CN118194814A - 针对电子元器件的评估方法、装置、设备、介质和产品 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种针对电子元器件的评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；根据试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；根据应力试验的结果，获得待评估电子元器件的评估结果。采用本方法能够减少了试验成本。
Description
技术领域
本申请涉及可靠性评估技术领域，特别是涉及一种针对电子元器件的评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。
背景技术
传统技术中，进行电子元器件极限评估需要不断测试直至元器件损坏，才能得到其相应的评估结果。
然而，传统方法中，每进行一次评估后的电子元器件必定是已经遭到损坏的，无法再用于其他试验，导致试验成本比较高。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够减少了试验成本的针对电子元器件的评估方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
第一方面，本申请提供了一种针对电子元器件的评估方法。所述方法包括：
响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；
根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；
根据所述应力试验的结果，获得所述待评估电子元器件的评估结果。
在其中一个实施例中，所述根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，包括：
获取待评估电子元器件在所需评估的应力类型相应的实际应力最大值以及应力规格极限值；
根据所述实际应力最大值以及所述应力规格极限值，确定所述应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进。
在其中一个实施例中，所述根据所述实际应力最大值以及所述应力规格极限值，确定所述应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，包括：
将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最小值，作为所述试验起始应力值；
将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最大值，乘以预设倍数，得到所述试验终止应力值；
根据所述试验起始应力值以及所述试验终止应力值，确定所述应力步进。
在其中一个实施例中，所述应力试验包括功能测试和关键性能参数测试；所述根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验，包括：
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，获取参与试验的多个应力值；
根据参与试验的多个应力值的大小关系，依次进行功能测试和关键性能参数测试，直至参与应力试验的应力值不小于所述试验终止应力值，结束所述应力试验。
在其中一个实施例中，所述方法还包括：
在执行所述应力试验之前，在无应力施加的情况下，对待评估电子元器件进行合格性测试；
在所述合格性测试的测试结果为合格的情况下，对所述待评估电子元器件执行所述应力试验。
在其中一个实施例中，所述应力类型包括电应力、热应力或机械应力中一种；所述待评估电子元器件在所需评估的应力类型相应的实际应力最大值的获取过程，包括：
在所述应力类型为所述电应力的情况下，根据电路仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述电应力时相应的实际应力最大值；
在所述应力类型为所述热应力的情况下，根据环境仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述热应力时相应的实际应力最大值；
在所述应力类型为所述机械应力的情况下，根据运行仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述机械应力时相应的实际应力最大值。
第二方面，本申请还提供了一种针对电子元器件的评估装置。所述装置包括：
类型获取模块，用于响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；
数值确定模块，用于根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；
试验执行模块，用于根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；
结果获取模块，用于根据所述应力试验的结果，获得所述待评估电子元器件的评估结果。
第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；
根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；
根据所述应力试验的结果，获得所述待评估电子元器件的评估结果。
第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；
根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；
根据所述应力试验的结果，获得所述待评估电子元器件的评估结果。
第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；
根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；
根据所述应力试验的结果，获得所述待评估电子元器件的评估结果。
