CN112946529B - 一种基于检测模块的控制线校验方法、***及介质 - Google Patents
一种基于检测模块的控制线校验方法、***及介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN112946529B CN112946529B CN202110122500.2A CN202110122500A CN112946529B CN 112946529 B CN112946529 B CN 112946529B CN 202110122500 A CN202110122500 A CN 202110122500A CN 112946529 B CN112946529 B CN 112946529B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- control line
- detection
- pin
- judging
- physical address
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 152
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims abstract description 36
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 11
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 5
- 230000004931 aggregating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 18
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 101150037009 pin1 gene Proteins 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明公开了一种基于检测模块的控制线校验方法，包括以下步骤：获取检测信号，识别所述检测信号的第一物理地址；根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测，得到检测结果；构建校验文件，根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准；根据所述质量标准执行重复判断步骤；本发明能够根据检测信号对不同类型的控制线引脚的电平状态进行检测，并进行统一比对，进而实现在对不同类型的控制线测试时不需要重新开发测试治具，极大的节省了前置控制线的检测成本，并提升了检测效率及准确度。
Description
技术领域
本发明涉及服务器产品测试技术领域，特别是涉及一种基于检测模块的控制线校验方法、***及介质。
背景技术
服务器和PC产品一般都通过前置线进行连接；在配置好服务器和PC产品后，会对其连接介质前置线进行电性检测。现有的检测方法一般通过测试回路，但由于不同的产品其构造设计不同，所以测试回路也需要重新开发设计，这种检测方法成本极高且检测效率相对较低。
发明内容
本发明主要解决的是现有的前置线检测方法成本极高以及检测效率相对较低的问题。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种基于检测模块的控制线校验方法，所述控制线上设有第一接口，所述第一接口上设有第一引脚，所述检测模块上设有矩阵开关，所述矩阵开关上设有若干第二接口，所述第二接口与所述第一引脚连接，所述方法包括以下步骤：
获取检测信号，识别所述检测信号的第一物理地址；
根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测，得到检测结果；
构建校验文件，根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准；
根据所述质量标准执行重复判断步骤。
进一步，所述根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测的步骤进一步包括：获取所述第一引脚的若干第二物理地址；在若干所述第二物理地址中定义与所述第一物理地址对应的所述第二物理地址为第三物理地址；检测所述第三物理地址所对应第一引脚的第一电平状态；汇总所述第一电平状态，得到所述检测结果。
进一步，所述根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准的步骤进一步包括：
比对所述检测结果和所述校验文件是否匹配；若匹配，则判断所述质量标准为第一标准；若非匹配，则判断所述质量标准为第二标准。
进一步，所述根据所述质量标准执行重复判断步骤的步骤进一步包括：当所述质量标准为所述第二标准时，执行所述重复判断步骤。
进一步，所述汇总所述第一电平状态的步骤进一步包括：标记所述第一电平状态所对应的所述第一引脚；判断所述控制线上是否存在未被标记的所述第一引脚；若是，则继续获取所述检测信号；若否，则汇总所述第一电平状态。
进一步，所述构建校验文件的步骤进一步包括：识别所述控制线的类型；根据所述类型获取所述第一引脚的第二电平状态并在所述第一引脚中选取冗余引脚；汇总所述第二电平状态，得到所述校验文件。
进一步，所述根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准的步骤进一步还包括：
按照所述第二物理地址依次比对所述第一电平状态和所述第二电平状态；判断所述第一电平状态是否均与其对应的所述第二电平状态匹配；若是，则判断所述检测结果与所述校验文件匹配；若否，则判断所述检测结果与所述校验文件非匹配，并定义与其对应的所述第二电平状态不匹配的第一电平状态为第三电平状态，定义所述第三电平状态对应的所述第一引脚为故障引脚。
进一步，所述重复判断步骤包括：判断所述故障引脚是否均为所述冗余引脚，若是，则判断所述质量标准为所述第一标准，若否，则判断所述质量标准为第三标准。
本发明还提供一种基于检测模块的控制线校验***，所述控制线上设有第一接口，所述第一接口上设有第一引脚，所述***包括：
信号发送模块、检测模块、校验模块和重复判断模块；所述检测模块上设有矩阵开关，所述矩阵开关与所述第一引脚连接；
所述信号发送模块用于发送检测信号；
所述检测模块用于接收所述检测信号，并识别所述检测信号的第一物理地址，所述检测模块根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测，得到检测结果；
所述校验模块用于构建校验文件，并根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准；
所述重复判断模块用于根据所述质量标准执行重复判断步骤。
本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述基于检测模块的控制线校验方法的步骤。
本发明的有益效果是：
1、本发明所述的基于检测模块的控制线校验方法，可以根据检测信号对不同类型的控制线引脚的电平状态进行检测，并进行统一比对，进而实现在对不同类型的控制线测试时不需要重新开发测试治具，极大的节省了前置控制线的检测成本，并提升了检测效率及准确度。
2、本发明所述的基于检测模块的控制线校验***，可以通过信号发送模块、检测模块、校验模块和重复判断模块的相互配合，进而根据检测信号对不同类型的控制线引脚的电平状态进行检测，并进行统一比对，进而实现在对不同类型的控制线测试时不需要重新开发测试治具，极大的节省了前置控制线的检测成本，并提升了检测效率及准确度。
3、本发明所述的计算机可读存储介质，可以实现引导信号发送模块、检测模块、校验模块和重复判断模块进行配合进而根据检测信号对不同类型的控制线引脚的电平状态进行检测，并进行统一比对，进而实现在对不同类型的控制线测试时不需要重新开发测试治具，极大的节省了前置控制线的检测成本，并提升了检测效率及准确度，有效的增加了所述基于检测模块的控制线校验方法的可操作性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例1所述的基于检测模块的控制线校验方法的流程图；
图2是本发明实施例1所述的连接关系示意图；
图3是本发明实施例2所述的基于检测模块的控制线校验***的架构图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。
在本发明的描述中，需要说明的是，本发明所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要说明的是，LCD(Liquid Crystal Display)是一种液晶显示器，PC(Personal Computer)是一种个人计算机，MCU(Microcontroller Unit)是一种微控制单元。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“物理地址”“质量标准”“冗余引脚”“故障引脚”“电平状态”应做广义理解。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
实施例1
本实施例提供一种基于检测模块的控制线校验方法，如图1和图2所示，包括以下步骤：
本实施例基于检测模块实现，所述检测模块可配置为MCU，其中，检测模块上设有矩阵开关，矩阵开关上设有若干接口，所述接口可以与控制线的引脚相连接，通过此MCU可以对不同类型的控制线引脚的电平状态进行检测，并进行统一比对，不用重新开发新的测试治具，极大的提高了测试的便利性；
S100、获取检测信号，识别所述检测信号的第一物理地址，根据所述第一物理地址对所述引脚进行检测，得到检测结果；
步骤S100进一步包括：因检测模块与引脚相连接，其每个引脚互相对应且构成闭合回路，收到检测信号后，对控制线的引脚进行测试；判断所述检测信号的物理地址；检测控制线上与所述物理地址对应物理地址的引脚的第一电平状态，并标记所述引脚；被标记的引脚代表已经测试过此回路；判断所控制线上是否存在未被标记的引脚，若是，则继续获取检测信号直到所有引脚都被标记；若否，则检测完成，汇总若干第一电平状态，得到所述检测结果；其中，每个第一电平状态对应一个物理地址。
例如：MCU的矩阵开关分别与控制线的J6、J4接口相连接；相应的J6、J4的引脚对应构成了回路；若MCU收到高电平信号(即检测信号)，则判断高电平信号的第一物理地址，若第一物理地址为J6_pin1，则MCU采集J4的pin1的第一电平状态，并标记该pin1；MCU判断J4上是否存在未被标记的pin，若是，则继续获取高电平信号，直到所有pin都被标记，最后汇总J4_pin1～J4_pin10的第一电平状态，得到所述检测结果，针对每个接口，都采用此方式；具体的，MCU与控制线的连接关系示意图见图2；
S200、构建校验文件，根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准；
