CN116631312A - 显示屏检测方法及*** - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 77
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000012216 screening Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 19
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 6
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 claims description 4
- 238000013507 mapping Methods 0.000 claims 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000013102 re-test Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开了一种显示屏检测方法及***,方法包括以下步骤:S1:发出脉冲检测信号至显示区域内,获得显示区域内每个子像素点的发光强度大小;S2:对检测信号进行强度的不断调整,记录检测信号的强度与发光强度之间的对应关系,构建两者之间的对应表;S3:对所有的对应表进筛选,并且与标准对应表进行对比,当两者不相符时,标记与该对应表相匹配的子像素点为“待测点”,若两者相匹配则为“亮点”;S4:对“待测点”和“亮点”进行比对,若两者之间的比例符合阈值,则该显示屏符合标准。通过对显示区域内的子像素点进行坐标确定,同时构建子像素点的显示对应表,从而筛选得到符合要求的子像素点,最终判断该显示屏是否符合标准。
Description
技术领域
本发明涉及显示屏技术领域,尤其涉及一种显示屏检测方法及***。
背景技术
随着全球数字化、信息化的高速发展,显示屏幕运用越来越广泛,各式各样的显示产品层出不穷,彩电、电脑、手机等显示终端有着巨大的需求。显示行业正向着大屏化发展,激光电视和投影仪等大尺寸显示产品也不断获得市场青睐,销量持续增长。为了减少环境光对画面效果的干扰,激光电视或者投影仪往往需要增加一个显示类产品材,增强画面的对比度和色彩饱和度。
目前,显示类产品生产过程中的亮度和可视角检测还是以人工测量为主,其中最核心的操作为将显示类产品材放置到指定位置后,人工移动支撑数据采集分析仪器的三角架到地面上提前规划好的标记点处进行数据采集。人工测量效率较低,测量设备移动到位后需要调整设备角度并记录测量数据;人工测量只能实现较少数量的抽检,并且测量密度较大的时候工作量也会变大,因此如何实现自动化检测,是我们当前所面临的难题。
发明内容
针对上述技术中存在的不足之处,本发明提供一种显示屏检测方法及***,通过对显示区域内的子像素点进行坐标确定,同时构建子像素点的显示对应表,从而筛选得到符合要求的子像素点,最终判断该显示屏是否符合标准。
为实现上述目的,本发明提供一种显示屏检测方法,包括以下步骤:
S1:发出脉冲检测信号至显示区域内,获得显示区域内每个子像素点的发光强度大小;
S2: 对检测信号进行强度的不断调整,记录检测信号的强度与发光强度之间的对应关系,构建两者之间的对应表;
S3:对所有的对应表进筛选,并且与标准对应表进行对比,当两者不相符时,标记与该对应表相匹配的子像素点为“待测点”,若两者相匹配则为“亮点”; S4:对“待测点”和“亮点”进行比对,若两者之间的比例符合阈值,则该显示屏符合标准。
作为优选,在发送脉冲信号至显示区域前,还包括对显示区域进行区域对应,首先向显示区域发送前处理信号,向子显示区域内进行信号分流,将信号传输至子显示区域内的每一个子像素点,并且与这些子像素点建立对应关系。
作为优选,获得对应关系后,构建子像素点所形成的实际显示区域,将显示区域与实际显示区域进行对比,获得该显示区域的显示占空比和坐标对应关系。
作为优选,发出脉冲检测信号后,首先根据对应关系对脉冲信号进行均分,使得所有子像素点所获得的脉冲信号是完全一致,对子像素点的发光亮度进行检测,当子像素点所发出亮度出现不一致时,记录该子像素点的对应坐标,记为“待测点”。
作为优选,对“待测点”所在的子像素点进行脉冲信号增强处理,记录下不同信号强度下的发光亮度,同时构建脉冲信号与发光强度的第二对应表,并且将第二对应表与标准对应表进行对比,判断两者是否相同。
本发明还公开了一种显示屏检测***,包括信号模块、检测模块和分析模块,所述信号模块、检测模块和分析模块相互连接,均与显示屏的显示区域电性相连,信号模块发出脉冲检测信号至显示区域内,检测模块获得显示区域内每个子像素点的发光强度大小,同时信号模块对检测信号进行强度的不断调整,分析模块记录检测信号的强度与发光强度之间的对应关系,构建两者之间的对应表,分析模块对所有的对应表进筛选,并且与标准对应表进行对比,当两者不相符时,标记与该对应表相匹配的子像素点为“暗点”,若两者相匹配则为“亮点”。
作为优选,还包括有划分模块,信号模块在发送脉冲信号至显示区域前,利用划分模块显示区域进行区域对应,首先划分模块向显示区域发送前处理信号,向显示区域内进行信号分流,将信号传输至显示区域内的每一个子像素点,并且与这些子像素点建立对应关系。
作为优选,获得对应关系后,分析模块构建子像素点所形成的实际显示区域,将显示区域与实际显示区域进行对比,获得该显示区域的显示占空比和坐标对应关系。
作为优选,信号模块发出脉冲检测信号后,划分模块根据对应关系对脉冲信号进行均分,使得所有子像素点所获得的脉冲信号是完全一致,检测模块对子像素点的发光亮度进行检测,当子像素点所发出亮度出现不一致时,记录该子像素点的对应坐标,记为“待测点”。
作为优选,信号模块对“待测点”所在的子像素点进行脉冲信号增强处理,分析模块记录下不同信号强度下的发光亮度,同时构建脉冲信号与发光强度的第二对应表,并且将第二对应表与标准对应表进行对比,判断两者是否相同。
本发明的有益效果是:与现有技术相比,本发明提供的显示屏检测方法和***,首先通过对显示区域内能进行发光的子像素点进行筛选,在前期就筛选得到能够进行后续测试的子像素点,其次对这些能够进行后续测试的子像素点进行坐标对应,从而为后续测试过程中得到的不符合标准的子像素点能够进行准确定位,而在测试过程中,通过利用与标准对应表的比较,从而判断得到该像素点是否符合要求。
附图说明
图1为本发明的步骤流程图。
具体实施方式
为了更清楚地表述本发明,下面结合附图对本发明作进一步地描述,当然本发明的保护范围不仅于此,在不付出创造性劳动的前提下本领域技术人员所能做出的简单置换都属于本申请的保护范围。
请参阅图1,本发明公开了一种显示屏检测方法,包括以下步骤:
S1:发出脉冲检测信号至显示区域内,获得显示区域内每个子像素点的发光强度大小;S2: 对检测信号进行强度的不断调整,记录检测信号的强度与发光强度之间的对应关系,构建两者之间的对应表;S3:对所有的对应表进筛选,并且与标准对应表进行对比,当两者不相符时,标记与该对应表相匹配的子像素点为“待测点”,若两者相匹配则为“亮点”。S4:对“待测点”和“亮点”进行比对,若两者之间的比例符合阈值,则该显示屏符合标准。在具体实施过程中,显示屏是由多个子像素点按照阵列排布而成,而对显示屏进行检测,其本质是对这些子像素点进行检修检测,每个像素点在使用过程中都是通过导线与外部的设备相连接,从而可利用这些导线来对这些像素点进行检测,由于在同一块显示屏上,就需要确保这些像素点的显示亮度是保持一致的,不能出现局部过亮或者过暗的情况,因此为了解决这个问题,就需要对所有的子像素点进行有效的检测,从而避免这情况的产生,使得得到的显示屏满足使用需求。
为了实现上述目的,在发送脉冲信号至显示区域前,还包括对显示区域进行区域对应,首先向显示区域发送前处理信号,向子显示区域内进行信号分流,将信号传输至子显示区域内的每一个子像素点,并且与这些子像素点建立对应关系;获得对应关系后,构建子像素点所形成的实际显示区域,将显示区域与实际显示区域进行对比,获得该显示区域的显示占空比和坐标对应关系。在本实施例中,首先要对这些像素点进行筛选,只有能够进行工作的子像素点才满足需求,而在这个筛选过程中,就已经进行了初步筛选,若是连接导线发生断路或者是子像素点出现损坏,那么都会造成子像素点无法进行工作,从而无法进行发光,而进行初筛的目的是为了对该显示屏是否需要进行后续检测的判断,因为在显示屏行业,不可能确保在一个显示屏上的所有的子像素点都能正常工作,只要不能正常工作的子像素点所占比例较小,例如1000个子像素点中有5个以下的子像素点发生损坏(简称“坏点”),这种不会影响到整个显示屏的显示效果的,依旧是能够符合相关的规定的,基于这点,就需要相对显示屏内的所有子像素点进行筛选,当“坏点”所占比较高时,超过了行业标准,那么这块显示屏就无需进行后续的检测,只能进行报废或者其他的后续处理,因此通过利用“坏点”与整个子像素点的显示占空比就行初筛;于此同时,在进行初筛的过程中,对整个子像素点进行坐标的设立,更为具体的是,首先确定显示屏的形状,然后以显示屏上的某一个子像素点作为坐标原点构建二维坐标系,当构建完成后,以横向或者纵向的方式对这些子像素点进行逐一前信号传输,例如对横坐标均为1的子像素点同时进行前信号传输,当无法接受到反馈信号时判断遇到“坏点”,此时进行坐标的记录,不断进行重复操作,最后得到所有的“坏点”数量与坐标。
发出脉冲检测信号后,根据对应关系对脉冲信号进行均分,使得所有子像素点所获得的脉冲信号是完全一致,对子像素点的发光亮度进行检测,当子像素点所发出亮度出现不一致时,记录该子像素点的对应坐标,记为“待测点”;对“待测点”所在的子像素点进行脉冲信号增强处理,记录下不同信号强度下的发光亮度,同时构建脉冲信号与发光强度的第二对应表,并且将第二对应表与标准对应表进行对比,判断两者是否相同。在本实施例中,当“坏点”的数量低于设定标准时,则需要对这个显示屏进行后续的亮度检测,避免单个子像素点的亮度过高或者过低,由于之前已经将“坏点”进行筛选得到,在对“坏点”进行脉冲检测信号的传输已无任何意义,因此就将脉冲信号仅传输给符合检测标准的子像素点,不同使用场景的显示屏对于子像素点的发光标准是不一致的,因此需要事先获取针对该显示屏的像素点发光强度对应表,并且将该对应表作为标准对应表而使用;然后对剩余的子像素点进行亮度的检测,对检测信号进行强度的不断调整,记录检测信号的强度与发光强度之间的对应关系,构建两者之间的对应表;然后将这个对应表与标准对应表进行比对,当两者的变化曲线完全一致时,则认为该子像素点符合相关的规定;若不一致,例如在测试的过程中,某个子像素点的发光强度较弱,那么就需要对这个像素点进行标记,记为“待测点”,因为每个子像素点均是通过导线与检测设备相连接,此时就需要进行筛选,是子像素点出现问题还是导线出现问题,例如导线出现裂纹、破损等情况,虽然对的电阻影响较小,影响信号线的传输功能造成的影响较小,但是随着长时间的使用,线路发生老化就会造成断路,使得子像素点失效;为了解决这个问题,在前期的检测中就会就采用同等强度的脉冲检测信号,因为若导线出现上述问题,会使得这个脉冲信号的大小发生变化,从而会造成子像素点的亮度发生变化(虽然影响较小,但是依旧存在影响);然后通过对“待测点”进行单独的筛查,通过不同强度的脉冲检测信号来进行重新检测得到第二对应表,若第二对应表上的曲线与标准对应表的曲线是相同的,那么说明是导线出现问题,只需要对导线进行更换即可,若两者不相同,则说明是子像素点出现问题,当检测完毕后只需毕竟“亮点”与“待测点”的数量比,满足阈值即可通过检测。
本申请还公开了一种显示屏的检查***,包括信号模块、检测模块和分析模块,信号模块、检测模块和分析模块相互连接,均与显示屏的显示区域电性相连,信号模块发出脉冲检测信号至显示区域内,检测模块获得显示区域内每个子像素点的发光强度大小,同时信号模块对检测信号进行强度的不断调整,分析模块记录检测信号的强度与发光强度之间的对应关系,构建两者之间的对应表,分析模块对所有的对应表进筛选,并且与标准对应表进行对比,当两者不相符时,标记与该对应表相匹配的子像素点为“暗点”,若两者相匹配则为“亮点”。
还包括有划分模块,信号模块在发送脉冲信号至显示区域前,利用划分模块显示区域进行区域对应,首先划分模块向显示区域发送前处理信号,向显示区域内进行信号分流,将信号传输至显示区域内的每一个子像素点,并且与这些子像素点建立对应关系;获得对应关系后,分析模块构建子像素点所形成的实际显示区域,将显示区域与实际显示区域进行对比,获得该显示区域的显示占空比和坐标对应关系。
信号模块发出脉冲检测信号后,划分模块根据对应关系对脉冲信号进行均分,使得所有子像素点所获得的脉冲信号是完全一致,检测模块对子像素点的发光亮度进行检测,当子像素点所发出亮度出现不一致时,记录该子像素点的对应坐标,记为“待测点”;信号模块对“待测点”所在的子像素点进行脉冲信号增强处理,分析模块记录下不同信号强度下的发光亮度,同时构建脉冲信号与发光强度的第二对应表,并且将第二对应表与标准对应表进行对比,判断两者是否相同。
以上公开的仅为本发明的几个具体实施例,但是本发明并非局限于此,任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种显示屏检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:发出脉冲检测信号至显示区域内,获得显示区域内每个子像素点的发光强度大小;
S2: 对检测信号进行强度的不断调整,记录检测信号的强度与发光强度之间的对应关系,构建两者之间的对应表;
S3:对所有的对应表进筛选,并且与标准对应表进行对比,当两者不相符时,标记与该对应表相匹配的子像素点为“待测点”,若两者相匹配则为“亮点”; S4:对“待测点”和“亮点”进行比对,若两者之间的比例符合阈值,则该显示屏符合标准。
2.根据权利要求1所述的显示屏检测方法,其特征在于,在发送脉冲信号至显示区域前,还包括对显示区域进行区域对应,首先向显示区域发送前处理信号,向子显示区域内进行信号分流,将信号传输至子显示区域内的每一个子像素点,并且与这些子像素点建立对应关系。
3.根据权利要求2所述的显示屏检测方法,其特征在于,获得对应关系后,构建子像素点所形成的实际显示区域,将显示区域与实际显示区域进行对比,获得该显示区域的显示占空比和坐标对应关系。
4.根据权利要求1所述的显示屏检测方法,其特征在于,发出脉冲检测信号后,首先根据对应关系对脉冲信号进行均分,使得所有子像素点所获得的脉冲信号是完全一致,对子像素点的发光亮度进行检测,当子像素点所发出亮度出现不一致时,记录该子像素点的对应坐标,记为“待测点”。
5.根据权利要求4所述的显示屏检测方法,其特征在于,对“待测点”所在的子像素点进行脉冲信号增强处理,记录下不同信号强度下的发光亮度,同时构建脉冲信号与发光强度的第二对应表,并且将第二对应表与标准对应表进行对比,判断两者是否相同。
6.一种显示屏检测***,其特征在于,包括信号模块、检测模块和分析模块,所述信号模块、检测模块和分析模块相互连接,均与显示屏的显示区域电性相连,信号模块发出脉冲检测信号至显示区域内,检测模块获得显示区域内每个子像素点的发光强度大小,同时信号模块对检测信号进行强度的不断调整,分析模块记录检测信号的强度与发光强度之间的对应关系,构建两者之间的对应表,分析模块对所有的对应表进筛选,并且与标准对应表进行对比,当两者不相符时,标记与该对应表相匹配的子像素点为“暗点”,若两者相匹配则为“亮点”。
7.根据权利要求6所述的显示屏检测***,其特征在于,还包括有划分模块,信号模块在发送脉冲信号至显示区域前,利用划分模块显示区域进行区域对应,首先划分模块向显示区域发送前处理信号,向显示区域内进行信号分流,将信号传输至显示区域内的每一个子像素点,并且与这些子像素点建立对应关系。
8.根据权利要求7所述的显示屏检测***,其特征在于,获得对应关系后,分析模块构建子像素点所形成的实际显示区域,将显示区域与实际显示区域进行对比,获得该显示区域的显示占空比和坐标对应关系。
9.根据权利要求6所述的显示屏检测***,其特征在于,信号模块发出脉冲检测信号后,划分模块根据对应关系对脉冲信号进行均分,使得所有子像素点所获得的脉冲信号是完全一致,检测模块对子像素点的发光亮度进行检测,当子像素点所发出亮度出现不一致时,记录该子像素点的对应坐标,记为“待测点”。
10.根据权利要求9所述的显示屏检测***,其特征在于,信号模块对“待测点”所在的子像素点进行脉冲信号增强处理,分析模块记录下不同信号强度下的发光亮度,同时构建脉冲信号与发光强度的第二对应表,并且将第二对应表与标准对应表进行对比,判断两者是否相同。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202310758817.4A CN116631312B (zh) | 2023-06-26 | 2023-06-26 | 显示屏检测方法及*** |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN116631312A true CN116631312A (zh) | 2023-08-22 |
CN116631312B CN116631312B (zh) | 2024-05-07 |
Family
ID=87621360
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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CN202310758817.4A Active CN116631312B (zh) | 2023-06-26 | 2023-06-26 | 显示屏检测方法及*** |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN116631312B (zh) |
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PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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