上述针对电子元器件的评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；根据试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；根据应力试验的结果，获得待评估电子元器件的评估结果。采用本方法，通过确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，进行应力试验的方式，减少了相关技术中必须将电子元器件进行损坏，才能进行评估电子元器件的性能的情况的发生，从而减少了试验成本。同时，还可以提高对电子元器件进行评估的效率。
附图说明
图1为一个实施例中针对电子元器件的评估方法的应用环境图；
图2为一个实施例中针对电子元器件的评估方法的流程示意图；
图3为一个实施例中确定应力试验的参数的流程示意图；
图4为一个实施例中获取实际应力最大值的流程示意图；
图5为另一个实施例中针对电子元器件的评估方法的流程示意图；
图6为一个实施例中针对电子元器件的评估装置的结构框图；
图7为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
本申请实施例提供的针对电子元器件的评估方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，终端102通过网络与服务器104进行通信。数据存储***可以存储服务器104需要处理的数据。数据存储***可以集成在服务器104上，也可以放在云上或其他网络服务器上。
具体地，终端102向服务器104发送评估指令，服务器104响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；根据试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；根据应力试验的结果，获得待评估电子元器件的评估结果，并将待评估电子元器件的评估结果发送至终端102。
其中，终端102可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑和便携式可穿戴设备。便携式可穿戴设备可为智能手表、智能手环、头戴设备等。服务器104可以用独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群来实现。
在一个实施例中，如图2所示，提供了一种针对电子元器件的评估方法，本实施例以该方法应用于服务器进行举例说明，可以理解的是，该方法也可以应用于服务器，还可以应用于包括终端和服务器的***，并通过终端和服务器的交互实现，包括以下步骤：
步骤202，响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型。
其中，评估指令用于指示终端进行评估电子元器件的极限应力。评估指令中可以包括待评估电子元器件的标识信息以及所需评估的应力类型。
示例性地，应力类型包括电应力、热应力以及机械应力。电应力包括但不限于电压、电流和功率。热应力包括高温、低温。机械应力包括但不限于振动、冲击和加速度。具体地，应力类型可以根据电子元器件的实际使用环境和功能要求来确定。
在具体实践中，可以基于用户需求，确定需要评估的电子元器件的标识信息以及所需评估的应力类型。例如，若用户需求是需要对一个电子元器件的电压极限进行测试，则需评估的应力类型为电压应力。
步骤204，根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进。
其中，根据所需评估的应力类型，确定应力试验的具体参数，包括试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进。具体地，试验起始应力值通常指的是电子元器件能够正常工作的最低应力水平。试验终止应力值通常指的是可能导致电子元器件失效的最高应力水平。应力步进是指的每次试验中应力增加的幅度。应力步进决定了试验的精细程度。
步骤206，根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验。
示例性地，根据试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，对待评估电子元器件进行应力试验。具体地，在应力试验过程中，需要记录待评估电子元器件在不同应力水平下的性能表现，例如电气性能、机械性能等。
步骤208，根据所述应力试验的结果，获得所述待评估电子元器件的评估结果。
示例性地，根据应力试验的结果，获得待评估电子元器件的评估结果。具体地，根据应力试验结果，分析电子元器件的性能变化情况和失效模式。通过与标准或预期性能进行比较，判断电子元器件是否满足使用要求，并给出相应的评估结果。
上述针对电子元器件的评估方法中，响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；根据试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；根据应力试验的结果，获得待评估电子元器件的评估结果。采用本方法，通过确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，进行应力试验的方式，减少了相关技术中必须将电子元器件进行损坏，才能进行评估电子元器件的性能的情况的发生，从而减少了试验成本。同时，还可以提高对电子元器件进行评估的效率。
在一个实施例中，参考图3，示出了一个实施例中确定应力试验的参数的流程示意图。步骤204，包括：
步骤302，获取待评估电子元器件在所需评估的应力类型相应的实际应力最大值以及应力规格极限值。
其中，应力规格极限值可以通过待评估电子元器件的标识信息进行获取。具体地，可以通过查阅电子元器件的技术文档或规格书，获取其在所需评估的应力类型下所允许的最大应力值。
实际应力最大值可以通过实际测量或者模拟分析，进行获取电子元器件在实际工作环境中可能受到的最大应力值，即实际应力最大值。这个值反映了电子元器件在实际使用条件下可能遭受的应力水平。
