CN201113981Y - 按键检测电路 - Google Patents

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CN201113981Y CNU2007201216475U CN200720121647U CN201113981Y CN 201113981 Y CN201113981 Y CN 201113981Y CN U2007201216475 U CNU2007201216475 U CN U2007201216475U CN 200720121647 U CN200720121647 U CN 200720121647U CN 201113981 Y CN201113981 Y CN 201113981Y
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丁辉
首召兵
刘鑫
徐天麒
刘建伟
汪显方
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Abstract

本实用新型公开了一种按键检测电路，包括至少一个按键检测单元电路，各按键检测单元电路用于检测与其相对应的按键动作，所述按键检测单元电路包含低电平检测电路、低电平输出端、高电平检测电路、高电平输出端和检测电平输入端，所述低电平检测电路连接在所述低电平输出端和所述检测电平输入端之间，所述高电平检测电路连接在所述高电平输出端和所述检测电平输入端，所述按键一端择一地与相对应的按键检测单元电路的低电平输出端或高电平输出端相连，另一端共同与按键检测输出端相连。本实用新型设计的按键检测电路，既能检测高电平，又能检测低电平，可以适应不同的电平检测要求，从而为软件设计带来了方便。

Description

按键检测电路
技术领域
本实用新型涉及电子电路，具体地说涉及一种按键检测电路。
背景技术
按键检测电路是电子电路设计中最为基础的一种电路，应用在各种带按键的控制***中。按键检测电路一般包括低电平按键检测电路和高电平按键检测电路，常见的低电平按键检测电路如图1所示，其包括多个二极管，每个二极管对应于一个按键的检测，在各个二极管的阴极逐一地给一个低电平，而按键的远离二极管的一端与检测I/O(输入输出)口相连，平时按键检测I/O口由于上拉电阻始终保持为高电平，当有按键按下时，按键检测I/O口检测到低电平输入，即说明此时其串联二极管阴极被施加低电平的按键被按下。检测高电平的按键检测电路，其原理与上述方法相同。
现有技术中的按键检测电路的缺陷在于，无论是高电平按键检测电路还是低电平按键检测电路，它们都是只能检测一种电平，这要求软件设计上在按键检测这一块要完全满足硬件电路的设计，软件开发受到了一定的限制。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种按键检测电路，能够消除按键检测电路对软件开发的限制，提高按键检测电路的适应性。
为了解决上述技术问题，本实用新型采用了如下技术方案：
一种按键检测电路，包括至少一个按键检测单元电路，各按键检测单元电路用于检测与其相对应的按键动作，所述按键检测单元电路包含低电平检测电路、低电平输出端、高电平检测电路、高电平输出端和检测电平输入端，所述低电平检测电路连接在所述低电平输出端和所述检测电平输入端之间，所述高电平检测电路连接在所述高电平输出端和所述检测电平输入端，所述按键一端择一地与相对应的按键检测单元电路的低电平输出端或高电平输出端相连，另一端共同与按键检测输出端相连。
所述低电平检测电路包括第一二极管，所述第一二极管阴极与检测电平输入端相连，阳极与低电平输出端相连。
所述高电平检测电路包括开关管、第二二极管，电阻，所述第二二极管阴极与高电平输出端相连，阳极与开关管第三极相连，所述开关管第一极经所述电阻与检测电平输入端相连，第二极与一逻辑高电平相连。
所述开关管为PNP型三极管，所述第一极为基极，所述第二极为射极，所述第三极为集电极。
本实用新型设计的按键检测电路，既能检测高电平，又能检测低电平，只需选择按键与低电平输出端或高电平输出端相连，就可以适应不同的电平检测要求，从而为软件设计带来了方便。
附图说明
图1是现有技术中的低电平按键检测电路结构示意图；
图2是本实用新型具体实施方式的按键检测电路结构示意图。
具体实施方式
下面对照附图结合具体实施方式对本实用新型作进一步说明。
如图2所示，本实用新型优选的具体实施方式的按键检测电路，包括至少一个按键检测单元电路，图2中示出3个按键检测单元电路，显然，其数量可以根据所要检测的按键数量作相应调整。各按键检测单元电路用于检测与其相对应的按键K的按下动作，包含低电平检测电路、低电平输出端1、高电平检测电路、高电平输出端2和检测电平输入端3，低电平检测电路连接在低电平输出端1和检测电平输入端3之间，高电平检测电路连接在高电平输出端2和检测电平输入端3，按键K一端择一地与相对应的按键检测单元电路的低电平输出端1或高电平输出端2相连，另一端共同与按键检测输出端4相连。
低电平检测电路包括第一二极管D1，第一二极管D1阴极与检测电平输入端3相连，阳极与低电平输出端1相连。
高电平检测电路包括开关管Q、第二二极管D2，电阻R，第二二极管D2阴极与高电平输出端2相连，阳极与开关管Q第三极相连，开关管Q第一极经电阻R与检测电平输入端3相连，第二极与一逻辑高电平相连。本实施例中，逻辑高电平采用+5V。
开关管Q可以是三极管，也可以是MOS管，本实施例中采用PNP型三极管，相应的，上述第一极为基极，第二极为射极，第三极为集电极。
检测电平为低电平，各个按键检测单元电路的检测电平采用逐一输入方式，即在检测时，各按键检测单元电路的检测电平输入端3逐一地输入低电平，具体工作原理是：当需要高电平按键检测时，将按键K与高电平输出端2相连，检测电平输入端3输入低电平，即开关管Q的基极为低电平，开关管Q导通，在按键K按下时，此时按键检测输出端4输出高电平，实现了高电平按键检测。而当需要低电平按键检测时，将按键K与低电平输出端1相连，检测电平输入端3输入低电平，在按键K按下，此时按键检测输出端4输出低电平，实现了低电平按键检测。
这种兼容型按键检测电路，只需根据实际选择采用低电平检测电路或是高电平检测电路就可以适应不同的电平检测要求，为软件设计带来了方便。不仅如此，由于采用这种设计的按键检测电路既能与高电平按键检测的控制板相连，也可以与低电平按键检测的控制板相连，因此可以节约PCB(印刷电路板)的设计成本，同时减少PCB型号的数量，有益于控制和管理。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。

Claims (4)

1. 一种按键检测电路，包括至少一个按键检测单元电路，各按键检测单元电路用于检测与其相对应的按键(K)动作，其特征在于，所述按键检测单元电路包含低电平检测电路、低电平输出端(1)、高电平检测电路、高电平输出端(2)和检测电平输入端(3)，所述低电平检测电路连接在所述低电平输出端(1)和所述检测电平输入端(3)之间，所述高电平检测电路连接在所述高电平输出端(2)和所述检测电平输入端(3)，所述按键(K)一端择一地与相对应的按键检测单元电路的低电平输出端(1)或高电平输出端(2)相连，另一端共同与按键检测输出端(4)相连。
2. 如权利要求1所述的按键检测电路，其特征在于，所述低电平检测电路包括第一二极管(D1)，所述第一二极管(D1)阴极与检测电平输入端(3)相连，阳极与低电平输出端(1)相连。
3. 如权利要求1所述的按键检测电路，其特征在于，所述高电平检测电路包括开关管(Q)、第二二极管(D2)，电阻(R)，所述第二二极管(D2)阴极与高电平输出端(2)相连，阳极与开关管(Q)第三极相连，所述开关管(Q)第一极经所述电阻(R)与检测电平输入端(3)相连，第二极与一逻辑高电平相连。
4. 如权利要求3所述的按键检测电路，其特征在于，所述开关管(Q)为PNP型三极管，所述第一极为基极，所述第二极为射极，所述第三极为集电极。
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