CN113218527B - 基于热敏电阻的温度检测方法、装置、设备、介质及*** - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种基于热敏电阻的温度检测方法、装置、电子设备、介质及***,应用于终端,该方法包括:终端获取热敏电阻的电压测量值Vt,终端根据电压测量值Vt与电压误差量之间的第一对应关系,确定电压测量值Vt对应的电压误差量Vd,终端根据电压测量值Vt与电压误差量Vd,计算出热敏电阻的实际电阻值RC,最后终端根据热敏电阻的实际电阻值RC和热敏电阻的电压测量值Vt,确定与热敏电阻的实际电阻值RC对应的实时温度T,该方法根据电压测量值Vt与电压误差量之间的第一对应关系,确定热敏电阻的实际电阻值RC,然后根据实际电阻值RC和热敏电阻的电压测量值Vt,确定与热敏电阻的实际电阻值RC对应的实时温度T,提高了温度检测的精度。
Description
技术领域
本发明涉及温度检测技术领域,尤其涉及一种基于热敏电阻的温度检测方法、装置、设备、介质及***。
背景技术
基于热敏电阻测量温度是一种非常普遍而又高性价比的方案。实际温度检测中需要搭配电路来实现,所以温度检测的精度不仅受自身热敏电阻精度的影响,还会受在实际检测电路中上拉电源精度、分压电阻精度以及模拟数字转换器(analog to digitalconverter,ADC)检测精度偏差的影响。
目前可以借助外部高精密电源设备对参考电压和终端ADC单独校准,但是高精度校准设备非常昂贵,导致校准成本太高。
因此,亟需提供一种基于热敏电阻的温度检测方法以提高温度检测结果的精度。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于热敏电阻的温度检测方法、装置、设备、介质及***,用以提高温度检测结果的精度。
为实现上述目的,第一方面,本发明提供一种基于热敏电阻的温度检测方法,该方法可以应用于终端,包括:
终端获取热敏电阻的电压测量值Vt,终端根据电压测量值Vt与电压误差量之间的第一对应关系,确定电压测量值Vt对应的电压误差量Vd,终端根据电压测量值Vt与电压误差量Vd,计算得到热敏电阻的实际电阻值RC,最后终端根据热敏电阻的实际电阻值RC和所述热敏电阻的电压测量值Vt,确定与热敏电阻的实际电阻值RC对应的实时温度T。
本发明的有益效果在于:根据电压测量值Vt与电压误差量之间的第一对应关系,确定热敏电阻的实际电阻值RC,然后根据实际电阻值RC和热敏电阻的电压测量值Vt,确定与热敏电阻的实际电阻值RC对应的实时温度T,提高了温度检测的精度。
在一种可能的实现中,根据该热敏电阻的实际电阻值RC和该热敏电阻的电压测量值Vt,确定与该热敏电阻的实际电阻值RC对应的实时温度T,包括:根据热敏电阻的电压测量值Vt确定该热敏电阻的理论电阻值R。
确定该热敏电阻的实际电阻值RC和该热敏电阻的理论电阻值R之间的电阻差值ΔR,根据理论温度值与热敏电阻的理论电阻值之间的第二对应关系,确定该热敏电阻的理论电阻值R对应的理论温度值T’,根据该理论温度值T条件下所述热敏电阻的单位摄氏度变化量和热敏电阻的阻值变化量之间的第三对应关系,确定在该理论温度值T’条件下电阻差值ΔR对应的温度变化量ΔT,根据该温度变化量ΔT,调整所述理论温度值T’,得到热敏电阻的实时温度T。
在另一种可能的实现中,该方法还包括:通过测试夹具连接标准电阻,该标准电阻用于替换热敏电阻,接收来自PC的测试命令,响应于该测试命令,利用标准电阻对热敏电阻的电压测量值Vt进行校准,根据校准的结果,得到热敏电阻的电压测量值Vt和电压误差量Vd之间的第一对应关系。其有益效果在于:通过使用标准电阻进行校核,从而得到热敏电阻的电压测量值Vt和电压误差量 Vd之间的第一对应关系,便于温度检测时的查找利用。
在另一种可能的实现中,利用所述标准电阻对所述热敏电阻的电压测量值 Vt进行校准,包括:在任意一个温度值下执行如下处理:根据该标准电阻的电阻值、参考电压和上拉电阻,计算出该温度值下的标准电阻的理论分压值Vi,测量该温度值下标准电阻的测试分压值VR,根据该测量分压值VR和理论分压值Vi之间的差值,确定该温度值下热敏电阻的电压测量值和电压误差量之间的第一对应关系。
在另一种可能的实现中,热敏电阻为正温度系数热敏电阻PTC或负温度系数热敏电阻器NTC。
第二方面,一种基于热敏电阻的温度检测装置,该装置包括:获取模块,用于获取热敏电阻的电压测量值Vt,处理模块,根据电压测量值Vt与电压误差量之间的第一对应关系,确定电压测量值Vt对应的电压误差量Vd,然后根据电压测量值Vt与电压误差量Vd,计算出热敏电阻的实际电阻值RC,最后根据热敏电阻的实际电阻值RC和热敏电阻的电压测量值Vt,确定与热敏电阻的实际电阻值RC对应的实时温度T。
本发明的有益效果在于:根据电压测量值Vt与电压误差量之间的第一对应关系,确定热敏电阻的实际电阻值RC,然后根据实际电阻值RC和热敏电阻的电压测量值Vt,确定与该热敏电阻的实际电阻值RC对应的实时温度T,提高了温度检测结果的精度。
在一种可能的实现中,该处理模块,具体用于:根据电压误差量Vd确定热敏电阻的理论电阻值R,确定热敏电阻的实际电阻值RC和热敏电阻的理论电阻值R之间的电阻差值ΔR,然后根据理论温度值与热敏电阻的理论电阻值之间的第二对应关系,确定热敏电阻的理论电阻值R对应的理论温度值T’,接着根据理论温度值T条件下热敏电阻的单位摄氏度变化量和热敏电阻的阻值变化量之间的第三对应关系,确定在理论温度值T’条件下电阻差值ΔR对应的温度变化量ΔT,最后根据温度变化量ΔT,调整理论温度值T’,得到热敏电阻的实时温度T。
在另一种可能的实现中,还包括收发模块和校准模块,收发模块用于在通过测试夹具连接标准电阻后,接收来自PC的测试命令。标准电阻用于替换热敏电阻,校准模块用于根据PC的测试命令,利用标准电阻对热敏电阻的电压测量值Vt进行校准,得到热敏电阻的电压测量值Vt和电压误差量Vd之间的第一对应关系。
在另一种可能的实现中,校准模块,具体用于,在任意一个温度值下执行如下处理:根据标准电阻的电阻值、参考电压和上拉电阻,计算该温度值下的标准电阻的理论分压值Vi,接着测量该温度值下所述标准电阻的测试分压值VR,根据测试分压值VR和理论分压值Vi之间的差值,确定该温度值下热敏电阻的电压测量值和电压误差量之间的第一对应关系。
在另一种可能的实现中,所述热敏电阻为正温度系数热敏电阻PTC或负温度系数热敏电阻器NTC。
第三方面,本发明实施例提供一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,处理器执行计算机程序时实现上述方法的步骤。
第四方面,本发明实施例提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
第五方面,本发明实施例提供一种芯片***,芯片***与存储器耦合,用于读取并执行存储器中存储的程序指令以实现上述方法的步骤。
附图说明
图1为常用的NTC电阻测温电路图;
图2为本发明公开的基于热敏电阻的温度检测方法的流程图;
图3为本发明公开的标准电阻替换NTC电阻的电路图;
图4为本发明公开的理论温度值与热敏电阻的理论电阻值之间的第二对应关系图;
图5为本发明公开的基于热敏电阻的温度检测装置的结构框图;
图6为本发明公开的一种电子设备结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。除非另外定义,此处使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本文中使用的“包括”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同,而不排除其他元件或者物件。
热敏电阻是敏感元件的一类,按照温度系数不同分为正温度系数热敏电阻器(positive temperature coefficient,PTC)和负温度系数热敏电阻器(negativetemperature coefficient,NTC)。热敏电阻器的典型特点是对温度敏感,不同的温度下表现出不同的电阻值。正温度系数热敏电阻器在温度越高时电阻值越大,负温度系数热敏电阻器在温度越高时电阻值越低。在本发明中,在本发明下文中,示例性地采用的是负温度系数热敏电阻器来进行温度检测方法的说明,需要指出的是,本发明提供的温度检测方法同样适用于正温度系数热敏电阻。
参考图1所示,图1为常见的电阻分压NTC电阻测温度的电路,图中,参考电压为VDD,Rpu为上拉电阻,NTC电阻分得的ADCI电压信号输入到终端进行测量,不同的电压值反映NTC电阻的不同温度状态,通过图1可以知道温度测量误差主要来自于以下几个方面:VDD的精度、Rpu上拉电阻的精度,Rpd 下拉电阻精度、NTC电阻的本身误差和终端的测量精度。如果为了提高温度检测的精度,借助外部高精密电源设备对参考电压和终端ADC单独校准,会因高精度校准设备非常昂贵导致校准成本太高。
针对现有技术存在的问题,本发明的实施例提供了一种基于热敏电阻的温度检测方法,该方法可以应用于终端,参考图2所示,该方法包括:
S201:终端获取热敏电阻的电压测量值Vt。
其中,终端可以直接检测得到该热敏电阻的电压测量值Vt,也可以从其它设备获取热敏电阻的电压测量值Vt,在此不作限定。
S202:终端根据电压测量值Vt与电压误差量之间的第一对应关系,确定电压测量值Vt对应的电压误差量Vd。
需要说明的是,第一对应关系是预先利用标准电阻对热敏电阻进行校准得到的,该第一对应关系被存储在终端内,终端可以根据电压测量值Vt,从该第一对应关系中查询到对应的电压误差量。
S203:终端根据电压测量值Vt与电压误差量Vd,计算出热敏电阻的实际电阻值RC。
S204:终端根据热敏电阻的实际电阻值RC和热敏电阻的电压测量值Vt,确定与热敏电阻的实际电阻值RC对应的实时温度T。
在该S204中,第一种可能的实施例中,终端可以根据电压误差量Vd确定热敏电阻的理论电阻值R,然后,确定热敏电阻的实际电阻值RC和热敏电阻的理论电阻值R之间的电阻差值ΔR,再根据理论温度值与热敏电阻的理论电阻值之间的第二对应关系,确定热敏电阻的理论电阻值R对应的理论温度值T’,接着根据理论温度值T条件下热敏电阻的单位摄氏度变化量和热敏电阻的阻值变化量之间的第三对应关系,确定在理论温度值T’条件下电阻差值ΔR对应的温度变化量ΔT,最终根据温度变化量ΔT,调整所述理论温度值T’,得到所述热敏电阻的实时温度T。
第二种可能的实施例中,终端也可以上述第一种可能的实施例中计算方式预先利用标准电阻进行校准,建立热敏电阻的实际电阻值、热敏电阻的电压测量值,以及温度之间的对应关系,这样终端就可以通过查询该对应关系,确定与热敏电阻的实际电阻值RC对应的实时温度T
可见,在本实施例中,利用电压测量值Vt与电压误差量Vd之间的第一对应关系调整电压测量值Vt,因电压误差量Vd是基于热敏电阻的偏差校准得到的,所以可以通过利用电压误差量Vd对电压测量值Vt进行校准,从而基于此可以得到热敏电阻的实际电阻值RC,从而精确的确定实际电阻值RC对应的温度。
本发明实施例中,针对电压测量值与电压误差量之间的第一对应关系可以采用如下的校准方法得到。具体的,终端与个人电脑(personal computer,PC) 通讯连接,首先通过测试夹具连接标准电阻,该标准电阻用于替换热敏电阻,终端接收来自PC的测试命令,响应于测试命令,终端利用标准电阻对热敏电阻的电压测量值Vt进行校准。结合图3所示,图3为标准电阻替换NTC电阻后的电路图,标准电阻为市面上高精度的电阻,高精度的电阻的精度可以达到0.01%,可大大降低电阻自身产生的误差。由于不同的温度对应的电阻阻值不同,所以标准电阻的阻值选择,预先根据需要检测的温度值来选取,所以为了得到在任意一个温度值下的校准结果,需要预先在任意一个温度值下执行如下操作:
第一步,参考表1所示,根据标准电阻的电阻值RCAL、参考电压和上拉电阻,计算该温度值下的标准电阻的分压值Vi,具体采用公式:Vi=VDD*RCAL/ (Rpu+RCAL)计算得到分压值Vi,然后终端再直接测试标准电阻的分压值Vt。需要说明的是,在标准电阻替换热敏电阻之前,通过终端预先测试热敏电阻的电压测量值Vt,即确定该温度值下热敏电阻的电压测量值Vt与标与准电阻的分压值Vt之间的对应的关系,然后根据分压值Vt和理论分压值Vi之间的差值得到电压误差量,从而确定了在任意温度下热敏电阻的电压测量值Vt和电压误差量之间的第一对应关系。
表1
同时,在此基础上进行反向验证,我们选取理论NTC电阻温度在40℃时对应的电阻阻值为50.65KΩ,但市面上没有阻值为50.65KΩ,所以我们取阻值接近50.65KΩ的标准电阻,该标准电阻的阻值为51KΩ,查阅图2所示,51KΩ对应的温度大约为39.155℃。
假设参考电压VDD=1.8V,上拉电阻Rpu=56KΩ,那么标准电阻的理论分压值Vi=1.8*51(56+51),从而求得Vi的值大约为858毫伏。假设测量的分压值VR为880毫伏,即可得到Vd=22毫伏,通过该方式即可求得电压误差量Vd的值。
在实际的温度检测中VDD和Rpu存在的误差大约在2%-3%之间,示例性的,假设电压误差量Vd为10mV,Rpu阻值56KΩ存在3%的误差,计算得到 Rpu实际对应的阻值为57.68KΩ,VDD电压为1.8V存在误差3%,计算得到 VDD实际对应的电压值为1854mV,从而我们可以反推出电压测量值Vt。具体的对应
关系可查看表2。
表2
理论温度℃ | 理论电阻值R | 反推出的电压测量值V<sub>t</sub> |
39.15 | 51 | 880.0220832 |
25 | 100 | 1185.799087 |
26 | 95.39 | 1165.373751 |
27 | 91.02 | 1144.842502 |
28 | 86.87 | 1124.195642 |
29 | 82.94 | 1103.519841 |
30 | 79.2 | 1082.741087 |
31 | 72.28 | 1041.141274 |
32 | 69.08 | 1020.368571 |
33 | 66.03 | 999.5693153 |
34 | 63.14 | 978.8922364 |
35 | 60.39 | 958.2769543 |
36 | 57.77 | 937.7226505 |
37 | 55.28 | 917.3045326 |
38 | 52.91 | 897.0163668 |
39 | 50.65 | 876.8429798 |
40 | 48.51 | 856.9492419 |
41 | 46.46 | 837.1254081 |
42 | 44.51 | 817.5304824 |
43 | 42.65 | 798.1301704 |
44 | 40.88 | 778.9886364 |
45 | 39.2 | 760.1734104 |
46 | 37.59 | 741.519471 |
可以理解的是,通过公式反推出的的电压测量值Vt的值即为未校准热敏电阻时获取的热敏电阻的电压测量值Vt,通过公式:可以得出Rb,Rb为未校准前热敏电阻的电阻值。按照这个等式得到电压测量值Vt与Rb对应关系表,具体可查看表3。
表3
第二步,根据得到的电压误差量Vd确定热敏电阻的理论电阻值R,然后通过实际电阻值RC和热敏电阻的理论电阻值R,计算出电阻差值ΔR,接着根据理论温度值与热敏电阻的理论电阻值之间的第二对应关系,确定热敏电阻的理论电阻值R对应的理论温度值T’,该第二对应关系具体可查看图4。
进一步的,结合表4所示,NCT厂家提供的24-46℃的电阻值变化数据,每 1℃区间的阻值相差的值可参见表4,从而得到热敏电阻单位摄氏度变化量和热敏电阻的阻值变化量之间的第三对应关系。
表4
确定在理论温度值T’条件下电阻差值ΔR对应的温度变化量ΔT。具体的,采用公式:ΔT=ΔR/Re*1℃,计算出校准后的温度变化量ΔT,具体可查看表5,最后根据温度变化量ΔT,调整理论温度值T’,得到热敏电阻的实时温度T。
表5
同样的,结合上述实施例中提到的方式计算出校准前误差温度,从而可以对比出,校准后检测的温度比未校准时检测的温度精度提高1℃左右。可以理解的是,表1至表5是为了便于理解列举的部分温度下对应的各数据的变化。
在本发明公开的另一个实施例中,一种基于热敏电阻的温度检测装置,与 PC连接,接收来自PC发送的测试命令。参考图5所示,该装置包括:获取模块501和处理模块502,其中,获取模块501用于获取热敏电阻的电压测量值 Vt。在本实施例中,获取模块为模数转换器(analog-to-digital converter,ADC)。处理模块502,根据电压测量值Vt与电压误差量之间的第一对应关系,确定电压测量值Vt对应的电压误差量Vd,然后处理模块502根据电压测量值Vt与电压误差量Vd,计算出热敏电阻的实际电阻值RC,最后处理模块502根据热敏电阻的实际电阻值RC和热敏电阻的电压测量值Vt,确定与热敏电阻的实际电阻值 RC对应的实时温度T。
具体的,处理模块502用于根据电压误差量Vd确定热敏电阻的理论电阻值 R,然后再计算出热敏电阻的实际电阻值RC和热敏电阻的理论电阻值R之间的电阻差值ΔR。
接着处理模块502根据理论温度值与热敏电阻的理论电阻值之间的第二对应关系,确定热敏电阻的理论电阻值R对应的理论温度值T’,并根据理论的热敏电阻单位摄氏度变化量和热敏电阻的阻值变化量之间的第三对应关系,确定在理论温度值T’条件下电阻差值ΔR对应的温度变化量ΔT。最后根据温度变化量ΔT,调整理论温度值T’,得到热敏电阻的实时温度T。
在一种可能的实施例中,该装置还包括校准模块503和收发模块504。需要说明的是,预先通过测试夹具连接标准电阻,收发模块504接收到来自PC的测试命令,然后利用标准电阻对热敏电阻的电压测量值Vt进行校准,得到热敏电阻的电压测量值Vt和电压误差量Vd之间的第一对应关系。然后校准模块503存储第一对应关系。可以理解的是,该校准模块503还用于存储第二对应关系和第三对应关系,便于校准时的查找应用。
详细的,在任意一个温度值下,校准模块503根据标准电阻的电阻值、参考电压和上拉电阻,处理模块502计算该温度值下的标准电阻的理论分压值Vi,然后获取模块501获取标准电阻的分压值Vt,接着处理模块502计算分压值Vt 和理论分压值Vi之间的差值,从而确定温度值下所述热敏电阻的电压测量值和电压误差量之间的第一对应关系。
需要说明的是,在标准电阻替换热敏电阻之前,通过终端装置预先测试热敏电阻的电压测量值Vt,即确定该温度值下热敏电阻的电压测量值Vt与标准电阻的分压值Vt之间的对应的关系,然后根据分压值Vt和理论分压值Vi之间的差值得到电压误差量,从而确定了在任意温度下热敏电阻的电压测量值Vt和电压误差量之间的第一对应关系。
在本发明公开的另一个实施例中,在上述实施例的基础上还公开了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。
在本发明公开的另一个实施例中,在上述实施例的基础上还公开了一种芯片***,芯片***与存储器耦合,用于读取并执行存储器中存储的程序指令以实现上述方法的步骤。
在本申请的另一些实施例中,本申请实施例公开了一种电子设备,如图6 所示,该电子设备600 可以包括:一个或多个处理器601;存储器602;显示器603;一个或多个应用程序(未示出);以及一个或多个计算机程序604,上述各器件可以通过一个或多个通信总线605连接。其中该一个或多个计算机程序604被存储在上述存储器602中并被配置为被该一个或多个处理器601执行,该一个或多个计算机程序604包括指令,上述指令可以用于执行如图2相应实施例中的各个步骤。
通过以上的实施方式的描述,所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将装置的内部结构划分成不同的功能模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的***,装置和模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在本申请实施例各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中,也可以是各个模块单独物理存在,也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。
所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)或处理器执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:快闪存储器、移动硬盘、只读存储器、随机存取存储器、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述,仅为本申请实施例的具体实施方式,但本申请实施例的保护范围并不局限于此,任何在本申请实施例揭露的技术范围内的变化或替换,都应涵盖在本申请实施例的保护范围之内。因此,本申请实施例的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (11)
1.一种基于热敏电阻的温度检测方法,应用于终端,其特征在于,包括:
获取热敏电阻的电压测量值Vt;
根据所述电压测量值Vt与电压误差量之间的第一对应关系,确定所述电压测量值Vt对应的电压误差量Vd;
根据所述电压测量值Vt与所述电压误差量Vd,计算得到所述热敏电阻的实际电阻值RC;
根据所述热敏电阻的实际电阻值RC和所述热敏电阻的电压测量值Vt,确定与所述热敏电阻的实际电阻值RC对应的实时温度T;
所述根据所述热敏电阻的实际电阻值RC和所述热敏电阻的电压测量值Vt,确定与所述热敏电阻的实际电阻值RC对应的实时温度T,包括:
根据所述电压误差量Vd确定所述热敏电阻的理论电阻值R;
确定所述热敏电阻的实际电阻值RC和所述热敏电阻的理论电阻值R之间的电阻差值ΔR;
根据理论温度值与热敏电阻的理论电阻值之间的第二对应关系,确定所述热敏电阻的理论电阻值R对应的理论温度值T’;
根据所述理论温度值T’条件下所述热敏电阻的单位摄氏度变化量和所述热敏电阻的阻值变化量之间的第三对应关系,确定在所述理论温度值T’条件下所述电阻差值ΔR对应的温度变化量ΔT;
根据所述温度变化量ΔT,调整所述理论温度值T’,得到所述热敏电阻的实时温度T。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
通过测试夹具连接标准电阻,所述标准电阻用于替换所述热敏电阻;
接收来自PC的测试命令;
响应于所述测试命令,利用所述标准电阻对所述热敏电阻的电压测量值Vt进行校准;
根据校准的结果,得到所述热敏电阻的电压测量值Vt和所述电压误差量Vd之间的所述第一对应关系。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述利用所述标准电阻对所述热敏电阻的电压测量值Vt进行校准,包括:
在任意一个温度值下执行如下处理:
根据所述标准电阻的电阻值、参考电压和上拉电阻,计算所述温度值下的所述标准电阻的理论分压值Vi;
测量所述温度值下所述标准电阻的测试分压值VR;
根据所述测试 分压值VR和所述理论分压值Vi之间的差值,确定所述温度值下所述热敏电阻的电压测量值和电压误差量之间的第一对应关系。
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,所述热敏电阻为正温度系数热敏电阻PTC或负温度系数热敏电阻器NTC。
5.一种基于热敏电阻的温度检测装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取热敏电阻的电压测量值Vt;
处理模块,根据所述电压测量值Vt与电压误差量之间的第一对应关系,确定所述电压测量值Vt对应的电压误差量Vd;根据所述电压测量值Vt与所述电压误差量Vd,计算出所述热敏电阻的实际电阻值RC;根据所述热敏电阻的实际电阻值RC和所述热敏电阻的电压测量值Vt,确定与所述热敏电阻的实际电阻值RC对应的实时温度T;
所述处理模块,具体用于:
根据所述电压误差量Vd确定所述热敏电阻的理论电阻值R;
确定所述热敏电阻的实际电阻值RC和所述热敏电阻的理论电阻值R之间的电阻差值ΔR;
根据理论温度值T’与热敏电阻的理论电阻值之间的第二对应关系,确定所述热敏电阻的理论电阻值R对应的理论温度值T’;
根据所述理论温度值T’条件下所述热敏电阻的单位摄氏度变化量和所述热敏电阻的阻值变化量之间的第三对应关系,确定在所述理论温度值T’条件下所述电阻差值ΔR对应的温度变化量ΔT;
根据所述温度变化量ΔT,调整所述理论温度值T’,得到所述热敏电阻的实时温度T。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:收发模块和校准模块;
所述收发模块,用于在通过测试夹具连接标准电阻后,接收来自PC的测试命令,所述标准电阻用于替换所述热敏电阻;
所述校准模块,用于根据PC的测试命令,利用所述标准电阻对所述热敏电阻的电压测量值Vt进行校准,得到所述热敏电阻的电压测量值Vt和所述电压误差量Vd之间的所述第一对应关系。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述校准模块,具体用于:
在任意一个温度值下执行如下处理:
根据所述标准电阻的电阻值、参考电压和上拉电阻,计算所述温度值下的所述标准电阻的理论分压值Vi;
测量所述温度值下所述标准电阻的测试分压值VR;
根据所述测试分压值VR和所述理论分压值Vi之间的差值,确定所述温度值下所述热敏电阻的电压测量值和电压误差量之间的第一对应关系。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述热敏电阻为正温度系数热敏电阻PTC或负温度系数热敏电阻器NTC。
9.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4中任一项所述的方法。
11.一种芯片***,其特征在于,所述芯片***与存储器耦合,用于读取并执行所述存储器中存储的程序指令,以实现如权利要求1至4任一项所述的方法。
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