CN116577551A - Ssd功耗测试方法、***及电子设备 - Google Patents
Ssd功耗测试方法、***及电子设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN116577551A CN116577551A CN202310383959.7A CN202310383959A CN116577551A CN 116577551 A CN116577551 A CN 116577551A CN 202310383959 A CN202310383959 A CN 202310383959A CN 116577551 A CN116577551 A CN 116577551A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- power consumption
- ssd
- test
- value
- interface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 680
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims abstract description 191
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 27
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 18
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 16
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 9
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 7
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 238000013403 standard screening design Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012800 visualization Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R21/00—Arrangements for measuring electric power or power factor
- G01R21/06—Arrangements for measuring electric power or power factor by measuring current and voltage
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
- Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Power Sources (AREA)
Abstract
本申请实施例提供了一种SSD功耗测试方法、***及电子设备，属于SSD测试领域。方法包括：响应于SSD静态功耗测试操作，在第一显示屏幕上显示静态功耗界面，其中，静态功耗界面用于显示静态功耗测试值，静态功耗测试值用于表征SSD处于未工作状态时的功耗；响应于SSD动态功耗测试操作，在第一显示屏幕上显示动态功耗界面，其中，动态功耗界面用于显示动态功耗测试值，动态功耗测试值用于表征SSD处于工作状态时的功耗；响应于SSD功耗测试完成操作，在第二显示屏幕上显示功耗测试结果。本申请通过软硬件结合对SSD进行功耗测试，能够在提高SSD功耗测试效率的同时，使得SSD功耗测试结果可视化，从而使测试人员更直观地了解SSD功耗测试情况。
Description
技术领域
本申请涉及SSD测试领域，尤其涉及一种SSD功耗测试方法、***及电子设备。
背景技术
SSD(Solid State Drive)，俗称固态硬盘，指的是用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由控制单元和存储单元(FLASH芯片、DRAM芯片)组成。固态硬盘在接口的规范和定义、功能及使用方法上与普通硬盘的完全相同，在产品外形和尺寸上也完全与普通硬盘一致。被广泛应用于军事、车载、工控、视频监控、网络监控、网络终端、电力、医疗、航空、导航设备等领域。
目前，在SSD投入生产使用之前，往往要对其进行功耗测试，其中，功耗测试分为静态功耗测试和动态功耗测试。相关技术中，常用万用表进行静态功耗测试，在测得电压和电流值后需要手动计算功耗值，且在完成静态功耗测试后，需要再将SSD与性能测试工具连接以进行动态功耗测试，这样的功耗测试方式效率低，且操作繁琐，同时功耗测试结果不够直观。
发明内容
本申请实施例的主要目的在于提出一种SSD功耗测试方法、***及电子设备，能够在提高SSD功耗测试效率的同时，通过软硬件结合，使得SSD功耗测试结果可视化，从而使测试人员更直观地了解SSD功耗测试情况。
为实现上述目的，本申请实施例的第一方面提出了一种SSD功耗测试方法，所述方法包括：响应于SSD静态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示静态功耗界面，其中，所述静态功耗界面用于显示静态功耗测试值，所述静态功耗测试值用于表征所述SSD处于未工作状态时的功耗；响应于SSD动态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示动态功耗界面，其中，所述动态功耗界面用于显示动态功耗测试值，所述动态功耗测试值用于表征所述SSD处于工作状态时的功耗；响应于SSD功耗测试完成操作，在所述第二显示屏幕上显示功耗测试结果；其中，所述功耗测试结果由所述终端根据所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值计算后得到，所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值是所述终端从所述测试板接收得到的。
在一些实施例中，所述响应于SSD静态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示静态功耗界面，包括：响应于SSD静态功耗测试操作，获取所述SSD处于未工作状态时的电流值和电压值，并根据所述电流值和所述电压值的乘积得到静态功耗，将所述电流值、所述电压值和所述静态功耗作为静态功耗测试值；在所述第一显示屏幕上显示静态功耗界面，其中，所述静态功耗界面用于显示所述静态功耗测试值；所述响应于SSD动态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示动态功耗界面，包括：响应于SSD动态功耗测试操作，获取所述SSD处于工作状态时的最大电流值和最大电压值，并根据所述最大电流值和所述最大电压值的乘积得到动态功耗，将所述最大电流值、所述最大电压值和所述动态功耗作为动态功耗测试值；在所述第一显示屏幕上显示动态功耗界面，其中，所述动态功耗界面用于显示所述动态功耗测试值。
在一些实施例中，所述响应于SSD动态功耗测试操作之后，所述方法还包括：在所述第二显示屏幕上显示协议类型选项界面和测试参数设置界面；响应于SSD协议类型选择操作，在所述协议类型选项界面上显示所述SSD的目标协议类型；响应于SSD参数设置操作，在所述测试参数设置界面上显示所述SSD的目标测试执行参数；响应于SSD读写执行操作，在所述第二显示屏幕上显示所述SSD的读写执行速度，其中，所述读写执行速度是所述测试板上的所述SSD进行连续读写或随机读写后测量得到的，所述SSD是基于所述目标协议类型和所述目标测试执行参数进行连续读写或随机读写的。
在一些实施例中，所述功耗测试结果根据以下步骤得到，包括：获取所述SSD对应的目标功耗标准范围值；判断所述静态功耗测试值是否在所述目标功耗标准范围值表征的数值范围内，得到第一对比结果，判断所述动态功耗测试值是否在所述目标功耗标准范围值表征的数值范围内，得到第二对比结果；根据所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值进行加权计算，得到总功耗测试值，判断所述总功耗测试值是否在所述目标功耗标准范围值表征的数值范围内，得到第三对比结果；根据所述第一对比结果和所述第二对比结果得到所述功耗测试结果，或者，根据所述第三对比结果得到所述功耗测试结果。
在一些实施例中，所述方法还包括：在所述第二屏幕上显示功耗标准范围模板选择界面，响应于功耗标准范围模板选择操作，在所述功耗标准范围模板选择界面中显示所述目标功耗标准范围值；或者，在所述第二屏幕上显示功耗标准范围输入界面，响应于功耗标准范围输入操作，在所述功耗标准范围输入界面中显示所述目标功耗标准范围值。
在一些实施例中，所述在所述第二显示屏幕上显示功耗测试结果之后，所述方法还包括：若所述显示功耗测试结果表征所述SSD的功耗测试不良，在所述第二屏幕上显示功耗测试警报界面，其中，所述功耗测试警报界面用于显示警报信息和故障详情信息中的至少一种；若所述显示功耗测试结果表征所述SSD的功耗测试正常，在所述第二屏幕上显示测试提示界面，其中，所述测试提示界面用于显示提示信息，所述提示信息用于提示进行下一项测试。
在一些实施例中，所述SSD功耗测试***设置有测试板和终端，所述测试板上设置有第一显示屏幕；所述方法包括：将待测试的SSD与所述测试板上对应的接口连接，对所述测试板进行上电操作，以使所述测试板上的所述SSD上电；检测所述SSD在上电后的第一电信号，将所述第一电信号发送到所述第一显示屏幕中，以在所述第一显示屏幕显示静态功耗值界面，其中，所述静态功耗值界面用于显示静态功耗测试值，所述静态功耗测试值用于表征所述SSD处于未工作状态时的功耗；将所述测试板与所述终端通信连接，并通过所述终端向所述测试板发送测试指令，以使所述SSD在所述测试指令下工作；检测所述SSD在工作后的第二电信号，将所述第二电信号发送到所述第一显示屏幕中，以在所述第一显示屏幕显示动态功耗值界面，其中，所述动态功耗值界面用于显示动态功耗测试值，所述动态功耗测试值用于表征所述SSD处于工作状态时的功耗；根据所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值，计算得到所述SSD的功耗测试结果。
在一些实施例中，所述测试板包括多个插槽，每个所述插槽用于放入对应接口的所述SSD，并对应进行不同模式的功耗测试；所述将待测试的SSD与所述测试板上对应的接口连接，对所述测试板进行上电操作，以使所述测试板上的所述SSD上电，包括：若所述SSD的接口为PCIe接口，将所述SSD放入PCIe插槽内，以使所述SSD与所述PCIe插槽内的接口连接，并通过对所述测试板上电，使所述测试板执行PCIe测试模式；若所述SSD的接口为SATA接口，将所述SSD放入SATA插槽内，以使所述SSD与所述SATA插槽内的接口连接，并通过对所述测试板上电，使所述测试板执行SATA测试模式。
为实现上述目的，本申请实施例的第二方面提出了一种SSD功耗测试***，所述***包括：静态功耗测试操作模块，用于响应于SSD静态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示静态功耗界面，其中，所述静态功耗界面用于显示静态功耗测试值，所述静态功耗测试值用于表征所述SSD处于未工作状态时的功耗；动态功耗测试操作模块，用于响应于SSD动态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示动态功耗界面，其中，所述动态功耗界面用于显示动态功耗测试值，所述动态功耗测试值用于表征所述SSD处于工作状态时的功耗；功耗结果模块，用于响应于SSD功耗测试完成操作，在所述第二显示屏幕上显示功耗测试结果；其中，所述功耗测试结果由所述终端根据所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值计算后得到，所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值是所述终端从所述测试板接收得到的。
为实现上述目的，本申请实施例的第三方面提出了一种电子设备，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第一方面实施例所述的SSD功耗测试方法，或第二方面实施例所述的SSD功耗测试方法。
为实现上述目的，本申请实施例的第四方面提出了一种存储介质，所述存储介质为计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面实施例所述的SSD功耗测试方法，或第二方面实施例所述的SSD功耗测试方法。
本申请实施例提出的SSD功耗测试方法、***及电子设备，在测试板上设置有第一显示屏幕，终端设置有第二显示屏幕，且终端和测试板通信连接，将SSD与测试板连接，对SSD进行静态功耗测试，并在第一显示屏幕显示静态功耗测试值，该静态功耗测试值表征了SSD处于未工作状态时的功耗；在完成SSD的静态功耗测试后，无需断开SSD与测试板的连接，继续对SSD进行动态功耗测试，并在第二显示屏幕显示动态功耗测试值，该动态功耗测试值表征了SSD处于工作状态时的功耗；在完成SSD的静态功耗测试和动态功耗测试后，在第二显示屏幕显示功耗测试结果，其中，所述功耗测试结果由所述终端根据所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值计算后得到，所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值是所述终端从所述测试板接收得到的。本申请通过软硬件结合对SSD进行功耗测试，能够在提高SSD功耗测试效率的同时，使得SSD功耗测试结果可视化，从而使测试人员更直观地了解SSD功耗测试情况。
附图说明
图1是本申请实施例提供的基于SSD功耗测试***的框架图；
图2是本申请实施例提供的SSD功耗测试方法的一个可选的流程图；
图3是本申请实施例提供的测试板正面示意图；
图4是图2中的步骤S101的一个实现流程图；
图5是图2中的步骤S102的一个实现流程图；
图6是本申请实施例提供的SSD功耗测试方法的一个动态功耗测试操作流程图；
图7是本申请实施例提供的CDM操作界面的示意图；
图8是图2中的步骤S103的一个实现流程图；
图9是本申请实施例提供的SSD功耗测试方法的一个功耗标准范围模板选择流程图；
图10是本申请实施例提供的SSD功耗测试方法的一个功耗测试结果流程图；
图11是本申请实施例提供的SSD功耗测试方法的另一个可选的流程图；
图12是本申请实施例提供的测试板模块示意图；
图13是图11中的步骤S701的一个实现流程图；
图14是本申请实施例提供的SSD功耗测试的功能模块示意图；
图15是本申请实施例提供的电子设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
需要说明的是，虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本申请实施例的目的，不是旨在限制本申请。
固态硬盘(Solid State Disk或Solid State Drive，简称SSD)，又称固态驱动器，是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘。
一款优良的SSD能够提高软件的流畅度、程序的加载速度以及文件拷贝的速度等，因此，在使用或者批量生产SSD之前，需要对其进行相关的测试，功耗测试就是其中一个必不可少的一项测试。
功耗，指的是在单位时间中所消耗的能源的数量，单位为W。需要注意的是，设备在不工作时则处于待机状态，同样也会消耗一定的能量(除非切断电源才会不消耗能量)。因此设备的功耗一般会有两个，一个则是待机时的功耗，另一个是工作时的功耗。
相关技术中，常用万用表进行静态功耗测试，在使用万用表测试静态功耗值时，需要先对万用表进行调档，例如，测量SSD的电流值时，将万用表调至电流档位并测量电流值，测量SSD的电压值时，将万用表调至电压档位并测量电压值，并在测得电压值和电流值后手动计算静态功耗值，在完成静态功耗测试后，需要再将SSD与性能测试工具连接以进行动态功耗测试，这样的功耗测试方式效率低，且操作繁琐。
基于此，本申请实施例提供了一种SSD功耗测试方法、***及电子设备，能够在提高SSD功耗测试效率的同时，使得SSD功耗测试结果可视化，从而使测试人员更直观地了解SSD功耗测试情况。
本申请实施例提供的SSD功耗测试方法、***及电子设备，具体通过如下实施例进行说明，首先描述本申请实施例中的SSD功耗测试***的***框架。
示例性的，如图1所示，图1是本申请实施例提供的基于SSD功耗测试***的框架图，本申请实施例中的SSD功耗测试***包括终端12和测试端11。其中，终端12可以通过接受测试人员的各种输入信息，并在终端12显示测试端11的功耗测试结果。
本申请实施例中的SSD功耗测试方法可以通过如下实施例进行说明。
需要说明的是，在本申请的各个具体实施方式中，当涉及到需要根据测试人员信息、测试人员行为数据，测试人员历史数据以及测试人员位置信息等与测试人员身份或特性相关的数据进行相关处理时，都会先获得测试人员的许可或者同意，例如，获取测试人员存储的相关数据时，会先获得测试人员的许可或者同意。而且，对这些数据的收集、使用和处理等，都会遵守相关法律法规和标准。此外，当本申请实施例需要获取测试人员的敏感个人信息时，会通过弹窗或者跳转到确认页面等方式获得测试人员的单独许可或者单独同意，在明确获得测试人员的单独许可或者单独同意之后，再获取用于使本申请实施例能够正常运行的必要的测试人员相关数据。
如图2所示，图2是本申请实施例提供的SSD功耗测试方法的一个可选的流程图，图2中的方法可以包括但不限于包括步骤S101至步骤S103。
步骤S101，响应于SSD静态功耗测试操作，在第一显示屏幕上显示静态功耗界面，其中，静态功耗界面用于显示静态功耗测试值，静态功耗测试值用于表征SSD处于未工作状态时的功耗；
步骤S102，响应于SSD动态功耗测试操作，在第一显示屏幕上显示动态功耗界面，其中，动态功耗界面用于显示动态功耗测试值，动态功耗测试值用于表征SSD处于工作状态时的功耗；
步骤S103，响应于SSD功耗测试完成操作，在第二显示屏幕上显示功耗测试结果；其中，功耗测试结果由终端根据静态功耗测试值和动态功耗测试值计算后得到，静态功耗测试值和动态功耗测试值是终端从测试板接收得到的。
在一些实施例中，SSD功耗测试***设置有测试板和终端，测试板上设置有第一显示屏幕，终端设置有第二显示屏幕，终端与测试板通信连接。其中，测试板是一块能够测试SSD的电路板，该测试板上包括多个插槽，插槽内有多个引脚配合而成的接口，与测试板通信连接的终端上有能够测试SSD的测试软件。本申请实施例中，仅需要将SSD与测试板连接，即可实现对SSD的静态功耗测试和动态功耗测试，通过软硬件的结合，提高了SSD的功耗测试效率，同时，由于SSD功耗测试结果能够在第一显示屏幕和/或第二显示屏幕中显示，使得SSD功耗测试结果可视化，从而使测试人员更直观地了解SSD功耗测试情况。
在一些实施例中，如图3所示，图3是本申请实施例提供的测试板正面示意图，其中，第一显示屏幕111连接在测试板110的左侧，测试板110上有用于SSD功耗测试的插槽，包括PCIe插槽112和SATA插槽113。第一显示屏幕111可以为LCD(Liquid Crystal Display)显示屏，外接的第一显示屏幕111能够使其并不局限于测试板110的大小，而有更多的显示空间。
在一些实施例中，第一显示屏幕111可以为内嵌于测试板110的LCD(LiquidCrystal Display)显示屏，内嵌式的LCD显示屏使得测试板110与显示屏幕一体化，提高了空间的使用效率。
在一些实施例中，第一显示屏还可以是显示效果更优的LED(Light EmittingDiode)显示屏或是其他类型的显示屏，同时，显示屏可以有多种安装方式，本申请实施例仅是以较佳实施例进行说明，并不做具体限制。
在一些实施例中，LCD显示屏能够显示静态功耗界面，当进行静态功耗测试时，对测试板110进行通电操作，通电后的测试板110能够对SSD进行功耗测试，得到静态功耗测试值并在静态功耗界面显示，具体地，该静态功耗测试值包括电流值、电压值和静态功耗。通过直接在LCD显示屏上显示静态功耗测试值，避免了传统的万用表进行测试中由于频繁调档以及人工读数造成的误差，同时，由于能够在LCD显示屏一次性显示出所需要的静态功耗测试值，也提高了SSD的测试效率。
在一些实施例中，可以为测试板110和第一显示屏幕111之间安装通电开关，通过物理开关来控制通电电流的有无；或者，在第一显示屏幕111上设置虚拟开关，通过点击第一显示屏幕111上的虚拟开关来控制通电电流的有无。
在一些实施例中，LCD显示屏能够显示动态功耗界面，当进行动态功耗测试时，对测试板110进行通电操作，并打开与测试板110相连的终端，其中，终端是一种与测试板110相连的输入输出设备，且终端上包含有与动态功耗测试相关的测试软件，示例性地，测试软件为CrystalDiskMark(简称CDM)，通过CDM为SSD发送测试指令，使SSD根据测试指令执行读写操作，模拟SSD的工作状态，测量此时的动态功耗测试值，该动态功耗测试值包括最大电流值、最大电压值和最大动态功耗，并将该动态功耗测试值显示在动态功耗界面。通过直接在LCD显示屏上显示动态功耗测试值，避免了传统测试方法中利用万用表完成静态功耗测量后，需要再通过连线与终端连接以测量动态功耗的复杂场景，提高了SSD的测试效率。
需要说明的是，终端上的测试软件也可以是其他能够测试SSD动态功耗的测试软件，本申请实施例仅是以较佳实施例进行说明，并不做具体限制。
在一些实施例中，第一显示屏幕111为实时显示状态，当完成静态功耗测试后，在第一显示区域显示静态功耗测试值；当完成动态功耗测试值后，接着在第二显示区域显示动态功耗测试值。
在一些实施例中，第一显示屏幕111可以分为两个显示区域，当完成静态功耗测试后，在第一显示区域显示静态功耗测试值，并接着进行动态功耗测试，此时静态功耗测试值仍在第一显示区域显示；当完成动态功耗测试值后，接着在第二显示区域显示动态功耗测试值，也就是说，在完成一次静动态功耗测试后，所得到的静态功耗测试值和动态功耗测试值能够同时显示在一块显示屏幕上。这样，方便测试人员直观地观察及对比测得的静态功耗测试值和动态功耗测试值。
在一些实施例中，在完成静态功耗测试和动态功耗测试后，能够在第二显示屏幕显示功耗测试结果，其中，功耗测试结果由静态功耗测试值和动态功耗测试值计算得到，通常，计算方式为加权计算，另外，第二显示屏幕可以是终端，即在终端显示功耗测试结果，或者，第二显示屏幕为与终端相连接的另一个显示屏幕，适用于测试执行和测试观察分离的场景。
如图4所示，图4是图2中的步骤S101的一个实现流程图，在一些实施例中，步骤S101中还可以包括步骤S201至步骤S202：
步骤S201，响应于SSD静态功耗测试操作，获取SSD处于未工作状态时的电流值和电压值，并根据电流值和电压值的乘积得到静态功耗，将电流值、电压值和静态功耗作为静态功耗测试值；
步骤S202，在第一显示屏幕上显示静态功耗界面，其中，静态功耗界面用于显示静态功耗测试值；
在一些实施例中，将SSD放入测试板110中并上电，获取此时处于未工作状态的SSD的电流值和电压值，示例性地，此时的电流值为0.362A、电压值为3.262V，则静态功耗为电流值和电压值的乘积，即1.18W，并将电流值、电压值和静态功耗作为静态功耗测试值。相较于传统的利用万用表先调电流档位测电流，再调至电压档位测量电压的测试方式，本申请能够同时测得SSD的电流值和电压值，并计算静态功耗，即同时得到测试所需的静态功耗测试值，简化了测试操作步骤，提高了SSD的测试效率。
在一些实施例中，LCD显示屏能够显示静态功耗界面，其中，静态功耗界面显示的是测试得到的静态功耗测试值，包括电流值、电压值和静态功耗。传统的利用万用表进行读数的方式可视化程度差，且需要在各调节档位下进行人工读数，容易造成测量误差和读数误差的累加，本申请能够将测试所得到的电流值、电压值和静态功耗同步显示在LCD显示屏中，减少了测试误差，同时使得SSD测试结果可视化，进一步提高了SSD的测试效率。
如图5所示，图5是图2中的步骤S102的的一个实现流程图，在一些实施例中，步骤S102中还可以包括步骤S203至步骤S204：
步骤S203，响应于SSD动态功耗测试操作，获取SSD处于工作状态时的最大电流值和最大电压值，并根据最大电流值和最大电压值的乘积得到动态功耗，将最大电流值、最大电压值和动态功耗作为动态功耗测试值；
步骤S204，在第一显示屏幕上显示动态功耗界面，其中，动态功耗界面用于显示动态功耗测试值。
在一些实施例中，在完成SSD的静态功耗测试后，保持SSD的连接不变，利用CDM软件为测试板110中的SSD发送测试指令，该测试指令能够使SSD执行读写操作，以使SSD处于工作状态，获取此时处于工作状态的SSD的最大电流值和最大电压值。示例性地，此时的最大电流值为0.028A、最大电压值为3.353V，则动态功耗为最大电流值和最大电压值的乘积，即0.097W，并将最大电流值、最大电压值和动态功耗作为动态功耗测试值。相较于传统的利用万用表对SSD进行静态功耗测试后，还需将SSD与终端连接并进行动态功耗测试的方式，本申请通过软硬件的结合，能够在完成SSD的静态功耗测试后，通过已经和测试板110连接的终端对SSD进行动态功耗测试，极大地提高了SSD的测试效率。
