CN114779057A - 一种输入门限电压自动验证***、方法及电子设备 - Google Patents

一种输入门限电压自动验证***、方法及电子设备 Download PDF

Info

Publication number
CN114779057A
CN114779057A CN202210700911.XA CN202210700911A CN114779057A CN 114779057 A CN114779057 A CN 114779057A CN 202210700911 A CN202210700911 A CN 202210700911A CN 114779057 A CN114779057 A CN 114779057A
Authority
CN
China
Prior art keywords
input
voltage
computer software
preset
upper computer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202210700911.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN114779057B (zh
Inventor
不公告发明人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chengdu Aich Technology Co Ltd
Original Assignee
Chengdu Aich Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chengdu Aich Technology Co Ltd filed Critical Chengdu Aich Technology Co Ltd
Priority to CN202210700911.XA priority Critical patent/CN114779057B/zh
Publication of CN114779057A publication Critical patent/CN114779057A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN114779057B publication Critical patent/CN114779057B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明公开一种输入门限电压自动验证***、方法及电子设备,涉及自动化测试领域。***包括:上位机软件单元、以及和所述上位机软件单元连接的电路板;所述电路板上设置有第一通讯接口,以及依次和所述第一通讯接口连接的输入电压确定电路、待测芯片单元和第二通讯接口;所述待测芯片单元包括输入输出接口;所述上位机软件单元,用于确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功,可以自动处理数据,效率高,稳定性强,可以避免使用外部仪器进行供电测试,降低干扰,调高测试效率。

Description

一种输入门限电压自动验证***、方法及电子设备
技术领域
本发明涉及自动化测试领域,尤其涉及一种输入门限电压自动验证***、方法及电子设备。
背景技术
随着集成芯片(IC)的工艺和设计不断提高,门限电压判定可以作为验证芯片GPIO(通用型之输入输出接口,General-purpose input/output)设计是否正常的重要依据之一。一般认为GPIO输入模式下,当接收电压V≥0.7*VDD(电源电压)时,GPIO判别输入信号为高(此步骤为VIH(输入高电平)测试),当接收电压V≤0.3*VDD时,GPIO判别输入信号为低(此步骤为VIL(输入低电平)测试),其中,0.3*VDD<V<0.7*VDD,GPIO处于一种不定态;因此GPIO门限判别值需要接近一个合理的范围。
由于门限值是一个范围值,在测试过程中外部带来的干扰会影响到整体的验证结果,目前常用的方式均为直接使用外部仪器供电,导致干扰较大,并且无法自动识别处理结果,效率较低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种输入门限电压自动验证***、方法及电子设备,以解决现有的门限值在测试过程中外部带来的干扰会影响到整体的验证结果,目前常用的方式均为直接使用外部仪器供电,导致干扰较大,并且无法自动识别处理结果,效率较低的问题。
第一方面,本发明提供一种输入门限电压自动验证***,所述***包括:
上位机软件单元、以及和所述上位机软件单元连接的电路板;
所述电路板上设置有第一通讯接口,以及依次和所述第一通讯接口连接的输入电压确定电路、待测芯片单元和第二通讯接口;所述待测芯片单元包括输入输出接口;
所述上位机软件单元,用于通过所述第二通讯接口控制所述输入输出接口处于输入模式;
所述上位机软件单元,用于通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口;
所述输入电压确定电路,用于按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元;
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压;
所述上位机软件单元,用于确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功。
采用上述技术方案的情况下,本申请实施例提供的输入门限电压自动验证***,***包括:上位机软件单元、以及和所述上位机软件单元连接的电路板;所述电路板上设置有第一通讯接口,以及依次和所述第一通讯接口连接的输入电压确定电路、待测芯片单元和第二通讯接口;所述待测芯片单元包括输入输出接口;所述上位机软件单元,用于通过所述第二通讯接口控制所述输入输出接口处于输入模式;所述上位机软件单元,用于通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口;所述输入电压确定电路,用于按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元;所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压;所述上位机软件单元,用于确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功,可以自动处理数据,效率高,稳定性强,可以避免使用外部仪器进行供电测试,降低干扰,调高测试效率。
