KR100945369B1 - 표시기기의 검사장치 및 그 검사방법 - Google Patents

표시기기의 검사장치 및 그 검사방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 표시기기의 검사장치 및 그 검사방법에 관한 것으로, 표시기기의 아날로그 모드 검사, 디지털 모드 검사 및 OSD 모드 검사를 자동으로 순차 수행할 수 있도록 함으로써, 표시기기를 검사하는데 소요되는 시간을 단축시킬 수 있게 된다.

Description

표시기기의 검사장치 및 그 검사방법{APPARATUS FOR TESTING DISPLAY AND METHOD FOR TESTING THE SAME}
도1은 종래 표시기기의 검사장치를 보인 예시도.
도2는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시기기의 검사장치를 보인 예시도.
도3은 도2에 있어서, 제어부의 내부 구성을 보인 예시도.
***도면의 주요부분에 대한 부호의 설명***
110:표시기기 120:그래픽 처리부
130:제어부 115:OSD 키입력부
111,121:제1커넥터 112,122:제2커넥터
113,123:제3커넥터
본 발명은 표시기기의 검사장치 및 그 검사방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 표시기기의 아날로그 모드 검사(analog mode testing), 디지털 모드 검사(digital mode testing) 및 온-스크린-디스플레이 모드 검사(on-screen-display(이하, OSD) mode testing)를 일괄적으로 수행할 수 있도록 한 표시기기의 검사장치 및 그 검사방법에 관한 것이다.
일반적으로, 널리 사용되고 있는 표시장치들 중의 하나인 음극선관(cathode ray tube : CRT)은 텔레비젼을 비롯해서 계측기기, 정보 단말기기 등의 모니터에 주로 이용되고 있으나, 제품이 갖는 무게와 크기로 인해 전자 제품의 소형화 및 경량화의 요구에 적극 대응할 수 없었다.
따라서, 상기 음극선관을 대체하기 위해 소형, 경량화 및 저소비전력의 장점을 갖는 액정 표시장치(liquid crystal display : LCD), 플라즈마 표시장치(plasma display panel : PDP), 전계방출 표시장치(field emission display : FED), 그리고 전계발광 표시장치(electroluminescence display : ELD) 등의 다양한 평판 표시장치들이 활발하게 연구 및 개발되고 있다. 특히, 액정 표시장치는 해상도가 높고, 동화상을 실현하기에 충분할 만큼 반응 속도가 빠르기 때문에, 가장 활발한 연구가 이루어지고 있는 제품이다.
상기 표시장치들은 제품화되기 전에 테스트 패턴(test pattern)들을 표시하여 화질을 검사하는 최종검사가 수행되며, 통상 표시장치들이 대량 생산되기 때문에 최종검사에 소요되는 시간이 단축되면, 생산성을 대폭 향상시킬 수 있게 된다.
도1은 종래 표시기기의 검사장치를 보인 예시도이다.
도1을 참조하면, 종래 표시기기의 검사장치는 테스트 패턴들이 표시되는 표시기기(10)와; 상기 표시기기(10)에 아날로그 모드신호(ANALOG_MODE)와 디지털 모드신호(DIGITAL_MODE)를 인가하는 그래픽 처리부(20)와; 상기 표시기기(10)와 그래픽 처리부(20)에 각각 구비되어 상기 아날로그 모드신호(ANALOG_MODE)를 송신 및 수신하는 제1커넥터(11,21)와; 상기 표시기기(10)와 그래픽 처리부(20)에 각각 구비되어 상기 디지털 모드신호(DIGITAL_MODE)를 송신 및 수신하는 제2커넥터(12,22)와; 상기 표시기기(10)에 구비되어, 검사자의 키 조작에 의해 표시기기(10)에 OSD 화면을 표시함으로써, 검사자가 OSD 화면에서 아날로그 모드 검사와 디지털 모드 검사를 선택 수행할 수 있도록 하고, 또한 OSD 모드 검사를 선택 수행할 수 있도록 하는 OSD 키입력부(15)로 구성된다.
상기한 바와같이 구성되는 종래 표시기기의 검사장치에 대한 검사과정을 상세히 설명하면 다음과 같다.
먼저, 검사자가 상기 OSD 키입력부(15)의 키를 조작하여 표시기기(10)에 OSD 화면을 표시하고, 그 OSD 화면에서 아날로그 모드 검사를 선택한다.
상기 아날로그 모드 검사가 선택되면, 상기 아날로그 모드신호(ANALOG_MODE)가 그래픽 처리부(20)로부터 제1커넥터(21,11)를 통해 표시기기(10)에 전송되고, 표시기기(10)에는 아날로그 신호의 화상정보에 따른 테스트 패턴들이 표시된다.
따라서, 검사자는 표시기기(10)에서 표시되는 아날로그 신호의 화상정보에 따른 테스트 패턴들의 화질을 검사하여 양호 또는 불량을 판정한다.
상기 아날로그 모드 검사가 완료되면, 검사자는 상기 OSD 키입력부(15)의 키를 조작하여 표시기기(10)에 OSD 화면을 표시하고, 그 OSD 화면에서 디지털 모드 검사를 선택한다.
상기 디지털 모드 검사가 선택되면, 상기 디지털 모드신호(DIGITAL_MODE)가 그래픽 처리부(20)로부터 제2커넥터(22,12)를 통해 표시기기(10)에 전송되고, 표시 기기(10)에는 디지털 신호의 화상정보에 따른 테스트 패턴들이 표시된다.
따라서, 검사자는 표시기기(10)에서 표시되는 디지털 신호의 화상정보에 따른 테스트 패턴들의 화질을 검사하여 양호 또는 불량을 판정한다.
상기 디지털 모드 검사가 완료되면, 검사자는 상기 OSD 키입력부(15)의 키를 조작하여 표시기기(10)에 OSD 화면을 표시하고, 그 OSD 화면에 준비된 각종 OSD 모드 검사 메뉴들을 선택하여 표시기기(10)의 표시특성을 검사하는 OSD 모드 검사를 통해 양호 또는 불량을 판정한다.
그러나, 상기한 바와같은 종래 표시기기의 검사장치 및 검사방법은 아날로그 모드 검사와 아날로그 모드 검사의 테스트 패턴들을 순차적으로 표시기기에 표시하기 위해서 검사자의 수동적인 키 조작이 요구된다.
또한, 상기 아날로그 모드 검사와 디지털 모드 검사를 전환하기 위해서 검사자의 수동적인 키 조작이 요구된다.
그리고, OSD 모드 검사를 위해 OSD 화면에 준비된 각종 OSD 모드 검사 메뉴들을 선택하기 위한 검사자의 수동적인 키 조작이 요구된다.
따라서, 표시기기를 검사하는데 소요되는 시간이 지체되어 대량 생산되는 표시장치들의 생산성이 저하되고, 검사자의 키 조작 오류로 인해 검사의 신뢰성이 저하는 문제점이 있다.
또한, 표시장치들의 생산성을 향상시키기 위하여 검사과정에 검사인원을 많이 배치시킬 경우에는 검사자 별로 검사에 소요되는 시간이 상이함에 따른 생산성 저하가 발생될 수 있으며, 검사자의 키 조작 오류가 증대되어 검사의 신뢰성이 더욱 저하되며, 검사인원의 증대로 인한 인건비가 증가되어 표시장치의 원가를 상승시키는 문제점이 있다.
본 발명은 상기한 바와같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 창안한 것으로, 본 발명의 목적은 표시기기의 아날로그 모드 검사, 디지털 모드 검사 및 OSD 모드 검사를 자동으로 순차 수행할 수 있는 표시기기의 검사장치 및 그 검사방법을 제공하는데 있다.
상기 본 발명의 목적을 달성하기 위한 표시기기의 검사장치는 테스트 패턴들이 표시되는 표시기기와; 상기 표시기기에 아날로그 모드신호와 디지털 모드신호를 인가하는 그래픽 처리부와; 상기 그래픽 처리부로부터 제어신호를 인가받아 상기 표시기기로부터 아날로그 검사 모드의 테스트 패턴들과 디지털 검사 모드의 테스트 패턴들이 순차적으로 표시되도록 하고, 온-스크린-디스플레이 모드 검사 메뉴들에 따른 화상의 표시특성이 순차적으로 변화되도록 상기 표시기기에 제어신호를 출력하는 제어부를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 본 발명의 목적을 달성하기 위한 표시기기의 검사방법은 표시기기에 아날로그 모드신호와 디지털 모드신호를 전송하는 단계와; 상기 표시기기에 아날로그 검사 모드의 테스트 패턴들과 디지털 검사 모드의 테스트 패턴들을 순차적으로 표시하고, 온-스크린-디스플레이 모드 검사 메뉴들에 따른 화상의 표시특성을 순차적으로 변화시키는 단계와; 상기 표시기기에서 순차적으로 표시되는 아날로그 검사 모드의 테스트 패턴들과 디지털 검사 모드의 테스트 패턴들의 화질을 검사하고, 상기 표시기기에서 순차적으로 변화되는 온-스크린-디스플레이 모드 검사 메뉴들에 따른 화상의 표시특성을 검사하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
상기한 바와같이 구성되는 본 발명에 의한 표시기기의 검사장치를 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.
도2는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시기기의 검사장치를 보인 예시도이다.
도2를 참조하면, 본 발명의 제1실시예에 따른 표시기기의 검사장치는 테스트 패턴들이 표시되는 표시기기(110)와; 상기 표시기기(110)에 아날로그 모드신호(ANALOG_MODE)와 디지털 모드신호(DIGITAL_MODE)를 인가하는 그래픽 처리부(120)와; 상기 표시기기(110)와 그래픽 처리부(120)에 각각 구비되어 상기 아날로그 모드신호(ANALOG_MODE)를 송신 및 수신하는 제1커넥터(111,121)와; 상기 표시기기(110)와 그래픽 처리부(120)에 각각 구비되어 상기 디지털 모드신호(DIGITAL_MODE)를 송신 및 수신하는 제2커넥터(112,122)와; 상기 표시기기(110)에 구비되어, 검사자의 키 조작에 의해 표시기기(110)에 OSD 화면을 표시함으로써, 검사자가 OSD 화면에서 아날로그 모드 검사와 디지털 모드 검사를 선택 수행할 수 있도록 하고, 또한 OSD 모드 검사를 선택 수행할 수 있도록 하는 OSD 키입력부(115)와; 상기 그래픽 처리부(120)로부터 제어신호(CS_IN)를 인가받아 상기 표시기기(110)로부터 아날로그 검사 모드의 테스트 패턴들과 디지털 검사 모드의 테스트 패턴들이 순차적으로 표시되도록 하고, OSD 모드 검사 메뉴들에 따른 화상의 표시특성이 순차적으로 변화되도록 상기 표시기기(110)에 제어신호(CS_OUT)를 출력하는 제어부(130)와; 상기 표시기기(110)와 그래픽 처리부(120)에 각각 구비되어 상기 제어신호(CS_IN,CS_OUT)를 송신 및 수신하는 제3커넥터(113,123)로 구성된다.
그리고, 도3은 상기 도2에 있어서, 제어부(130)의 내부 구성을 보인 예시도로서, 이에 도시한 바와같이 그래픽 처리부(120)를 통해 인가되는 제어신호(CS_IN)를 인터페이스부(132)를 통해 인가받아 상기 표시기기(110)로부터 아날로그 검사 모드의 테스트 패턴들과 디지털 검사 모드의 테스트 패턴들이 순차적으로 표시되도록 하고, OSD 모드 검사 메뉴들에 따른 화상의 표시특성이 순차적으로 변화되도록 상기 표시기기(110)에 제어신호(CS_OUT)를 출력하는 마이콤(133)으로 구성되며, 도면상의 미설명부호 '131,134'는 상기 그래픽 처리부(120)로부터 제어신호(CS_IN)를 입력받고, 상기 표시기기(110)에 제어신호(CS_OUT)를 출력하는 제4커넥터이다.
상기한 바와같이 구성되는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시기기의 검사장치에 대한 검사과정을 상세히 설명하면 다음과 같다.
먼저, 상기 그래픽 처리부(120)로부터 수동모드에 따른 제어신호(CS_IN)가 상기 제어부(130)에 인가되는 경우에는 종래와 동일하게 검사가 수행된다.
즉, 검사자가 상기 OSD 키입력부(115)의 키를 조작하여 표시기기(110)에 OSD 화면을 표시하고, 그 OSD 화면에서 아날로그 모드 검사를 선택한다.
상기 아날로그 모드 검사가 선택되면, 상기 아날로그 모드신호(ANALOG_MODE)가 그래픽 처리부(120)로부터 제1커넥터(121,111)를 통해 표시기기(110)에 전송되 고, 표시기기(110)에는 아날로그 신호의 화상정보에 따른 테스트 패턴들이 표시된다.
따라서, 검사자는 표시기기(110)에서 표시되는 아날로그 신호의 화상정보에 따른 테스트 패턴들의 화질을 검사하여 양호 또는 불량을 판정한다.
상기 아날로그 모드 검사가 완료되면, 검사자는 상기 OSD 키입력부(115)의 키를 조작하여 표시기기(110)에 OSD 화면을 표시하고, 그 OSD 화면에서 디지털 모드 검사를 선택한다.
상기 디지털 모드 검사가 선택되면, 상기 디지털 모드신호(DIGITAL_MODE)가 그래픽 처리부(120)로부터 제2커넥터(122,112)를 통해 표시기기(110)에 전송되고, 표시기기(110)에는 디지털 신호의 화상정보에 따른 테스트 패턴들이 표시된다.
따라서, 검사자는 표시기기(110)에서 표시되는 디지털 신호의 화상정보에 따른 테스트 패턴들의 화질을 검사하여 양호 또는 불량을 판정한다.
상기 디지털 모드 검사가 완료되면, 검사자는 상기 OSD 키입력부(115)의 키를 조작하여 표시기기(110)에 OSD 화면을 표시하고, 그 OSD 화면에 준비된 각종 OSD 모드 검사 메뉴들을 선택하여 표시기기(110)의 표시특성을 검사하는 OSD 모드 검사를 통해 양호 또는 불량을 판정한다.
한편, 상기 그래픽 처리부(120)로부터 자동모드에 따른 제어신호(CS_IN)가 상기 제어부(130)에 인가되는 경우에는 그 제어부(130)로부터 출력되는 제어신호(CS_OUT)에 의해 상기 표시기기(110)는 자동으로 아날로그 검사 모드의 테스트 패턴들과 디지털 검사 모드의 테스트 패턴들을 순차 표시하고, OSD 모드 검사 메뉴들에 따른 화상의 표시특성을 순차 변화시킨다.
즉, 상기 제어부(130)로부터 자동모드에 따른 제어신호(CS_OUT)가 인가되면, 아날로그 모드 검사가 자동으로 수행되어 상기 아날로그 모드신호(ANALOG_MODE)가 그래픽 처리부(120)로부터 제1커넥터(121,111)를 통해 표시기기(110)에 전송되고, 표시기기(110)에는 아날로그 신호의 화상정보에 따른 테스트 패턴들이 순차적으로 표시된다.
따라서, 검사자는 표시기기(110)에서 표시되는 아날로그 신호의 화상정보에 따른 테스트 패턴들의 화질을 검사하여 양호 또는 불량을 판정한다.
그리고, 상기 아날로그 모드 검사가 완료되면, 디지털 모드 검사가 자동으로 수행되어 상기 디지털 모드신호(DIGITAL_MODE)가 그래픽 처리부(120)로부터 제2커넥터(122,112)를 통해 표시기기(110)에 전송되고, 표시기기(110)에는 디지털 신호의 화상정보에 따른 테스트 패턴들이 순차적으로 표시된다.
따라서, 검사자는 표시기기(110)에서 표시되는 디지털 신호의 화상정보에 따른 테스트 패턴들의 화질을 검사하여 양호 또는 불량을 판정한다.
상기 디지털 모드 검사가 완료되면, OSD 모드 검사가 자동으로 수행되어 각종 OSD 모드 검사 메뉴들에 따른 표시기기(110)의 표시특성이 순차적으로 변화된다.
따라서, 검사자는 각종 OSD 모드 검사 메뉴들에 따라 표시기기(110)에서 표시되는 화상의 표시특성 변화를 검출하여 양호 또는 불량을 판정한다.
한편, 상기 아날로그 모드 검사와 디지털 모드 검사가 자동으로 수행되는 도 중에 상기 표시기기(110)에 표시되는 테스트 패턴이 정상적이지 않게 표시되면, 검사자가 단축키를 이용하여 자동모드를 정지시키고, 수동모드로 전환하여 정상적이지 않게 표시된 테스트 패턴을 정밀하게 검사할 수 있다.
마찬가지로, 상기 OSD 모드 검사가 자동으로 수행되는 도중에 상기 표시기기(110)의 표시특성이 정상적이지 않게 표시되면, 검사자가 단축키를 이용하여 자동모드를 정지시키고, 수동모드로 전환하여 정상적이지 않은 표시특성을 정밀하게 검사할 수 있다.
