CN116184165A - Led线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***及方法 - Google Patents

Led线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***及方法 Download PDF

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CN116184165A CN202310112628.XA CN202310112628A CN116184165A CN 116184165 A CN116184165 A CN 116184165A CN 202310112628 A CN202310112628 A CN 202310112628A CN 116184165 A CN116184165 A CN 116184165A
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李明志
赵泽源
肖海莲
李彦东
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Shandong Zm Semiconductor Technology Co ltd
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Abstract

本发明属于芯片测试技术领域，公开了一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***及方法。本发明通过IC测试机***接收电脑主机的测试指令，根据测试指令生成测试信号，控制模块根据测试信号得到控制信号，根据控制信号控制DUT板，电压电流源模块根据测试信号得到电压电流信号，根据电压电流信号向待测芯片提供电压或电流使待测芯片进行测试，测量模块根据测试信号得到需测量的数据类型，根据数据类型获取待测芯片的测试数据，并将测试数据反馈至IC测试机***生成测试结果，在测试结果异常时，IC测试机***生成停止测试指令停止测试，通过上述模块能够实现对待测芯片的精准控制，实现对待测芯片的损坏情况检测，保证芯片的品质。

Description

LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***及方法
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***及方法。
背景技术
在LED线性恒流控制芯片测试过程中不可避免会出现金手指和芯片接触不好的情况，当金手指夹持芯片造成接触不好或错位造成放电时，会造成高压瞬间达到钳位电压1000V击穿恒流控制芯片，此***能够在第一时间内检测到恒流控制芯片损坏，第一时间内对设备发出停止测试的指令，同时芯片的基准电压测试能够保证芯片每个端口能够输出标准范围内的电流。
上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***及方法，旨在解决现有技术在进行芯片测试时无法及时对损坏的芯片处理的技术问题。
为实现上述目的，本发明提供了一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***，所述LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***包括：电脑主机、IC测试机***、DUT板以及待测LED线性恒流控制芯片，所述电脑主机与所述IC测试机***连接，所述IC测试机***包括电压电流源模块、测量模块以及控制模块，所述DUT板将所述电压电流源模块、测量模块以及控制模块汇集组成DUT板接口，所述待测LED线性恒流控制芯片与所述DUT板对应的接口连接；
所述IC测试机***，用于接收电脑主机的测试指令，根据所述测试指令生成测试信号；
所述控制模块，用于根据所述测试信号得到控制信号，根据所述控制信号对所述DUT板进行控制；
所述电压电流源模块，用于根据所述测试信号得到电压电流信号，并根据所述电压电流信号向待测LED线性恒流控制芯片提供电压或电流，使待测LED线性恒流控制芯片根据所述电压或电流进行测试；
所述测量模块，用于根据测试信号得到需要测量的数据类型，根据所述数据类型获取所述待测LED线性恒流控制芯片的相关测试数据，并将所述相关测试数据反馈至所述IC测试机***生成测试结果；
在所述测试结果异常时，所述IC测试机***，还用于生成停止测试指令，停止测试。
可选地，所述DUT板包括若干个继电器，所述继电器的一端与DUT板对应的接口连接，另一端与待测LED线性恒流控制芯片的引脚对应连接。
可选地，所述电压电流源模块包括高压电压电流源单元和电压电流源单元，所述控制模块包括继电器控制单元；
所述高压电压电流源单元与高压电压电流源接口连接，所述高压电压电流源接口通过对应的继电器与所述待测LED线性恒流控制芯片的VIN脚电源输入与恒流输出端口以及恒流输出端口连接；
所述电压电流源单元与电压电流源接口连接，所述电压电流源接口通过对应的继电器与所述待测LED线性恒流控制芯片的REXT输出电流值设置端口连接；
所述继电器控制单元与继电器控制接口连接，用于控制所述继电器的通断状态。
可选地，所述电压电流源模块还包括低电压电流源单元和功率电压电流源单元；
所述低电压电流源单元与低电压电流源接口连接，所述低电压电流源接口与所述待测LED线性恒流控制芯片的REXT输出电流值设置端口连接；
所述功率电压电流源单元与功率电压电流源接口连接，所述功率电压电流源接口连接与报警器的一端连接，所述报警器的另一端接地。
可选地，所述电压电流源模块包括电压电流源单元与低电压电流源单元，所述控制模块包括继电器控制单元，所述测量模块包括数字直流电压表单元；
所述电压电流源单元通过所述DUT板的电压电流源接口与对应的各个继电器连接，所述各个继电器与所述待测LED线性恒流控制芯片的恒流输出端口连接；
所述低电压电流源单元通过所述DUT板的低电压电流源单元与对应的继电器连接，所述继电器与所述待测芯片的VIN脚电源输入与恒流输出端口连接；
所述数字直流电压表单元与所述DUT板的数字直流电压表接口连接，所述数字直流电压表接口通过对应的继电器与所述待测LED线性恒流控制芯片的REXT输出电流值设置端口连接；
所述数字直流电压表接口还通过继电器与电阻的一端连接，所述电阻的另一端接地。
可选地，所述电脑主机包括PCI卡，所述电脑主机通过所述PCI卡控制所述IC测试机***的电压电流源单元、测量单元以及控制单元。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试方法，所述LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试方法应用于上述LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***，所述LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***包括：电脑主机、IC测试机***、DUT板以及待测LED线性恒流控制芯片，所述电脑主机与所述IC测试机***连接，所述IC测试机***包括电压电流源模块、测量模块以及控制模块，所述DUT板将所述电压电流源模块、测量模块以及控制模块汇集组成DUT板接口，所述待测LED线性恒流控制芯片与所述DUT板对应的接口连接；
所述LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试方法包括：
所述IC测试机***，用于接收电脑主机的测试指令，根据所述测试指令生成测试信号；
所述控制模块根据所述测试信号得到控制信号，根据所述控制信号对所述DUT板进行控制；
所述电压电流源模块根据所述测试信号得到电压电流信号，并根据所述电压电流信号向待测LED线性恒流控制芯片提供电压或电流，使待测LED线性恒流控制芯片根据所述电压或电流进行测试；
所述测量模块根据测试信号得到需要测量的数据类型，根据所述数据类型获取所述待测LED线性恒流控制芯片的相关测试数据，并将所述相关测试数据反馈至所述IC测试机***生成测试结果；
在所述测试结果异常时，所述IC测试机***，还用于生成停止测试指令，停止测试。
可选地，所述电压电流源模块包括电压电流源单元与高电压电流源单元，所述电压电流源模块根据所述测试信号得到电压电流信号，并根据所述电压电流信号向待测LED线性恒流控制芯片提供电压或电流，使待测LED线性恒流控制芯片根据所述电压或电流进行测试，包括：
所述高电压电流源单元根据所述测试信号得到高电压电流信号，为与所述高电压电流源单元连接的所述待测LED线性恒流控制芯片引脚提供目标高电流；
所述电压电流源单元根据所述测试信号得到电压电流信号，并为与所述电压电流源单元连接的所述待测LED线性恒流控制芯片的引脚提供目标电压，使所述待测LED线性恒流控制芯片根据所述目标电压与目标电流进行测试。
可选地，所述电压电流源模块还包括低电压电流源单元和功率电压电流源单元，所述电压电流源模块根据所述测试信号得到电压电流信号，并根据所述电压电流信号向待测LED线性恒流控制芯片提供电压或电流，使待测LED线性恒流控制芯片根据所述电压或电流进行测试之后，还包括：
在所述测试过程中，测试电压高于预设电压时，所述低电压电流单元根据所述测试信号得到低电压电流信号，并为与所述低电压电流单元连接的所述待测LED线性恒流控制芯片的REXT输出电流值设置端口提供目标低电流，并对所述REXT输出电流值设置端口的电压进行测量；
若所述REXT输出电流值设置端口的电压高于打火电压时，所述功率电压电源单元根据所述测试信号得到功率电压电流信号，并为与所述功率电压电流单元连接的报警器提供目标功率电压电流，使所述报警器报警。
可选地，所述电压电流源模块包括电压电流源单元与低电压电流源单元，所述控制模块包括继电器控制单元，所述测量模块包括数字直流电压表单元，所述测量模块根据测试信号得到需要测量的数据类型，根据所述数据类型获取所述待测LED线性恒流控制芯片的相关测试数据，并将所述相关测试数据反馈至所述IC测试机***生成测试结果，包括：
所述继电器控制单元根据所述测试信号得到继电器控制信号，并根据所述继电器控制信号控制对应的继电器的导通与截止；
所述低电压电流单元根据所述测试信号生成低测试电压电流信号，并为与所述低电压电流单元连接的待测LED线性恒流控制芯片的VIN脚电源输入与恒流输出端口提供目标低测试电压；
所述数字直流电压表单元根据所述测试信号得到测量信号，并根据所述测量信号与所述数字直流电压表单元连接的REXT输出电流值设置端口的电压，并将所述电压反馈至所述IC测试机***，使所述IC测试机***对所述电压判定，根据判定结果生成测试结果。
本发明通过所述IC测试机***，用于接收电脑主机的测试指令，根据所述测试指令生成测试信号，所述控制模块，用于根据所述测试信号得到控制信号，根据所述控制信号对所述DUT板进行控制，所述电压电流源模块，用于根据所述测试信号得到电压电流信号，并根据所述电压电流信号向待测LED线性恒流控制芯片提供电压或电流，使待测LED线性恒流控制芯片根据所述电压或电流进行测试，所述测量模块，用于根据测试信号得到需要测量的数据类型，根据所述数据类型获取所述待测LED线性恒流控制芯片的相关测试数据，并将所述相关测试数据反馈至所述IC测试机***生成测试结果，在所述测试结果异常时，所述IC测试机***，还用于生成停止测试指令，停止测试，通过上述模块能够实现对待测芯片的精准控制，实现对待测芯片的损坏情况检测，保证芯片的品质。
附图说明
图1为本发明一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***第一实施例的***连接示意图；
图2为本发明一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***一实施例的部件连接示意图；
图3为本发明一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***一实施例的高压测试电路连接示意图；
图4为本发明一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***一实施例的高电压测试电路和测量检测电路连接示意图；
图5为本发明一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***一实施例的芯片基准电压测试检测电路连接示意图；
图6为本发明LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试方法的流程示意图。
附图标号说明：
标号 名称 标号 名称
10 电脑主机 20 IC测试机***
30 DUT板 40 待测LED线性恒流控制芯片
20a 电压电流源模块 20b 测量模块
20c 控制模块 30a 电压电流源模块接口
30b 测量模块接口 30c 控制模块接口
101 电脑主机 305 DVM数字直流电压表接口
102 IC测试***控制软件 306 TMU时间测量接口
103 PCI卡_连接IC测试*** 307 HVIS高压电压电流源接口
201 IC测试机*** 308 UR继电器控制接口
202 PVIS功率电压电流源单元 401 金手指
203 VIS电压电流源单元 402 高功率因数LED线性恒流控制芯片
204 LVIS低电压电流源单元 PIN1 VIN脚电源输入与恒流输出端口
205 DVM数字直流电压表单元 PIN2 GND脚接地
206 TMU时间测量单元 PIN3 NC悬空脚
207 HVIS高压电压电流源单元 PIN4 REXT输出电流值设置端口
208 UR继电器控制单元 PIN5 OUT4恒流输出端口
301 DUT板接口组 PIN6 OUT3恒流输出端口
302 PVIS功率电压电流源接口 PIN7 OUT2恒流输出端口
303 VIS电压电流源接口 PIN8 OUT1恒流输出端口
304 LVIS低电压电流源接口 K1-K12 继电器控制位UR1-UR6
K13 继电器控制接地 R 精密电阻
D1 LED报警灯
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明实施例提供了一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***，参照图1，图1为本发明一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***第一实施例的***连接示意图。
本实施例中，所述LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***包括：
电脑主机10、IC测试机***20、DUT板30以及待测LED线性恒流控制芯片40，其中IC测试机***还包括电压电流源模块20a、测量模块20b以及控制模块20c,DUT板30将所述电压电流源模块20a、测量模块20b以及控制模块20c汇集成为DUT板接口，其中DUT板接口包括电压电流源模块接口30a、测量模接口30b以及控制模块接口30c，并通过所述DUT板接口与待测LED线性恒流控制芯片40连接。
所述IC测试机***20，用于接收电脑主机10的测试指令，根据所述测试指令生成测试信号；
所述控制模块20c，用于根据所述测试信号得到控制信号，根据所述控制信号对所述DUT板30进行控制；
所述电压电流源模块20a，用于根据所述测试信号得到电压电流信号，并根据所述电压电流信号向待测LED线性恒流控制芯片40提供电压或电流，使待测LED线性恒流控制芯片40根据所述电压或电流进行测试；
所述测量模块20b，用于根据测试信号得到需要测量的数据类型，根据所述数据类型获取所述待测LED线性恒流控制芯片40的相关测试数据，并将所述相关测试数据反馈至所述IC测试机***20生成测试结果；
在所述测试结果异常时，所述IC测试机***20，还用于生成停止测试指令，停止测试。
需要说明的是，所述电脑主机10能够生成测试指令，并将所述测试指令发送至所述IC测试机***20，其中所述测试指令包括测试模式，需要时间的测试条件以及硬件连接情况等，所述IC测试机***20能够接收所述电脑主机10发送的测试指令，并根据所述测试指令分析得到测试信号，所述电压电流源模块20a能够根据所述测试信号得到对应的电压电流信号，并根据所述电压电流信号得到对应的电压电流数值，为待测LED线性恒流控制芯片40提供对应的电压或电流，所述控制模块20c能够根据所述测试信号得到控制信号，并根据所述控制信号对所述DUT板进行相应控制，所述测试模块20b能够根据所述测试信号得到需要测试的数据类型，包括待测LED线性恒流控制芯片40的引脚电压或引脚电流。
在具体实现中，参照图1所示内容，电脑主机10 将测试指令发送至IC测试机***20之后，所述IC测试机***20能够根据所述测试指令生成测试信号，其中所述测试指令与测试信号是对应的，所述IC测试机***20包括三个模块，分别为电压电流源模块20a，控制模块20b以及测量模块20c，每个模块都能够对所述测试信号进行分析，得到与其对应的信号，例如所述电压电流源模块20a能够根据所述测试信号得到电压电流信号，控制模块20b能够根据所述测试信号得到控制信号，所述测量模块20c能够根据所述测试信号得到需要进行测量的数据类型。
当IC测试机***20接收到电脑主机10 发送的测试指令时，能够将所述测试指令进行相应处理，转变为能够被IC测试机***20中对应模块能够识别的测试信号，并将所述测试信号发送至IC测试机***的工作模块，使所述工作模块根据所述测试信号进行工作，控制模块20b能够根据所述控制信号对DUT板进行控制，使DUT板30与待测LED线性恒流控制芯片40按照测量测试所需的连接方式进行连接，并通过所述电压电流模块20a为所述待测LED线性恒流控制芯片40提供相应的电压或电流使所述待测LED线性恒流控制芯片40能够产生向对应的电压或电流，进而使所述测量模块20c对所述待测LED线性恒流控制芯片40进行测量，并将测量到的相关数据反馈至所述IC测试机***20，使所述IC测试机***生成对应的测试结果，在测试结果异常时，所述IC测试机***20停止测试操作。
参照图2，图2为本发明一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***一实施例的部件连接示意图。
在LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***中，电脑主机10包括电脑主机101，IC测试***控制软件102以及PCI卡103，IC测试机***20包括IC测试机***201，PVIS功率电压电流源单元202，VIS电压电流源单元203，LVIS低压电压电流源单元204，DVM数字直流电压表单元205，TMU时间测量单元206，HVIS高压电压电流源单元207，UR继电器控制单元208，其中，所述PVIS功率电压电流源单元202，VIS电压电流源单元203，LVIS低压电压电流源单元204，HVIS高压电压电流源单元207属于电压电流源模块20a，UR继电器控制单元208属于控制模块20b,DVM数字直流电压表单元205，TMU时间测量单元206属于测量模块20c。其中，VIS电压电流源单元203的工作电压电流范围为±50V的电压范围，±350mA电流范围，LVIS低电压电流源单元204的工作电压电流范围为±24V的电压范围，±250mA电流范围，PVIS功率电压电流源单元202的工作电压电流范围为±50V电压范围，±5A电流范围，DVM数字直流电压表单元205的测量范围为±50V,HVIS高压电压电流源单元207的工作电压电流范围为电压范围±1000V，电流范围±10mA。DUT板30通过将上述各个单元进行汇集，在所述DUT板30上组成DUT板接口组301，其中，DUT板接口组包括PVIS功率电压电流源单元接口302，VIS电压电流源单元接口303，LVIS低压电压电流源单元接口304，DVM数字直流电压表单元接口305，TMU时间测量单元接口306，HVIS高压电压电流源单元接口307，UR继电器控制单元接口308。通过上述各个接口组与待测高功率因数LED线性恒流控制芯片40连接，所述待测高功率因数LED线性恒流控制芯片40通过金手指401夹持，进行LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试。
在具体实现过程中，电脑主机101时作为与外接进行信息交换的窗口，能够通过实际的测试需求，通过所述IC测试机***控制软件102来控制生成对应的测试指令，在PCI卡103的作用下实现了将IC测试机***201与所述电脑主机101连通，可以进行数据交换，能够将所述测试指令发送至所述IC测试机***201或接收到所述IC测试机***201的测量数据，同时，所述DUT板30 上还包括若干个继电器，所述继电器的一端与DUT板30上对应的接口连接，另一端则与所述待测LED线性恒流控制芯片的引脚对应连接。通过对待测芯片的施加对应的电压或电流，以及继电器的导通和截止情况，来实现对芯片引脚的测量并判定测量结果，如果测量结果正常可以返回继续测试，如果测量结果异常此时测试程序会通知测试***停止继续测试。
进一步地，参照图3，图3为一实施例的高压测试电路连接示意图。在待测高功率因数LED线性恒流控制芯片40包括8个引脚，将8个引脚分别命名为PIN1脚、PIN4脚、PIN5脚、PIN6脚、PIN7脚、PIN8脚，其中这8个引脚按照功能分别对应着PIN1~PIN8为VIN脚电源输入与恒流输出端口，GND脚接地，NC悬空脚，REXT输出电流值设置端口，OUT4恒流输出端口，OUT3恒流输出端口，OUT2恒流输出端口，OUT1恒流输出端口。其中HVIS高压电压电流源接口307分别与DUT板上的继电器的常开触点K5、K4、K3、K2、K1连接，继电器的常开触点K5、K4、K3、K2、K1还与LED线性恒流控制芯片40的PIN1脚、PIN8脚、PIN7脚、PIN6脚、PIN5脚连接，VIS电压电流源接口与DUT班上的继电器的常开触点K6连接，继电器的常开触点K6与LED线性恒流控制芯片40的PIN4脚连接，继电器的导通和断开由UR继电器控制单元208通过UR继电器控制接口308进行控制，施加测试条件，闭合继电器K6，通过测试指令控制VIS电压电流源单元203对PIN4脚施加0.8V的电压，分别闭合继电器K1、K2、K3、K4、K5，通过测试指令控制HVIS高压电压电流源单元207分别对PIN8脚、PIN7脚、PIN6脚、PIN5脚、PIN1脚施加200uA的电流测试当前脚的电压，此时电压700V左右，进行高压测试。
进一步地，参照图4，图4为一实施例的高电压测试电路和测量检测电路连接示意图。高电压测试电路和测量检测电路是在如图3所示的高压测试电路的基础上得到的，在图3所示的高压测试电路的基础上，添加LVIS低压电压电流源接口304与PVIS功率电压电流源单元接口302，其中LVIS低压电压电流源接口304与待测LED线性恒流控制芯片40的REXT输出电流值设置端口连接，PVIS功率电压电流源单元接口302与报警器D1连接，报警器D1端的另一端接地。当电压测试值大于900V时，此时会出现两种情况，第一种，芯片本身有问题，可直接卡控范围筛选出来，第二种，芯片与金手指接触不好，由于电压较高，造成打火此时会造成高压瞬间达到钳位电压1000V，击穿恒流控制芯片。
进一步地，参照图5，图5为一实施例的芯片基准电压测试检测电路连接示意图。在芯片基准电压测试检测电路，PIN4脚连接K13继电器的常开触点，K13的公共端接精密电阻R到GND，其中精密电阻R的阻值优选为30Ω，同时连接K12继电器的常开触点，K12的公共端接LVIS低电压电流源接口304，PIN8脚、PIN7脚、PIN6脚、PIN5脚分别接K7、K8、K9、K10的常开触点，K7、K8、K9、K10的公共端分别接VIS电压电流源接口303，PIN1脚接K11的常开触点，K11的公共端接LVIS低电压电流源接口304，电路的导通和断开由UR继电器控制单元208通过UR继电器控制接口308进行控制，在施加测试条件时，能够通过对PIN1脚施加电压，并对PIN8脚、PIN7脚、PIN6脚、PIN5脚施加电压，通过DVM数字直流电压表单元205分别测量PIN4脚上的电压，对PIN4脚上电压的判定确定能否输出标准的电流。
本实施例通过所述IC测试机***，用于接收电脑主机的测试指令，根据所述测试指令生成测试信号，所述控制模块，用于根据所述测试信号得到控制信号，根据所述控制信号对所述DUT板进行控制，所述电压电流源模块，用于根据所述测试信号得到电压电流信号，并根据所述电压电流信号向待测LED线性恒流控制芯片提供电压或电流，使待测LED线性恒流控制芯片根据所述电压或电流进行测试，所述测量模块，用于根据测试信号得到需要测量的数据类型，根据所述数据类型获取所述待测LED线性恒流控制芯片的相关测试数据，并将所述相关测试数据反馈至所述IC测试机***生成测试结果，在所述测试结果异常时，所述IC测试机***，还用于生成停止测试指令，停止测试，通过上述模块能够实现对待测芯片的精准控制，实现对待测芯片的损坏情况检测，保证芯片的品质。
参照图6，图6为本发明LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试方法的流程示意图。
本实施例中，所述LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试方法包括以下步骤：
步骤S10：所述IC测试机***，用于接收电脑主机的测试指令，根据所述测试指令生成测试信号。
步骤S20：所述控制模块根据所述测试信号得到控制信号，根据所述控制信号对所述DUT板进行控制。
步骤S30：所述电压电流源模块根据所述测试信号得到电压电流信号，并根据所述电压电流信号向待测LED线性恒流控制芯片提供电压或电流，使待测LED线性恒流控制芯片根据所述电压或电流进行测试。
步骤S40：所述测量模块根据测试信号得到需要测量的数据类型，根据所述数据类型获取所述待测LED线性恒流控制芯片的相关测试数据，并将所述相关测试数据反馈至所述IC测试机***生成测试结果。
步骤S50：在所述测试结果异常时，所述IC测试机***，还用于生成停止测试指令，停止测试。
需要说明的是，所述LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试方法应用于LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***，所述电脑主机能够生成测试指令，并将所述测试指令发送至所述IC测试机***，其中所述测试指令包括测试模式，需要时间的测试条件以及硬件连接情况等，所述IC测试机***能够接收所述电脑主机发送的测试指令，并根据所述测试指令分析得到测试信号，所述电压电流源模块能够根据所述测试信号得到对应的电压电流信号，并根据所述电压电流信号得到对应的电压电流数值，为待测LED线性恒流控制芯片提供对应的电压或电流，所述控制模块能够根据所述测试信号得到控制信号，并根据所述控制信号对所述DUT板进行相应控制，所述测试模块能够根据所述测试信号得到需要测试的数据类型，包括待测LED线性恒流控制芯片的引脚电压或引脚电流。
在具体实现中，电脑主机中包括IC测试机***控制软件以及PCI卡，其中PCI卡是用于连接IC测试机***的，IC测试机***是在电脑主机上运行的，能够将所述IC测试机***控制软件生成的测试指令发送至IC测试机***，并根据所述IC测试机***对应的电压电流源模块，测量模块以及控制模块将对应的测试信号、控制信号以及测量信号通过DUT板的对应的接口传递至与DUT板接口相连的待测芯片，为待测芯片提供相对应的电压或者电流，以及获取待测芯片的相关电流或电压数据，并且将所得到的数据反馈至IC测试机***，使所述IC测试机***根据所测量到的数据进行测试分析，得到测试结果，在测试结果出现异常时，所述IC测试机***能够生成停止测试指令，来停止后续的测试操作。
进一步地，在进行高电压测试时，所述步骤S30还包括以下步骤：
所述高电压电流源单元根据所述测试信号得到高电压电流信号，为与所述高电压电流源单元连接的所述待测LED线性恒流控制芯片引脚提供目标高电流；
所述电压电流源单元根据所述测试信号得到电压电流信号，并为与所述电压电流源单元连接的所述待测LED线性恒流控制芯片的引脚提供目标电压，使所述待测LED线性恒流控制芯片根据所述目标电压与目标电流进行测试。
在具体实现中，待测芯片的PIN1脚、PIN4脚、PIN5脚、PIN6脚、PIN7脚、PIN8脚分别连接K6、K5、K4、K3、K2、K1继电器常开触点，继电器公共端接VIS电压电流源接口和HVIS高压电压电流源接口，继电器的导通和断开由UR继电器控制单元通过UR继电器控制接口进行控制，施加测试条件，闭合继电器K6，通过测试指令控制VIS电压电流源单元对PIN4脚施加0.8V的电压，分别闭合继电器K1、K2、K3、K4、K5，通过测试指令控制HVIS高压电压电流源单元分别对PIN8脚、PIN7脚、PIN6脚、PIN5脚、PIN1脚施加200uA的电流测试当前脚的电压，此时电压700V左右，此时待测芯片能够根据当前的电压以及电流产生相应的测试电压以及测试电流。
进一步地，在进行高电压测试时，所述方法还包括以下步骤：
在所述测试过程中，测试电压高于预设电压时，所述低电压电流单元根据所述测试信号得到低电压电流信号，并为与所述低电压电流单元连接的所述待测LED线性恒流控制芯片的REXT输出电流值设置端口提供目标低电流，并对所述REXT输出电流值设置端口的电压进行测量；
若所述REXT输出电流值设置端口的电压高于打火电压时，所述功率电压电源单元根据所述测试信号得到功率电压电流信号，并为与所述功率电压电流单元连接的报警器提供目标功率电压电流，使所述报警器报警。
在具体实现中，PIN4脚连接LVIS低电压电流源接口，PVIS功率电压电流源接口连接报警器到GND，其中所述报警器可以为任何形式的报警器，优选为LED报警灯。当测试值大于900V时，此时会出现两种情况，第一种，芯片本身有问题，可直接卡控范围筛选出来，第二种，芯片与金手指接触不好，由于电压较高，造成打火此时会造成高压瞬间达到钳位电压1000V，击穿恒流控制芯片，通过增加检测电路来区分两种的异常现象及时发现打火造成的失效，方法如下，先通过测试指令控制LVIS低电压电流源单元对PIN4脚施加-100uA电流进行电压测试，如果测量值在-1V～-0.3V的电压范围内，可进行PIN8脚、PIN7脚、PIN6脚、PIN5脚、PIN1脚的高电压测试，HVIS高压电压电流源单元分别对PIN8脚、PIN7脚、PIN6脚、PIN5脚、PIN1脚施加200uA的电流测试当前脚的电压，此时的电压值先不进行程序判定，通过检测电路对LVIS低电压电流源单元施加测量指令进行检测，施加-100uA的电流测试PIN4脚的电压，如果测量电压值大于-0.3V此时判定为打火，通过测试指令输出报警提示框停止测试，同时PVIS功率电压电流源单元施加5V电压500mA电流控制LED报警灯持续闪烁，如果测试值在-1V～-0.3V范围内，可继续进行PIN8脚、PIN7脚、PIN6脚、PIN5脚、PIN1脚的电压判定，继续进行后续的芯片测试。
进一步地，在进行基准电压测试时，还包括以下步骤：
所述继电器控制单元根据所述测试信号得到继电器控制信号，并根据所述继电器控制信号控制对应的继电器的导通与截止；
所述低电压电流单元根据所述测试信号生成低测试电压电流信号，并为与所述低电压电流单元连接的待测LED线性恒流控制芯片的VIN脚电源输入与恒流输出端口提供目标低测试电压；
所述数字直流电压表单元根据所述测试信号得到测量信号，并根据所述测量信号与所述数字直流电压表单元连接的REXT输出电流值设置端口的电压，并将所述电压反馈至所述IC测试机***，使所述IC测试机***对所述电压判定，根据判定结果生成测试结果。
在具体实现中，PIN4脚连接K13继电器的常开触点，K13的公共端接R电阻到GND，同时连接K12继电器的常开触点，K12的公共端接LVIS低电压电流源接口，PIN8脚、PIN7脚、PIN6脚、PIN5脚分别接K7、K8、K9、K10的常开触点，K7、K8、K9、K10的公共端分别接VIS电压电流源接口，PIN1脚接K11的常开触点，K11的公共端接LVIS低电压电流源接口，电路的导通和断开由UR继电器控制单元通过UR继电器控制接口进行控制，施加测试条件，闭合继电器K13，R电阻到GND，闭合继电器K11，PIN1脚连接LVIS低电压电流源单元，通过测试指令控制LVIS低电压电流源单元对PIN1脚施加15V的电压，分别闭合继电器K7、K8、K9、K10，通过测试指令控制VIS电压电流源单元分别对PIN8脚、PIN7脚、PIN6脚、PIN5脚施加15V的电压，闭合继电器K12，DVM数字直流电压表单元分别测量PIN4脚上的电压，电压中心值分别为0.94V，0.865，0.695，0.55V，通过对PIN4脚上电压的判定，范围±3%，可以保证PIN8脚、PIN7脚、PIN6脚、PIN5脚能够输出标准的电流，超出部分可判定为失效。
本实施例通过所述IC测试机***接收电脑主机的测试指令，根据所述测试指令生成测试信号，所述控制模块根据所述测试信号得到控制信号，根据所述控制信号对所述DUT板进行控制，所述电压电流源模块根据所述测试信号得到电压电流信号，并根据所述电压电流信号向待测LED线性恒流控制芯片提供电压或电流，使待测LED线性恒流控制芯片根据所述电压或电流进行测试，所述测量模块根据测试信号得到需要测量的数据类型，根据所述数据类型获取所述待测LED线性恒流控制芯片的相关测试数据，并将所述相关测试数据反馈至所述IC测试机***生成测试结果，在所述测试结果异常时，所述IC测试机***生成停止测试指令，停止测试，通过上述模块能够实现对待测芯片的精准控制，实现对待测芯片的损坏情况检测，保证芯片的品质。
应当理解的是，以上仅为举例说明，对本发明的技术方案并不构成任何限定，在具体应用中，本领域的技术人员可以根据需要进行设置，本发明对此不做限制。
需要说明的是，以上所描述的工作流程仅仅是示意性的，并不对本发明的保护范围构成限定，在实际应用中，本领域的技术人员可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部来实现本实施例方案的目的，此处不做限制。
此外，需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者***不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者***所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者***中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质（如只读存储器（Read Only Memory，ROM）/RAM、磁碟、光盘）中，包括若干指令用以使得一台终端设备（可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***，其特征在于，所述LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***包括：电脑主机、IC测试机***、DUT板以及待测LED线性恒流控制芯片，所述电脑主机与所述IC测试机***连接，所述IC测试机***包括电压电流源模块、测量模块以及控制模块，所述DUT板将所述电压电流源模块、测量模块以及控制模块汇集组成DUT板接口，所述待测LED线性恒流控制芯片与所述DUT板对应的接口连接；
所述IC测试机***，用于接收电脑主机的测试指令，根据所述测试指令生成测试信号；
所述控制模块，用于根据所述测试信号得到控制信号，根据所述控制信号对所述DUT板进行控制；
所述电压电流源模块，用于根据所述测试信号得到电压电流信号，并根据所述电压电流信号向待测LED线性恒流控制芯片提供电压或电流，使待测LED线性恒流控制芯片根据所述电压或电流进行测试；
所述测量模块，用于根据测试信号得到需要测量的数据类型，根据所述数据类型获取所述待测LED线性恒流控制芯片的相关测试数据，并将所述相关测试数据反馈至所述IC测试机***生成测试结果；
在所述测试结果异常时，所述IC测试机***，还用于生成停止测试指令，停止测试。
2.如权利要求1所述的***，其特征在于，所述DUT板包括若干个继电器，所述继电器的一端与DUT板对应的接口连接，另一端与待测LED线性恒流控制芯片的引脚对应连接。
3.如权利要求2所述的***，其特征在于，所述电压电流源模块包括高压电压电流源单元和电压电流源单元，所述控制模块包括继电器控制单元；
所述高压电压电流源单元与高压电压电流源接口连接，所述高压电压电流源接口通过对应的继电器与所述待测LED线性恒流控制芯片的VIN脚电源输入与恒流输出端口以及恒流输出端口连接；
所述电压电流源单元与电压电流源接口连接，所述电压电流源接口通过对应的继电器与所述待测LED线性恒流控制芯片的REXT输出电流值设置端口连接；
所述继电器控制单元与继电器控制接口连接，用于控制所述继电器的通断状态。
4.如权利要求3所述的***，其特征在于，所述电压电流源模块还包括低电压电流源单元和功率电压电流源单元；
所述低电压电流源单元与低电压电流源接口连接，所述低电压电流源接口与所述待测LED线性恒流控制芯片的REXT输出电流值设置端口连接；
所述功率电压电流源单元与功率电压电流源接口连接，所述功率电压电流源接口连接与报警器的一端连接，所述报警器的另一端接地。
5.如权利要求2所述的***，其特征在于，所述电压电流源模块包括电压电流源单元与低电压电流源单元，所述控制模块包括继电器控制单元，所述测量模块包括数字直流电压表单元；
所述电压电流源单元通过所述DUT板的电压电流源接口与对应的各个继电器连接，所述各个继电器与所述待测LED线性恒流控制芯片的恒流输出端口连接；
所述低电压电流源单元通过所述DUT板的低电压电流源单元与对应的继电器连接，所述继电器与所述待测芯片的VIN脚电源输入与恒流输出端口连接；
所述数字直流电压表单元与所述DUT板的数字直流电压表接口连接，所述数字直流电压表接口通过对应的继电器与所述待测LED线性恒流控制芯片的REXT输出电流值设置端口连接；
所述数字直流电压表接口还通过继电器与电阻的一端连接，所述电阻的另一端接地。
6.如权利要求1所述的***，其特征在于，所述电脑主机包括PCI卡，所述电脑主机通过所述PCI卡控制所述IC测试机***的电压电流源单元、测量单元以及控制单元。
7.一种LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试方法，其特征在于，所述LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试方法应用于如权利1-6所述的LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***，所述LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试***包括：电脑主机、IC测试机***、DUT板以及待测LED线性恒流控制芯片，所述电脑主机与所述IC测试机***连接，所述IC测试机***包括电压电流源模块、测量模块以及控制模块，所述DUT板将所述电压电流源模块、测量模块以及控制模块汇集组成DUT板接口，所述待测LED线性恒流控制芯片与所述DUT板对应的接口连接；
所述LED线性恒流控制芯片高压及基准电压测试方法包括：
所述IC测试机***，用于接收电脑主机的测试指令，根据所述测试指令生成测试信号；
所述控制模块根据所述测试信号得到控制信号，根据所述控制信号对所述DUT板进行控制；
所述电压电流源模块根据所述测试信号得到电压电流信号，并根据所述电压电流信号向待测LED线性恒流控制芯片提供电压或电流，使待测LED线性恒流控制芯片根据所述电压或电流进行测试；
所述测量模块根据测试信号得到需要测量的数据类型，根据所述数据类型获取所述待测LED线性恒流控制芯片的相关测试数据，并将所述相关测试数据反馈至所述IC测试机***生成测试结果；
在所述测试结果异常时，所述IC测试机***，还用于生成停止测试指令，停止测试。
8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述电压电流源模块包括电压电流源单元与高电压电流源单元，所述电压电流源模块根据所述测试信号得到电压电流信号，并根据所述电压电流信号向待测LED线性恒流控制芯片提供电压或电流，使待测LED线性恒流控制芯片根据所述电压或电流进行测试，包括：
所述高电压电流源单元根据所述测试信号得到高电压电流信号，为与所述高电压电流源单元连接的所述待测LED线性恒流控制芯片引脚提供目标高电流；
所述电压电流源单元根据所述测试信号得到电压电流信号，并为与所述电压电流源单元连接的所述待测LED线性恒流控制芯片的引脚提供目标电压，使所述待测LED线性恒流控制芯片根据所述目标电压与目标电流进行测试。
9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述电压电流源模块还包括低电压电流源单元和功率电压电流源单元，所述电压电流源模块根据所述测试信号得到电压电流信号，并根据所述电压电流信号向待测LED线性恒流控制芯片提供电压或电流，使待测LED线性恒流控制芯片根据所述电压或电流进行测试之后，还包括：
在所述测试过程中，测试电压高于预设电压时，所述低电压电流单元根据所述测试信号得到低电压电流信号，并为与所述低电压电流单元连接的所述待测LED线性恒流控制芯片的REXT输出电流值设置端口提供目标低电流，并对所述REXT输出电流值设置端口的电压进行测量；
若所述REXT输出电流值设置端口的电压高于打火电压时，所述功率电压电源单元根据所述测试信号得到功率电压电流信号，并为与所述功率电压电流单元连接的报警器提供目标功率电压电流，使所述报警器报警。
10.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述电压电流源模块包括电压电流源单元与低电压电流源单元，所述控制模块包括继电器控制单元，所述测量模块包括数字直流电压表单元，所述测量模块根据测试信号得到需要测量的数据类型，根据所述数据类型获取所述待测LED线性恒流控制芯片的相关测试数据，并将所述相关测试数据反馈至所述IC测试机***生成测试结果，包括：
所述继电器控制单元根据所述测试信号得到继电器控制信号，并根据所述继电器控制信号控制对应的继电器的导通与截止；
所述低电压电流单元根据所述测试信号生成低测试电压电流信号，并为与所述低电压电流单元连接的待测LED线性恒流控制芯片的VIN脚电源输入与恒流输出端口提供目标低测试电压；
所述数字直流电压表单元根据所述测试信号得到测量信号，并根据所述测量信号与所述数字直流电压表单元连接的REXT输出电流值设置端口的电压，并将所述电压反馈至所述IC测试机***，使所述IC测试机***对所述电压判定，根据判定结果生成测试结果。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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