在一些实施例中，LCD显示屏能够显示动态功耗界面，其中，动态功耗界面显示的是测试得到的动态功耗测试值，包括最大电流值、最大电压值和动态功耗。本申请能够将测试所得到的最大电流值、最大电压值和动态功耗同步显示在LCD显示屏中，减少了测试误差，同时使得SSD测试结果可视化，进一步提高了SSD的测试效率。
图6是本申请实施例提供的SSD功耗测试方法的一个动态功耗测试操作流程图，图6中的方法可以包括但不限于包括步骤S301至步骤S304。
步骤S301，在第二显示屏幕上显示协议类型选项界面和测试参数设置界面；
步骤S302，响应于SSD协议类型选择操作，在协议类型选项界面上显示SSD的目标协议类型；
步骤S303，响应于SSD参数设置操作，在测试参数设置界面上显示SSD的目标测试执行参数；
步骤S304，响应于SSD读写执行操作，在第二显示屏幕上显示SSD的读写执行速度，其中，读写执行速度是测试板上的SSD进行连续读写或随机读写后测量得到的，SSD是基于目标协议类型和目标测试执行参数进行连续读写或随机读写的。
在一些实施例中，测试板110与终端相连，终端可以是包含动态功耗测试的测试CDM软件的电脑、手机或平板等。示例性地，在为测试板110上电后，通过电脑上的CDM软件进行参数设置，完成参数设置后运行该测试项，则CDM软件将对SSD进行读写操作，以模拟SSD工作时的状态，对此时的SSD进行动态功耗测试，并记录SSD处于工作状态时的最大电流值、最大电压值和动态功耗，得到SSD的动态功耗测试值。
在一些实施例中，第二显示屏幕能够显示动态功耗测试参数设置相关的协议类型选项界面和测试参数设置界面，其中，协议类型选项界面能够显示SSD相关的协议类型选项，用于确认SSD的目标协议类型，测试参数设置界面能够显示SSD相关的测试参数设置项，用于确认SSD的目标测试执行参数。
示例性地，如图7所示，图7是本申请实施例提供的CDM操作界面的示意图，在CDM操作界面中，显示有测试参数设置界面，测试参数设置界面中显示的目标测试执行参数包括测试执行次数、运行空间大小以及运行位置，具体地，测试执行次数表示在测试SSD读写时执行的次数；运行空间大小表示单次读写测试时采用测试数据的大小；运行位置表示单次测试时所选的需要测试的盘的位置，其中，可以通过点击下拉框进行目标测试执行参数的选择，或手动输入目标测试执行参数；另外，通过点击设置键，能够打开协议类型选项界面，协议类型选项界面中显示的目标协议类型包括NVMe(非易失性快速存储器)选项，其表示的是PCIe制定的标准接口协议，即若所测试的SSD为NVMe SSD，则在协议类型选项界面中选择NVMe选项，若不进行选择，则默认该协议类型为非NVMe SSD。
在一些实施例中，测试人员在完成目标协议类型和目标测试执行参数的选择后，选择要执行的读写类型，如图7所示，All表示执行全部测试任务，SEQ1M|Q8T1表示顺序读写，位深1024K，1线程8队列的测试速度；SEQ128K|Q32T1表示顺序读写，位深128K，1线程32队列测试速度；RND4K|Q32T16表示随机读写，位深1024*4K，16线程32队列的测试速度；RND4K|Q1T1表示随机读写，位深1024*4K，1线程1队列的测试速度。当选择读写类型后，能够按照所选的读写类型执行读写操作，如图7所示，此时执行的是SEQ1M|Q8T1顺序读写，显示读速度为2542.15MB/s，写速度为1820.43MB/s，测量该顺序读写状态下的动态功耗测试值，并在第一显示屏幕111中显示该动态功耗测试值。
如图8所示，图8是图2中的步骤S103的一个实现流程图，在一些实施例中，步骤S103中还可以包括步骤S401至步骤S404：
步骤S401，获取SSD对应的目标功耗标准范围值；
步骤S402，判断静态功耗测试值是否在目标功耗标准范围值表征的数值范围内，得到第一对比结果，判断动态功耗测试值是否在目标功耗标准范围值表征的数值范围内，得到第二对比结果；
步骤S403，根据静态功耗测试值和动态功耗测试值进行加权计算，得到总功耗测试值，判断总功耗测试值是否在目标功耗标准范围值表征的数值范围内，得到第三对比结果；
步骤S404，根据第一对比结果和第二对比结果得到功耗测试结果，或者，根据第三对比结果得到功耗测试结果。
在一些实施例中，在终端设有目标功耗标准范围值，将测试得到的静态功耗测试值和动态功耗测试值上传至终端，并与所设的目标功耗标准范围值进行对比，得到功耗测试结果。通过终端自动对比测试得到的功耗测试值和设置的目标功耗标准范围值得到功耗测试结果，提高了SSD的功耗测试效率。
在一些实施例中，根据SSD功耗规格要求为SSD设置对应的目标功耗标准范围值，目标功耗标准范围值包括静态功耗标准范围值和动态功耗标准范围值。示例性地，设定接口为PCLe接口的SSD的PCLe静态功耗标准范围值为2～6W，PCLe动态功耗标准范围值为5～15W；设定接口为SATA接口的SSD的SATA静态功耗标准范围值为0.25～2W，SATA动态功耗标准范围值为4～8W。
在一些实施例中，将接口为PCLe接口的SSD测试得到的静态功耗测试值与PCLe静态功耗标准范围值进行对比，得到第一对比结果，示例性地，若得到的静态功耗测试值为3W，表示该值落在PCLe静态功耗标准范围内，则第一对比结果为合格，若得到的动态功耗测试值为8W，表示该值不落在PCLe静态功耗标准范围内，则第一对比结果为不合格。
在一些实施例中，将接口为PCLe接口的SSD测试得到的动态功耗测试值与PCLe动态功耗标准范围值进行对比，得到第二对比结果，示例性地，若得到的动态功耗测试值为6W，表示该值落在PCLe动态功耗标准范围内，则第二对比结果为合格，若得到的动态功耗测试值为16W，表示该值不落在PCLe动态功耗标准范围内，则第二对比结果为不合格。
在一些实施例中，目标功耗标准范围值还可以包括总功耗标准范围值，总功耗标准范围用于表征总功耗值是否在目标范围内，其中，总功耗值可以根据静态功耗测试值和动态功耗测试值加权计算得到。示例性地，总功耗标准范围值为5～12W，按静态功耗测试值占比40％、动态功耗测试值占比60％进行功耗加权计算，当接口为PCLe接口的SSD静态功耗测试值为3W、动态功耗测试值为8W时，总功耗值为6W。
在一些实施例中，将接口为PCLe接口的SSD测试得到的总功耗值与总功耗标准范围值进行对比，得到第三对比结果，示例性地，若得到的总功耗值为6W，表示该值落在总功耗标准范围值内，则第三对比结果为合格，若得到的总功耗值为15W，表示该值不落在总功耗标准范围值内，则第三对比结果为不合格。
在一些实施例中，可以根据第一对比结果和第二对比结果得到功耗测试结果，当第一对比结果和第二对比结果均合格时，功耗测试结果为合格；当第一对比结果或第二对比结果中有一个不合格时，功耗测试结果为不合格；或者，可以根据第三比结果得到功耗测试结果，当第三对比结果为合格时，功耗测试结果合格。测试人员可以根据功耗测试结果对SSD进行功耗情况判断。
在一些实施例中，接口为SATA接口的SSD得到第一对比结果、第二对比结果和第三对比结果的方法与上述接口为PCLe接口的SSD的具体实施例基本相同，在此不再赘述。
图9是本申请实施例提供的SSD功耗测试方法的一个功耗标准范围模板选择流程图，图9中的方法可以包括但不限于包括步骤S501至步骤S502。
步骤S501，在第二屏幕上显示功耗标准范围模板选择界面，响应于功耗标准范围模板选择操作，在功耗标准范围模板选择界面中显示目标功耗标准范围值；
步骤S502，或者，在第二屏幕上显示功耗标准范围输入界面，响应于功耗标准范围输入操作，在功耗标准范围输入界面中显示目标功耗标准范围值。
在一些实施例中，在终端显示功耗标准范围模板选择界面，该界面用于显示可供选择的功耗标准范围模板，功耗标准范围模板用来表示功耗测试结果的范围，功耗标准范围模板可以将常用的目标功耗标准范围值做为常用值保存下来，当进行同一类SSD功耗测试时，通过选择功耗标准范围模板能够快速设置静态功耗标准范围值、动态功耗标准范围值和总功耗标准范围值，避免了频繁输入标准范围值，提高了SSD的测试效率。
在一些实施例中，可以在功耗标准范围输入界面中输入目标功耗标准范围值，当所需测试的SSD类型繁多，没有统一的目标功耗标准范围时，可以通过输入目标功耗标准范围值确定目标功耗标准范围。
图10是本申请实施例提供的SSD功耗测试方法的一个功耗测试结果流程图，图10中的方法可以包括但不限于包括步骤S601至步骤S602。
步骤S601，若显示功耗测试结果表征SSD的功耗测试不良，在第二屏幕上显示功耗测试警报界面，其中，功耗测试警报界面用于显示警报信息和故障详情信息中的至少一种；
步骤S602，若显示功耗测试结果表征SSD的功耗测试正常，在第二屏幕上显示测试提示界面，其中，测试提示界面用于显示提示信息，提示信息用于提示进行下一项测试。
在一些实施例中，当完成SSD功耗测试后，若该SSD的功耗测试结果不良，可以在第二屏幕上显示警报界面，示例性地，弹出警报界面，警报界面中包括该SSD功耗测试为不良的警报信息，用于警示测试人员此SSD为不良品，需要进行返修处理，同时，可以在警报界面中显示故障详情信息，故障详情信息用于指示该不良SSD的不良详细信息。
在一些实施例中，当完成SSD功耗测试后，若该SSD的功耗测试结果正常，可以在第二屏幕上显示提示界面，示例性地，弹出提示界面，提示界面用于提示测试人员确认是否保存本次SSD功耗测试结果，所保存的功耗测试结果能够进入历史功耗测试数据库，便于测试人员进行历史功耗测试数据对比。
图11是本申请实施例提供的SSD功耗测试方法的另一个可选的流程图，图11中的方法可以包括但不限于包括步骤S701至步骤S705。
步骤S701，将待测试的SSD与测试板上对应的接口连接，对测试板进行上电操作，以使测试板上的SSD上电；
步骤S702，检测SSD在上电后的第一电信号，将第一电信号发送到第一显示屏幕中，以在第一显示屏幕显示静态功耗值界面，其中，静态功耗值界面用于显示静态功耗测试值，静态功耗测试值用于表征SSD处于未工作状态时的功耗；
步骤S703，将测试板与终端通信连接，并通过终端向测试板发送测试指令，以使SSD在测试指令下工作；
步骤S704，检测SSD在工作后的第二电信号，将第二电信号发送到第一显示屏幕中，以在第一显示屏幕显示动态功耗值界面，其中，动态功耗值界面用于显示动态功耗测试值，动态功耗测试值用于表征SSD处于工作状态时的功耗；
步骤S705，根据静态功耗测试值和动态功耗测试值，计算得到SSD的功耗测试结果。
在一些实施例中，如图12所示，图12是本申请实施例提供的测试板模块示意图，SSD功耗测试***设置有测试板110和终端，测试板110上设置有第一显示屏幕111；其中，测试板110可以是PCB板，测试板110包括显示接口、控制模块、测试接口和终端接口，测试接口包括PCIe接口和SATA接口。示例性地，终端接口用于和终端连接，测试板110通过设置在其上的显示接口与第一显示屏幕111连接，且测试板110上设有多个测试模式对应的测试接口，测试接口用于与SSD连接，该测试接口内有用于测量电流值的电流接点和用于测量电压值的电压接点，当SSD与该测试接口连接时，测试板110上的电流接点和电压接点能够获取该SSD的电流值和电压值，控制模块能够根据电流值和电压值计算该SSD的功耗值，之后，将电流值、电压值和功耗值通过控制模块传输到显示接口，由显示接口传输至第一显示屏幕111中显示功耗测试值。
在一些实施例中，将待测试的SSD与测试板110上对应的测试接口连接，并对测试板110进行上电操作，上电后的测试板110对SSD进行第一电信号检测操作，该第一电信号指的是被检测SSD的静态功耗电流值信号和静态功耗电压值信号，将第一电信号传输至控制模块，控制模块能够根据第一电信号得到静态功耗值信号，将静态功耗值信号加入第一电信号并传输至显示接口，与显示接口相连的第一显示屏幕111能够通过接收到的第一电信号在第一显示屏幕111中显示静态功耗测试值。
在一些实施例中，通过终端接口与测试板110相连的终端能够给测试板110发送测试指令，测试指令指的是控制SSD进行动态功耗测试的协议类型指令、测试参数指令以及读写类型指令等。
在一些实施例中，在完成SSD的第一电信号检测后，保持待检测的SSD与测试板110的连接不变，SSD接收终端发送的测试指令并进入工作状态，上电后的测试板110对SSD进行第二电信号检测操作，该第二电信号指的是被检测SSD的动态功耗电流值信号和动态功耗电压值信号，将第二电信号传输至控制模块，控制模块能够根据第二电信号得到动态功耗值信号，将动态功耗值信号加入第二电信号并传输至显示接口，与显示接口相连的第一显示屏幕111能够通过接收到的第二电信号在第一显示屏幕111中显示动态功耗测试值。
在一些实施例中，由于终端上设有SSD的功耗标准范围，因此终端能够根据得到的静态功耗测试值和动态功耗测试值，计算SSD的功耗测试结果，并将该功耗测试结果显示在第二显示屏幕上。
可以理解的是，SSD功耗测试***通过软硬件结合的方式，执行SSD功耗测试方法，使得待检测的SSD仅需要第一次与测试板连接即可得到静态功耗值和动态功耗值，且使得静态功耗测试值和动态功耗测试值能够显示在第一显示屏幕，而功耗测试结果能够显示在第二显示屏幕中，在避免繁琐的人工连接测试、提高SSD功耗测试效率的同时，使得测试得到的静态功耗测试值、动态功耗测试值和功耗测试结果能够可视化地展示，方便测试人员更清晰地了解SSD功耗测试结果。
如图13所示，图13是图11中的步骤S701的一个实现流程图，在一些实施例中，步骤S701中还可以包括步骤S801至步骤S802：
步骤S801，若SSD的接口为PCIe接口，将SSD放入PCIe插槽内，以使SSD与PCIe插槽内的接口连接，并通过对测试板上电，使测试板执行PCIe测试模式；
步骤S802，若SSD的接口为SATA接口，将SSD放入SATA插槽内，以使SSD与SATA插槽内的接口连接，并通过对测试板上电，使测试板执行SATA测试模式。
在一些实施例中，测试板110包括多个插槽，每个插槽用于放入对应接口的SSD，并对应进行不同模式的功耗测试。
在一些实施例中，如图12所示，测试板110上的测试接口包括PCIe接口，将待检测的SSD放入PCIe插槽112内，SSD与PCIe插槽112内的PCIe接口连接，当对测试板110上电时，测试板110能够执行PCIe测试模式。
在一些实施例中，如图12所示，测试板110上的测试接口包括SATA接口，将待检测的SSD放入SATA插槽113内，SSD与SATA插槽113内的SATA接口连接，当对测试板110上电时，测试板110能够执行SATA测试模式。
需要说明的是，测试板110上还可以设置其他插槽，如mSATA插槽、M.2插槽或其他插槽，该插槽能够使上电后的测试板110执行对应的mSATA和M.2等测试模式等，本申请实施例仅是以较佳实施例进行说明，并不做具体限制。
请参阅图14，图14是本申请实施例提供的SSD功耗测试的功能模块示意图，本申请实施例还提供一种SSD功耗测试***，可以实现上述SSD功耗测试方法，SSD功耗测试***包括：
静态功耗测试操作模块901，用于响应于SSD静态功耗测试操作，在第一显示屏幕上显示静态功耗界面，其中，静态功耗界面用于显示静态功耗测试值，静态功耗测试值用于表征SSD处于未工作状态时的功耗；
动态功耗测试操作模块902，用于响应于SSD动态功耗测试操作，在第一显示屏幕上显示动态功耗界面，其中，动态功耗界面用于显示动态功耗测试值，动态功耗测试值用于表征SSD处于工作状态时的功耗；
功耗结果模块903，用于响应于SSD功耗测试完成操作，在第二显示屏幕上显示功耗测试结果；其中，功耗测试结果由终端根据静态功耗测试值和动态功耗测试值计算后得到，静态功耗测试值和动态功耗测试值是终端从测试板接收得到的。
在一些实施例中，SSD功耗测试***设置有测试板和终端，测试板上设置有第一显示屏幕，终端设置有第二显示屏幕，终端与测试板通信连接。其中，测试板是一块能够测试SSD的电路板，该测试板上包括多个插槽，插槽内有多个引脚配合而成的接口，与测试板通信连接的终端上有能够测试SSD的测试软件。本申请实施例中，仅需要将SSD与测试板连接，即可实现对SSD的静态功耗测试和动态功耗测试，通过软硬件的结合，提高了SSD的功耗测试效率，同时，由于SSD功耗测试结果能够在第一显示屏幕和/或第二显示屏幕中显示，使得SSD功耗测试结果可视化，从而使测试人员更直观地了解SSD功耗测试情况。
在一些实施例中，LCD显示屏能够显示静态功耗界面，当进行静态功耗测试时，对测试板进行通电操作，通电后的测试板能够对SSD进行功耗测试，得到静态功耗测试值并在静态功耗界面显示，具体地，该静态功耗测试值包括电流值、电压值和静态功耗。通过直接在LCD显示屏上显示静态功耗测试值，避免了传统的万用表进行测试中由于频繁调档以及人工读数造成的误差，同时，由于能够在LCD显示屏一次性显示出所需要的静态功耗测试值，也提高了SSD的测试效率。
在一些实施例中，可以为测试板和第一显示屏幕之间安装通电开关，通过物理开关来控制通电电流的有无；或者，在第一显示屏幕上设置虚拟开关，通过点击第一显示屏幕上的虚拟开关来控制通电电流的有无。
在一些实施例中，LCD显示屏能够显示动态功耗界面，当进行动态功耗测试时，对测试板进行通电操作，并打开与测试板相连的终端，其中，终端是一种与测试板相连的输入输出设备，且终端上包含有与动态功耗测试相关的测试软件，示例性地，测试软件为CrystalDiskMark(简称CDM)，通过CDM为SSD发送测试指令，使SSD根据测试指令执行读写操作，模拟SSD的工作状态，测量此时的动态功耗测试值，该动态功耗测试值包括最大电流值、最大电压值和最大动态功耗，并将该动态功耗测试值显示在动态功耗界面。通过直接在LCD显示屏上显示动态功耗测试值，避免了传统测试方法中利用万用表完成静态功耗测量后，需要再通过连线与终端连接以测量动态功耗的复杂场景，提高了SSD的测试效率。
需要说明的是，终端上的测试软件也可以是其他能够测试SSD动态功耗的测试软件，本申请实施例仅是以较佳实施例进行说明，并不做具体限制。
在一些实施例中，第一显示屏幕为实时显示状态，当完成静态功耗测试后，在第一显示区域显示静态功耗测试值；当完成动态功耗测试值后，接着在第二显示区域显示动态功耗测试值。
在一些实施例中，第一显示屏幕可以分为两个显示区域，当完成静态功耗测试后，在第一显示区域显示静态功耗测试值，并接着进行动态功耗测试，此时静态功耗测试值仍在第一显示区域显示；当完成动态功耗测试值后，接着在第二显示区域显示动态功耗测试值，也就是说，在完成一次静动态功耗测试后，所得到的静态功耗测试值和动态功耗测试值能够同时显示在一块显示屏幕上。这样，方便测试人员直观地观察及对比测得的静态功耗测试值和动态功耗测试值。
在一些实施例中，在完成静态功耗测试和动态功耗测试后，能够在第二显示屏幕显示功耗测试结果，其中，功耗测试结果由静态功耗测试值和动态功耗测试值计算得到，通常，计算方式为加权计算，另外，第二显示屏幕可以是终端，即在终端显示功耗测试结果，或者，第二显示屏幕为与终端相连接的另一个显示屏幕，适用于测试执行和测试观察分离的场景。
可以理解的是，SSD功耗测试***通过软硬件结合的方式，执行SSD功耗测试方法，使得待检测的SSD仅需要第一次与测试板连接即可得到静态功耗值和动态功耗值，且使得静态功耗测试值和动态功耗测试值能够显示在第一显示屏幕，而功耗测试结果能够显示在第二显示屏幕中，在避免繁琐的人工连接测试、提高SSD功耗测试效率的同时，使得测试得到的静态功耗测试值、动态功耗测试值和功耗测试结果能够可视化地展示，方便测试人员更清晰地了解SSD功耗测试结果。
该SSD功耗测试***的具体实施方式与上述SSD功耗测试方法的具体实施例基本相同，在此不再赘述。在满足本申请实施例要求的前提下，SSD功耗测试***还可以设置其他功能模块，以实现上述实施例中的SSD功耗测试方法。
本申请实施例还提供了一种电子设备，电子设备包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述SSD功耗测试方法。该电子设备可以为包括平板电脑、车载电脑等任意智能终端。
如图15所示，图15是本申请实施例提供的电子设备的硬件结构示意图，电子设备包括：
处理器1001，可以采用通用的CPU(CentralProcessingUnit，中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit，ASIC)、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本申请实施例所提供的技术方案；
存储器1002，可以采用只读存储器(ReadOnlyMemory，ROM)、静态存储设备、动态存储设备或者随机存取存储器(RandomAccessMemory，RAM)等形式实现。存储器1002可以存储操作***和其他应用程序，在通过软件或者固件来实现本说明书实施例所提供的技术方案时，相关的程序代码保存在存储器1002中，并由处理器1001来调用执行本申请实施例的SSD功耗测试方法；
输入/输出接口1003，用于实现信息输入及输出；
通信接口1004，用于实现本设备与其他设备的通信交互，可以通过有线方式(例如USB、网线等)实现通信，也可以通过无线方式(例如移动网络、WIFI、蓝牙等)实现通信；
总线1005，在设备的各个组件(例如处理器1001、存储器1002、输入/输出接口1003和通信接口1004)之间传输信息；
其中处理器1001、存储器1002、输入/输出接口1003和通信接口1004通过总线1005实现彼此之间在设备内部的通信连接。
本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述SSD功耗测试方法。
存储器作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序以及非暂态性计算机可执行程序。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至该处理器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
本申请实施例描述的实施例是为了更加清楚的说明本申请实施例的技术方案，并不构成对于本申请实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着技术的演变和新应用场景的出现，本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
本领域技术人员可以理解的是，图中示出的技术方案并不构成对本申请实施例的限定，可以包括比图示更多或更少的步骤，或者组合某些步骤，或者不同的步骤。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、***、设备中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。
本申请的说明书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
应当理解，在本申请中，“至少一个(项)”和“若干”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，用于描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：只存在A，只存在B以及同时存在A和B三种情况，其中A，B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，“a和b”，“a和c”，“b和c”，或“a和b和c”，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的***和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的***实施例仅仅是示意性的，例如，上述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括多指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例的方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序的介质。
以上参照附图说明了本申请实施例的优选实施例，并非因此局限本申请实施例的权利范围。本领域技术人员不脱离本申请实施例的范围和实质内所作的任何修改、等同替换和改进，均应在本申请实施例的权利范围之内。
Claims (10)
1.一种SSD功耗测试方法，应用在SSD功耗测试***中，其特征在于，所述SSD功耗测试***设置有测试板和终端，所述测试板上设置有第一显示屏幕，所述终端设置有第二显示屏幕，所述终端与所述测试板通信连接；
所述方法包括：
响应于SSD静态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示静态功耗界面，其中，所述静态功耗界面用于显示静态功耗测试值，所述静态功耗测试值用于表征所述SSD处于未工作状态时的功耗；
响应于SSD动态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示动态功耗界面，其中，所述动态功耗界面用于显示动态功耗测试值，所述动态功耗测试值用于表征所述SSD处于工作状态时的功耗；
响应于SSD功耗测试完成操作，在所述第二显示屏幕上显示功耗测试结果；
其中，所述功耗测试结果由所述终端根据所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值计算后得到，所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值是所述终端从所述测试板接收得到的。
2.根据权利要求1所述的SSD功耗测试方法，其特征在于，所述响应于SSD静态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示静态功耗界面，包括：
响应于SSD静态功耗测试操作，获取所述SSD处于未工作状态时的电流值和电压值，并根据所述电流值和所述电压值的乘积得到静态功耗，将所述电流值、所述电压值和所述静态功耗作为静态功耗测试值；
在所述第一显示屏幕上显示静态功耗界面，其中，所述静态功耗界面用于显示所述静态功耗测试值；
所述响应于SSD动态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示动态功耗界面，包括：
响应于SSD动态功耗测试操作，获取所述SSD处于工作状态时的最大电流值和最大电压值，并根据所述最大电流值和所述最大电压值的乘积得到动态功耗，将所述最大电流值、所述最大电压值和所述动态功耗作为动态功耗测试值；
在所述第一显示屏幕上显示动态功耗界面，其中，所述动态功耗界面用于显示所述动态功耗测试值。
3.根据权利要求1所述的SSD功耗测试方法，其特征在于，所述响应于SSD动态功耗测试操作之后，所述方法还包括：
在所述第二显示屏幕上显示协议类型选项界面和测试参数设置界面；
响应于SSD协议类型选择操作，在所述协议类型选项界面上显示所述SSD的目标协议类型；
响应于SSD参数设置操作，在所述测试参数设置界面上显示所述SSD的目标测试执行参数；
响应于SSD读写执行操作，在所述第二显示屏幕上显示所述SSD的读写执行速度，其中，所述读写执行速度是所述测试板上的所述SSD进行连续读写或随机读写后测量得到的，所述SSD是基于所述目标协议类型和所述目标测试执行参数进行连续读写或随机读写的。
4.根据权利要求1所述的SSD功耗测试方法，其特征在于，所述功耗测试结果根据以下步骤得到，包括：
获取所述SSD对应的目标功耗标准范围值；
判断所述静态功耗测试值是否在所述目标功耗标准范围值表征的数值范围内，得到第一对比结果，判断所述动态功耗测试值是否在所述目标功耗标准范围值表征的数值范围内，得到第二对比结果；
根据所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值进行加权计算，得到总功耗测试值，判断所述总功耗测试值是否在所述目标功耗标准范围值表征的数值范围内，得到第三对比结果；
根据所述第一对比结果和所述第二对比结果得到所述功耗测试结果，或者，根据所述第三对比结果得到所述功耗测试结果。
5.根据权利要求4所述的SSD功耗测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
在所述第二屏幕上显示功耗标准范围模板选择界面，响应于功耗标准范围模板选择操作，在所述功耗标准范围模板选择界面中显示所述目标功耗标准范围值；
或者，在所述第二屏幕上显示功耗标准范围输入界面，响应于功耗标准范围输入操作，在所述功耗标准范围输入界面中显示所述目标功耗标准范围值。
6.根据权利要求1所述的SSD功耗测试方法，其特征在于，所述在所述第二显示屏幕上显示功耗测试结果之后，所述方法还包括：
若所述显示功耗测试结果表征所述SSD的功耗测试不良，在所述第二屏幕上显示功耗测试警报界面，其中，所述功耗测试警报界面用于显示警报信息和故障详情信息中的至少一种；
若所述显示功耗测试结果表征所述SSD的功耗测试正常，在所述第二屏幕上显示测试提示界面，其中，所述测试提示界面用于显示提示信息，所述提示信息用于提示进行下一项测试。
7.一种SSD功耗测试方法，应用在SSD功耗测试***中，其特征在于，所述SSD功耗测试***设置有测试板和终端，所述测试板上设置有第一显示屏幕；
所述方法包括：
将待测试的SSD与所述测试板上对应的接口连接，对所述测试板进行上电操作，以使所述测试板上的所述SSD上电；
检测所述SSD在上电后的第一电信号，将所述第一电信号发送到所述第一显示屏幕中，以在所述第一显示屏幕显示静态功耗值界面，其中，所述静态功耗值界面用于显示静态功耗测试值，所述静态功耗测试值用于表征所述SSD处于未工作状态时的功耗；
将所述测试板与所述终端通信连接，并通过所述终端向所述测试板发送测试指令，以使所述SSD在所述测试指令下工作；
检测所述SSD在工作后的第二电信号，将所述第二电信号发送到所述第一显示屏幕中，以在所述第一显示屏幕显示动态功耗值界面，其中，所述动态功耗值界面用于显示动态功耗测试值，所述动态功耗测试值用于表征所述SSD处于工作状态时的功耗；
根据所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值，计算得到所述SSD的功耗测试结果。
8.根据权利要求7所述的SSD功耗测试方法，其特征在于，所述测试板包括多个插槽，每个所述插槽用于放入对应接口的所述SSD，并对应进行不同模式的功耗测试；
所述将待测试的SSD与所述测试板上对应的接口连接，对所述测试板进行上电操作，以使所述测试板上的所述SSD上电，包括：
若所述SSD的接口为PCIe接口，将所述SSD放入PCIe插槽内，以使所述SSD与所述PCIe插槽内的接口连接，并通过对所述测试板上电，使所述测试板执行PCIe测试模式；
若所述SSD的接口为SATA接口，将所述SSD放入SATA插槽内，以使所述SSD与所述SATA插槽内的接口连接，并通过对所述测试板上电，使所述测试板执行SATA测试模式。
9.一种SSD功耗测试***，其特征在于，包括：
静态功耗测试操作模块，用于响应于SSD静态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示静态功耗界面，其中，所述静态功耗界面用于显示静态功耗测试值，所述静态功耗测试值用于表征所述SSD处于未工作状态时的功耗；
动态功耗测试操作模块，用于响应于SSD动态功耗测试操作，在所述第一显示屏幕上显示动态功耗界面，其中，所述动态功耗界面用于显示动态功耗测试值，所述动态功耗测试值用于表征所述SSD处于工作状态时的功耗；
功耗结果模块，用于响应于SSD功耗测试完成操作，在所述第二显示屏幕上显示功耗测试结果；
其中，所述功耗测试结果由所述终端根据所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值计算后得到，所述静态功耗测试值和所述动态功耗测试值是所述终端从所述测试板接收得到的。
10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6任一项所述的SSD功耗测试方法、或实现权利要求7至8任一项所述的SSD功耗测试方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310383959.7A CN116577551B (zh) | 2023-04-03 | 2023-04-03 | Ssd功耗测试方法、***及电子设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310383959.7A CN116577551B (zh) | 2023-04-03 | 2023-04-03 | Ssd功耗测试方法、***及电子设备 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116577551A true CN116577551A (zh) | 2023-08-11 |
| CN116577551B CN116577551B (zh) | 2024-04-02 |
Family
ID=87538569
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310383959.7A Active CN116577551B (zh) | 2023-04-03 | 2023-04-03 | Ssd功耗测试方法、***及电子设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116577551B (zh) |
Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105336287A (zh) * | 2014-08-06 | 2016-02-17 | 格力电器（武汉）有限公司 | 显示屏的测试方法、装置和*** |