또한, 상기 아날로그 모드 검사와 디지털 모드 검사에서 표시기기(110)를 통해 표시되는 테스트 패턴들과 그 테스트 패턴들의 표시순서 및 표시기간은 검사자에 의해 다양하게 구성될 수 있으며, 상기 OSD 모드 검사에 사용되는 각종 OSD 모드 검사 메뉴들과, 그 OSD 모드 검사 메뉴들의 실행순서 및 실행기간도 검사의 효율을 향상시키기 위하여 검사자에 의해 다양하게 편집될 수 있다.
그리고, 상기 표시기기(110)에 표시되는 아날로그 검사 모드의 테스트 패턴들과 디지털 검사 모드의 테스트 패턴들에 대한 상세한 정보가 박스형태의 정보창에 표시될 수 있다.
상기한 바와같은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시기기의 검사장치 및 그 검사방법에 적용되는 표시기기(110)는 음극선관(CRT), 액정 표시장치(LCD), 플라즈마 표시장치(PDP), 전계방출 표시장치(FED) 또는 전계발광 표시장치(ELD) 등의 다양한 표시장치들이 적용될 수 있다.
상기 표시기기(110)로 액정 표시장치(LCD)가 적용될 경우에 상기 아날로그 모드신호(ANALOG_MODE)는 디지털 신호로 변환되어 데이터 처리가 수행된 다음 다시 아날로그 신호로 변환되어 액정 표시패널에 인가되고, 상기 디지털 모드신호(DIGITAL_MODE)는 데이터 처리가 수행된 다음 아날로그 신호로 변환되어 액정 표시패널에 인가된다.
또한, 상기 표시기기(110)로 액정 표시장치(LCD)가 적용될 경우에는 상기 아날로그 검사 모드의 테스트 패턴들과 디지털 검사 모드의 테스트 패턴들은 다양한 형태로 구성될 수 있고, 흰색, 검은색, 적색, 녹색 및 청색 중에 하나 또는 복수개가 조합된 패턴들로 표시될 수 있으며, 하나의 그레이 레벨, 복수의 그레이 레벨 또는 화상의 일방향으로 점진적으로 변화하는 그레이 레벨을 갖는 패턴들로 표시될 수 있다.
상술한 바와같이 본 발명에 의한 표시기기의 검사장치 및 그 검사방법은 표시기기의 아날로그 모드 검사, 디지털 모드 검사 및 OSD 모드 검사를 자동으로 순차 수행할 수 있게 되어 표시기기를 검사하는데 소요되는 시간을 단축시킴으로써, 대량 생산되는 표시장치들의 생산성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
또한, 검사자의 키 조작 오류를 방지하여 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
그리고, 한명의 검사자가 아날로그 모드 검사, 디지털 모드 검사 및 OSD 모드 검사를 손쉽게 수행할 수 있게 되어 인건비 절감으로 인한 표시장치의 원가를 절감할 수 있는 효과가 있다.

Claims (15)

  1. 테스트 패턴들이 표시되는 표시기기와; 상기 표시기기에 아날로그 모드신호와 디지털 모드신호를 인가하는 그래픽 처리부와; 상기 그래픽 처리부로부터 제어신호를 인가받아 상기 표시기기로부터 아날로그 검사 모드의 테스트 패턴들과 디지털 검사 모드의 테스트 패턴들이 순차적으로 표시되도록 하고, 온-스크린-디스플레이 모드 검사 메뉴들에 따른 화상의 표시특성이 순차적으로 변화되도록 상기 표시기기에 제어신호를 출력하는 제어부를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 표시기기와 그래픽 처리부에 각각 구비되어 상기 아날로그 모드신호를 송신 및 수신하는 제1커넥터쌍과; 상기 표시기기와 그래픽 처리부에 각각 구비되어 상기 디지털 모드신호를 송신 및 수신하는 제2커넥터쌍과; 상기 표시기기와 그래픽 처리부에 각각 구비되어 상기 제어신호를 송신 및 수신하는 제3커넥터쌍을 더 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사장치.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 표시기기에 작업자의 키 조작에 의해 온-스크린-디스플레이 화면을 표시하는 온-스크린-디스플레이 키입력부를 더 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 온-스크린-디스플레이 키입력부는 검사자의 키 조작에 의해 아날로그 모드 검사, 디지털 모드 검사 및 온-스크린-디스플레이 모드 검사가 선택 수행되도록 상기 표시기기를 제어하는 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사장치.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 제어부는 상기 그래픽 처리부를 통해 인가되는 제어신호를 인터페이스부를 통해 인가받아 상기 표시기기로부터 아날로그 검사 모드의 테스트 패턴들과 디지털 검사 모드의 테스트 패턴들이 순차적으로 표시되도록 하고, 온-스크린-디스플레이 모드 검사 메뉴들에 따른 화상의 표시특성이 순차적으로 변화되도록 상기 표시기기에 제어신호를 출력하는 마이콤을 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사장치.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 제어부는 그래픽 처리부로부터 제어신호를 입력받고, 상기 표시기기에 제어신호를 출력하는 제4커넥터쌍을 더 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사장치.
  7. 제 1 항에 있어서, 상기 아날로그 검사 모드의 테스트 패턴들과 디지털 검사 모드의 테스트 패턴들에 대한 정보가 박스형태의 정보창으로 상기 표시기기에 표시되는 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사장치.
  8. 제 1 항에 있어서, 상기 표시기기는 음극선관(CRT), 액정 표시장치(LCD), 플라즈마 표시장치(PDP), 전계방출 표시장치(FED) 및 전계발광 표시장치(ELD) 중에 선택된 하나인 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사장치.
  9. 표시기기에 아날로그 모드신호와 디지털 모드신호를 전송하는 단계와; 상기 표시기기에 아날로그 모드 검사의 테스트 패턴들과 디지털 모드 검사의 테스트 패턴들을 순차적으로 표시하고, 온-스크린-디스플레이 모드 검사 메뉴들에 따른 화상의 표시특성을 순차적으로 변화시키는 단계와; 상기 표시기기에서 순차적으로 표시되는 아날로그 모드 검사의 테스트 패턴들과 디지털 모드 검사의 테스트 패턴들의 화질을 검사하고, 상기 표시기기에서 순차적으로 변화되는 온-스크린-디스플레이 모드 검사 메뉴들에 따른 화상의 표시특성을 검사하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사방법.
  10. 제 9 항에 있어서, 상기 아날로그 모드 검사와 디지털 모드 검사의 테스트 패턴들과, 그 테스트 패턴들의 표시순서 및 표시기간이 검사자에 의해 변경 가능한 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사방법.
  11. 제 9 항에 있어서, 상기 온-스크린-디스플레이 모드 검사 메뉴들과, 그 온-스크린-디스플레이 모드 검사 메뉴들의 실행순서 및 실행기간이 검사자에 의해 변경 가능한 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사방법.
  12. 제 9 항에 있어서, 상기 아날로그 모드 검사와 디지털 모드 검사가 순차 수행되는 도중에 상기 테스트 패턴들이 정상적으로 표시되지 않는 경우에 검사를 정지시키는 단계와; 상기 정상적으로 표시되지 않은 테스트 패턴들을 정밀하게 검사하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사방법.
  13. 제 9 항에 있어서, 상기 온-스크린-디스플레이 모드 검사가 순차 수행되는 도중에 상기 표시기기의 표시특성이 정상적으로 표시되지 않는 경우에 검사를 정지시키는 단계와; 상기 정상적으로 표시되지 않은 표시특성을 정밀하게 검사하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사방법.
  14. 제 9 항에 있어서, 상기 아날로그 모드신호는 디지털 신호로 변환되어 데이터 처리가 수행된 다음 다시 아날로그 신호로 변환되어 표시기기에 인가되는 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사방법.
  15. 제 9 항에 있어서, 상기 디지털 모드신호는 데이터 처리가 수행된 다음 아날로그 신호로 변환되어 표시기기에 인가되는 것을 특징으로 하는 표시기기의 검사방법.
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Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI241410B (en) * 2003-11-14 2005-10-11 Tatung Co Ltd Inspection method of display device
CN100468069C (zh) * 2004-07-15 2009-03-11 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 显示装置测试***及方法
JP4079147B2 (ja) * 2005-01-14 2008-04-23 船井電機株式会社 液晶テレビ
JP4491552B2 (ja) * 2005-06-22 2010-06-30 テクトロニクス・インターナショナル・セールス・ゲーエムベーハー ビデオ・テスト信号の選択方法
KR100713306B1 (ko) * 2005-11-14 2007-05-04 엘지전자 주식회사 온 스크린 디스플레이 검증방법 및 장치
TWI338252B (en) * 2007-01-19 2011-03-01 Novatek Microelectronics Corp Method and device for improving debug time of a monitor
US20090185076A1 (en) * 2008-01-18 2009-07-23 Po-Jui Chen VGA port signal examining apparatus and method thereof
TWI406216B (zh) * 2008-09-02 2013-08-21 Himax Tech Ltd 電壓寫入裝置及電壓寫入方法
CN101685591B (zh) * 2008-09-26 2011-06-22 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 自动检测显示装置所支持图片格式的检测装置及方法
CN101887672A (zh) * 2009-12-25 2010-11-17 四川虹欧显示器件有限公司 测试等离子显示屏的方法、装置及***
TW201305574A (zh) * 2011-07-22 2013-02-01 Mpi Corp 高頻訊號路徑調整方式及其測試裝置
KR20130034712A (ko) * 2011-09-29 2013-04-08 엘지전자 주식회사 디스플레이장치 및 그의 영상 표시 방법
US8648869B1 (en) 2012-02-13 2014-02-11 Advanced Testing Technologies, Inc. Automatic test instrument for video generation and capture combined with real-time image redisplay methods
CN104185015A (zh) * 2013-05-20 2014-12-03 立讯精密工业股份有限公司 数字视频信号转换产品的检测装置
CN103617773B (zh) * 2013-11-27 2015-12-30 北方民族大学 一种介质保护膜材料的外逸电子测试***及方法
KR101572588B1 (ko) * 2014-07-08 2015-11-30 주식회사 코디에스 표시판 검사 장치 및 이를 이용한 표시판 검사 방법
CN104240624B (zh) * 2014-07-31 2016-09-28 京东方科技集团股份有限公司 显示设备检测装置和显示设备的检测方法、显示***
TWI569238B (zh) * 2014-10-13 2017-02-01 群創光電股份有限公司 顯示面板及顯示面板自動化檢測方法
US9871988B2 (en) 2015-07-24 2018-01-16 Nxp Usa, Inc. Interconnecting system, video signal transmitter and video signal receiver for transmitting an N-symbol data signal
US9872068B2 (en) 2015-07-24 2018-01-16 Nxp Usa, Inc. Interconnecting system, video signal transmitter and video signal receiver for transmitting an N-symbol data signal
KR102506919B1 (ko) * 2018-03-14 2023-03-07 주식회사 엘엑스세미콘 테스트 기능을 갖는 디스플레이 구동 장치 및 이를 포함하는 디스플레이 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08152867A (ja) * 1994-11-30 1996-06-11 Toshiba Corp 表示制御装置及び表示制御方法
JPH0927972A (ja) * 1994-12-06 1997-01-28 Sun Microsyst Inc フラット・パネル・ディスプレイおよびインタフェース・ハードウェアの評価方法およびシステム
US6392657B1 (en) 1998-11-13 2002-05-21 E-Color, Inc. Method and apparatus for characterizing an optimal viewing angle of flat display
JP2002320162A (ja) 2001-04-19 2002-10-31 Sony Corp 画像表示装置及びその調整方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0130871B1 (ko) * 1994-03-21 1998-04-21 김광호 디지탈 콘버젼스 보정방법 및 장치
US5646521A (en) * 1995-08-01 1997-07-08 Schlumberger Technologies, Inc. Analog channel for mixed-signal-VLSI tester
US6069607A (en) * 1997-10-15 2000-05-30 Videotek, Inc. Multi-format on-screen monitor
US7138989B2 (en) * 2000-09-15 2006-11-21 Silicon Graphics, Inc. Display capable of displaying images in response to signals of a plurality of signal formats

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08152867A (ja) * 1994-11-30 1996-06-11 Toshiba Corp 表示制御装置及び表示制御方法
JPH0927972A (ja) * 1994-12-06 1997-01-28 Sun Microsyst Inc フラット・パネル・ディスプレイおよびインタフェース・ハードウェアの評価方法およびシステム
US6392657B1 (en) 1998-11-13 2002-05-21 E-Color, Inc. Method and apparatus for characterizing an optimal viewing angle of flat display
JP2002320162A (ja) 2001-04-19 2002-10-31 Sony Corp 画像表示装置及びその調整方法

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