步骤304，根据所述实际应力最大值以及所述应力规格极限值，确定所述应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进。
其中，可以根据试验的精细度和时间要求来确定应力步进。较小的应力步进可以提供更详细的性能变化数据，但会增加试验的时间和成本；较大的应力步进则可以缩短试验时间，但可能无法捕捉到细微的性能变化。
示例性地，基于实际应力最大值以及应力规格极限值，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，以根据试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，执行应力试验。
在上述实施例中，根据实际应力最大值以及应力规格极限值，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，使得试验参数更加贴近电子元器件的实际工作条件，能够更准确地评估其在特定应力类型下的性能表现。并且，通过合理设置试验起始应力和终止应力，可以避免对电子元器件造成过大的应力，减少试验过程中的损坏风险。
在一个实施例中，步骤304，包括：
步骤3042，将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最小值，作为所述试验起始应力值。
其中，试验起始应力值为实际应力最大值与应力规格极限值中的最小值。
具体地，实际应力最大值表示为；应力规格极限值表示为；则对应的试验
起始应力值可以为。也即，。试验起始应力值为实际应力最大值
与应力规格极限值中的最小值，可以确保应力试验开始时，电子元器件不会因应力过低而
无法充分评估其性能，也不会因应力过高而立即失效。
步骤3044，将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最大值，乘以预设倍数，得到所述试验终止应力值。
其中，将实际应力最大值和应力规格极限值中的最大值，然后乘以一个预设倍数（如1.1、1.2、1.5等），得到试验终止应力值。
具体地，预设倍数可以根据电子元器件的特性和试验需求进行调整，以确保试验能够覆盖到元器件可能遭受的更高应力水平，从而更全面地评估其性能。
以预设倍数为1.1为例，试验终止应力值可以为：
；
其中，预设倍数的设置需大于1。从而确保终止条件必然超过使用应力最大值确保满足应用要求且极大避免电子元器件在测试中损坏的风险。例如，在预设倍数为1.1的情况下，是为了确保有10%的余量，避免由于电子元器件个体差异导致后续的使用风险。
步骤3046，根据所述试验起始应力值以及所述试验终止应力值，确定所述应力步进。
其中，根据试验起始应力值以及试验终止应力值，确定应力步进的大小。具体地，结合试验时间和精度要求，确定合适的应力步进。应力步进的选择，需要兼顾测试准确性和效率，可以基于经验值进行确定。
较小的应力步进可以提供更详细的数据，但可能增加试验时间，所需占用的测试资源越多，效率越低；较大的应力步进则可以缩短试验时间，但可能牺牲部分数据精度。
例如，将应力步进记作，将测试点选定为6的情况下，应力步进为：。
在上述实施例中，将实际应力最大值与应力规格极限值中的最小值，作为试验起始应力值；将实际应力最大值与应力规格极限值中的最大值，乘以预设倍数，得到试验终止应力值；根据试验起始应力值以及试验终止应力值，确定应力步进，实现了能够确保电子元器件在试验过程中受到足够的应力以评估其性能，同时避免过高的应力导致元器件立即损坏而无法获得完整的性能变化数据。
在一个实施例中，所述应力试验包括功能测试和关键性能参数测试；步骤206，包括：
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，获取参与试验的多个应力值；
根据参与试验的多个应力值的大小关系，依次进行功能测试和关键性能参数测试，直至参与应力试验的应力值不小于所述试验终止应力值，结束所述应力试验。
其中，功能测试用于验证电子元器件在特定应力水平下是否能够正常工作，是否满足预期功能要求。例如，输入输出信号的测试、控制逻辑的检查。在具体实践中，可以获取电子元器件相应的产品手册，并选择相应的测试功能的测试仪器进行测试。例如，若电子元器件为二极管的情况下，可以使用功率器件分析仪进行反向耐压、反向漏电流、正向导通电流、正向压降等参数的测试。
示例性地，根据试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，获取参与试验的多个应力值，以根据参与试验的多个应力值的大小关系，依次进行功能测试和关键性能参数测试，直至参与应力试验的应力值不小于试验终止应力值，结束应力试验。具体地，可以按照应力步进，逐步提高参与应力试验的应力值，针对一个参与应力试验的应力值，都进行功能测试以及关键性能参数测试，并记录该应力值下的试验结果。
在具体实践中，根据试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，可以计算得到一系列参与试验的多个应力值。这些应力值将按照从小到大的顺序依次用于应力试验。从最小的应力值即试验起始应力值开始，对电子元器件进行功能测试，在进行功能测试后，对电子元器件进行关键性能参数测试。这些参数可能包括功耗、响应时间、信号噪声比等，以了解电子元器件在不同应力水平下的性能变化趋势。按照应力步进递增应力值，重复进行功能测试和关键性能参数测试，当应力值达到或超过试验终止应力值、或者在检测出电子元器件出现失效时，结束应力试验。随着应力值的增加，以记录电子元器件性能的变化情况，包括是否出现性能下降、失效等等。具体地，在参与应力试验的应力值不小于试验终止应力值、且此时电子元器件的功能正常的情况下，则认定电子元器件在该应力的极限能力满足实际应用需求。
在上述实施例中，通过对多个应力值进行测试，能够覆盖电子元器件可能遭受的不同应力水平，从而更全面地评估其性能。
在一个实施例中，在执行所述应力试验之前，在无应力施加的情况下，对待评估电子元器件进行合格性测试；
在所述合格性测试的测试结果为合格的情况下，对所述待评估电子元器件执行所述应力试验。
其中，合格性测试可以为无应力施加的情况下对待评估电子元器件进行功能测试以及关键性能参数测试，以得到无应力施加的情况下的测试结果。若该测试结果为满足该电子元器件的产品规格需求，则确定测试结果为合格。产品规格需求可以通过电子元器件的产品详细规范或产品手册中获取。
示例性地，在执行应力试验之前，需对待评估电子元器件进行合格性测试，以在合格性测试的测试结果为合格的情况下，执行上述应力试验。
在上述实施例中，通过先进行合格性测试，可以排除本身存在问题的电子元器件，确保参与应力试验的元器件都符合基本要求。同样，通过合格性测试筛选出不符合要求的元器件，可以避免对元器件进行不必要的应力试验，从而节约试验资源和成本。
在一个实施例中，参考图4，示出了一个实施例中获取实际应力最大值的流程示意图。所述应力类型包括电应力、热应力或机械应力中一种；所述待评估电子元器件在所需评估的应力类型相应的实际应力最大值的获取过程，包括：
步骤402，在所述应力类型为所述电应力的情况下，根据电路仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述电应力时相应的实际应力最大值。
步骤404，在所述应力类型为所述热应力的情况下，根据环境仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述热应力时相应的实际应力最大值。
步骤406，在所述应力类型为所述机械应力的情况下，根据运行仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述机械应力时相应的实际应力最大值。
具体地，应力类型包括电应力、热应力或机械应力中一种。
针对电应力，通常通过电路仿真测试来获取实际应力最大值。其中，电路仿真测试可以通过电路仿真软件对电子元器件的电路模型进行模拟分析，以评估其在不同电应力条件下的性能表现。在电路仿真的过程中，可以逐步增加电压、电流等参数，直至元器件达到性能极限或失效点，从而确定相应的实际应力最大值。
针对热应力，应力的评估则依赖于环境仿真测试。环境仿真测试通过模拟元器件在实际工作环境中可能遭遇的温度变化、湿度变化等热应力条件，观察元器件在这些条件下的性能表现和可靠性。通过不断调整环境仿真参数，可以找出元器件在热应力下的性能极限，进而确定实际应力最大值。
针对机械应力，一般采用运行仿真测试来获取实际应力最大值。运行仿真测试通过模拟元器件在实际工作过程中可能遭受的机械振动、冲击等应力条件，评估元器件在这些条件下的稳定性和可靠性。通过运行仿真测试，可以观察元器件在不同机械应力水平下的性能变化，从而确定其实际应力最大值。
在上述实施例中，根据所需评估的应力类型，选择相应的仿真测试方法，获取实际应力最大值，实现了更加准确地获取电子元器件在实际工作环境中的应力水平，为后续的应力试验提供有力支持。
在一示例中，以对一电子元器件的温度进行极限评估为例进行说明。
步骤1，获取该电子元器件在实际应用中所需承受应力的最大值以及该电子元器件的温度规格极限值。
其中，可以通过热仿真测试进行获取。例如，经测试得知元器件最高温度为88℃。
因此，可记。经查询该电子元器件的额定最高工作温度为105℃，因此，可记。
步骤2，在对该电子元器件进行合格性测试的测试结果为合格的情况下，确定试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进。
其中，试验起始应力值：
试验终止应力值：
。
进行取整处理后为，。
应力步进：。
步骤3，根据试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，获取参与试验的多个应力值；根据参与试验的多个应力值的大小关系，依次进行功能测试和关键性能参数测试，直至参与应力试验的应力值不小于试验终止应力值，结束应力试验。
其中，以6℃为步进，令元器件所处环境温度分别稳定在94℃，100℃，106℃，112℃，118℃。在94℃，100℃，106℃，112℃，118℃环境下进行应力试验，以获取应力试验的结果，在118℃环境下的应力试验的结果满足产品规范要求的情况下，则认定该电子元器件在高温下的极限能力满足实际应用需求且存在一定的允许余量。
为了更好地理解本发明实施例中针对电子元器件评估的完整过程，以一完整示例加以说明，参考图5，示出了另一个实施例中针对电子元器件的评估方法的流程示意图，包括以下步骤：
步骤502，响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型。
步骤504，在无应力施加的情况下，对待评估电子元器件进行合格性测试；在合格性测试的测试结果为合格的情况下，获取待评估电子元器件在所需评估的应力类型相应的实际应力最大值以及应力规格极限值。
具体地，在应力类型为电应力的情况下，根据电路仿真测试，获取在所需评估的应力类型为电应力时相应的实际应力最大值；在应力类型为热应力的情况下，根据环境仿真测试，获取在所需评估的应力类型为热应力时相应的实际应力最大值；在应力类型为机械应力的情况下，根据运行仿真测试，获取在所需评估的应力类型为机械应力时相应的实际应力最大值。
步骤506，将实际应力最大值与应力规格极限值中的最小值，作为试验起始应力值。
步骤508，将实际应力最大值与应力规格极限值中的最大值，乘以预设倍数，得到试验终止应力值。
步骤510，根据试验起始应力值以及试验终止应力值，确定应力步进。
步骤512，根据试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，获取参与试验的多个应力值。
步骤514，根据参与试验的多个应力值的大小关系，依次进行功能测试和关键性能参数测试，直至参与应力试验的应力值不小于试验终止应力值，结束应力试验。
步骤516，根据应力试验的结果，获得待评估电子元器件的评估结果。
本实施例中，响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；根据试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；根据应力试验的结果，获得待评估电子元器件的评估结果。采用本方法，通过确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，进行应力试验的方式，减少了相关技术中必须将电子元器件进行损坏，才能进行评估电子元器件的性能的情况的发生，从而减少了试验成本。同时，还可以提高对电子元器件进行评估的效率。
应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的针对电子元器件的评估方法的针对电子元器件的评估装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个针对电子元器件的评估装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于针对电子元器件的评估方法的限定，在此不再赘述。
在一个实施例中，如图6所示，提供了一种针对电子元器件的评估装置，包括：类型获取模块602、数值确定模块604、试验执行模块606和结果获取模块608，其中：
类型获取模块602，用于响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；
数值确定模块604，用于根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；
试验执行模块606，用于根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；
结果获取模块608，用于根据所述应力试验的结果，获得所述待评估电子元器件的评估结果。
在一些实施例中，数值确定模块604，包括：
最值获取单元，用于获取待评估电子元器件在所需评估的应力类型相应的实际应力最大值以及应力规格极限值；
数值确定单元，用于根据所述实际应力最大值以及所述应力规格极限值，确定所述应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进。
在一些实施例中，数值确定单元，具体用于：将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最小值，作为所述试验起始应力值；将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最大值，乘以预设倍数，得到所述试验终止应力值；根据所述试验起始应力值以及所述试验终止应力值，确定所述应力步进。
在一些实施例中，所述应力试验包括功能测试和关键性能参数测试；试验执行模块606，包括：
应力值获取单元，用于根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，获取参与试验的多个应力值；
试验执行单元，用于根据参与试验的多个应力值的大小关系，依次进行功能测试和关键性能参数测试，直至参与应力试验的应力值不小于所述试验终止应力值，结束所述应力试验。
在一些实施例中，所述装置还包括：
合格性测试模块，用于在执行所述应力试验之前，在无应力施加的情况下，对待评估电子元器件进行合格性测试；
执行模块，用于在所述合格性测试的测试结果为合格的情况下，对所述待评估电子元器件执行所述应力试验。
在一些实施例中，所述应力类型包括电应力、热应力或机械应力中一种；最值获取单元，具体用于：在所述应力类型为所述电应力的情况下，根据电路仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述电应力时相应的实际应力最大值；在所述应力类型为所述热应力的情况下，根据环境仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述热应力时相应的实际应力最大值；在所述应力类型为所述机械应力的情况下，根据运行仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述机械应力时相应的实际应力最大值。
上述针对电子元器件的评估装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图7所示。该计算机设备包括处理器、存储器、输入/输出接口(Input/Output，简称I/O）和通信接口。其中，处理器、存储器和输入/输出接口通过***总线连接，通信接口通过输入/输出接口连接到***总线。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作***、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作***和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储不同电子元器件的应力规格极限值。该计算机设备的输入/输出接口用于处理器与外部设备之间交换信息。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种针对电子元器件的评估方法。
该计算机设备的显示单元用于形成视觉可见的画面，可以是显示屏、投影装置或虚拟现实成像装置。显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；
根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；
根据所述应力试验的结果，获得所述待评估电子元器件的评估结果。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
获取待评估电子元器件在所需评估的应力类型相应的实际应力最大值以及应力规格极限值；
根据所述实际应力最大值以及所述应力规格极限值，确定所述应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最小值，作为所述试验起始应力值；
将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最大值，乘以预设倍数，得到所述试验终止应力值；
根据所述试验起始应力值以及所述试验终止应力值，确定所述应力步进。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，获取参与试验的多个应力值；
根据参与试验的多个应力值的大小关系，依次进行功能测试和关键性能参数测试，直至参与应力试验的应力值不小于所述试验终止应力值，结束所述应力试验。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
在执行所述应力试验之前，在无应力施加的情况下，对待评估电子元器件进行合格性测试；
在所述合格性测试的测试结果为合格的情况下，对所述待评估电子元器件执行所述应力试验。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
在所述应力类型为所述电应力的情况下，根据电路仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述电应力时相应的实际应力最大值；
在所述应力类型为所述热应力的情况下，根据环境仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述热应力时相应的实际应力最大值；
在所述应力类型为所述机械应力的情况下，根据运行仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述机械应力时相应的实际应力最大值。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；
根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；
根据所述应力试验的结果，获得所述待评估电子元器件的评估结果。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
获取待评估电子元器件在所需评估的应力类型相应的实际应力最大值以及应力规格极限值；
根据所述实际应力最大值以及所述应力规格极限值，确定所述应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进。
将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最小值，作为所述试验起始应力值；
将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最大值，乘以预设倍数，得到所述试验终止应力值；
根据所述试验起始应力值以及所述试验终止应力值，确定所述应力步进。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，获取参与试验的多个应力值；
根据参与试验的多个应力值的大小关系，依次进行功能测试和关键性能参数测试，直至参与应力试验的应力值不小于所述试验终止应力值，结束所述应力试验。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
在执行所述应力试验之前，在无应力施加的情况下，对待评估电子元器件进行合格性测试；
在所述合格性测试的测试结果为合格的情况下，对所述待评估电子元器件执行所述应力试验。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
在所述应力类型为所述电应力的情况下，根据电路仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述电应力时相应的实际应力最大值；
在所述应力类型为所述热应力的情况下，根据环境仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述热应力时相应的实际应力最大值；
在所述应力类型为所述机械应力的情况下，根据运行仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述机械应力时相应的实际应力最大值。
在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；
根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；
根据所述应力试验的结果，获得所述待评估电子元器件的评估结果。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
获取待评估电子元器件在所需评估的应力类型相应的实际应力最大值以及应力规格极限值；
根据所述实际应力最大值以及所述应力规格极限值，确定所述应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最小值，作为所述试验起始应力值；
将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最大值，乘以预设倍数，得到所述试验终止应力值；
根据所述试验起始应力值以及所述试验终止应力值，确定所述应力步进。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，获取参与试验的多个应力值；
根据参与试验的多个应力值的大小关系，依次进行功能测试和关键性能参数测试，直至参与应力试验的应力值不小于所述试验终止应力值，结束所述应力试验。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
在执行所述应力试验之前，在无应力施加的情况下，对待评估电子元器件进行合格性测试；
在所述合格性测试的测试结果为合格的情况下，对所述待评估电子元器件执行所述应力试验。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
在所述应力类型为所述电应力的情况下，根据电路仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述电应力时相应的实际应力最大值；
在所述应力类型为所述热应力的情况下，根据环境仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述热应力时相应的实际应力最大值；
在所述应力类型为所述机械应力的情况下，根据运行仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述机械应力时相应的实际应力最大值。
需要说明的是，本申请所涉及的用户信息（包括但不限于用户设备信息、用户个人信息等）和数据（包括但不限于用于分析的数据、存储的数据、展示的数据等），均为经用户授权或者经过各方充分授权的信息和数据，且相关数据的收集、使用和处理需要遵守相关国家和地区的相关法律法规和标准。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器（Read-OnlyMemory，ROM）、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器（ReRAM）、磁变存储器（Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM）、铁电存储器（Ferroelectric Random Access Memory，FRAM）、相变存储器（Phase Change Memory，PCM）、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器（Static Random Access Memory，SRAM）或动态随机存取存储器（Dynamic RandomAccess Memory，DRAM）等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种针对电子元器件的评估方法，其特征在于，所述方法包括：
响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；
根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；
根据所述应力试验的结果，获得所述待评估电子元器件的评估结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，包括：
获取待评估电子元器件在所需评估的应力类型相应的实际应力最大值以及应力规格极限值；
根据所述实际应力最大值以及所述应力规格极限值，确定所述应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述实际应力最大值以及所述应力规格极限值，确定所述应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，包括：
将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最小值，作为所述试验起始应力值；
将所述实际应力最大值与所述应力规格极限值中的最大值，乘以预设倍数，得到所述试验终止应力值；
根据所述试验起始应力值以及所述试验终止应力值，确定所述应力步进。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述应力试验包括功能测试和关键性能参数测试；所述根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验，包括：
根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，获取参与试验的多个应力值；
根据参与试验的多个应力值的大小关系，依次进行功能测试和关键性能参数测试，直至参与应力试验的应力值不小于所述试验终止应力值，结束所述应力试验。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
在执行所述应力试验之前，在无应力施加的情况下，对待评估电子元器件进行合格性测试；
在所述合格性测试的测试结果为合格的情况下，对所述待评估电子元器件执行所述应力试验。
6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述应力类型包括电应力、热应力或机械应力中一种；所述待评估电子元器件在所需评估的应力类型相应的实际应力最大值的获取过程，包括：
在所述应力类型为所述电应力的情况下，根据电路仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述电应力时相应的实际应力最大值；
在所述应力类型为所述热应力的情况下，根据环境仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述热应力时相应的实际应力最大值；
在所述应力类型为所述机械应力的情况下，根据运行仿真测试，获取在所需评估的应力类型为所述机械应力时相应的实际应力最大值。
7.一种针对电子元器件的评估装置，其特征在于，所述装置包括：
类型获取模块，用于响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；
数值确定模块，用于根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；
试验执行模块，用于根据所述试验起始应力值、所述试验终止应力值以及所述应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；
结果获取模块，用于根据所述应力试验的结果，获得所述待评估电子元器件的评估结果。
8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
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