CN115656775A - 一种仪表放大器失调电压测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种仪表放大器失调电压测试方法及装置，涉及放大器(或集成电路)测试技术领域，方法包括：通过标准仪表放大器与被测仪表放大器组成组配体，测试设置标准仪表放大器与被测仪表放大器两组增益下组配体的两个总失调电压，即可以实现准确的测试仪表放大器输入失调电压和输出失调电压，装置包括：第一条件施加模块、第一总失调电压获取模块、第二条件施加模块、第二总失调电压获取模块、第一计算模块、第二计算模块、第三计算模块、输出模块。该方法和装置可以以较低的测试资源要求获得较高的测试精度结果，可以进行自动化测试。

Description

一种仪表放大器失调电压测试方法及装置

技术领域

本发明涉及放大器(或集成电路)测试技术领域，更具体的涉及一种仪表放大器失调电压测试方法及装置。

背景技术

仪表放大器失调电压分为输入失调电压和输出失调电压，一般都通过总失调电压近似替代输入失调电压的方法，或通过不同增益条件下测得两组总失调电压来求解方程的方法来实现。

现有的近似替代的方法测试准确性很低，无法对输入失调电压和输出失调电压进行准确测试；现有的不同增益条件下测试两组总失调电压的方法，对测试仪器的精度要求很高、不便于实现自动化测试。

发明内容

本发明实施例提供一种仪表放大器失调电压测试方法及装置，包括：

对包括被测仪表放大器和与被测仪表放大器同型号的标准仪表放大器的组配体施加第一组配条件，第一组配条件为被测仪表放大器的增益值为第一数值，标准仪表放大器的增益值为第二数值；第一数值与第二数值的乘积为固定值；

获取在第一组配条件下，标准仪表放大器的第一总失调电压、组配体的第一总失调电压；

对组配体施加第二组配条件，第二组配条件为被测仪表放大器的增益值为第二数值，标准仪表放大器的增益值为第一数值；

获取在第二组配条件下，标准仪表放大器的第二总失调电压、组配体的第二总失调电压；

基于预先确定的组配体内部器件的失调电压关系式、第二数值、标准仪表放大器的第一总失调电压、组配体的第一总失调电压，确定被测仪表放大器在第一组配条件下的第一总失调电压；

基于失调电压关系式、第一数值、标准仪表放大器的第二总失调电压、组配体的第二总失调电压，确定被测仪表放大器在第二组配条件下的第二总失调电压；

基于第一总失调电压和第二总失调电压，确定被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

可选的，在基于第一总失调电压和第二总失调电压，确定被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压之前，包括：

利用预先确定的第一转换关系式，确定被测仪表放大器的失调电压与第一总失调电压的第一等式关系，以及被测仪表放大器的失调电压与第二总失调电压的第二等式关系；

转换关系式为被测仪表放大器的总失调电压与被测仪表放大器输入失调电压、被测仪表放大器的输出失调电压、被测仪表放大器的增益之间的转换关系式。

可选的，基于第一总失调电压和第二总失调电压，确定被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压，包括：

将第一总失调电压、第二总失调电压分别代入第一等式关系、第二等式关系中，得到被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

可选的，组配体的连接方式为：

标准仪表放大器的输入端为组配体的输入端，标准仪表放大器的输出端连接被测仪表放大器的正相输入端，被测仪表放大器的反相输入端与接地端连接，被测仪表放大器的输出端为组配体的输出端；

标准仪表放大器和被测仪表放大器的负电源端连接第一供电电源的正电源端，标准仪表放大器和被测仪表放大器的正电源端连接第一供电电源的负电源端。

可选的，组配体设置于测试电路中，在测试电路中：

组配体的反相输入端与第一电阻的第一端连接，组配体的正相输入端与第二电阻的第一端连接，第一电阻的第二端、第二电阻的第二端分别与接地端连接；组配体的输出端连接第三电阻的第一端，第三电阻的第二端连接第四电阻的第一端，第四电阻的第二端连接基准电压端；

测试电路中还包括辅助运放，辅助运放的正相输入端与第三电阻的第二端连接，辅助运放的负相输入端与接地端连接，辅助运放的输出端与第五电阻的第一端连接，第五电阻的第二端与组配体的负相输入端连接；辅助运放的输出端为电路的输出端；

辅助运放的负电源端连接第二供电电源的正电源端，辅助运放的正电源端连接第二供电电源的负电源端。

本发明还提供一种仪表放大器失调电压测试装置，装置包括：

第一条件施加模块，用于对包括被测仪表放大器和与被测仪表放大器同型号的标准仪表放大器的组配体施加第一组配条件，第一组配条件为被测仪表放大器的增益值为第一数值，标准仪表放大器的增益值为第二数值；第一数值与第二数值的乘积始终为固定值；

第一总失调电压获取模块，用于获取在第一组配条件下，标准仪表放大器的第一总失调电压、组配体的第一总失调电压；

第二条件施加模块，对组配体施加第二组配条件，第二组配条件为被测仪表放大器的增益值为第二数值，标准仪表放大器的增益值为第一数值；

第二总失调电压获取模块，获取在第二组配条件下，标准仪表放大器的第二总失调电压、组配体的第二总失调电压；

第一计算模块，基于预先确定的组配体内部器件的失调电压关系式、第二数值、标准仪表放大器的第一总失调电压、组配体的第一总失调电压，确定被测仪表放大器在第一组配条件下的第一总失调电压；

第二计算模块，基于失调电压关系式、第一数值、标准仪表放大器的第二总失调电压、组配体的第二总失调电压，确定被测仪表放大器在第二组配条件下的第二总失调电压；

输出模块，基于第一总失调电压和第二总失调电压，确定被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

可选的，装置还包括：

第三计算模块，利用预先确定的第一转换关系式，确定被测仪表放大器的失调电压与第一总失调电压的第一等式关系，以及被测仪表放大器的失调电压与第二总失调电压的第二等式关系；

转换关系式为被测仪表放大器的总失调电压与被测仪表放大器输入失调电压、被测仪表放大器的输出失调电压、被测仪表放大器的增益之间的转换关系式。

可选的，第三计算模块还用于：

将第一总失调电压、第二总失调电压分别代入第一等式关系、第二等式关系中，得到被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

本发明还提供一种电子设备，电子设备包括处理器和存储器，存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集由处理器加载并执行以实现仪表放大器失调电压测试方法。

本发明还提供一种计算机可读存储介质，存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集由处理器加载并执行以实现仪表放大器失调电压测试方法。

本发明实施例提供一种仪表放大器失调电压测试方法及装置，与现有技术相比，其有益效果如下：

本发明通过标准仪表放大器与被测仪表放大器组成组配体，测试设置标准仪表放大器与被测仪表放大器两组增益下组配体的两个总失调电压，即可以实现准确的测试仪表放大器输入失调电压和输出失调电压，该实施方式可以非常便捷的延申到失调电压测试向关联的仪表放大器共模抑制比、电源电压抑制比、增益等其他参数的测试，准确测试仪表放大器输入失调电压和输出失调电压所要求的测试仪器精度降低，能够较为便捷的实现自动化测试。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还能够根据这些附图获得其它附图。

图1为本发明实施例提供的一种仪表放大器失调电压测试方法流程图；

图2为本发明实施例提供的一种组配体的电路结构图；

图3为本发明实施例提供的一种测试电路结构图；

图4为本发明实施例提供的一种仪表放大器失调电压测试装置结构框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本说明书提供了如实施例或流程图所述的方法操作步骤，但基于常规或无创造性的劳动可以包括更多或者更少的操作步骤。在实际中的电路或服务器产品执行时，可以按照实施例或者附图所示的方法顺序执行或者并行执行(例如并行处理器或者多线程处理的环境)。

图1是一种仪表放大器失调电压测试方法流程图，包括：

步骤101、对包括被测仪表放大器和与所述被测仪表放大器同型号的标准仪表放大器的组配体施加第一组配条件，第一组配条件为被测仪表放大器的增益值为第一数值，标准仪表放大器的增益值为第二数值；第一数值与第二数值的乘积为固定值；

被测仪表放大器是仪表仪表放大器，其增益范围可调，增益一般在1-1000的范围之内，将被测仪表放大器与被测仪表放大器组装为固定增益、且增益最大的组配体；选取与被测仪表放大器同型号的被测仪表放大器，对它的总输入失调电压、输入失调电压、输出失调电压、增益等关联参数进行准确测试并标定；被测仪表放大器，是其各项指标偏差在规定的范围内的仪表放大器，在组配体内，为了计算的方便和测算的准确，组配体的固定增益选择1000倍。第一组配条件包括标准仪表放大器与被测仪表放大器增益分别为：G’＝1000和G＝1。选择标准仪表放大器与被测仪表放大器增益分别最大值和最小值是为了使两者的比值最大或者最小，从而对计算的精度影响最低，从而最准确测量被测仪表放大器的失调电压。

步骤102、获取在第一组配条件下，标准仪表放大器的第一总失调电压、组配体的第一总失调电压；

标准仪表放大器第一总失调电压通过标定后获得，组配体的第一总失调电压通过测试电路获得。失调电压包括输入失调电压和输出失调电压，输入失调电压，指在差分放大器或差分输入的运算放大器中，为了在输出端获得恒定的零电压输出，而需在两个输入端所加的直流电压之差，此参数表征差分放大器的本级匹配程度，在差分放大器的两个输入端加有相等的输入电压时，差分输出电压称为输出失调电压；失调电压是运放的最重要参数之一，运放由众多的晶体管组成，由两路(目的在于设计一致)的晶体管组成第一级差分输入级；然而，由于晶体管的参杂工艺参差不齐，导致晶体管参数各异，在相同的条件下，显示出来的电气特性各式各样，最终就有了失调电压。总失调电压是仪表放大器所有的失调电压的总和。通过一般测试线路和方法测量总失调电压，如通过《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》即可测量组配体和标准仪表放大器的总失调电压。

步骤103、对组配体施加第二组配条件，第二组配条件为被测仪表放大器的增益值为第二数值，标准仪表放大器的增益值为第一数值；

第二组配条件包括标准仪表放大器与被测仪表放大器增益分别为：G’＝1且G＝1000，同样，选择标准仪表放大器与被测仪表放大器增益分别最大值和最小值是为了使两者的比值最大或者最小，从而对计算的精度影响最低，从而最准确测量被测仪表放大器的失调电压。

步骤104、获取在第二组配条件下，标准仪表放大器的第二总失调电压、组配体的第二总失调电压；

在同一组配体的情况下，调整标准仪表放大器和被测仪表放大器的增益，通过在组配体上互换标准仪表放大器和测试仪表放大器增益的方法，获得第二组组配体和标准仪表放大器的第二总失调电压，而此处标准仪表放大器的总失调电压是恒定的，通过标定后其相关参数中可查。

步骤105、基于预先确定的组配体内部器件的失调电压关系式、第二数值、标准仪表放大器的第一总失调电压、组配体的第一总失调电压，确定被测仪表放大器在第一组配条件下的第一总失调电压；

预先确定的组配体内部器件的失调电压关系式为Vos＝(VosT-Vos’)*G’；其中，Vos为被测仪表放大器总失调电压、Vos’为标准仪表放大器总失调电压、VosT为组配体总失调电压、G’为标准仪表放大器增益；在失调电压关系式中，输入标准仪表放大器增益G’的第二数值1000、标准仪表放大器的第一总失调电压、组配体的第一总失调电压，输出被测仪表放大器在第一组配条件下的第一总失调电压Vos1。

步骤106、基于失调电压关系式、第一数值、标准仪表放大器的第二总失调电压、组配体的第二总失调电压，确定被测仪表放大器在第二组配条件下的第二总失调电压；

采用与上一步同样的关系式，输入标准仪表放大器增益的第一数值1、标准仪表放大器的第二总失调电压、组配体的第二总失调电压，输出被测仪表放大器在第二组配条件下的第二总失调电压Vos2。

步骤107、基于第一总失调电压Vos1和第二总失调电压Vos2，确定被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

通过将第一组配体条件下获得的第一被测仪表放大器总失调电压和第二组配体条件下获得的第二被测仪表放大器总失调电压，通过将第一被测仪表放大器总失调电压和第二被测仪表放大器总失调电压以及相关的两个标准仪表放大器的增益，代入Vos＝(VosT-Vos’)*G’，求解出输入失调电压等于组配体第二总失调电压，输出失调电压等于组配体第二总失调电压减去第一总失调电压。这样通过合理设置组配体的增益参数，即可得到准确的测量仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

综上，本发明通过标准仪表放大器与被测仪表放大器组成组配体，测试设置标准仪表放大器与被测仪表放大器两组增益下组配体的两个总失调电压，即可以实现准确的测试仪表放大器输入失调电压和输出失调电压，该实施方式可以非常便捷的延申到失调电压测试向关联的仪表放大器共模抑制比、电源电压抑制比、增益等其他参数的测试，准确测试仪表放大器输入失调电压和输出失调电压所要求的测试仪器精度降低，能够较为便捷的实现自动化测试。

在一种可能的实施方式中，在基于所述第一总失调电压和所述第二总失调电压，确定所述被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压之前，还包括：

步骤201、利用预先确定的第一转换关系式，确定所述被测仪表放大器的失调电压与所述第一总失调电压的第一等式关系，以及所述被测仪表放大器的失调电压与所述第二总失调电压的第二等式关系；

将被测仪表放大器的失调电压作为未知参数，将第一组配条件下的被测仪表放大器的增益G＝1，和第一组配条件下的标准仪表放大器的增益对应的第一总失调电压Vos1，作为关系式第一组已知量，将第二组配条件下的被测仪表放大器的增益G＝1000，和第二组配条件下的标准仪表放大器的增益对应的第二总失调电压Vos2，作为关系式第二组已知量。

步骤202、转换关系式为被测仪表放大器的总失调电压与所述被测仪表放大器输入失调电压、所述被测仪表放大器的输出失调电压、所述被测仪表放大器的增益之间的转换关系式。

转换关系式包括：Vos＝VosI+Voso/G；

其中，VosI表示被测仪表放大器输入失调电压，Voso表示被测仪表放大器输出失调电压值，G表示被测仪表放大器的增益。

在一种可能的实施方式中，基于第一总失调电压和第二总失调电压，确定被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压，包括：

步骤301、将第一总失调电压、第二总失调电压分别代入第一等式关系、第二等式关系中，得到被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

根据两组已知量，Vos1和Vos2，两个未知量，VosI和Voso，及转换关系式获得VosI和Voso的值。

具体的，VosI＝1000/999*Vos1-Vos2/999≈1.001*Vos1-0.001*Vos2；

Voso＝1000/999*(Vos2-Vos1)≈1.001*(Vos2-Vos1)。

综上，通过获得第一总失调电压，和第二总失调电压即可得到被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压，而通过测量标准仪表放大器总失调电压Vos’，组配体总失调电压VosT，标准仪表放大器增益G’和关系式Vos＝(VosT-Vos’)*G’即可得到第一总失调电压，和第二总失调电压，因此通过上述方法步骤即可获得准确的被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

在一种可能的实施方式中，组配体的连接方式为：

标准仪表放大器的输入端为组配体的输入端，标准仪表放大器的输出端连接被测仪表放大器的正相输入端，被测仪表放大器的反相输入端与接地端连接，被测仪表放大器的输出端为组配体的输出端；

标准仪表放大器和被测仪表放大器的负电源端连接第一供电电源的正电源端，标准仪表放大器和被测仪表放大器的正电源端连接第一供电电源的负电源端。

具体地，图2为本发明实施例提供的一种组配体的电路结构图。

如图2所示，在本发明提供的实施例中，组配体300的输入端采用标准仪表放大器100的输入端，将标准仪表放大器100的输出端与被测仪表放大器200的同向输入端连接，将被测仪表放大器200的输出端作为组配体300的输出端，被测仪表放大器200的反向输入端接地，组配体300的负电源端连接标准仪表放大器100和被测仪表放大器200的共同的正电源连接端，组配体的正电源连接标准仪表放大器100和被测仪表放大器200的共同的负电源连接端。

综上，本发明将被测器件和同型号标准仪表放大器组成组配体，将复杂测试程式简化为通用测试程式。

在一种可能的实现方式中，组配体设置于测试电路中，在所测试电路中，组配体的反相输入端与第一电阻的第一端连接，组配体的正相输入端与第二电阻的第一端连接，第一电阻的第二端、第二电阻的第二端分别与接地端连接；组配体的输出端连接第三电阻的第一端，第三电阻的第二端连接第四电阻的第一端，第四电阻的第二端连接基准电压端；

电路中还包括辅助运放，辅助运放的正相输入端与第三电阻的第二端连接，辅助运放的负相输入端与接地端连接，辅助运放的输出端与第五电阻的第一端连接，第五电阻的第二端与组配体的负相输入端连接；辅助运放的输出端为电路的输出端；

辅助运放的负电源端连接第二供电电源的正电源端，辅助运放的正电源端连接第二供电电源的负电源端。

图3是为本发明实施例提供的一种测试电路的结构图。

具体地，如图3所示，在本发明的实施例中，将组配体300的同向输入端和反向输入端分别与第一电阻R1和第二电阻R2串联后接地；将组配体300的输出端与第三电阻R3串联后，连接辅助运放400的同相输入端；将辅助运放400的同相输入端连接第四电阻R4，第四电阻R4另一端接参考点；将辅助运放400的反相输入端接地；将辅助运放400的输出端与组配体300的反向输入端通过第四电阻RF连接；其中，R₁＝R₂。辅助运放400的输出端为测试电路的输出端，输出端的电压为V_L，辅助运放400的负电源端连接供电电源的正电源端，辅助运放400的正电源端连接供电电源的负电源端，根据《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》可知，

其中vos为组配体300的总失调电压。

综上，使用通用测试***和方法测试仪表放大器的失调电压，方法简单，易于实现。

图4是为本发明实施例提供的一种仪表放大器失调电压测试装置的结构框图。如图4所示，所述装置500包括：

第一条件施加模块501，用于对包括被测仪表放大器和与所述被测仪表放大器同型号的标准仪表放大器的组配体施加第一组配条件，所述第一组配条件为所述被测仪表放大器的增益值为第一数值，所述标准仪表放大器的增益值为第二数值；所述第一数值与所述第二数值的乘积始终为固定值；

第一总失调电压获取模块502，用于获取在所述第一组配条件下，所述标准仪表放大器的第一总失调电压、所述组配体的第一总失调电压；

第二条件施加模块503，对所述组配体施加第二组配条件，所述第二组配条件为所述被测仪表放大器的增益值为所述第二数值，所述标准仪表放大器的增益值为所述第一数值；

第二总失调电压获取模块504，获取在所述第二组配条件下，所述标准仪表放大器的第二总失调电压、所述组配体的第二总失调电压；

第一计算模块505，基于预先确定的组配体内部器件的失调电压关系式、所述第二数值、所述标准仪表放大器的第一总失调电压、所述组配体的第一总失调电压，确定所述被测仪表放大器在所述第一组配条件下的第一总失调电压；

第二计算模块506，基于所述失调电压关系式、所述第一数值、所述标准仪表放大器的第二总失调电压、所述组配体的第二总失调电压，确定所述被测仪表放大器在所述第二组配条件下的第二总失调电压；

输出模块508，基于所述第一总失调电压和所述第二总失调电压，确定所述被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

在一种可能的实施方式中，所述装置还包括：

第三计算模块507，利用预先确定的第一转换关系式，确定所述被测仪表放大器的失调电压与所述第一总失调电压的第一等式关系，以及所述被测仪表放大器的失调电压与所述第二总失调电压的第二等式关系；

转换关系式为被测仪表放大器的总失调电压与所述被测仪表放大器输入失调电压、所述被测仪表放大器的输出失调电压、所述被测仪表放大器的增益之间的转换关系式。

在一种可能的实施方式中，第三计算模块507还用于：

将所述第一总失调电压、所述第二总失调电压分别代入所述第一等式关系、所述第二等式关系中，得到所述被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

在本发明提供的可能的实施例中，还提供了一种设备，所述设备包括处理器和存储器，所述存储器种存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现本发明实施例中所述的点云数据的可视化处理方法。

在本发明提供的可能的实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由处理器加载并执行以实现本发明实施例中所述的点云数据的可视化处理方法。

在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本发明实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质，(例如，软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如，DVD)、或者半导体介质(例如固态硬盘Solid State Disk(SSD))等。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于电路实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种仪表放大器失调电压测试方法，其特征在于，所述方法包括：

对包括被测仪表放大器和与所述被测仪表放大器同型号的标准仪表放大器的组配体施加第一组配条件，所述第一组配条件为所述被测仪表放大器的增益值为第一数值，所述标准仪表放大器的增益值为第二数值；所述第一数值与所述第二数值的乘积为固定值；

获取在所述第一组配条件下，所述标准仪表放大器的第一总失调电压、所述组配体的第一总失调电压；

对所述组配体施加第二组配条件，所述第二组配条件为所述被测仪表放大器的增益值为所述第二数值，所述标准仪表放大器的增益值为所述第一数值；

获取在所述第二组配条件下，所述标准仪表放大器的第二总失调电压、所述组配体的第二总失调电压；

基于预先确定的组配体内部器件的失调电压关系式、所述第二数值、所述标准仪表放大器的第一总失调电压、所述组配体的第一总失调电压，确定所述被测仪表放大器在所述第一组配条件下的第一总失调电压；

基于所述失调电压关系式、所述第一数值、所述标准仪表放大器的第二总失调电压、所述组配体的第二总失调电压，确定所述被测仪表放大器在所述第二组配条件下的第二总失调电压；

基于所述第一总失调电压和所述第二总失调电压，确定所述被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在基于所述第一总失调电压和所述第二总失调电压，确定所述被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压之前，包括：

利用预先确定的第一转换关系式，确定所述被测仪表放大器的失调电压与所述第一总失调电压的第一等式关系，以及所述被测仪表放大器的失调电压与所述第二总失调电压的第二等式关系；

所述转换关系式为被测仪表放大器的总失调电压与所述被测仪表放大器输入失调电压、所述被测仪表放大器的输出失调电压、所述被测仪表放大器的增益之间的转换关系式。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一总失调电压和所述第二总失调电压，确定所述被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压，包括：

将所述第一总失调电压、所述第二总失调电压分别代入所述第一等式关系、所述第二等式关系中，得到所述被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述组配体的连接方式为：

所述标准仪表放大器的输入端为所述组配体的输入端，所述标准仪表放大器的输出端连接所述被测仪表放大器的正相输入端，所述被测仪表放大器的反相输入端与接地端连接，所述被测仪表放大器的输出端为所述组配体的输出端；

所述标准仪表放大器和所述被测仪表放大器的负电源端连接第一供电电源的正电源端，所述标准仪表放大器和所述被测仪表放大器的正电源端连接所述第一供电电源的负电源端。

5.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述组配体设置于测试电路中，在所述测试电路中：

所述组配体的反相输入端与第一电阻的第一端连接，所述组配体的正相输入端与第二电阻的第一端连接，所述第一电阻的第二端、所述第二电阻的第二端分别与接地端连接；所述组配体的输出端连接第三电阻的第一端，所述第三电阻的第二端连接第四电阻的第一端，所述第四电阻的第二端连接基准电压端；

所述测试电路中还包括辅助运放，所述辅助运放的正相输入端与所述第三电阻的第二端连接，所述辅助运放的负相输入端与接地端连接，所述辅助运放的输出端与第五电阻的第一端连接，所述第五电阻的第二端与所述组配体的负相输入端连接；所述辅助运放的输出端为所述电路的输出端；

所述辅助运放的负电源端连接第二供电电源的正电源端，所述辅助运放的正电源端连接所述第二供电电源的负电源端。

6.一种仪表放大器失调电压测试装置，其特征在于，所述装置包括：

第一条件施加模块，用于对包括被测仪表放大器和与所述被测仪表放大器同型号的标准仪表放大器的组配体施加第一组配条件，所述第一组配条件为所述被测仪表放大器的增益值为第一数值，所述标准仪表放大器的增益值为第二数值；所述第一数值与所述第二数值的乘积始终为固定值；

第一总失调电压获取模块，用于获取在所述第一组配条件下，所述标准仪表放大器的第一总失调电压、所述组配体的第一总失调电压；

第二条件施加模块，对所述组配体施加第二组配条件，所述第二组配条件为所述被测仪表放大器的增益值为所述第二数值，所述标准仪表放大器的增益值为所述第一数值；

第二总失调电压获取模块，获取在所述第二组配条件下，所述标准仪表放大器的第二总失调电压、所述组配体的第二总失调电压；

第一计算模块，基于预先确定的组配体内部器件的失调电压关系式、所述第二数值、所述标准仪表放大器的第一总失调电压、所述组配体的第一总失调电压，确定所述被测仪表放大器在所述第一组配条件下的第一总失调电压；

第二计算模块，基于所述失调电压关系式、所述第一数值、所述标准仪表放大器的第二总失调电压、所述组配体的第二总失调电压，确定所述被测仪表放大器在所述第二组配条件下的第二总失调电压；

输出模块，基于所述第一总失调电压和所述第二总失调电压，确定所述被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第三计算模块，利用预先确定的第一转换关系式，确定所述被测仪表放大器的失调电压与所述第一总失调电压的第一等式关系，以及所述被测仪表放大器的失调电压与所述第二总失调电压的第二等式关系；

所述转换关系式为被测仪表放大器的总失调电压与所述被测仪表放大器输入失调电压、所述被测仪表放大器的输出失调电压、所述被测仪表放大器的增益之间的转换关系式。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第三计算模块还用于：

将所述第一总失调电压、所述第二总失调电压分别代入所述第一等式关系、所述第二等式关系中，得到所述被测仪表放大器的输入失调电压和输出失调电压。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现如权利要求1-5任一项所述的仪表放大器失调电压测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由处理器加载并执行以实现如权利要求1-5任一项所述的仪表放大器失调电压测试方法。

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