步骤S200进一步包括：根据所述控制线的类型选取所述控制线的冗余引脚；该冗余引脚为控制线中用于防呆设计或其他设计的引脚，该引脚不参与控制线的传输工作，故可以根据冗余引脚对控制线做进一步判断，提高测试结果的准确性；根据所述控制线的类型获取所有所述引脚的第二电平状态；该第二电平状态和冗余引脚均基于控制线的规格或类型所规定，例如：相应的控制线为SATA线，根据网站的信息或根据技术人员的经验可得知该SATA线的可传输状态下的每个引脚的电平状态均为高电平以及其不用于传输工作的冗余引脚为3个作为防干扰的接地引脚；每个所述第二电平状态对应一个物理地址；整理并汇总所述第二电平状态，得到所述校验文件；
按照所述物理地址将所述第一电平状态和所述第二电平状态依次比对，若所述检测结果中的所述第一电平状态均与所述结果比对文件中的所述第二电平状态相同，则判断所述校验文件和所述检测结果匹配；当所述校验文件和所述检测结果匹配时，判断控制线的质量标准为第一标准；
若所述检测结果中存在与所述结果比对文件中的所述第二电平状态不同的所述第一电平状态，则判断所述校验文件和所述检测结果不匹配，并定义与所述结果比对文件中的所述第二电平状态不同的所述第一电平状态对应的引脚为故障引脚；当所述校验文件和所述检测结果不匹配时，判断控制线的质量标准为第二标准；此步骤通过校验文件和检测结果的比对可得出针对于控制线的每个引脚的准确的测试结果，同时也保证了控制线的接口的每个引脚都被轮询测试过，大大提高了控制线的可靠性；
S300、根据所述质量标准执行重复判断步骤；
步骤S300进一步包括：重复判断步骤为：判断所述故障引脚是否均为所述冗余引脚，获取所述故障引脚的物理地址和所述冗余引脚的物理地址，检索所述故障引脚的物理地址中是否除所述冗余引脚的物理地址外还存在其他的物理地址，若否，则判断故障引脚均为所述冗余引脚，并判断所述质量标准为第一标准，若是，则判断故障引脚非均为所述冗余引脚，并判断所述质量标准为第三标准；此步骤对于控制线的质量标准再次把关，以免出现误判的现象，导致原属于合格的产品被当做不合格的产品进行无效的检修，此步骤大大提高了控制线的测试结果的准确性并节省了测试成本；
其中，第一标准代表此控制线为合格的产品，可以投入使用；第二标准代表此控制线为待定产品，需要进一步判定是否合格；第三标准代表此控制线为不合格的产品，无法投入使用。
实施例2
本实施例提供一种基于检测模块的控制线校验***，如图3所示，包括：
总处理模块和显示模块；
总处理模块包括：信号发送模块、检测模块、校验模块和重复判断模块；检测模块上设有矩阵开关，矩阵开关上设有若干接口，所述接口可以与控制线的引脚相连接；
信号发送模块用于发送检测信号；
检测模块用于接收检测信号，并识别所述检测信号的第一物理地址，检测模块根据所述第一物理地址对所述引脚进行检测，得到检测结果；
检测模块操作时具体包括：因检测模块与引脚相连接，其每个引脚互相对应且构成闭合回路，收到检测信号后，检测模块对控制线的引脚进行测试；检测模块判断所述检测信号的物理地址；检测模块检测控制线上与所述物理地址对应物理地址的引脚的第一电平状态，并标记所述引脚；被标记的引脚代表已经测试过此回路；检测模块判断所控制线上是否存在未被标记的引脚，若是，则检测模块继续获取检测信号直到所有引脚都被标记；若否，则检测模块判断检测完成，检测模块汇总若干第一电平状态，得到所述检测结果；其中，每个第一电平状态对应一个物理地址。检测模块可以对不同类型的控制线引脚的电平状态进行检测，并进行统一比对，不用重新开发新的测试治具，极大的提高了测试的便利性；
校验模块用于构建校验文件，校验模块根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准；
校验模块操作时具体包括：校验模块根据所述控制线的类型选取所述控制线的冗余引脚；校验模块根据所述控制线的类型获取所有所述引脚的第二电平状态；每个所述第二电平状态对应一个物理地址；校验模块汇总所述第二电平状态，得到所述校验文件；
校验模块按照所述物理地址将所述第一电平状态和所述第二电平状态依次比对，若所述检测结果中的所述第一电平状态均与所述结果比对文件中的所述第二电平状态相同，则校验模块判断所述校验文件和所述检测结果匹配；当所述校验文件和所述检测结果匹配时，校验模块判断控制线的质量标准为第一标准；
若所述检测结果中存在与所述结果比对文件中的所述第二电平状态不同的所述第一电平状态，则校验模块判断所述校验文件和所述检测结果不匹配，并定义与所述结果比对文件中的所述第二电平状态不同的所述第一电平状态对应的引脚为故障引脚；当所述校验文件和所述检测结果不匹配时，校验模块判断控制线的质量标准为第二标准；校验模块通过校验文件和检测结果的比对可得出针对于控制线的每个引脚的准确的测试结果，同时也保证了控制线的接口的每个引脚都被轮询测试过，大大提高了控制线的可靠性；
重复判断模块用于根据所述质量标准执行重复判断步骤；
重复判断模块操作时具体包括：重复判断步骤为：重复判断模块判断所述故障引脚是否均为所述冗余引脚，若是，则重复判断模块判断所述质量标准为第一标准，若否，则重复判断模块判断所述质量标准为第三标准。重复判断模块执行重复判断步骤时，对于控制线的质量标准再次把关，以免出现误判的现象，导致原属于合格的产品被当做不合格的产品进行无效的检修，此步骤大大提高了控制线的测试结果的准确性并节省了测试成本。
其中，第一标准代表此控制线为合格的产品，可以投入使用；第二标准代表此控制线为待定产品，需要进一步判定是否合格；第三标准代表此控制线为不合格的产品，无法投入使用。
显示模块上设置有LCD屏幕；显示模块用于根据所述质量标准在LCD屏幕上输出对应的信息；当质量标准为第一标准时，显示模块输出“产品合格”至LCD屏幕；当质量标准为第二标准时，显示模块不会输出信息；当质量标准为第三标准时，显示模块输出“产品不合格”。
基于与前述实施例中一种基于检测模块的控制线校验方法同样的发明构思，本说明书实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述基于检测模块的控制线校验方法的步骤。
区别于现有技术，采用本申请一种基于检测模块的控制线校验方法、***及介质可以在不开发测试治具的前提下，配置检测模块，此检测模块根据检测信号对不同类型的控制线引脚的电平状态进行检测，并进行统一比对，进而实现在对不同类型的控制线进行检测时，只需要将控制线连接至此检测模块，极大的节省了前置控制线的检测成本，并提升了检测效率及准确度。
上述本发明实施例公开实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (7)
1.一种基于检测模块的控制线校验方法，所述控制线上设有第一接口，所述第一接口上设有第一引脚，其特征在于，所述检测模块上设有矩阵开关，所述矩阵开关上设有若干第二接口，所述第二接口与所述第一引脚连接，所述方法包括以下步骤：
获取检测信号，识别所述检测信号的第一物理地址；
根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测，得到检测结果；
构建校验文件，根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准；
根据所述质量标准执行重复判断步骤；
所述根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测的步骤进一步包括：获取所述第一引脚的若干第二物理地址；在若干所述第二物理地址中定义与所述第一物理地址对应的所述第二物理地址为第三物理地址；检测所述第三物理地址所对应第一引脚的第一电平状态；汇总所述第一电平状态，得到所述检测结果；
所述根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准的步骤进一步包括：比对所述检测结果和所述校验文件是否匹配；若匹配，则判断所述质量标准为第一标准；若非匹配，则判断所述质量标准为第二标准；
所述根据所述质量标准执行重复判断步骤的步骤进一步包括：当所述质量标准为所述第二标准时，执行所述重复判断步骤。
2.根据权利要求1中所述的基于检测模块的控制线校验方法，其特征在于：所述汇总所述第一电平状态的步骤进一步包括：标记所述第一电平状态所对应的所述第一引脚；判断所述控制线上是否存在未被标记的所述第一引脚；若是，则继续获取所述检测信号；若否，则汇总所述第一电平状态。
3.根据权利要求1中所述的基于检测模块的控制线校验方法，其特征在于：所述构建校验文件的步骤进一步包括：识别所述控制线的类型；根据所述类型获取所述第一引脚的第二电平状态并在所述第一引脚中选取冗余引脚；汇总所述第二电平状态，得到所述校验文件。
4.根据权利要求3中所述的基于检测模块的控制线校验方法，其特征在于：所述根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准的步骤进一步还包括：
按照所述第二物理地址依次比对所述第一电平状态和所述第二电平状态；判断所述第一电平状态是否均与其对应的所述第二电平状态匹配；若是，则判断所述检测结果与所述校验文件匹配；若否，则判断所述检测结果与所述校验文件非匹配，并定义与其对应的所述第二电平状态不匹配的第一电平状态为第三电平状态，定义所述第三电平状态对应的所述第一引脚为故障引脚。
5.根据权利要求4中所述的基于检测模块的控制线校验方法，其特征在于：所述重复判断步骤包括：判断所述故障引脚是否均为所述冗余引脚，若是，则判断所述质量标准为所述第一标准，若否，则判断所述质量标准为第三标准。
6.一种基于检测模块的控制线校验***，所述控制线上设有第一接口，所述第一接口上设有第一引脚，其特征在于，所述***包括：
信号发送模块、检测模块、校验模块和重复判断模块；所述检测模块上设有矩阵开关，所述矩阵开关与所述第一引脚连接；
所述信号发送模块用于发送检测信号；
所述检测模块用于接收所述检测信号，并识别所述检测信号的第一物理地址，所述检测模块根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测，得到检测结果；
所述校验模块用于构建校验文件，并根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准；
所述重复判断模块用于根据所述质量标准执行重复判断步骤；
所述根据所述第一物理地址对所述第一引脚进行检测进一步包括：获取所述第一引脚的若干第二物理地址；在若干所述第二物理地址中定义与所述第一物理地址对应的所述第二物理地址为第三物理地址；检测所述第三物理地址所对应第一引脚的第一电平状态；汇总所述第一电平状态，得到所述检测结果；
所述根据所述校验文件和所述检测结果判断所述控制线的质量标准进一步包括：比对所述检测结果和所述校验文件是否匹配；若匹配，则判断所述质量标准为第一标准；若非匹配，则判断所述质量标准为第二标准；
所述根据所述质量标准执行重复判断步骤进一步包括：当所述质量标准为所述第二标准时，执行所述重复判断步骤。
7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1~5中任一项所述基于检测模块的控制线校验方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110122500.2A CN112946529B (zh) | 2021-01-28 | 2021-01-28 | 一种基于检测模块的控制线校验方法、***及介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110122500.2A CN112946529B (zh) | 2021-01-28 | 2021-01-28 | 一种基于检测模块的控制线校验方法、***及介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN112946529A CN112946529A (zh) | 2021-06-11 |
| CN112946529B true CN112946529B (zh) | 2022-12-23 |
Family
ID=76239197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202110122500.2A Active CN112946529B (zh) | 2021-01-28 | 2021-01-28 | 一种基于检测模块的控制线校验方法、***及介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN112946529B (zh) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN204008994U (zh) * | 2014-08-20 | 2014-12-10 | 山东华芯半导体有限公司 | 一种多位宽大容量叠装芯片的测试板 |
| CN108107357A (zh) * | 2017-12-27 | 2018-06-01 | 金卡智能集团股份有限公司 | 带有自诊断功能的开关信号检测电路 |
| CN111044879A (zh) * | 2019-12-20 | 2020-04-21 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种快速定位主板物理接口故障位置的方法及*** |
-
2021
- 2021-01-28 CN CN202110122500.2A patent/CN112946529B/zh active Active
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN204008994U (zh) * | 2014-08-20 | 2014-12-10 | 山东华芯半导体有限公司 | 一种多位宽大容量叠装芯片的测试板 |
| CN108107357A (zh) * | 2017-12-27 | 2018-06-01 | 金卡智能集团股份有限公司 | 带有自诊断功能的开关信号检测电路 |
| CN111044879A (zh) * | 2019-12-20 | 2020-04-21 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种快速定位主板物理接口故障位置的方法及*** |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN112946529A (zh) | 2021-06-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN111767177B (zh) | Led显示屏控制卡的测试方法、装置、设备及存储介质 | |
| US20130111268A1 (en) | Testing device capable of simulating plugging and unplugging operations and method thereof | |
| TW201432278A (zh) | 自動化檢測系統及其自動化檢測方法 | |
| CN114613303B (zh) | 显示屏控制***故障预测方法及装置 | |
| CN206271394U (zh) | 一种自动检测故障的大屏幕 | |
| CN108093118A (zh) | 主板上器件的测试方法、测试装置和计算机可读存储介质 | |
| CN104239174A (zh) | Bmc远程调试***及方法 | |
| US11994970B2 (en) | Diagnostic system | |
| CN112946529B (zh) | 一种基于检测模块的控制线校验方法、***及介质 | |
| CN107544883B (zh) | 服务器的诊断装置、***和方法 | |
| US10977205B1 (en) | HDD detection system | |
| CN218568024U (zh) | 一种usb端口检测装置 | |
| CN109753396A (zh) | 一种存储***的线缆自检方法、***及服务器 | |
| CN213241134U (zh) | 一种固态硬盘的生产检测设备 | |
| CN110907857B (zh) | 一种基于fpga的连接器自动检测方法 | |
| CN205139289U (zh) | 一种200t型列控车载机柜的配线测试*** | |
| CN110361043B (zh) | 一种车载仪表故障检测***及其故障检测方法 | |
| CN202102419U (zh) | 串行连接小型计算机***接口设备检测*** | |
| CN112373419A (zh) | 一种车载多媒体下线配置功能自动测试***及方法 | |
| CN116577551B (zh) | Ssd功耗测试方法、***及电子设备 | |
| CN101752013A (zh) | 测试装置 | |
| CN200996981Y (zh) | 一种终端模块测试装置 | |
| CN213041977U (zh) | 一种线缆质量检测装置 | |
| CN219915837U (zh) | 一种多连接端口电路及具有其的细胞自动加样检测*** | |
| CN112000579B (zh) | 一种软件接口测试方法、***、设备及介质 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |