情况下，光盘的盘厚度与波像差的关系的模拟结果的一个例子。
具体实施方式
以下，参照附图，详细说明本发明的实施例。
参照图1，说明包含本发明一实施例的球面像差校正板的光读取装置。图1是表示光读取装置的光学***的图。
图示的光读取装置是进行光盘(光学记录媒体)11再生的装置。图示的光盘11是按盘厚度0.1±0.002mm的规格确定的蓝光(Blue-ray)盘。
光读取装置是由无限光学***构成的光读取装置，包括：半导体激光器(激光二极管)13、衍射光栅15、偏振光光束分离器17、本发明的球面像差校正板19、视准透镜21、立起的反射镜(固定反射镜)23、1/4波长板25、物镜27、传感器透镜29以及光检测器(光电二极管)31。在图示的例子中，从半导体激光器13射出的激光的振动波长是405nm。另外，物镜27的数值孔径NA为0.85。至于球面像差校正板19的构成及动作，容后叙述。
下面，说明图1所示的光读取装置的简要动作。从半导体激光器13射出的1束激光，利用衍射光栅15分离成3束激光，穿过偏振光光束分离器17。这些穿过偏振光光束分离器17的激光，穿过球面像差校正板19，由视准透镜21变成平行光。并且，如后述，严格讲，从视准透镜21射出的光并非平行光，根据球面像差校正板19的有效板厚，既变成发散光，又变成收敛光。
由视准透镜21射出的平行光，由立起的反射镜23的反射面反射，以直角弯曲，用1/4波长板25把直线偏振光变成圆形偏振光，通过物镜27，朝光盘11的信号记录面聚光(照射)。
来自光盘11的信号记录面的反射光(返回的光)，通过物镜27，由1/4波长板25把偏振光方向相对往路的偏振光方向弯曲90°，通过立起的反射镜23的反射面的反射，以直角弯曲，通过视准透镜21及球面像差校正板19，由偏振光光束分离器17反射，最后通过传感器透镜29并由光检测器31检测。
在图1所示的例子中，球面像差校正板19，以不改变光检测器31的对焦位置的方式，***偏振光光束分离器17与视准透镜21之间。但是，也不必限与此，球面像差校正板19也可以***到半导体激光器13与视准透镜21之间的发散光束中。
其次，参照图2，说明本发明第1实施例的球面像差校正板19的构成。在图2中，(a)表示光盘11的盘厚度大于规定厚度(0.1mm)的情况下的球面像差校正板19的状态(形态)，(b)表示光盘11的盘厚度为规定厚度(0.1mm)的情况下的球面像差校正板19的状态(形态)，(c)表示光盘11的盘厚度小于规定厚度(0.1mm)的情况下的球面像差校正板19的状态(形态)。
如图2所示，球面像差校正板19由斜面33a、35a以彼此相互对峙的状态配置的2块楔形板33、35组成。2块楔形板33、35具有一定的折射率。2块楔形板33、35可以由例如玻璃制成。但是，并不限于玻璃，2块楔形板33、35可以是对激光透明的、并有一定的折射率。
该2块楔形板33、35，借助于图中未示的驱动装置，至少可以朝与光轴垂直的方向相对地移动。并且，在图示的例子中，2块楔形板33、35以相互的斜面33a、35a彼此接触的状态移动。2块楔形板33、35的两面上具有防止反射的涂层。
接着，说明图2所示的球面像差校正板19的动作。首先，假设光盘11的盘厚度为规定的0.1mm(基准的情况)。在这种情况下，如图2(b)所示，球面像差校正板19不用驱动装置驱动。因而，球面像差校正板19保持为规定(基准)的有效板厚。这时，由于从视准透镜21射出的光变成平行光，所以，平行光入射到物镜27上。由此，能让从物镜27射出的光向光盘11的信号记录面聚光(照射)。
接着，假设光盘11的盘厚度为大于规定的0.1mm的厚度。在这种情况下，如图2(a)箭头所示，借助于驱动装置，让球面像差校正板19向2块楔形板33、35相互靠近的方向移动。因此，球面像差校正板19的有效板厚也变成大于基准时(图2(b))的厚度。这时，由于从视准透镜21射出的光变成发散光束，发散光束入射到物镜27上。由此，能让从物镜27射出的光向光盘11的信号记录面聚光(照射)。
最后，假设光盘11的盘厚度为小于规定的0.1mm的厚度。在这种情况下，如图2(c)箭头所示，借助于驱动装置，让球面像差校正板19向使2块楔形板33、35相互离开的方向移动。因此，球面像差校正板19的有效板厚也变成小于基准时(图2(b))的厚度。这时，由于从视准透镜21射出的光变成收敛光，收敛光入射到物镜27上。由此，能让从物镜27射出的光向光盘11的信号记录面聚光(照射)。
于是，在本发明中，通过改变入射到物镜27上的光的平行度(在无限光学***的情况下)，可赋予与光盘11的不同盘厚度所产生的球面像差相反的球面像差，抵消球面像差。换句话说，本发明属于以往技术中所描述的第2种方法的范畴。
在图2所示的例子中，通过驱动装置，让2块楔形板33、35在以相互的斜面33a、35a彼此接触的状态下移动。但是，在该例子中，球面像差校正板19的有效板厚等于物理的板厚。但是，通过驱动装置让2块楔形板33、35在以相互的斜面33a、35a彼此接触的状态下移动，实际上在大多情况下是困难的。
参照图3，说明本发明第2实施形式的球面像差校正板19A的构成。在图3中，(a)表示光盘11的盘厚度大于规定厚度(0.1mm)的情况下的球面像差校正板19A的状态(形态)，(b)表示光盘11的盘厚度为规定厚度(0.1mm)的情况下(基准情况下)的球面像差校正板19A的状态(形态)，(c)表示光盘11的盘厚度小于规定厚度(0.1mm)的情况下的球面像差校正板19A的状态(形态)。
在图示的实施例中，球面像差校正板19A也是由2块楔形板33、35组成。但是，与图2所示有所不同，2块楔形板33、35，通过图中未示的驱动装置只朝与光轴垂直的方向相对移动。换句话说，图示的球面像差校正板19A除了驱动方法(驱动装置)有所不同这一点外，与图2所示的球面像差校正板19具有相同的构成。从而，2块楔形板33、35在相互最接近的情况下(图3(a))，相互的斜面33a、35a彼此接触，但是，在此以外的情况(图3(b)、图3(c))下，相互的斜面33a、35a处于彼此分离的状态。这样构成的球面像差校正板19A，与图2所示的球面像差校正板19相比，可以容易地构成驱动装置。并且，鉴于球面像差校正板19A的动作与图2所示所示的球面像差校正板19相同，因此其说明省略。
图示的球面像差校正板19A，与图2所示的球面像差校正板19不同的是，对应于光盘11的盘厚度，不是物理板厚，而是使有效板厚发生了变化。换言之，对于球面像差校正板19A来说，即使是2块楔形板33、35相互分离(即使2块楔形板33、35之间存在有间隙)，图3(a)～图3(c)分别与图2(a)～图2(c)的作为有效的折射率作用的板厚是相等。
此外，在图2及图3所示的球面像差校正板19、19A中，虽然让2块楔形板33、35朝彼此相反的方向移动，但是，也可以把一个固定，只让另一个移动。
图4示出了光盘11的盘厚度与球面像差为最小的球面像差校正板19(19A)的有效板厚的关系。换句话说，图4示出了对于光盘11每一种盘厚度的最合适的球面像差校正板19(19A)的有效板厚的一个例子。图4中，横轴表示光盘11的盘厚度(mm)，纵轴表示球面像差校正板19(19A)的有效板厚(mm)。
从图4可以看出，随着光盘11盘厚度的变厚，球面像差校正板19(19A)的有效板厚也变厚。
其次，说明使球面像差校正板19(19A)的有效板厚对应于光盘11的盘厚度变为最佳厚度的方法。
这里，说明在图1所示的光读取装置中，在光盘11上记录信号(数据)的情况。在这种情况下，开始在光盘11上记录数据时，移动球面像差校正板19(19A)，检测自行记录再生抖动或交调失真(クロスト一ク)变为最小的部分，使球面像差校正板19(19A)的有效板厚成为最佳厚度。为此，预先移动球面像差校正板19(19A)，并在光盘11上进行试验记录，进行再生及判断。
此外，还可以采用下面要叙述的其他方法。即是说，当球面像差增加时，一般来说，光盘11的信号记录面上的激光束点的主环(一次リング)有增加的趋势。因此，设置用其他途径的传感器(图中未示)检测该主环的增加量、并设置校正该主环的增加量的回路(图中未示)，使球面像差校正板19(19A)的有效板厚成为最佳厚度。
下面，叙述移动球面像差校正板19(19A)的方法(驱动装置)的一个例子。把构成球面像差校正板19(19A)的2块楔形板33、35的一方(或双方)设置在架等上，把线圈缠绕在该架等上。另一方面，把磁铁粘附在框体一侧。通过让电流流过架侧的线圈，使球面像差校正板19(19A)移动。
另外，作为驱动方法(驱动装置)的另一例子，也可以采用借助马达等来驱动球面像差校正板19(19A)的方法。
图5示出了光盘11的盘厚度与波像差的关系的一个例子。图5中，横轴表示光盘11盘厚度(mm)，纵轴表示波像差(mλ(rms))。图5中，涂黑的菱形表示没有进行球面像差校正时的模拟结果，涂黑的四边形表示有球面像差校正时的模拟结果。
在这里，通常情况下，在光学***中，称作像差的表示的是波像差。另外，波像差的成分在以下的叙述中是把赛德5像差进行平方平均的值。通常，透镜的像差分为5类，因为是1850年代L·福恩·赛德发表的，所以称作“赛德5像差”。5类是指像散、球面像差、像面弯曲、歪曲像差及慧型像差。例如，在赛德5像差中，当球面像差变大时，当然，波像差随之变大。本发明是以校正因盘厚度产生的像差为目的的，而盘厚度产生的像差只是球面像差。并且，如上述，由于球面像差中包含在波像差中，所以，图5中记载为波像差。
从图5可以看出，在“没有进行球面像差校正”的情况下，虽然光盘11的盘厚度为规定的0.1mm时(基准情况下)波像差(球面像差)为零，但是，当光盘11的盘厚度比规定的0.1mm薄或厚时，波像差(球面像差)会急剧地变大。与之相比，可以看出，在“进行球面像差校正”的情况下，光盘11的盘厚度为规定的0.1mm时(基准情况下)，波像差(球面像差)为零，而且，即使在光盘11的盘厚度比规定的0.1mm薄或厚时，波像差(球面像差)也不太增大。
这样，在本发明中，把球面像差校正板19(19A)***光读取装置中，通过使其有效板厚为最佳板厚，可以降低因光盘11的盘厚度变化引起的波像差(球面像差)。
此外，关于光盘11的盘厚度，可以假设每种光盘不同的情况和每一块光盘的位置(例如半径位置)不同的情况。
在前者的情况下，检测出该光盘的平均盘厚度，根据检测到的结果，改变球面像差校正板19(19A)的有效板厚。
在后者的情况下，可以采用下述的两种校正方法。第一种校正方法是，在记录、再生之前，预先用光读取装置在半径方向扫描(查找)光盘11，检测出光盘11的每一半径位置的盘厚度，把光盘的半径位置作为地址，将该检测结果存储在存储器(图中未示)内。然后，在实际记录、再生时，把光盘11的实际半径位置作为地址，访问该存储器，得到此时的盘厚度，根据所得到的盘厚度，改变球面像差校正板19(19A)的有效板厚。第二种校正方法是，实时检测光读取装置查找位置的光盘的盘厚度，根据该检测结果，实时改变球面像差校正板19(19A)的有效板厚。
这样，在后者的情况下，能校正一块光盘的少许盘厚度变化引起的球面像差。
另外，根据检测出的光盘11的盘厚度，改变球面像差校正板19(19A)的有效板厚的情况下，可以采用例如下面的方法。把图4所示的用于表示光盘盘厚度与球面像差为最小的球面像差校正板的有效板厚的关系的数据，预先将光盘的盘厚度作为地址存储在ROM(图中未示)中。实际进行光盘11的记录、再生时，通过访问该ROM，求出此时最佳的球面像差校正板的有效板厚，根据所求得的有效板厚，调整实际的球面像差校正板的有效板厚。
进一步，作为检测光盘11的盘厚度的方法(手段)，可以采用各种方法。例如，这类检测方法(手段)公开于特开2003-16660号公报、特开2003-22545号公报、特开2003-109239号公报等。
以上，虽然通过实施例举例说明了本发明，但是，不言而喻，本发明并不限于上述的实施例。例如，在上述的实施例中，虽然说明了把本发明用于图1所示的光读取装置的情况，但是，不用说，本发明当然还适用于至少备有半导体激光器、光束分离器、视准透镜、物镜及光检测器的光读取装置中。

Claims (11)

1.一种球面像差校正板，在由无限光学***构成的光读取装置中，由置于发散光中的斜面彼此相互对峙的状态下配置的2块楔形板构成，所述2块楔形板具有一定的折射率，至少可以朝与光轴垂直的方向相对地移动。
2.根据权利要求1所述的球面像差校正板，其特征是，所述2块楔形板在相互的所述斜面彼此接触的状态下移动。
3.根据权利要求1所述的球面像差校正板，其特征是，所述2块楔形板在彼此最接近的情况下，相互的所述斜面彼此接触，在此以外的情况下，相互的所述斜面彼此处于分离的状态。
4.根据权利要求1～3中任意一项所述的球面像差校正板，其特征是，所述2块楔形板，其两面涂有反射防止涂层。
5.一种光读取装置，是至少备有半导体激光器、光束分离器、视准透镜、物镜及光检测器的光读取装置，其特征是，具有***所述半导体激光器与所述视准透镜之间的发散光中的球面像差校正板，该球面像差校正板对于光盘的因盘厚度变化引起的球面像差进行校正，具有一定的折射率，所述球面像差校正板的有效板厚是可以调整的。
6.根据权利要求5所述的光读取装置，其特征是，所述球面像差校正板由斜面彼此相互对峙的状态下配置的2块楔形板构成，所述2块楔形板具有一定的折射率，至少可以朝与光轴垂直的方向相对地移动。
7.根据权利要求6所述的光读取装置，其特征是，所述2块楔形板，其两面涂有反射防止涂层。
8.根据权利要求5所述的光读取装置，其特征是，所述光盘是蓝光(Blue-ray)盘。
9.根据权利要求5所述的光读取装置，其特征是，所述球面像差校正板***所述光束分离器与所述视准透镜之间。
10.一种球面像差校正方法，是在至少备有半导体激光器、光束分离器、球面像差校正板、视准透镜、物镜及光检测器的光读取装置中，对光盘的盘厚度误差引起的球面像差进行校正的方法，其特征是，包括下述步骤：
检测所述盘厚度；
根据所检测的盘厚度，改变配置在发散光中的所述球面像差校正板的有效板厚，使所述球面像差变为最小。
11.根据权利要求10所述的球面像差校正方法，其特征是，所述球面像差校正板由斜面彼此相互对峙的状态下配置的2块楔形板构成，
改变所述球面像差校正板的有效板厚的步骤，是让所述2块楔形板至少朝与光轴垂直的方向相对地移动的步骤。
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