| US20160259472A1 (en) * | 2015-03-08 | 2016-09-08 | Apple Inc. | Device, Method, and User Interface for Processing Intensity of Touch Contacts |
| CN112433898A (zh) * | 2020-11-23 | 2021-03-02 | 深圳忆联信息***有限公司 | 固态硬盘功耗数值的测试方法、装置、计算机设备及存储介质 |
| CN113189467A (zh) * | 2021-04-21 | 2021-07-30 | 苏州英嘉通半导体有限公司 | GaN功率器件静态参数的自动测试***及其测试方法 |
| CN113933581A (zh) * | 2021-12-17 | 2022-01-14 | 荣耀终端有限公司 | 一种移动设备的功耗测试方法及移动设备 |
| CN114496052A (zh) * | 2022-01-27 | 2022-05-13 | 深圳忆联信息***有限公司 | Ssd非操作电源状态允许模式功能的测试方法和装置 |
| US20220291278A1 (en) * | 2021-03-15 | 2022-09-15 | Keithley Instruments, Llc | Unified measurement system for static and dynamic characterization of a device under test |
| CN115328715A (zh) * | 2022-08-19 | 2022-11-11 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 服务器功耗测试方法、装置、设备及介质 |
| CN115933860A (zh) * | 2023-02-20 | 2023-04-07 | 飞腾信息技术有限公司 | 一种处理器***、处理请求的方法及计算设备 |
| WO2023124634A1 (zh) * | 2021-12-29 | 2023-07-06 | Oppo广东移动通信有限公司 | 显示方法、装置、电子设备及存储介质 |
-
2023
- 2023-04-03 CN CN202310383959.7A patent/CN116577551B/zh active Active
Patent Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105336287A (zh) * | 2014-08-06 | 2016-02-17 | 格力电器（武汉）有限公司 | 显示屏的测试方法、装置和*** |
| US20160259472A1 (en) * | 2015-03-08 | 2016-09-08 | Apple Inc. | Device, Method, and User Interface for Processing Intensity of Touch Contacts |
| CN112433898A (zh) * | 2020-11-23 | 2021-03-02 | 深圳忆联信息***有限公司 | 固态硬盘功耗数值的测试方法、装置、计算机设备及存储介质 |
| US20220291278A1 (en) * | 2021-03-15 | 2022-09-15 | Keithley Instruments, Llc | Unified measurement system for static and dynamic characterization of a device under test |
| CN115144714A (zh) * | 2021-03-15 | 2022-10-04 | 基思利仪器有限责任公司 | 用于被测设备的静态和动态表征的统一测量*** |
| CN113189467A (zh) * | 2021-04-21 | 2021-07-30 | 苏州英嘉通半导体有限公司 | GaN功率器件静态参数的自动测试***及其测试方法 |
| CN113933581A (zh) * | 2021-12-17 | 2022-01-14 | 荣耀终端有限公司 | 一种移动设备的功耗测试方法及移动设备 |
| WO2023124634A1 (zh) * | 2021-12-29 | 2023-07-06 | Oppo广东移动通信有限公司 | 显示方法、装置、电子设备及存储介质 |
| CN114496052A (zh) * | 2022-01-27 | 2022-05-13 | 深圳忆联信息***有限公司 | Ssd非操作电源状态允许模式功能的测试方法和装置 |
| CN115328715A (zh) * | 2022-08-19 | 2022-11-11 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 服务器功耗测试方法、装置、设备及介质 |
| CN115933860A (zh) * | 2023-02-20 | 2023-04-07 | 飞腾信息技术有限公司 | 一种处理器***、处理请求的方法及计算设备 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN116577551B (zh) | 2024-04-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20100306592A1 (en) | Computer system on and off test apparatus and method | |
| CN1979439A (zh) | Usb端口测试装置 | |
| CN105824388A (zh) | 一种上电/掉电的检测方法、装置和*** | |
| CN106407059A (zh) | 一种服务器节点测试***及方法 | |
| CN213069792U (zh) | 功耗监测装置 | |
| CN103675541B (zh) | 一种rfid读写器老化测试辅助装置 | |
| CN103914361A (zh) | 检测治具及计算机装置的检测方法 | |
| CN113608684B (zh) | 内存信息获取方法、装置、***、电子设备及存储介质 | |
| CN108093118A (zh) | 主板上器件的测试方法、测试装置和计算机可读存储介质 | |
| CN116577551B (zh) | Ssd功耗测试方法、***及电子设备 | |
| CN116737515B (zh) | 闪存参数可视化方法、***及存储介质 | |
| CN112822073A (zh) | 测试方法、装置、***、电子设备及可读存储介质 | |
| CN218568024U (zh) | 一种usb端口检测装置 | |
| CN109870834B (zh) | 一种液晶玻璃加电检测*** | |
| CN115543679B (zh) | 漏液检测线检测方法、***、装置、服务器及电子设备 | |
| CN108267709B (zh) | 电能故障检查和分类的方法及装置 | |
| CN110058979A (zh) | 一种温度读取失败故障的监控方法、bmc及存储介质 | |
| CN116010141A (zh) | 一种多路服务器启动异常定位方法、装置及其介质 | |
| KR20230089895A (ko) | 제어 신호를 이용한 빅데이터 기반의 엘이디 디스플레이 장치의 모니터링 시스템 | |
| KR20230089894A (ko) | 테스트 신호를 이용한 빅데이터 기반의 엘이디 디스플레이 장치의 모니터링 시스템 | |
| CN101430348B (zh) | 状态检测装置及状态检测方法 | |
| CN111239510B (zh) | 一种空调emc的自助测试方法及测试*** | |
| CN113918396A (zh) | 一种测试触摸板的***、方法、装置及介质 | |
| CN112946529B (zh) | 一种基于检测模块的控制线校验方法、***及介质 | |
| CN114116395B (zh) | 一种老化室供电线路功率过载防护方法、***及装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |