CN114814564A - 一种新型拔码开关检测方法 - Google Patents

一种新型拔码开关检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN114814564A
CN114814564A CN202210371449.3A CN202210371449A CN114814564A CN 114814564 A CN114814564 A CN 114814564A CN 202210371449 A CN202210371449 A CN 202210371449A CN 114814564 A CN114814564 A CN 114814564A
Authority
CN
China
Prior art keywords
measuring
dial switch
measurement
ports
port
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202210371449.3A
Other languages
English (en)
Inventor
张泉宏
刘宏波
陈维
吴永硕
俞超辉
李运庆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guangzhou Tianjia Environmental Control Equipment Co ltd
Original Assignee
Guangzhou Tianjia Environmental Control Equipment Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guangzhou Tianjia Environmental Control Equipment Co ltd filed Critical Guangzhou Tianjia Environmental Control Equipment Co ltd
Priority to CN202210371449.3A priority Critical patent/CN114814564A/zh
Publication of CN114814564A publication Critical patent/CN114814564A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416—Connectors, terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G01R31/3277—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Keying Circuit Devices (AREA)

Abstract

本发明涉及一种新型拔码开关检测方法，包括多个I/O端口；拨码开关上若干个输出端口并联后连接到一个所述I/O端口，使该I/O端口成为测量输出端；所述拨码开关上的每个输入端口经过二级管和电阻后连接电源；所述二级管和电阻的连接点与一个所述I/O端口相连，形成测量输入端；所述测量输入端数和测量输出端数的乘积≥拨码开关通路数，且测量输入端数和测量输出端数之和为最小；将某一路测量输出端赋值低电平，依次检测每一路测量输入端的电平，根据测量输入端的电平情况确定相关拨码开关通路的通断情况；分别对其他的测量输出端赋值低电平，重复上述步骤，对全部拨码开关的通路进行检测。本发明可不占用芯片特殊端口，并使检测用的端口占用数量最少。

Description

一种新型拔码开关检测方法
技术领域
本发明涉及一种电子技术，尤其是一种涉及检测的电子技术，具体的说是一种新型拔码开关检测方法。
背景技术
为了降低开发成本，在项目开发的芯片选型时，选择芯片的管脚不会超出实际使用太多，往往会尽量控制芯片的管脚数量。但是，随着应用产品的功能多样化，如空调智能化、节能化、洁净化等功能的普及，需要增加一些参数的检测，如CO2、TVOC、 PM2.5等。此时，受限于芯片管脚的限制，大都采用更换芯片或优化拨码开关的方法。然而，更换芯片不仅增加开发时间和开发成本，影响项目进度，还容易造成浪费资源。使用避免开关时，必须先对拨码开关的状态进行检测。目前，大都是采用一对一的方法对拨码开关的每个通路进行检测，因而需要配备大量的芯片端口，造成芯片资源的浪费。
因此，需要加以改进，以便更好的满足市场需求。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术的不足，提供一种新型拔码开关检测方法，可在拔码开关的检测过程中不占用特殊端口，并使端口占用数量最少，节省芯片端口资源。
本发明的技术方案是：
一种新型拔码开关检测方法，包括多个I/O端口；
拨码开关上若干个输出端口并联后连接到一个所述I/O端口，使该I/O端口成为测量输出端；
所述拨码开关上的每个输入端口经过二级管和电阻后连接电源；所述二级管和电阻的连接点与一个所述I/O端口相连，形成测量输入端；
所述测量输入端数和测量输出端数的乘积≥拨码开关通路数，且测量输入端数和测量输出端数之和为最小；
将某一路测量输出端赋值低电平，依次检测每一路测量输入端的电平；如果测量输入端为低电平，则该路测量输入端连接的拨码开关通路为ON，否则为OFF；
分别对其他的测量输出端赋值低电平，重复上述步骤，对全部拨码开关的通路进行检测。
进一步的，所述测量输入端均匀或不均匀的与拨码开关的输入端相连。
进一步的，所述测量输出端均匀或不均匀的与拨码开关的输出端相连。
本发明的有益效果：
本发明设计合理，结构简单，实施方便，可在拔码开关的检测过程中不占用特殊端口，并使检测用的端口占用数量最少，极大的节省了芯片端口资源，充分满足市场需求。
附图说明
图1为本发明的电路结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。
如图1所示。
一种新型拨码开关检测电路，包括9个I/O端口：SW1、SW2、SW3、SW4和SW5，以及SW_I01、SW_I02、 SW_I03 和SW_I04。拨码开关为3个：S1、S2和S3。其中，S1包括8路通路16个端口；S2包括6路通路12个端口；S3包括6路通路12个端口。3个拨码开关总计20个通路。
所述I/O端口SW_I01、SW_I02、SW_I03 和SW_I04为测量输出端。所述I/O端口SW1、SW2、SW3、SW4和SW5为材料输入端口。
各拨码开关上的4个输出端并联后，连接到一个测量输出端。
各拨码开关上的每个输入端口连接一个二级管。每两路二级管并联后再并联，然后，经过一个电阻后连接电源+3.3V/或5V，并同时连接一个测量输入端。所述二级管可控制电流方向。所述电阻为10K，可避免短路。
将各测量输入端和测量输出端分别与单片机相连，并通过算法实现自动检测，具体为：
对4个测量输出端 SW_I01、SW_I02、SW_I03、SW_I04的状态设置为0111，再分别检测5个测量输入端 SW1、SW2、SW3、SW4和SW5的状态。如果检测到SW1的状态是0，则认为拔码开关S1中的通路1为ON状态，否则为OFF状态。依次类推，如果检测到SW2的状态是0，则认为拔码开关S1中的通路5为ON状态，否则为OFF状态。如果检测到SW3的状态是0，则认为拔码开关S2中的通路1为ON状态，否则为OFF状态。如果检测到SW4的状态是0，则认为拔码开关S2中的通路5为ON状态，否则为OFF状态。如果检测到SW5的状态是0，则认为拔码开关S3中的通路3为ON状态，否则为OFF状态。
然后，对4个测量输出端 SW_I01、SW_I02、SW_I03、SW_I04的状态依次设置为1011、1101和1110，重复上述步骤，分别检测出5个测量输出端的状态，并以此确定相应的拨码开关的各通路的通断情况。
如果拨码开关的通路数改变时，只要使测量输入端数和测量输出端数的乘积≥拨码开关通路数，并使测量输入端数和测量输出端数之和为最小即可。例如，如果拨码开关的通路数为24，则测量输入端的数量为6，测量输出端的数量为4，使测量输入端和测量输出端分别均匀连接相应的拨码开关的通路。如果拨码开关的通路数为11，则测量输入端的数量为4，测量输出端的数量为3，使每个测量输入端和测量输出端连接的拨码开关通路数不完全相同，即，其中3个测量输入端分别连接3个拨码开关通路，另一个测量输入端连接2个拨码开关通路；相应的，其中2路测量输出端分别连接4个拨码开关通路，另一个测量输出端连接3个拨码开关通路。
本发明可在拔码开关的检测过程中不占用特殊端口，并使检测用的端口占用数量最少，极大的节省了芯片端口资源，充分满足市场需求。
本发明未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现。

Claims (3)

1.一种新型拔码开关检测方法，包括多个I/O端口，其特征是，
拨码开关上若干个输出端口并联后连接到一个所述I/O端口，使该I/O端口成为测量输出端；
所述拨码开关上的每个输入端口经过二级管和电阻后连接电源；所述二级管和电阻的连接点与一个所述I/O端口相连，形成测量输入端；
所述测量输入端数和测量输出端数的乘积≥拨码开关通路数，且测量输入端数和测量输出端数之和为最小；
将某一路测量输出端赋值低电平，依次检测每一路测量输入端的电平；如果测量输入端为低电平，则该路测量输入端连接的拨码开关通路为ON，否则为OFF；
分别对其他的测量输出端赋值低电平，重复上述步骤，对全部拨码开关的通路进行检测。
2.根据权利要求1所述的新型拔码开关检测方法，其特征是，所述测量输入端均匀或不均匀的与拨码开关的输入端相连。
3.根据权利要求1所述的新型拔码开关检测方法，其特征是，所述测量输出端均匀或不均匀的与拨码开关的输出端相连。
CN202210371449.3A 2022-04-11 2022-04-11 一种新型拔码开关检测方法 Pending CN114814564A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210371449.3A CN114814564A (zh) 2022-04-11 2022-04-11 一种新型拔码开关检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210371449.3A CN114814564A (zh) 2022-04-11 2022-04-11 一种新型拔码开关检测方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114814564A true CN114814564A (zh) 2022-07-29

Family

ID=82535050

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210371449.3A Pending CN114814564A (zh) 2022-04-11 2022-04-11 一种新型拔码开关检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114814564A (zh)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11237427A (ja) * 1998-02-23 1999-08-31 Rinnai Corp スイッチ状態検出装置
JP2003036135A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Nagano Fujitsu Component Kk ディップスイッチ検出装置およびこれを含むキーボード
JP2003243976A (ja) * 2002-02-14 2003-08-29 Alps Electric Co Ltd スイッチマトリックス回路
CN109932647A (zh) * 2019-03-29 2019-06-25 四川虹美智能科技有限公司 一种拨动开关状态检测电路、方法及装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11237427A (ja) * 1998-02-23 1999-08-31 Rinnai Corp スイッチ状態検出装置
JP2003036135A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Nagano Fujitsu Component Kk ディップスイッチ検出装置およびこれを含むキーボード
JP2003243976A (ja) * 2002-02-14 2003-08-29 Alps Electric Co Ltd スイッチマトリックス回路
CN109932647A (zh) * 2019-03-29 2019-06-25 四川虹美智能科技有限公司 一种拨动开关状态检测电路、方法及装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106443412B (zh) 一种ic测试装置及方法
CN103592477A (zh) 宇航级电容测试开关通道
CN104502683A (zh) 一种开关量信号检测方法及检测电路
CN107168284B (zh) 一种自动校准plc模拟量输出模块的装置和方法
CN102495354A (zh) 电路板测试***的测试工作方法
CN106933215B (zh) 一种基于pxi总线的遥测***外接口通用等效器
CN115756080A (zh) 一种参考电压生成电路、控制方法、芯片及电子设备
CN1965611A (zh) 加热器功率控制电路及使用该控制电路的老化装置
CN215344364U (zh) 功率器件驱动电路及电子设备
CN114814564A (zh) 一种新型拔码开关检测方法
CN112599168B (zh) 一种忆阻器存内计算***的误操作检测装置及***
CN101498948A (zh) 调整电路与其相关调整方法
CN219871718U (zh) 一种电源测试***
CN110190841B (zh) Io端口复用控制电路以及电子设备
CN218938459U (zh) 化成分容设备并行校准工装的通道切换装置
CN214540463U (zh) 一种多路信号切换检测的继电器板
CN116545393A (zh) 一种精密输出放大电路、应用该电路的负载检测电路及装置
CN108674699B (zh) 一种分时复用双极选通的卫星等效***
CN208046436U (zh) 一种电源模块、由其组成的电源***
CN102707707A (zh) 一种微波控制器件的测试***及测试方法
CN108512397A (zh) 一种电源模块、由其组成的电源***及该电源***的控制方法
CN109765954B (zh) 控制流入电路模块之电流量的方法及相关的芯片
CN214427590U (zh) 一种电缆检测装置
CN201113981Y (zh) 按键检测电路
CN209914139U (zh) Led驱动芯片的自动换挡调节电路

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination