CN117950007A - 一种粒子探测器性能评估设备及方法 - Google Patents

Abstract

本发明属于设备测试技术领域，提供一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，包括：底座、测试箱、测试组件、收纳盒、控制组件以及安置组件；测试箱安装在底座表面，安置组件以及测试组件安装在测试箱中，测试组件对准安置组件，安置组件放置黑体辐射源，测试组件内安装有探测器以及主检测单元；收纳盒和控制组件分别安装在底座的两侧；控制组件与测试组件电性连接。本发明通过设置多组测试组件，从而可以同时对多个不同型号的探测器进行检测，提高了探测器性能比较的效率，而且由于测试组件与控制组件连接，控制组件可以与外界第三方检测装置进行连接，提高了设备的实用性。

Description

一种粒子探测器性能评估设备及方法

技术领域

本发明属于设备测试技术领域，具体涉及一种粒子探测器性能评估设备及方法。

背景技术

随着粒子物理学研究的深入，粒子探测器的性能评估已经成为粒子物理学领域的重要研究方向，粒子探测器性能评估的目标是了解探测器在不同实验条件下的性能表现，提高探测器的性能，以获得更准确的实验数据，为此提出一种粒子探测器性能评估设备及其使用方法，但是在实现本发明过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题没有得到解决：1.不方便对多种不同种类粒子探测器进行性能比较，对粒子探测器的性能测试单一，从而降低了对粒子探测器性能比较的效率；2.不方便引入第三方检测，对粒子探测器性能检测结构单一，从而降低了对粒子探测器性能检测的准确性；3.不方便对粒子探测器进行位置调整和固定，使粒子探测器在测试使用中容易发生偏移情况，从而降低了粒子探测器测试的稳定性。为此，本发明设计了一种粒子探测器性能评估设备及其使用方法。

发明内容

为了克服现有技术中存在的问题，本发明的目的是提供一种粒子探测器性能评估设备及方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种粒子探测器性能评估设备，包括：底座、测试箱、测试组件、收纳盒、控制组件以及安置组件；所述测试箱安装在所述底座表面，所述安置组件以及所述测试组件安装在所述测试箱中，所述测试组件对准所述安置组件，所述安置组件放置黑体辐射源，所述测试组件内安装有探测器以及主检测单元；所述收纳盒和所述控制组件分别安装在所述底座的两侧；所述控制组件与所述测试组件电性连接；所述测试箱包括第一壳体以及底板，所述底板安装在底座表面，且所述第一壳体扣合在所述底板上方；所述第一壳体一侧设有开口，所述安置组件通过所述开口安装在所述第一壳体的内侧，所述测试组件通过所述开口安装至所述第一壳体外侧，且所述开口设有门板用于将所述开口进行关闭；所述第一壳体的内侧设有槽口，所述测试组件设置有多组，且所述测试组件的组数与所述黑体辐射源的组数相对应，多组所述测试组件以及所述安置组件通过所述槽口安装在所述第一壳体内。

作为优选，所述安置组件以及所述测试组件之间设有隔断板，且所述第一壳体上方设有供所述隔断板***或取出的开槽。

作为优选，所述安置组件包括安置板以及限位条，所述安置板与所述开口平行安装，且多条所述限位条沿着所述安置板长度方向排列设置；所述黑体辐射源嵌合在每两条所述限位条之间，所述限位条对所述探测器进行夹紧固定。

作为优选，所述测试组件包括第二壳体；所述第二壳体的一侧壁设有推杆，所述推杆朝向所述第二壳体的另一侧壁，所述推杆的端部设有夹板，所述推杆推动所述夹板将所述探测器进行夹紧固定。

作为优选，所述夹板朝向所述探测器的一侧设有第一缓冲垫，所述第二壳体与所述推杆相对的一侧设有第二缓冲垫；所述第二壳体的底部设有防滑垫。

作为优选，所述主检测单元包括安装板、摄像头以及检测主板；所述安装板与所述第二壳体上部固定连接，所述摄像头安装在所述安装板的下部，所述检测主板安装在所述安装板上部；所述检测主板与所述摄像头以及所述控制组件电性连接；所述检测主板上设有检测分析模块、检测处理器模块、检测储存模块、检测传输模块；所述检测分析模块、所述检测处理器模块、所述检测储存模块、所述检测传输模块均与所述控制组件电性连接。

作为优选，所述收纳盒包括盒体、盖体，所述盖体和盒体通过转轴连接，且所述盒体内侧设有辐射隔离板；所述盒体的底部设有滚轮，且所述盒体的一侧设有便于推动的把手。

作为优选，所述控制组件包括信息处理器、显示面板以及控制柜，所述显示面板以及信息处理器安装在所述控制柜上方；所述信息处理器包括处理器主板，所述处理器主板上设有处理器导出模块、处理器无线传输模块、显示模块、处理器检测模块。

作为优选，所述底座、所述测试箱、所述收纳盒以及所述控制组件底部均垫设有支撑底板，所述支撑底板底部垫设有防滑垫。

一种粒子探测器性能评估方法，使用权利要求1-9所述的粒子探测器性能评估设备，包括以下步骤：

S1、将黑体辐射源放置在收纳盒中，并将所述收纳盒移动至底座一侧，随后打开所述收纳盒，将所述黑体辐射源取出放置在安置组件中，然后将所述安置组件沿着槽口安装到第一壳体的内侧，当所述安置组件安装完毕后，将隔断板从所述第一壳体上的开槽***到所述第一壳体内，对所述黑体辐射源进行隔断；

S2、将探测器以及主检测单元安装在测试组件内，随后将所述测试组件沿着所述槽口***到所述第一壳体内，当所述测试组件安装完毕后，关闭所述第一壳体开口处的门板，与此同时对所述底座的高度进行调节，当所述底座的高度调节完毕后，即可将所述测试组件以及所述控制组件进行连通，同时接通电源；

S3、当所述测试组件以及所述控制组件接通后，即可将所述隔断板从开槽中取出，此时所述黑体辐射源将会将辐射信号射向所述探测器中，所述主检测单元即可对所述探测器的性能进行检查，所述主检测单元检查将检测的信息汇总传送到控制组件中，所述控制组件对测试结果进行检查统计汇总，当测试完毕后，将所述隔断板从所述开槽中***，对黑体辐射源进行重新隔断；

S4，将S3的步骤重复两次后，所述控制组件会将汇总到的信息进行统计，从而得出测试结果。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

通过设置多组测试组件，从而可以同时对多个不同型号的探测器进行检测，提高了探测器性能比较的效率，而且由于测试组件与控制组件连接，控制组件可以与外界第三方检测装置进行连接，提高了设备的实用性。并且，为了便于测试组件以及安置组件安装调节，在第一壳体上设置多个槽口，多组测试组件以及安置组件通过槽口安装在第一壳体内，多组测试组件以及安置组件可根据需要***不同的槽口中，在确保测试组件能稳定安装的前提下，达到调节位置的目的。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为该粒子探测器性能评估设备整体示意图；

图2为该粒子探测器性能评估设备剖面示意图；

图3为测试组件示意图；

图4为隔断板示意图；

图5为安置组件示意图；

图6为测试组件、隔断板、安置组件组装示意图；

图7为第一壳体示意图；

图8为主检测单元示意图；

图9为信息处理器示意图；

图10为收纳盒示意图。

1、底座；2、测试箱；20、第一壳体；200、开口；201、门板；202、槽口；203、开槽；21、底板；3、测试组件；30、主检测单元；300、安装板、301、摄像头；302、检测主板；303、检测分析模块；304、检测处理器模块；305、检测储存模块；306、检测传输模块；31、探测器；32、第二壳体；33、推杆；34、夹板；35、第一缓冲垫；36、第二缓冲垫；37、防滑垫；4、收纳盒；40、盒体；41、盖体；42、辐射隔离板；43、滚轮；44、把手；5、控制组件；50、信息处理器；500、处理器导出模块；501、处理器无线传输模块；502、显示模块；503、处理器检测模块；51、显示面板；52、控制柜；6、安置组件；60、黑体辐射源；61、安置板；62、限位条；7、隔断板；8、支撑底板；9、防滑垫。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施方式及实施方式中的特征可以相互组合。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，所描述的实施方式仅仅是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。

本方案公开了一种粒子提前性能评估设备，如图1-图10所示，包括了提供支撑平台的底座1，测试箱2放置在底座1的表面。具体的，该测试箱2包括第一壳体20以及底板21，底板21通过螺丝固定的方式固定在底座1表面，第一壳体20从底板21的上方扣合在底板21的***，从而实现测试箱2的安装固定。同时如图7所示，第一壳体20的一侧还设有开口200，在开口200处设置门板201，可以通过门板201控制开口200的打开或关闭。在安装的过程中，先将多个黑体辐射源60从底座1一侧的收纳盒4中取出，放置在安置组件6中，随后打开门板201让安置组件6沿着开口200安装到第一壳体20的内侧，随后将多个测试组件3沿着开口200安装到第一壳体20的外侧，并且每个测试组件3均与一个黑体辐射源60相对，当测试组件3以及安置组件6安装完毕后，即可将门板201关闭。为了能让安置组件6以及测试组件3能实现位置调节，在第一壳体20的内壁设有槽口202，该槽口202的朝向与开口200的朝向相对，安置组件6以及测试组件3可以沿着合适高度的槽口202***，并随着槽口202的导向安装在第一壳体20内，从而达到调节位置的目的。同时需要控制组件5与测试组件3进行电性连接，具体的可以为传输线或无线信号连接，从而让测试组件3的测试信息传输到控制组件5中，进行统一的汇总输出测试结果。

另外，黑体辐射源60通过安置组件6安装到第一壳体20后，仍需要将测试组件3安装完毕后才能开始测试，此时黑体辐射源60会长时间暴露在外发出辐射，会对测试人员的健康造成影响，因此，在第一壳体20的上方设置开槽203，该开槽203的位置与安置组件6以及测试组件3之间的间隙相对，通过从开槽203***隔断板7，使得隔断板7进入到安置组件6以及测试组件3的间隙中，将黑体辐射源60进行隔断，减少在安装过程中辐射对人体的影响。同时，为了进一步提高隔断效果，可以在开槽203上方盖上盖板。当设备组装完毕后(组装关系如图6所示)，只需要将隔断板7从开槽203中抽出，当隔断消除后黑体辐射源60即可对探测器31发出辐射，探测器31即可正常工作，当测试完毕后，需要将隔断板7重新***，对黑体辐射源60进行重新隔断，减少辐射对人体影响。

在一些可选的实施例中，安置组件6包括安置板61以及限位条62，安置板61与开口200平行安装，且多条限位条62沿着安置板61长度方向排列设置，黑体辐射源60嵌合在每两条限位条62之间，限位条62对探测器31进行夹紧固定。

在一些可选的实施例中，测试组件3包括第二壳体32，在安装时需要将探测器31放置在第二壳体32中，但是由于探测器31的型号大小各不相同，无法通过第二壳体32做到对每一种探测器31进行固定，因此第二壳体32的一侧壁设有推杆33，推杆33朝向第二壳体32的另一侧壁，推杆33的端部设有夹板34，推杆33推动夹板34将探测器31进行夹紧固定，通过夹紧固定的方式来适配不用型号大小的探测器31。

进一步的，为了防止由于夹板34对探测器31挤压造成探测器31损坏，如图3所述在夹板34朝向探测器31的一侧设有第一缓冲垫35，第二壳体32与推杆33相对的一侧设有第二缓冲垫36，通过第一缓冲垫35以及第二缓冲垫36起到缓冲作用，降低探测器31损坏的几率。同时，由于推杆33在移动的过程中，第二壳体32与探测器31之间可能会存在滑移的情况发生，因此在探测器31的底部设有防滑垫37，减少滑移的情况发生。

在一些可选的实施例中，如图8所示，主检测单元30包括安装板300、摄像头301以及检测主板302；安装板300与第二壳体32上部固定连接，摄像头301安装在安装板300的下部，检测主板302安装在安装板300上部；摄像头301会将拍摄到探测器31的信息发送到检测主板302上，检测主板302会将信息进行分析并发送到控制组件5中；具体的，检测主板302上设有检测分析模块303、检测处理器模块304、检测储存模块305、检测传输模块306；检测分析模块303、检测处理器模块304、检测储存模块305、检测传输模块306均与控制组件5电性连接。

在一些可选的实施例中，图10所示，收纳盒4包括盒体40、盖体41，盖体41和盒体40通过转轴连接，且盒体40内侧设有辐射隔离板42；在初始状态下，黑体辐射源60放置在盒体40内，盖上盖体41，通过辐射隔离板42将黑体辐射源60的辐射进行隔离，需要使用黑体辐射源60时，通过把手44推动盒体40底部的滚轮43滚动，直至盒体40移动到底座1一侧，打开盖体41，将黑体辐射源60取出放置到安置组件6上。

在一些可选的实施例中，控制组件5包括信息处理器50、显示面板51以及控制柜52，显示面板51以及信息处理器50安装在控制柜52上方，信息处理器50会将处理到的信息进行汇总整理，最终出显示面板51中呈现。具体的，信息处理器50包括处理器主板，处理器主板上设有处理器导出模块500、处理器无线传输模块501、显示模块502、处理器检测模块503。

在一些可选的实施例中，底座1、测试箱2、收纳盒4以及控制组件5底部均垫设有支撑底板821，支撑底板821底部垫设有防滑垫9。

一种粒子探测器31性能评估方法，使用上述的粒子探测器31性能评估设备，包括以下步骤：

S1、将黑体辐射源60放置在收纳盒4中，并将收纳盒4移动至底座1一侧，随后打开收纳盒4，将黑体辐射源60取出放置在安置组件6中，然后将安置组件6沿着槽口202安装到第一壳体20的内侧，当安置组件6安装完毕后，将隔断板7从第一壳体20上的开槽203***到第一壳体20内，对黑体辐射源60进行隔断；

S2、将探测器31以及主检测单元30安装在测试组件3内，随后将测试组件3沿着槽口202***到第一壳体20内，当测试组件3安装完毕后，关闭第一壳体20开口200处的门板201，与此同时对底座1的高度进行调节，当底座1的高度调节完毕后，即可将测试组件3以及控制组件5进行连通，同时接通电源；

S3、当测试组件3以及控制组件5接通后，即可将隔断板7从开槽203中取出，此时黑体辐射源60将会将辐射信号射向探测器31中，主检测单元30即可对探测器31的性能进行检查，其中检测方式为摄像头301对准探测器31，观察探测器31的工作状态，并将观察到的信息传送到检测主板302上的检测分析模块303、检测处理器模块304、检测储存模块305、检测传输模块306中进行数据分析。主检测单元30将检测的信息汇总传送到控制组件5中，控制组件5对测试结果通过处理器导出模块500、处理器无线传输模块501、显示模块502、处理器检测模块503进行检查统计汇总，当测试完毕后，将隔断板7从开槽203中***，对黑体辐射源60进行重新隔断；

S4，将S3的步骤重复两次后，控制组件5会将汇总到的信息进行统计，从而得出测试结果。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，故凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (10)

1.一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，包括：

底座、测试箱、测试组件、收纳盒、控制组件以及安置组件；

所述测试箱安装在所述底座表面，所述安置组件以及所述测试组件安装在所述测试箱中，所述测试组件对准所述安置组件，所述安置组件放置黑体辐射源，所述测试组件内安装有探测器以及主检测单元；所述收纳盒和所述控制组件分别安装在所述底座的两侧；

所述控制组件与所述测试组件电性连接；

所述测试箱包括第一壳体以及底板，所述底板安装在底座表面，且所述第一壳体扣合在所述底板上方；

所述第一壳体一侧设有开口，所述安置组件通过所述开口安装在所述第一壳体的内侧，所述测试组件通过所述开口安装至所述第一壳体外侧，且所述开口设有门板用于将所述开口进行关闭；

所述第一壳体的内侧设有槽口，所述测试组件设置有多组，且所述测试组件的组数与所述黑体辐射源的组数相对应，多组所述测试组件以及所述安置组件通过所述槽口安装在所述第一壳体内。

2.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

所述安置组件以及所述测试组件之间设有隔断板，且所述第一壳体上方设有供所述隔断板***或取出的开槽。

3.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

所述安置组件包括安置板以及限位条，所述安置板与所述开口平行安装，且多条所述限位条沿着所述安置板长度方向排列设置；

所述黑体辐射源嵌合在每两条所述限位条之间，所述限位条对所述探测器进行夹紧固定。

4.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

所述测试组件包括第二壳体；

所述第二壳体的一侧壁设有推杆，所述推杆朝向所述第二壳体的另一侧壁，所述推杆的端部设有夹板，所述推杆推动所述夹板将所述探测器进行夹紧固定。

5.根据权利要求4所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

所述夹板朝向所述探测器的一侧设有第一缓冲垫，所述第二壳体与所述推杆相对的一侧设有第二缓冲垫；

所述第二壳体的底部设有防滑垫。

6.根据权利要求4所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

所述主检测单元包括安装板、摄像头以及检测主板；

所述安装板与所述第二壳体上部固定连接，所述摄像头安装在所述安装板的下部，所述检测主板安装在所述安装板上部；

所述检测主板与所述摄像头以及所述控制组件电性连接；

所述检测主板上设有检测分析模块、检测处理器模块、检测储存模块、检测传输模块；所述检测分析模块、所述检测处理器模块、所述检测储存模块、所述检测传输模块均与所述控制组件电性连接。

7.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

所述收纳盒包括盒体、盖体，所述盖体和盒体通过转轴连接，且所述盒体内侧设有辐射隔离板；

所述盒体的底部设有滚轮，且所述盒体的一侧设有便于推动的把手。

8.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

所述控制组件包括信息处理器、显示面板以及控制柜，

所述显示面板以及信息处理器安装在所述控制柜上方；

所述信息处理器包括处理器主板，所述处理器主板上设有处理器导出模块、处理器无线传输模块、显示模块、处理器检测模块。

9.根据权利要求1所述的一种粒子探测器性能评估设备，其特征在于，

所述底座、所述测试箱、所述收纳盒以及所述控制组件底部均垫设有支撑底板，所述支撑底板底部垫设有防滑垫。

10.一种粒子探测器性能评估方法，使用权利要求1-9所述的粒子探测器性能评估设备，包括以下步骤：

S1、将黑体辐射源放置在收纳盒中，并将所述收纳盒移动至底座一侧，随后打开所述收纳盒，将所述黑体辐射源取出放置在安置组件中，然后将所述安置组件沿着槽口安装到第一壳体的内侧，当所述安置组件安装完毕后，将隔断板从所述第一壳体上的开槽***到所述第一壳体内，对所述黑体辐射源进行隔断；

S2、将探测器以及主检测单元安装在测试组件内，随后将所述测试组件沿着所述槽口***到所述第一壳体内，当所述测试组件安装完毕后，关闭所述第一壳体开口处的门板，与此同时对所述底座的高度进行调节，当所述底座的高度调节完毕后，即可将所述测试组件以及所述控制组件进行连通，同时接通电源；

S3、当所述测试组件以及所述控制组件接通后，即可将所述隔断板从开槽中取出，此时所述黑体辐射源将会将辐射信号射向所述探测器中，所述主检测单元即可对所述探测器的性能进行检查，所述主检测单元检查将检测的信息汇总传送到控制组件中，所述控制组件对测试结果进行检查统计汇总，当测试完毕后，将所述隔断板从所述开槽中***，对黑体辐射源进行重新隔断；

S4，将S3的步骤重复两次后，所述控制组件会将汇总到的信息进行统计，从而得出测试结果。