在一种可能的实现方式中,所述输入电压确定电路包括和所述第一通讯接口依次电连接的电源控制电路、滤波电路和电压采样电路;
所述上位机软件单元,用于通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口,包括:
所述上位机软件单元,用于通过所述第一通讯接口控制所述电源控制电路输出无电位差电压,所述无电位差电压经过所述滤波电路至所述输入输出接口;
所述输入电压确定电路,用于按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元,包括:
所述电源控制电路,用于按照所述预设电压步进调整所述输入电压;
所述电压采样电路,用于对所述输入输出接口处的所述输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元。
在一种可能的实现方式中,所述上位机软件单元,用于确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功,包括:
所述上位机软件单元,用于在确定所述输入门限电压后,基于所述输入门限电压生成输入输出接口门限电压测试报告,基于所述输入输出接口门限电压测试报告确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试成功。
在一种可能的实现方式中,所述待测芯片单元还包括一端和所述电压采样电路连接,一端和所述第二通讯接口连接的通讯子接口。
在一种可能的实现方式中,所述输入门限电压包括输入高电平和输入低电平。
在一种可能的实现方式中,在所述输入门限电压为所述输入高电平的情况下,所述电源控制电路,用于按照所述预设电压步进调整所述输入电压,包括:
所述电源控制电路,用于按照预设电压步进上调输入电压;
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压,包括:
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于高电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的所述输入高电平。
在一种可能的实现方式中,在所述输入门限电压为所述输入低电平的情况下,所述电源控制电路,用于按照所述预设电压步进调整所述输入电压,包括:
电源控制电路,用于按照所述预设电压步进下调输入电压;
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压,包括:
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于低电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的所述输入低电平。
第二方面,本发明还提供一种输入门限电压自动验证方法,应用于第一方面任一所述的输入门限电压自动验证***,所述方法包括:
所述上位机软件单元通过所述第二通讯接口控制所述输入输出接口处于输入模式;
所述上位机软件单元通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口;
所述输入电压确定电路按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元;
所述上位机软件单元在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压;
所述上位机软件单元确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功。
在一种可能的实现方式中,所述上位机软件单元确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功,包括:
所述上位机软件单元在确定所述输入门限电压后,基于所述输入门限电压生成输入输出接口门限电压测试报告,基于所述输入输出接口门限电压测试报告确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试成功。
第二方面提供的输入门限电压自动验证方法的有益效果与第一方面或第一方面任一可能的实现方式描述的输入门限电压自动验证***的有益效果相同,此处不做赘述。
第三方面,本发明还提供一种电子设备,包括:一个或多个处理器;和其上存储有指令的一个或多个机器可读介质,当由所述一个或多个处理器执行时,使得所述装置执行第二方面任一可能的实现方式描述的输入门限电压自动验证方法。
第三方面提供的电子设备的有益效果与第二方面或第二方面任一可能的实现方式描述的输入门限电压自动验证方法的有益效果相同,此处不做赘述。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本发明的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1示出了本申请实施例提供的一种输入门限电压自动验证***的结构示意图;
图2示出了本申请实施例提供的一种输入门限电压自动验证方法的流程示意图;
图3示出了本申请实施例提供的另一种输入门限电压自动验证方法的流程示意图;
图4为本发明实施例提供的一种电子设备的硬件结构示意图;
图5为本发明实施例提供的芯片的结构示意图。
附图标记:
10-上位机软件单元;20-电路板;201-第一通讯接口;202-输入电压确定电路;203-待测芯片单元;204-第二通讯接口;2031-输入输出接口;2021-电源控制电路;2022-滤波电路;2023-电压采样电路;2032-通讯子接口;300-电子设备;310-处理器;320-通信接口;330-存储器;340-通信线路;400-芯片;450-总线***。
具体实施方式
为了便于清楚描述本发明实施例的技术方案,在本发明的实施例中,采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分。例如,第一阈值和第二阈值仅仅是为了区分不同的阈值,并不对其先后顺序进行限定。本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不对数量和执行次序进行限定,并且“第一”、“第二”等字样也并不限定一定不同。
需要说明的是,本发明中,“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本发明中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其他实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言,使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。
本发明中,“至少一个”是指一个或者多个,“多个”是指两个或两个以上。“和/或”,描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B的情况,其中A,B可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达,是指的这些项中的任意组合,包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如,a,b或c中的至少一项(个),可以表示:a,b,c,a和b的结合,a和c的结合,b和c的结合,或a、b和c的结合,其中a,b,c可以是单个,也可以是多个。
图1示出了本申请实施例提供的一种输入门限电压自动验证***的结构示意图,如图1所示,所述输入门限电压指的是输入输出接口(GPIO)的输入门限电压,所述输入门限电压自动验证***包括:
上位机软件单元10、以及和所述上位机软件单元10连接的电路板20;
所述电路板20上设置有第一通讯接口201,以及依次和所述第一通讯接口201连接的输入电压确定电路202、待测芯片单元203和第二通讯接口204;所述待测芯片单元203包括输入输出接口2031;
所述上位机软件单元10,用于通过所述第二通讯接口204控制所述输入输出接口2031处于输入模式;
所述上位机软件单元10,用于通过所述第一通讯接口201控制所述输入电压确定电路202输出无电位差电压至所述输入输出接口2031;
所述输入电压确定电路202,用于按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口2031处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元10;
所述上位机软件单元10,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口2031的输入门限电压;
所述上位机软件单元10,用于确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功。
综上所述,本申请实施例提供的输入门限电压自动验证***,***包括:上位机软件单元、以及和所述上位机软件单元连接的电路板;所述电路板上设置有第一通讯接口,以及依次和所述第一通讯接口连接的输入电压确定电路、待测芯片单元和第二通讯接口;所述待测芯片单元包括输入输出接口;所述上位机软件单元,用于通过所述第二通讯接口控制所述输入输出接口处于输入模式;所述上位机软件单元,用于通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口;所述输入电压确定电路,用于按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元;所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压;所述上位机软件单元,用于确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功,可以自动处理数据,效率高,稳定性强,可以避免使用外部仪器进行供电测试,降低干扰,调高测试效率。
可选的,参见图1,所述输入电压确定电路202包括和所述第一通讯接口201依次电连接的电源控制电路2021、滤波电路2022和电压采样电路2023;
所述上位机软件单元10,用于通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口,包括:
所述上位机软件单元,用于通过所述第一通讯接口控制所述电源控制电路输出无电位差电压,所述无电位差电压经过所述滤波电路至所述输入输出接口;
所述输入电压确定电路,用于按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元,包括:
所述电源控制电路,用于按照所述预设电压步进调整所述输入电压;
所述电压采样电路,用于对所述输入输出接口处的所述输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元。
可选的,上位机软件单元10可以是PC上位机软件,可以接受测试数据并自动处理GPIO门限测试数据、输出测试报告,并且可以控制电源控制电路调整电压输出,并且可以根据电压采样电路的反馈实时调整。
在本申请中,电源控制电路可以精确输出毫伏(mV)级别的电压,按照需求准确调整输出电压,滤波电路可以对GPIO的输入电压进行滤波,使得输入源更加干净,避免干扰,电压采样电路可以设置在靠近芯片的GPIO管脚处,测试的门限电压更接近实际值,可以更真实的验证GPIO是否符合设计要求。
其中,电压采样电路可以对GPIO输入的电压进行采样处理,精度可以达到mV,电压数据可以通过待测芯片单元的通讯子接口最终汇总值PC上位机软件中。
可选的,所述上位机软件单元,用于确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功,包括:
所述上位机软件单元,用于在确定所述输入门限电压后,基于所述输入门限电压生成输入输出接口门限电压测试报告,基于所述输入输出接口门限电压测试报告确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试成功。
可选的,参见图1,所述待测芯片单元203还包括一端和所述电压采样电路2023连接,一端和所述第二通讯接口204连接的通讯子接口2032。
需要说明的是,GPIO的输入门限电压包括输入高电平(VIH)和输入低电平(VIL)两个测试项。当GPIO输入电压V≤VIL时,GPIO稳定判别输入为低电平,当GPIO输入电压V≥VIH时,GPIO稳定判别输入为高电平。
示例的,在所述输入门限电压为所述输入高电平的情况下,所述电源控制电路,用于按照所述预设电压步进调整所述输入电压,包括:
所述电源控制电路,用于按照预设电压步进上调输入电压;其中,预设电压可以是10mV,本申请实施例对此不作具体限定,可以根据实际应用场景调整该预设电压值。
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压,包括:
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于高电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的所述输入高电平。
其中,每上调一次电压,上位机软件单元就可以通过第二通讯接口反复接收GPIO状态一段时间,直至GPIO首次反馈状态一直稳定为高电平时,记录电压采样电路反馈的电压值V1,此时V1就是GPIO的VIH值。
又示例的,在所述输入门限电压为所述输入低电平的情况下,所述电源控制电路,用于按照所述预设电压步进调整所述输入电压,包括:
电源控制电路,用于按照所述预设电压步进下调输入电压;其中,所述预设电压可以是10mV,本申请实施例对此不作具体限定,可以根据实际应用场景调整该预设电压值。
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压,包括:
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于低电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的所述输入低电平。
其中,每下调一次电压,上位机软件单元就可以通过第二通讯接口反复接收GPIO状态一段时间,当GPIO首次反馈状态一直稳定为低电平时,记录电源控制电路对应的输出电压值V2,此时,V2就为此GPIO的VIL值。
在本申请中,参见图1,上位机软件单元10可以是PC上位机软件,可以发送调压指令值第一通讯接口201,第一通讯接口201可以将调压指令发送至电源控制电路2021,电源控制电路电压输出值滤波电路2022,滤波电路2022电压输入至输入输出接口(GPIO)2031,将GPIO高电平或低电平结果输出至第二通讯接口204,滤波电路2022电压输入电压采样电路2023,通过通讯子接口2032将GPIO输入电压输出至第二通讯接口204,第二通讯接口204将接收测试数据传输至上位机软件单元10,最终上位机软件单元可以根据接收到的数据自动处理数据,判断GPIO的门限电平是否符合设计要求,达到自动验证的目的。
综上所述,本申请实施例提供的输入门限电压自动验证***,***包括:上位机软件单元、以及和所述上位机软件单元连接的电路板;所述电路板上设置有第一通讯接口,以及依次和所述第一通讯接口连接的输入电压确定电路、待测芯片单元和第二通讯接口;所述待测芯片单元包括输入输出接口;所述上位机软件单元,用于通过所述第二通讯接口控制所述输入输出接口处于输入模式;所述上位机软件单元,用于通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口;所述输入电压确定电路,用于按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元;所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压;所述上位机软件单元,用于确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功,可以自动处理数据,效率高,稳定性强,可以避免使用外部仪器进行供电测试,降低干扰,调高测试效率。
图2示出了本申请实施例提供的一种输入门限电压自动验证方法的流程示意图,应用于图1所述的输入门限电压自动验证***,如图2所示,所述方法包括:
步骤S1:所述上位机软件单元通过所述第二通讯接口控制所述输入输出接口处于输入模式。
在自所述上位机软件单元通过所述第二通讯接口控制所述输入输出接口处于输入模式之后,执行步骤S2。
步骤S2:所述上位机软件单元通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口。
在所述上位机软件单元通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口之后,执行步骤S3。
步骤S3:所述输入电压确定电路按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元。
在所述输入电压确定电路按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元之后,执行步骤S4。
步骤S4:所述上位机软件单元在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压。
在所述上位机软件单元在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压之后,执行步骤S5。
步骤S5:所述上位机软件单元确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功。
所述待测校准性能参数和所述目标待测校准性能参数均包括:功率校准参数、频偏校准参数和接收灵敏度校准参数;所述目标性能参数包括功率参数、频偏参数和接收灵敏度参数。
综上所述,本申请实施例提供的输入门限电压自动验证方法,所述上位机软件单元通过所述第二通讯接口控制所述输入输出接口处于输入模式;所述上位机软件单元通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口;所述输入电压确定电路按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元;所述上位机软件单元在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压;所述上位机软件单元确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功,可以自动处理数据,效率高,稳定性强,可以避免使用外部仪器进行供电测试,降低干扰,调高测试效率。
图3示出了本申请实施例提供的另一种输入门限电压自动验证方法的流程示意图,应用于图1所述的输入门限电压自动验证***,如图3所示,输入门限电压自动验证方法包括:
步骤E1:所述上位机软件单元通过所述第二通讯接口控制所述输入输出接口处于输入模式。
在自所述上位机软件单元通过所述第二通讯接口控制所述输入输出接口处于输入模式之后,执行步骤E2。
步骤E2:所述上位机软件单元通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口。
在所述上位机软件单元通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口之后,执行步骤E3。
步骤E3:所述输入电压确定电路按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元。
在所述输入电压确定电路按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元之后,执行步骤E4。
步骤E4:所述上位机软件单元在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压。
在所述上位机软件单元在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压之后,执行步骤E5。
步骤E5:所述上位机软件单元在确定所述输入门限电压后,基于所述输入门限电压生成输入输出接口门限电压测试报告,基于所述输入输出接口门限电压测试报告确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试成功。
综上所述,本申请实施例提供的输入门限电压自动验证方法,所述上位机软件单元通过所述第二通讯接口控制所述输入输出接口处于输入模式;所述上位机软件单元通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口;所述输入电压确定电路按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元;所述上位机软件单元在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压;所述上位机软件单元确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功,可以自动处理数据,效率高,稳定性强,可以避免使用外部仪器进行供电测试,降低干扰,调高测试效率。
本发明提供的一种输入门限电压自动验证方法,可以实现如图1所示的输入门限电压自动验证***,为避免重复,这里不再赘述。
本发明实施例中的电子设备可以是装置,也可以是终端中的部件、集成电路、或芯片。该装置可以是移动电子设备,也可以为非移动电子设备。示例性的,移动电子设备可以为手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、车载电子设备、可穿戴设备、超级移动个人计算机(ultra-mobile personal computer,UMPC)、上网本或者个人数字助理(personaldigital assistant,PDA)等,非移动电子设备可以为服务器、网络附属存储器(NetworkATached Storage,NAS)、个人计算机(personal computer,PC)、电视机(television,TV)、柜员机或者自助机等,本发明实施例不作具体限定。
本发明实施例中的电子设备可以为具有操作***的装置。该操作***可以为安卓(Android)操作***,可以为ios操作***,还可以为其他可能的操作***,本发明实施例不作具体限定。
图4示出了本发明实施例提供的一种电子设备的硬件结构示意图。如图4所示,该电子设备300包括处理器310。
如图4所示,上述处理器310可以是一个通用中央处理器(central processingunit,CPU),微处理器,专用集成电路(application-specific integrated circuit,ASIC),或一个或多个用于控制本发明方案程序执行的集成电路。
如图4所示,上述电子设备300还可以包括通信线路340。通信线路340可包括一通路,在上述组件之间传送信息。
可选的,如图4所示,上述电子设备还可以包括通信接口320。通信接口320可以为一个或多个。通信接口320可使用任何收发器一类的装置,用于与其他设备或通信网络通信。
可选的,如图4所示,该电子设备还可以包括存储器330。存储器330用于存储执行本发明方案的计算机执行指令,并由处理器来控制执行。处理器用于执行存储器中存储的计算机执行指令,从而实现本发明实施例提供的方法。
如图4所示,存储器330可以是只读存储器(read-only memory,ROM)或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备,随机存取存储器(random access memory,RAM)或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备,也可以是电可擦可编程只读存储器(electrically erasable programmable read-only memory,EEPROM)、只读光盘(compactdisc read-only memory,CD-ROM)或其他光盘存储、光碟存储(包括压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等)、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质,但不限于此。存储器330可以是独立存在,通过通信线路340与处理器310相连接。存储器330也可以和处理器310集成在一起。
可选的,本发明实施例中的计算机执行指令也可以称之为应用程序代码,本发明实施例对此不作具体限定。
在具体实现中,作为一种实施例,如图4所示,处理器310可以包括一个或多个CPU,如图4中的CPU0和CPU1。
在具体实现中,作为一种实施例,如图4所示,终端设备可以包括多个处理器,如图4中的处理器。这些处理器中的每一个可以是一个单核处理器,也可以是一个多核处理器。
图5是本发明实施例提供的芯片的结构示意图。如图5所示,该芯片400包括一个或两个以上(包括两个)处理器310。
可选的,如图5所示,该芯片还包括通信接口320和存储器330,存储器330可以包括只读存储器和随机存取存储器,并向处理器提供操作指令和数据。存储器的一部分还可以包括非易失性随机存取存储器(non-volatile random access memory,NVRAM)。
在一些实施方式中,如图5所示,存储器330存储了如下的元素,执行模块或者数据结构,或者他们的子集,或者他们的扩展集。
在本发明实施例中,如图5所示,通过调用存储器存储的操作指令(该操作指令可存储在操作***中),执行相应的操作。
如图5所示,处理器310控制终端设备中任一个的处理操作,处理器310还可以称为中央处理单元(central processing unit,CPU)。
如图5所示,存储器330可以包括只读存储器和随机存取存储器,并向处理器提供指令和数据。存储器330的一部分还可以包括NVRAM。例如应用中存储器、通信接口以及存储器通过总线***耦合在一起,其中总线***除包括数据总线之外,还可以包括电源总线、控制总线和状态信号总线等。但是为了清楚说明起见,在图5中将各种总线都标为总线***450。
如图5所示,上述本发明实施例揭示的方法可以应用于处理器中,或者由处理器实现。处理器可能是一种集成电路芯片,具有信号的处理能力。在实现过程中,上述方法的各步骤可以通过处理器中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器可以是通用处理器、数字信号处理器(digital signal processing,DSP)、ASIC、现成可编程门阵列(field-programmable gate array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成,或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器,闪存、只读存储器,可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器,处理器读取存储器中的信息,结合其硬件完成上述方法的步骤。
一方面,提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质中存储有指令,当指令被运行时,实现上述实施例中由终端设备执行的功能。
一方面,提供一种芯片,该芯片应用于终端设备中,芯片包括至少一个处理器和通信接口,通信接口和至少一个处理器耦合,处理器用于运行指令,以实现上述实施例中由输入门限电压自动验证方法执行的功能。
在上述实施例中,可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时,可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机程序或指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序或指令时,全部或部分地执行本发明实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、终端、用户设备或者其它可编程装置。所述计算机程序或指令可以存储在计算机可读存储介质中,或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输,例如,所述计算机程序或指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线或无线方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是集成一个或多个可用介质的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质,例如,软盘、硬盘、磁带;也可以是光介质,例如,数字视频光盘(digital video disc,DVD);还可以是半导体介质,例如,固态硬盘(solid state drive,SSD)。
尽管在此结合各实施例对本发明进行了描述,然而,在实施所要求保护的本发明过程中,本领域技术人员通过查看附图、公开内容、以及所附权利要求书,可理解并实现公开实施例的其他变化。在权利要求中,“包括”(comprising)一词不排除其他组成部分或步骤,“一”或“一个”不排除多个的情况。单个处理器或其他单元可以实现权利要求中列举的若干项功能。相互不同的从属权利要求中记载了某些措施,但这并不表示这些措施不能组合起来产生良好的效果。
尽管结合具体特征及其实施例对本发明进行了描述,显而易见的,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,可对其进行各种修改和组合。相应地,本说明书和附图仅仅是所附权利要求所界定的本发明的示例性说明,且视为已覆盖本发明范围内的任意和所有修改、变化、组合或等同物。显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包括这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种输入门限电压自动验证***,其特征在于,所述***包括:
上位机软件单元、以及和所述上位机软件单元连接的电路板;
所述电路板上设置有第一通讯接口,以及依次和所述第一通讯接口连接的输入电压确定电路、待测芯片单元和第二通讯接口;所述待测芯片单元包括输入输出接口;
所述上位机软件单元,用于通过所述第二通讯接口控制所述输入输出接口处于输入模式;
所述上位机软件单元,用于通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口;
所述输入电压确定电路,用于按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元;
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压;
所述上位机软件单元,用于确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功。
2.根据权利要求1所述的***,其特征在于,所述输入电压确定电路包括和所述第一通讯接口依次电连接的电源控制电路、滤波电路和电压采样电路;
所述上位机软件单元,用于通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口,包括:
所述上位机软件单元,用于通过所述第一通讯接口控制所述电源控制电路输出无电位差电压,所述无电位差电压经过所述滤波电路至所述输入输出接口;
所述输入电压确定电路,用于按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元,包括:
所述电源控制电路,用于按照所述预设电压步进调整所述输入电压;
所述电压采样电路,用于对所述输入输出接口处的所述输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元。
3.根据权利要求1所述的***,其特征在于,所述上位机软件单元,用于确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功,包括:
所述上位机软件单元,用于在确定所述输入门限电压后,基于所述输入门限电压生成输入输出接口门限电压测试报告,基于所述输入输出接口门限电压测试报告确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试成功。
4.根据权利要求2所述的***,其特征在于,所述待测芯片单元还包括一端和所述电压采样电路连接,一端和所述第二通讯接口连接的通讯子接口。
5.根据权利要求2所述的***,其特征在于,所述输入门限电压包括输入高电平和输入低电平。
6.根据权利要求5所述的***,其特征在于,在所述输入门限电压为所述输入高电平的情况下,所述电源控制电路,用于按照所述预设电压步进调整所述输入电压,包括:
所述电源控制电路,用于按照预设电压步进上调输入电压;
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压,包括:
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于高电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的所述输入高电平。
7.根据权利要求5所述的***,其特征在于,在所述输入门限电压为所述输入低电平的情况下,所述电源控制电路,用于按照所述预设电压步进调整所述输入电压,包括:
电源控制电路,用于按照所述预设电压步进下调输入电压;
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压,包括:
所述上位机软件单元,用于在所述采样输入电压在预设时间内处于低电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的所述输入低电平。
8.一种输入门限电压自动验证方法,其特征在于,应用于权利要求1-7任一所述的输入门限电压自动验证***中,所述方法包括:
所述上位机软件单元通过所述第二通讯接口控制所述输入输出接口处于输入模式;
所述上位机软件单元通过所述第一通讯接口控制所述输入电压确定电路输出无电位差电压至所述输入输出接口;
所述输入电压确定电路按照预设电压步进调整输入电压,对所述输入输出接口处的输入电压进行采样,将采样得到的采样输入电压反馈至所述上位机软件单元;
所述上位机软件单元在所述采样输入电压在预设时间内处于预设电平状态时,确定所述电压采样电路对应的电压值为所述输入输出接口的输入门限电压;
所述上位机软件单元确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述上位机软件单元确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试验证成功,包括:
所述上位机软件单元在确定所述输入门限电压后,基于所述输入门限电压生成输入输出接口门限电压测试报告,基于所述输入输出接口门限电压测试报告确定所述输入门限电压和预设输入电压的误差值,在所述误差值在预设误差范围内时,确定测试成功。
10.一种电子设备,其特征在于,包括:一个或多个处理器;和其上存储有指令的一个或多个机器可读介质,当由所述一个或多个处理器执行时,使得可以执行权利要求8至9任一所述的输入门限电压自动验证方法。
CN202210700911.XA 2022-06-21 2022-06-21 一种输入门限电压自动验证***、方法及电子设备 Active CN114779057B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210700911.XA CN114779057B (zh) 2022-06-21 2022-06-21 一种输入门限电压自动验证***、方法及电子设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210700911.XA CN114779057B (zh) 2022-06-21 2022-06-21 一种输入门限电压自动验证***、方法及电子设备

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN114779057A true CN114779057A (zh) 2022-07-22
CN114779057B CN114779057B (zh) 2022-09-06

Family

ID=82421874

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210700911.XA Active CN114779057B (zh) 2022-06-21 2022-06-21 一种输入门限电压自动验证***、方法及电子设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114779057B (zh)

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1619701A (zh) * 2003-11-18 2005-05-25 海力士半导体有限公司 用于测量与非闪存装置的门限电压的方法
JP2008102094A (ja) * 2006-10-20 2008-05-01 Fujitsu Ltd 電圧監視方法及びその装置
CN101281216A (zh) * 2008-05-28 2008-10-08 北京中星微电子有限公司 一种采用扫描模式的电压检测电路
CN102116792A (zh) * 2009-12-31 2011-07-06 国民技术股份有限公司 一种芯片电压信号的测试***及其测试方法
US20120146674A1 (en) * 2010-12-13 2012-06-14 International Business Machines Corporation Determining local voltage in an electronic system
CN103064000A (zh) * 2013-01-05 2013-04-24 北京大学 Mos管阵列的阈值电压分布监测装置及方法
CN104215812A (zh) * 2013-06-05 2014-12-17 上海华虹集成电路有限责任公司 Mcu芯片电源电压检测电路
CN105680504A (zh) * 2015-12-18 2016-06-15 联想(北京)有限公司 一种保护方法、保护电路及电子设备
CN105823976A (zh) * 2015-01-09 2016-08-03 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 对芯片进行检测及对芯片测试结果进行验证的方法
CN106405388A (zh) * 2016-08-19 2017-02-15 西安电子科技大学 一种数字芯片功能测试方法及***
CN107196272A (zh) * 2017-07-07 2017-09-22 成都启臣微电子股份有限公司 一种开关电源初级绕组峰值电流深度连续保护装置
CN112782569A (zh) * 2019-11-11 2021-05-11 圣邦微电子(北京)股份有限公司 数字芯片管脚逻辑电平的阈值测试装置及测试方法
CN114236217A (zh) * 2022-02-23 2022-03-25 苏州贝克微电子股份有限公司 一种浮地式芯片电压检测电路
CN114336939A (zh) * 2021-12-30 2022-04-12 盈帜科技(常州)有限公司 一种判断市电过压欠压的方法
CN114624500A (zh) * 2022-04-20 2022-06-14 四川大学 一种pA量级弱电流的精密测量***

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1619701A (zh) * 2003-11-18 2005-05-25 海力士半导体有限公司 用于测量与非闪存装置的门限电压的方法
JP2008102094A (ja) * 2006-10-20 2008-05-01 Fujitsu Ltd 電圧監視方法及びその装置
CN101281216A (zh) * 2008-05-28 2008-10-08 北京中星微电子有限公司 一种采用扫描模式的电压检测电路
CN102116792A (zh) * 2009-12-31 2011-07-06 国民技术股份有限公司 一种芯片电压信号的测试***及其测试方法
US20120146674A1 (en) * 2010-12-13 2012-06-14 International Business Machines Corporation Determining local voltage in an electronic system
CN103064000A (zh) * 2013-01-05 2013-04-24 北京大学 Mos管阵列的阈值电压分布监测装置及方法
CN104215812A (zh) * 2013-06-05 2014-12-17 上海华虹集成电路有限责任公司 Mcu芯片电源电压检测电路
CN105823976A (zh) * 2015-01-09 2016-08-03 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 对芯片进行检测及对芯片测试结果进行验证的方法
CN105680504A (zh) * 2015-12-18 2016-06-15 联想(北京)有限公司 一种保护方法、保护电路及电子设备
CN106405388A (zh) * 2016-08-19 2017-02-15 西安电子科技大学 一种数字芯片功能测试方法及***
CN107196272A (zh) * 2017-07-07 2017-09-22 成都启臣微电子股份有限公司 一种开关电源初级绕组峰值电流深度连续保护装置
CN112782569A (zh) * 2019-11-11 2021-05-11 圣邦微电子(北京)股份有限公司 数字芯片管脚逻辑电平的阈值测试装置及测试方法
CN114336939A (zh) * 2021-12-30 2022-04-12 盈帜科技(常州)有限公司 一种判断市电过压欠压的方法
CN114236217A (zh) * 2022-02-23 2022-03-25 苏州贝克微电子股份有限公司 一种浮地式芯片电压检测电路
CN114624500A (zh) * 2022-04-20 2022-06-14 四川大学 一种pA量级弱电流的精密测量***

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
邢亚第: "一种不共地***的电压门限监控电路", 《微处理机》 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN114779057B (zh) 2022-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108984389B (zh) 一种应用程序测试方法及终端设备
CN109344066B (zh) 一种浏览器页面的测试方法、***及终端
CN114584228B (zh) 一种wifi生产测试校准***、方法及电子设备
US11696159B2 (en) Method, apparatus, and non-transitory computer readable medium for testing terminals
CN112996020B (zh) 一种基于蓝牙的自动化测试方法、装置及蓝牙测试终端
CN110569194A (zh) 接口测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN114325534A (zh) 信号测试方法、装置、设备及可读存储介质
CN110580220B (zh) 测量代码段执行时间的方法及终端设备
WO2019218466A1 (zh) 一种应用程序测试方法、装置、终端设备及介质
CN111190089B (zh) 抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备
CN114779057B (zh) 一种输入门限电压自动验证***、方法及电子设备
CN111638439B (zh) 通信模块测试方法、装置、计算机设备和存储介质
CN116185133B (zh) 芯片时钟校准方法、装置、芯片、电子设备及存储介质
CN112199281A (zh) 一种数据处理方法、装置、终端设备及可读存储介质
CN116521480A (zh) 功耗读取精度测试***、方法、装置、设备和存储介质
CN111324536A (zh) 一种压力测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN113468237B (zh) 一种业务数据处理模型生成方法、***构建方法及装置
CN114779039A (zh) 一种半导体自动化测试***、方法及电子设备
CN113160875B (zh) 芯片测试***和测试方法
CN113220617B (zh) 一种即插即用设备的检测电路、检测方法及终端
US11120716B2 (en) Method for detecting gamma voltage value, gamma chip, and computer-readable storage medium
CN109165127B (zh) 问题接口的定位方法、装置及电子设备
CN112214486B (zh) 数据存储方法、***及装置
CN114121138B (zh) 内存电压测试方法、装置、计算设备及***
CN117310454B (zh) 芯片测试方法及相关装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant