CN117742088A - 一种曝光成像控制方法、***及相关设备 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种曝光成像控制方法、***及相关设备，用于实现对曝光成像的难点区域图像的自动化调整，使得曝光工艺参数与所需成像的原始点阵图像中的几何参数匹配，提高曝光成像的质量和曝光成像效率。本发明实施例方法包括：扫描原始点阵图像，判断所述原始点阵图像中是否存在预设类型的目标图像元素；若存在目标图像元素，则判断所述目标图像元素的几何参数是否在兼容范围内；若不在兼容范围，则调整所述原始点阵图像中的所述目标图像元素的几何参数至所述兼容范围，并根据调整之后生成的校正点阵图像中的曝光点的位置进行曝光成像。

Description

一种曝光成像控制方法、***及相关设备

技术领域

本发明涉及数据处理技术领域，尤其涉及一种曝光成像控制方法、***及相关设备。

背景技术

曝光成像是指通过光源对覆盖有感光胶的涂层上的曝光点(由原始图像进行映射)进行曝光，从而经过显影之后在感光涂层上生成所需的图像。常见的应用场景包括丝网印刷、PCB曝光成像等。

申请人发现，由于曝光设备采用的曝光工艺参数(例如，网目大小、感光胶的厚度、感光胶解析度、曝光功率等)、设备本身的定位精度的限制，实际可以曝光成像的图像的几何参数是受限的。若曝光设备采用的曝光工艺参数与所需成像的原始点阵图像中的几何参数不匹配，导致曝光设备在感光涂层上生成的曝光成像图像的一些特定区域(例如线宽、最小线距过小的区域，过小锐角的交点区域)的图像精度与光源的定位精度不匹配，使得曝光后的图形相对原图存在差异。具体表现为，曝光成像图像的线宽和最小线距还原损失、曝光成像图像上过小锐角的交点区域出现异形图像，边沿固化不牢固等问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种曝光成像控制方法、***及相关设备，用于实现对曝光成像的难点区域图像的自动化调整，使得曝光工艺参数与所需成像的原始点阵图像中的几何参数匹配，提高曝光成像的质量和曝光成像效率。

本发明实施例第一方面提供了一种曝光成像控制方法，可包括：

扫描原始点阵图像，判断所述原始点阵图像中是否存在预设类型的目标图像元素；

若存在目标图像元素，则判断所述目标图像元素的几何参数是否在兼容范围内；

若不在兼容范围，则调整所述原始点阵图像中的所述目标图像元素的几何参数至所述兼容范围，并根据调整之后生成的校正点阵图像中的曝光点的位置进行曝光成像。

可选的，作为一种可能的实施方式，本发明实施例中的曝光成像控制方法，还可以包括：

获取曝光工艺参数的当前值，并查询所述曝光工艺参数的当前值关联的兼容范围。

可选的，作为一种可能的实施方式，本发明实施例中，调整所述原始点阵图像中的所述目标图像元素的几何参数至所述兼容范围，可包括：

调整所述原始点阵图像中的线段的线宽和/或最小线距至所述兼容范围。

可选的，作为一种可能的实施方式，本发明实施例中，调整所述原始点阵图像中的所述目标图像元素的几何参数至所述兼容范围，可包括：

将所述原始点阵图像中的小于阈值的夹角的内部区域进行像素填充，使得局部夹角钝化至所述兼容范围。

本发明实施例第二方面提供了一种曝光成像控制***，可包括：

第一处理单元，用于扫描原始点阵图像，判断所述原始点阵图像中是否存在预设类型的目标图像元素；

识别单元，若存在目标图像元素，则判断所述目标图像元素的几何参数是否在兼容范围内；

第二处理单元，若不在兼容范围，则调整所述原始点阵图像中的所述目标图像元素的几何参数至所述兼容范围，并根据调整之后生成的校正点阵图像中的曝光点的位置进行曝光成像。

可选的，作为一种可能的实施方式，本申请实施例中的曝光成像控制***，还可以包括：

获取单元，用于获取曝光工艺参数的当前值，并查询所述曝光工艺参数的当前值关联的兼容范围。

可选的，作为一种可能的实施方式，本申请实施例中，第二处理单元，可包括：

第一调整模块，调整所述原始点阵图像中的线段的线宽和/或最小线距至所述兼容范围。

可选的，作为一种可能的实施方式，本申请实施例中，第二处理单元，可包括：

第二调整模块，将所述原始点阵图像中的小于阈值的夹角的内部区域进行像素填充，使得局部夹角钝化至所述兼容范围。

本发明实施例第三方面提供了一种曝光成像控制装置，所述曝光成像控制装置包括处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如第一方面及第一方面中任意一种可能的实施方式中的步骤。

本发明实施例第四方面提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面及第一方面中任意一种可能的实施方式中的步骤。

从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点：

本发明实施例中，每一次的曝光成像之前通过扫描原始点阵图像识别出预设类型的目标图像元素，若目标图像元素的几何参数不在兼容范围内，则调整原始点阵图像中的目标图像元素的几何参数至兼容范围，并根据调整之后生成的校正点阵图像中的曝光点的位置进行曝光成像。因此，本申请技术方案中，对原始图像进行预检测，并自动修改不兼容的难点区域图像，以此实现对难点区域图像的自动化调整，使得曝光工艺参数与所需成像的原始点阵图像中的几何参数匹配，无需人工参与调整，提高了曝光成像的质量和曝光成像效率。

附图说明

图1为本发明实施例中一种曝光成像控制方法的一个实施例示意图；

图2为本发明实施例中一种曝光成像控制装置的一个实施例示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

若曝光设备(包含可水平和竖直方向移动的激光阵列，例如申请号为：201310084860.3中的平面丝网印刷网版用激光直接曝光成像装置)采用的曝光工艺参数与所需成像的原始点阵图像中的几何参数不匹配，将会导致曝光设备在感光涂层上生成的曝光成像图像的一些难点区域(例如线宽、最小线距过小的区域，过小锐角的交点区域)相对原图存在差异。每一次的曝光成像差异，需要人工参与分析和调整，费时费力，效率低下。为提高曝光成像效率，申请人提出预先对原始图像进行预检测，并自动修改不兼容的局部图像，以此实现难点区域的自动化调整。

为了便于理解，下面对本发明实施例中的具体流程进行描述，请参阅图1，本发明实施例中一种曝光成像控制方法的一个实施例可包括：

S101：判断原始点阵图像中是否存在预设类型的目标图像元素。

为实现难点区域的自动化调整，在曝光成像之前，***可以先扫描原始点阵图像，判断原始点阵图像中是否存在预设类型的目标图像元素。若没有预设类型的目标图像元素，则无需进行调整，执行现有预定的流程。

具体预设类型的目标图像元素可以依据需求进行设置，例如，针对曝光成像图像的线宽和最小线距还原损失、曝光成像图像上过小锐角的交点区域固化不牢固等问题，常见的目标图像元素可以是平行的线段、小于阈值(可以是5度至15度之间的任意角度值)的锐角，具体的目标图像元素可以根据不同的曝光工艺参数限制而进行合理的设置，此处不做限定。

S102：判断目标图像元素的几何参数是否在兼容范围内。

若存在目标图像元素，则***需要判断目标图像元素的几何参数是否在兼容范围内。可选的，作为一种可能的实施方式，***可以预先保存曝光工艺参数可以兼容的目标图像元素的几何参数的兼容范围，然后在获取曝光工艺参数的当前值之后，可以查询曝光工艺参数的当前值关联的兼容范围。

示例性的，判断平行的线段之间的间距是否在兼容范围内？或者判断过小锐角的夹角是否在兼容范围内？判断线段的线宽是否在兼容范围内？若目标图像元素的几何参数在兼容范围内，则无需进行调整，执行现有预定的流程。

S103：调整原始点阵图像中的目标图像元素的几何参数至兼容范围，并根据调整之后生成的校正点阵图像中的曝光点的位置进行曝光成像。

若目标图像元素的几何参数不在兼容范围，则调整原始点阵图像中的目标图像元素的几何参数至兼容范围，并根据调整之后生成的校正点阵图像中的曝光点的位置进行曝光成像，具体的曝光成像的流程可参照相关技术，此处不做赘述。

示例性的，一些可能的实施方式中，可以将平行的线段之间的间距调整至兼容范围内；一些可能的实施方式中，可以将锐角的两条边所圈的内部区域进行像素填充(外部边沿未变动)，使得局部夹角钝化至兼容范围内；一些可能的实施方式中，还可以将线段的线宽调整至兼容范围内。

由以上公开内容可知，本申请实施例中，每一次的曝光成像之前通过扫描原始点阵图像识别出预设类型的目标图像元素，若目标图像元素的几何参数不在兼容范围内，则调整原始点阵图像中的目标图像元素的几何参数至兼容范围，并根据调整之后生成的校正点阵图像中的曝光点的位置进行曝光成像。因此，本申请技术方案中，对原始图像进行预检测，并自动修改不兼容的难点区域图像，以此实现对难点区域图像的自动化调整，使得曝光工艺参数与所需成像的原始点阵图像中的几何参数匹配，无需人工参与调整，提高了曝光成像的质量和曝光成像效率。

本申请实施例还提供了一种曝光成像控制***，可包括：

第一处理单元，用于扫描原始点阵图像，判断原始点阵图像中是否存在预设类型的目标图像元素；

识别单元，若存在目标图像元素，则判断目标图像元素的几何参数是否在兼容范围内；

第二处理单元，若不在兼容范围，则调整原始点阵图像中的目标图像元素的几何参数至兼容范围，并根据调整之后生成的校正点阵图像中的曝光点的位置进行曝光成像。

可选的，作为一种可能的实施方式，本申请实施例中的曝光成像控制***，还可以包括：

获取单元，用于获取曝光工艺参数的当前值，并查询曝光工艺参数的当前值关联的兼容范围。

可选的，作为一种可能的实施方式，本申请实施例中，第二处理单元，可包括：

第一调整模块，调整原始点阵图像中的线段的线宽和/或最小线距至兼容范围。

可选的，作为一种可能的实施方式，本申请实施例中，第二处理单元，可包括：

第二调整模块，将原始点阵图像中的小于阈值的夹角的内部区域进行像素填充，使得局部夹角钝化至兼容范围。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的***，模块和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

上面从模块化功能实体的角度对本发明实施例中的曝光成像控制***进行了描述，请参阅图2，下面从硬件处理的角度对本发明实施例中的曝光成像控制装置进行描述：

该曝光成像控制装置1可以包括存储器11、处理器12和输入输出总线13。处理器12执行计算机程序时实现上述图1所示的方法实施例中的步骤，例如图1所示的步骤101至103。或者，处理器执行计算机程序时实现上述各装置实施例中各模块或单元的功能。

其中，存储器11至少包括一种类型的可读存储介质，可读存储介质包括闪存、硬盘、多媒体卡、卡型存储器(例如，SD或DX存储器等)、磁性存储器、磁盘、光盘等。存储器11在一些实施例中可以是曝光成像控制装置1的内部存储单元，例如该曝光成像控制装置1的硬盘。存储器11在另一些实施例中也可以是曝光成像控制装置1的外部存储设备，例如曝光成像控制装置1上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。进一步地，存储器11还可以既包括曝光成像控制装置1的内部存储单元也包括外部存储设备。存储器11不仅可以用于存储安装于曝光成像控制装置1的应用软件及各类数据，例如计算机程序的代码等，还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。

处理器12在一些实施例中可以是一中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、控制器、微控制器、微处理器或其他数据处理芯片，用于运行存储器11中存储的程序代码或处理数据，例如执行计算机程序等。

该输入输出总线13可以是外设部件互连标准(peripheral componentinterconnect，简称PCI)总线或扩展工业标准结构(extended industry standardarchitecture，简称EISA)总线等。该总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。

进一步地，曝光成像控制装置还可以包括有线或无线网络接口14，网络接口14可选的可以包括有线接口和/或无线接口(如WI-FI接口、蓝牙接口等)，通常用于在该曝光成像控制装置1与其他电子设备之间建立通信连接。

可选地，该曝光成像控制装置1还可以包括用户接口，用户接口可以包括显示器(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选的，用户接口还可以包括标准的有线接口、无线接口。可选的，在一些实施例中，显示器可以是LED显示器、液晶显示器、触控式液晶显示器以及OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)触摸器等。其中，显示器也可以适当的称为显示屏或显示单元，用于显示在曝光成像控制装置1中处理的信息以及用于显示可视化的用户界面。

图2仅示出了具有组件11-14以及计算机程序的曝光成像控制装置1，本领域技术人员可以理解的是，图2示出的结构并不构成对曝光成像控制装置1的限定，可以包括比图示更少或者更多的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

本发明还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，可以实现如上述图1所示的方法实施例中的步骤，例如图1所示的步骤101至103。或者，处理器执行计算机程序时实现上述各装置实施例中各模块或单元的功能。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的***，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种曝光成像控制方法，其特征在于，应用于曝光成像设备，包括：

扫描原始点阵图像，判断所述原始点阵图像中是否存在预设类型的目标图像元素；

若存在目标图像元素，则判断所述目标图像元素的几何参数是否在兼容范围内；

若不在兼容范围，则调整所述原始点阵图像中的所述目标图像元素的几何参数至所述兼容范围，并根据调整之后生成的校正点阵图像中的曝光点的位置进行曝光成像。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在判断所述目标图像元素的几何参数是否在兼容范围内之前，所述方法还包括：

获取曝光工艺参数的当前值，并查询所述曝光工艺参数的当前值关联的兼容范围。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，调整所述原始点阵图像中的所述目标图像元素的几何参数至所述兼容范围，包括：

调整所述原始点阵图像中的线段的线宽和/或最小线距至所述兼容范围。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，调整所述原始点阵图像中的所述目标图像元素的几何参数至所述兼容范围，包括：

将所述原始点阵图像中的小于阈值的夹角的内部区域的像素点全部设置为曝光点或非曝光点，使得内部区域周边的夹角钝化至所述兼容范围。

5.一种曝光成像控制***，其特征在于，包括：

第一处理单元，用于扫描原始点阵图像，判断所述原始点阵图像中是否存在预设类型的目标图像元素；

识别单元，若存在目标图像元素，则判断所述目标图像元素的几何参数是否在兼容范围内；

第二处理单元，若不在兼容范围，则调整所述原始点阵图像中的所述目标图像元素的几何参数至所述兼容范围，并根据调整之后生成的校正点阵图像中的曝光点的位置进行曝光成像。

6.根据权利要求5所述的***，其特征在于，还包括：

获取单元，用于获取曝光工艺参数的当前值，并查询所述曝光工艺参数的当前值关联的兼容范围。

7.根据权利要求6所述的***，其特征在于，所述第二处理单元，包括：

第一调整模块，调整所述原始点阵图像中的线段的线宽和/或最小线距至所述兼容范围。

8.根据权利要求6所述的***，其特征在于，所述第二处理单元，包括：

第二调整模块，将所述原始点阵图像中的小于阈值的夹角的内部区域的像素点全部设置为曝光点或非曝光点，使得内部区域周边的夹角钝化至所述兼容范围。

9.一种曝光成像控制装置，其特征在于，所述曝光成像控制装置包括处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如权利要求1至4中任意一项所述方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4中任意一项所述方法。