CN111190089B - 抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备 - Google Patents
抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111190089B CN111190089B CN201811355406.6A CN201811355406A CN111190089B CN 111190089 B CN111190089 B CN 111190089B CN 201811355406 A CN201811355406 A CN 201811355406A CN 111190089 B CN111190089 B CN 111190089B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- jitter
- signal
- output
- point
- detection time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2882—Testing timing characteristics
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31708—Analysis of signal quality
- G01R31/31709—Jitter measurements; Jitter generators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/2856—Internal circuit aspects, e.g. built-in test features; Test chips; Measuring material aspects, e.g. electro migration [EM]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31712—Input or output aspects
- G01R31/31713—Input or output interfaces for test, e.g. test pins, buffers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31718—Logistic aspects, e.g. binning, selection, sorting of devices under test, tester/handler interaction networks, Test management software, e.g. software for test statistics or test evaluation, yield analysis
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31725—Timing aspects, e.g. clock distribution, skew, propagation delay
- G01R31/31726—Synchronization, e.g. of test, clock or strobe signals; Signals in different clock domains; Generation of Vernier signals; Comparison and adjustment of the signals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本公开是关于一种抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备,所述抖动时间的确定方法包括确定集成电路输出信号的多个检测时间点;将多个所述检测时间点的输出信号分别和预设信号进行比较,以判断每个所述检测时间点是否为抖动点;根据所述抖动点确定所述集成电路输出信号的抖动时间。本公开可以在不需要额外设备的情况下确定出集成电路芯片输出信号的抖动时间。
Description
技术领域
本公开涉及集成电路测试技术领域,具体而言,涉及一种抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备。
背景技术
随着电子及通信技术的发展,抖动(jitter)不仅在模拟设计中是一个重要的考虑因素,在数据设计领域,也日益得到人们的重视。抖动可以被理解为对信号时域变化的测量结果,抖动描述了信号周期距离其理想值的偏离程度。
目前,通常采用示波器对信号的波形进行测量,以确定出抖动时间。然而,一方面,这种测量手段需要在测试机上配置示波器,或外接示波器;另一方面,示波器对单波形进行测量,也就是说,示波器一般难以对多个波形进行测量,效率较低;再一方面,示波器往往需要测试人员手动调节,操作复杂。
需要说明的是,在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
本公开的目的在于提供一种抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备,进而至少在一定程度上克服现有技术中采用示波器测量抖动时间而造成过程复杂的问题。
根据本公开的第一方面,提供一种一种抖动时间的确定方法,包括:
确定集成电路输出信号的多个检测时间点;
将多个所述检测时间点的输出信号分别和预设信号进行比较,以判断每个所述检测时间点是否为抖动点;
根据所述抖动点确定所述集成电路输出信号的抖动时间。
根据本公开的一实施方式,所述将多个所述检测时间点的信号分别和预设信号进行比较,以判断每个所述检测时间点的信号是否为抖动点,包括:
比较每个所述检测时间点的输出信号和所述预设信号;
如果所述检测时间点的输出信号和所述预设信号一致,则所述检测时间点不是抖动点;
如果所述检测时间点的输出信号和所述预设信号不一致,则所述检测时间点是抖动点;
其中,所述预设信号为集成电路芯片预期输出信号。
根据本公开的一实施方式,所述比较每个所述检测时间点的输出信号和所述预设信号,包括:
多次重复获取所述检测时间点的输出信号,比较每次获取的所述检测时间点的输出信号和所述预设信号;
统计多次比较所述检测时间点的输出信号和所述预设信号的结果。
根据本公开的一实施方式,所述如果所述检测时间点的输出信号和所述预设信号一致,则所述检测时间点不是抖动点,包括:
如果多次获取的所述检测时间点的输出信号均和所述预设信号一致,则所述检测时间点不是抖动点。
根据本公开的一实施方式,所述多次重复获取所述检测时间点的输出信号,比较每次获取的所述检测时间点的输出信号和所述预设信号,包括:
如果多次获取的所述检测时间点的输出信号和所述预设信号至少一次不一致,则所述检测时间点是抖动点。
根据本公开的一实施方式,所述将多个所述检测时间点的输出信号分别和预设信号进行比较,以判断每个所述检测时间点是否为抖动点,包括:
重复输入多次输入信号,以重复获取多个输出信号;
将所述多个检测时间点中的每个检测时间点的输出信号和所述预设信号进行比较;
根据比较结果确定所述检测时间点是否为抖动点;
其中,所述预设信号为预设阈值。
根据本公开的一实施方式,根据比较结果确定所述检测时间点是否为抖动点,包括:
当所述多个输出信号中所述检测时间点的输出信号和预设信号的比较结果相同,则所述检测时间点不是抖动点;
当所述多个输出信号中所述检测时间点的输出信号和预设信号的比较结果不相同,则所述检测时间点是抖动点。
根据本公开的一实施方式,所述所述检测时间点的输出信号和所述预设信号的比较结果包括第一结果和第二结果,所述检测时间点的输出信号大于等于所述预设信号为第一结果,所述检测时间点的输出信号小于所述预设信号为第二结果。
根据本公开的一实施方式,所述确定集成电路输出信号的多个检测时间点,包括:
根据预设规则,确定输出信号上的多个离散的时间点为检测时间点。
根据本公开的一实施方式,所述确定集成电路输出信号的多个检测时间点,包括:
确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚和/或数据输入输出引脚的输出电压信号上的多个检测时间点。
根据本公开的一实施方式,确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚和/或数据输入输出引脚的输出电压信号上的多个检测时间点包括:
确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚或数据输入输出引脚的输出电压信号;
在所述输出电压信号的上升沿或下降沿上确定所述多个检测时间点。
根据本公开的一实施方式,所述根据所述抖动点确定所述集成电路输出信号的抖动时间,包括:
在多个所述抖动点按时间顺序形成的序列中,确定第一个抖动点到最后一个抖动点之间的时间即为抖动时间。
根据本公开的一实施方式,所述根据所述抖动点确定所述集成电路输出信号的抖动时间,包括:
将所述多个检测时间点的检测结果转化为shmoo图;
在所述shmoo图中,根据所述抖动点确定抖动时间。
根据本公开的第二方面,提供一种抖动时间的确定装置,包括:
第一确定模块,用于确定集成电路输出信号的多个检测时间点;
比较模块,用于将多个所述检测时间点的输出信号分别和预设信号进行比较,以判断每个所述检测时间点是否为抖动点;
第二确定模块,用于根据所述抖动点确定所述集成电路输出信号的抖动时间。
根据本公开的第三方面,提供一种电子设备,包括:
处理器;以及
存储器,所述存储器上存储有计算机可读指令,所述计算机可读指令被所述处理器执行时实现上述的抖动时间的确定方法。
根据本公开的第四方面,提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述的抖动时间的确定方法。
本公开提供的抖动时间的确定方法,通过在集成电路芯片输出信号上确定不同的检测时间点,分别比较多个检测时间点的输出信号和预设信号,进而确定该检测时间点是否为抖动点,通过抖动点确定输出信号的抖动时间。一方面,本公开的抖动时间的确定过程不需要例如示波器的额外的测试设备,节约成本的同时降低了测试机的复杂度;另一方面,由于不需要人为调节示波器的过程,大大降低了人力成本。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
附图说明
通过参照附图来详细描述其示例实施例,本公开的上述和其它特征及优点将变得更加明显。
图1为相关技术提供的一种集成电路测试信号示意图;
图2为相关技术提供的一种输出信号抖动的示意图;
图3为本公开示例性实施例提供的一种抖动时间的确定方法的流程图;
图4为本公开示例性实施例提供的一种输出信号的波形示意图;
图5为本公开示例性实施例提供的一种抖动时间坐标示意图;
图6为本公开示例性实施例提供的一种抖动时间Shmoo示意图;
图7为本公开示例性实施例提供的一种抖动时间的确定装置的框图;
图8为本公开示例性实施例提供的一种电子设备的方框图;
图9为本公开示例性实施例提供的一种存储介质的示意图。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而,示例实施例能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的实施例;相反,提供这些实施例使得本公开将全面和完整,并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的部分,因而将省略对它们的重复描述。
此外,所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中,提供许多具体细节从而给出对本公开的实施例的充分理解。然而,本领域技术人员将意识到,可以实践本公开的技术方案而没有所述特定细节中的一个或更多,或者可以采用其它的方法、组元、材料、装置、步骤等。在其它情况下,不详细示出或描述公知结构、方法、装置、实现、材料或者操作以避免模糊本公开的各方面。
附图中所示的方框图仅仅是功能实体,不一定必须与物理上独立的实体相对应。即,可以采用软件形式来实现这些功能实体,或在一个或多个软件硬化的模块中实现这些功能实体或功能实体的一部分,或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
图1示出了集成电路芯片输入控制信号和数据输入输出引脚(即,DQ引脚)和数据选通信号引脚(即,DQS引脚)的输出电压的一种示意图,其中,命令信号(CMD)、群组地址信号(BGA,BANK GROUP ADDRESS)、地址信号(ADDRESS)为输入的控制信号和地址信号等,在这些信号的控制下,集成电路芯片DQS引脚和DQ引脚输出信号。
在集成电路芯片输出信号时,由于芯片中噪声(例如,热噪声、散粒噪声、闪烁噪声、爆裂噪声等)的影响,信号会产生抖动,如图2所示,正常输出的信号为10,但是由于抖动的存在输出信号可能变为例如图中所示的信号11或信号12。其中抖动的定义为数字信号的各个有效瞬时对其当时的理想位置的短期性偏离,在集成电路芯片测试中输出信号的抖动时间是指信号对其理想位置偏离的时间区间,抖动时间是集成电路测试的重要指标之一。
本公开所述的集成电路芯片的输出电压可以对应DRAM(Dynamic Random AccessMemory,动态随机存取存储器)集成电路芯片DQS引脚和/或DQ引脚输出的电压信号。然而,应当理解的是,本公开的抖动确定方法还可以应用到除这两种信号之外的其他信号的场景中。
本公开示例性实施例首先提供了一种抖动确定方法。需要说明的是,本公开的抖动确定方法可以由测试机(tester)的处理单元来实现,由此,可以在不使用示波器的情况下实现对抖动的测量。然而,容易理解的是,采用测试机外部的其他处理单元也可以实现下面描述的方法,本公开对此不做特殊限定。
如图3所示,本公开实施例提供的抖动时间确定方法包括如下步骤:
步骤S310,确定集成电路输出信号的多个检测时间点;
步骤S320,将多个所述检测时间点的输出信号分别和预设信号进行比较,以判断每个所述检测时间点是否为抖动点;
步骤S330,根据所述抖动点确定所述集成电路输出信号的抖动时间。
本公开提供的抖动时间的确定方法,通过在集成电路芯片输出信号上确定不同的检测时间点,分别比较多个检测时间点的输出信号和预设信号,进而确定该检测时间点是否为抖动点,通过抖动点确定输出信号的抖动时间。一方面,本公开的抖动时间的确定过程不需要例如示波器的额外的测试设备,节约成本的同时降低了测试机的复杂度;另一方面,由于不需要人为调节示波器的过程,大大降低了人力成本。
下面将对本公开实施例提供的抖动时间的确定方法的各步骤进行详细说明。
在步骤S310中,确定集成电路输出信号的多个检测时间点;
在本公开的示例性实施方式中,测试机可以向集成电路芯片施加一工作电压,在这种情况下,集成电路芯片可以基于所测试的场景产生一输出信号。也就是说,输出信号与工作电压构成一一对应的关系。当然在实际应用中,也可以在其他工作条件下对集成电路芯片输出信号的抖动时间进行测试,比如,电流或频率等,使得输出信号与工作电流或者频率等构成一一对应的关系,本公开实施例对此不做具体限定。
其中,检测时间点可以是连续的点也可以是离散的点。比如,检测时间是离散的点,测试人员可以根据测试需求配置检测时间点。此时,测试机可以获取集成电路芯片的输出信号,并基于测试人员预先的配置确定输出信号上的多个检测时间点。例如,在1s内,均匀配置50个检测时间点,在这种情况下,每两个相邻的检测时间点之间的时间间隔为20ms。应当理解的是,测试人员预先的配置可以存储在测试机中,当需要确定抖动情况时,测试机自行调用该配置以确定检测时间点。另外,测试人员可以基于不同的输出信号、不同的测试场景、不同的精度要求等对配置进行修改,本公开对此不做特殊限制。
示例的,在集成电路芯片为DRAM芯片的情况下,首先,测试机可以确定DRAM芯片的DQS引脚或DQ引脚的输出信号;随后,测试机可以在该输出信号上确定多个检测时间点。具体的,因为抖动主要体现在信号的跳变沿上,因此,可以在输出信号的上升沿或下降沿上确定多个检测时间点。
在步骤S320中,将多个所述检测时间点的输出信号分别和预设信号进行比较,以判断每个所述检测时间点是否为抖动点。
在本公开实施例提供的一种可行的实施方式中,预设信号为集成电路芯片在理想状态下响应输入信号而输出的预期信号。在检测每个检测时间点的输出信号时,可以在一次输入信号输入后,获取该检测时间点对应的输出信号,然后与该检测时间点理想这状态下预期输出信号进行比较。比如,有十个检测时间点,则可以重复输入输入信号十次,每次检测一个检测时间点是否为抖动点。
判断检测时间点是否为抖动点的规则可以如下:如果所述检测时间点的输出信号和所述预设信号一致,则所述检测时间点不是抖动点;如果所述检测时间点的输出信号和所述预设信号不一致,则所述检测时间点是抖动点。
需要说明的是,本公开实施例中所述的所述检测时间点的输出信号和所述预设信号一致,在实际应用中,该一致可以是检测时间点的输出信号和预设信号相同,也可以是检测时间点的输出信号和预设信号的差异在允许的区间范围内,本公开实施例对此不做具体限定。比如,输出信号为电压信号,检测时间点的输出信号和预设信号的差值在[-0.1V~0.1V]之间时,可以认为检测时间点的输出信号和预设信号一致。在实际应用中,差异允许的区间可以是测试人员根据实际测试需要所配置。
进一步的,为了保证检测结果的准确性,可以多次重复获取所述检测时间点的输出信号,比较每次获取的所述检测时间点的输出信号和所述预设信号。
在检测时,为了避免单次检测存在偶然性的可能,在检测一个检测时间点是否为抖动点时,可以重复输入多次相同的输入信号,获取每次集成电路芯片的输出信号和预设信号进行比较;可以通过计数器统计检测时间点的错误情况。
在本公开实施例提供的另一种可行的实施方式中,所述预设信号为预设阈值,该预设阈值和集成电路芯片的预期输出信号相关,比如集成电路芯片的预期输出信号为电压信号,且其电压值为1~2V,此时可以将该预设阈值设为1.5V。
通过测试机重复的向集成电路芯片输入所述输入信号,以重复获取多个输出信号;将所述多个检测时间点中的每个检测时间点的输出信号和所述预设信号进行比较;
当所述多个输出信号中所述检测时间点的输出信号和预设信号的比较结果相同,则所述检测时间点不是抖动点;当所述多个输出信号中所述检测时间点的输出信号和预设信号的比较结果不相同,则所述检测时间点是抖动点。
其中,所述所述检测时间点的输出信号和所述预设信号的比较结果包括第一结果和第二结果,所述检测时间点的输出信号大于等于所述预设信号为第一结果,所述检测时间点的输出信号小于所述预设信号为第二结果。
比如,对于一集成电路芯片,在第一次输入信号时其输出信号波形和第二次输入信号时输出的波形如图4所示,图中横轴为预设阈值,在横轴上方的图像代表第一结果,在横轴下方代表第二结果。对比两次输出信号,在相同时间点比较结果不同的点即为抖动点。将多次输出的信号的抖动点进行叠加,得到图5所示的抖动时间的示意图。其中,左侧区域为第一结果叠加区(FAIL),右侧为第二结果叠加区(PASS),中间区域FAIL和PASS混杂,即为抖动区,其所对应的时间为抖动时间。
在步骤S330中,根据所述抖动点确定所述集成电路输出信号的抖动时间。
在多个所述抖动点按时间顺序形成的序列中,确定第一个抖动点到最后一个抖动点之间的时间即为抖动时间。其中,根据步骤S320中得到的抖动点,按时间顺序对多个抖动点进行排序,在该序列中第一个抖动点到最后一个抖动点的时间区间即为抖动时间。
在实际应用中还可以通过测试机shmoo测试功能,将测试结果生成为shmoo图,在参数值对应的坐标上进行一种使用该参数值的测试,并通过例如上述“PASS”或“FAIL”进行表示,生成的图为shmoo图。比如,在一示例性测试中,获得的shmoo图为图6。如图6所示,左侧区域为FAIL叠加区,右侧区域为PASS叠加区,中间区域FAIL和PASS混杂,即为抖动区,其对应的时间即为抖动时间,比如,在工作电压为1V时,该抖动时间为1.5ns(2.50ns-1.00ns)。
本公开提供的抖动时间的确定方法,测试高度自动化,参数与程序只需要设定一次,节省测试时间。测试输出的结果直观,且包含的信息量更多,方便测试之后的数据分析。
需要说明的是,尽管在附图中以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤,但是,这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤,或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的,可以省略某些步骤,将多个步骤合并为一个步骤执行,以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。
本公开示例性实施例还提供一种抖动时间的确定装置,如图7所示,该抖动时间的确定装置包括:
第一确定模块710,用于确定集成电路输出信号的多个检测时间点;
比较模块720,用于将多个所述检测时间点的输出信号分别和预设信号进行比较,以判断每个所述检测时间点是否为抖动点;
第二确定模块730,用于根据所述抖动点确定所述集成电路输出信号的抖动时间。
本公开提供的抖动时间的确定装置,通过第一确定模块在集成电路芯片输出信号上确定不同的检测时间点,比较模块分别比较多个检测时间点的输出信号和预设信号,进而确定该检测时间点是否为抖动点,第二确定模块通过抖动点确定输出信号的抖动时间。一方面,本公开的抖动时间的确定过程不需要例如示波器的额外的测试设备,节约成本的同时降低了测试机的复杂度;另一方面,由于不需要人为调节示波器的过程,大大降低了人力成本。
上述中各虚拟对象传送装置模块的具体细节已经在对应的虚拟对象传送方法中进行了详细的描述,因此此处不再赘述。
应当注意,尽管在上文详细描述中提及了抖动时间的确定装置的若干模块或者单元,但是这种划分并非强制性的。实际上,根据本公开的实施方式,上文描述的两个或更多模块或者单元的特征和功能可以在一个模块或者单元中具体化。反之,上文描述的一个模块或者单元的特征和功能可以进一步划分为由多个模块或者单元来具体化。
此外,在本公开的示例性实施例中,还提供了一种能够实现上述方法的电子设备。
所属技术领域的技术人员能够理解,本发明的各个方面可以实现为***、方法或程序产品。因此,本发明的各个方面可以具体实现为以下形式,即:完全的硬件实施例、完全的软件实施例(包括固件、微代码等),或硬件和软件方面结合的实施例,这里可以统称为“电路”、“模块”或“***”。
下面参照图8来描述根据本发明的这种实施例的电子设备800。图8显示的电子设备800仅仅是一个示例,不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图8所示,电子设备400以通用计算设备的形式表现。电子设备800的组件可以包括但不限于:上述至少一个处理单元810、上述至少一个存储单元820、连接不同***组件(包括存储单元820和处理单元810)的总线830、显示单元840。
其中,所述存储单元存储有程序代码,所述程序代码可以被所述处理单元810执行,使得所述处理单元810执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种示例性实施例的步骤。
存储单元820可以包括易失性存储单元形式的可读介质,例如随机存取存储单元(RAM)8201和/或高速缓存存储单元8202,还可以进一步包括只读存储单元(ROM)8203。
存储单元820还可以包括具有一组(至少一个)程序模块8205的程序/实用工具8204,这样的程序模块8205包括但不限于:操作***、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据,这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。
总线830可以为表示几类总线结构中的一种或多种,包括存储单元总线或者存储单元控制器、***总线、图形加速端口、处理单元或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。
电子设备800也可以与一个或多个外部设备870(例如键盘、指向设备、蓝牙设备等)通信,还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备800交互的设备通信,和/或与使得该电子设备800能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口850进行。并且,电子设备800还可以通过网络适配器860与一个或者多个网络(例如局域网(LAN),广域网(WAN)和/或公共网络,例如因特网)通信。如图所示,网络适配器840通过总线830与电子设备800的其它模块通信。应当明白,尽管图中未示出,可以结合电子设备800使用其它硬件和/或软件模块,包括但不限于:微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID***、磁带驱动器以及数据备份存储***等。
通过以上的实施例的描述,本领域的技术人员易于理解,这里描述的示例实施例可以通过软件实现,也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此,根据本公开实施例的技术方案可以以软件产品的形式体现出来,该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM,U盘,移动硬盘等)中或网络上,包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、终端装置、或者网络设备等)执行根据本公开实施例的方法。
在本公开的示例性实施例中,还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有能够实现本说明书上述方法的程序产品。在一些可能的实施例中,本发明的各个方面还可以实现为一种程序产品的形式,其包括程序代码,当所述程序产品在终端设备上运行时,所述程序代码用于使所述终端设备执行本说明书上述“示例性方法”部分中描述的根据本发明各种示例性实施例的步骤。
参考图9所示,描述了根据本发明的实施例的用于实现上述方法的程序产品900,其可以采用便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)并包括程序代码,并可以在终端设备,例如个人电脑上运行。然而,本发明的程序产品不限于此,在本文件中,可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行***、装置或者器件使用或者与其结合使用。
所述程序产品可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以为但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的***、装置或器件,或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。
计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了可读程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。可读信号介质还可以是可读存储介质以外的任何可读介质,该可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行***、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。
可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于无线、有线、光缆、RF等等,或者上述的任意合适的组合。
可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本发明操作的程序代码,所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、C++等,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。在涉及远程计算设备的情形中,远程计算设备可以通过任意种类的网络,包括局域网(LAN)或广域网(WAN),连接到用户计算设备,或者,可以连接到外部计算设备(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
此外,上述附图仅是根据本发明示例性实施例的方法所包括的处理的示意性说明,而不是限制目的。易于理解,上述附图所示的处理并不表明或限制这些处理的时间顺序。另外,也易于理解,这些处理可以是例如在多个模块中同步或异步执行的。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后,将容易想到本公开的其他实施例。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的真正范围和精神由权利要求指出。
应当理解的是,本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构,并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限。
Claims (13)
1.一种抖动时间的确定方法,其特征在于,包括:
根据预设规则,确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚和/或数据输入输出引脚输出的数字信号上的多个离散的时间点为检测时间点;
重复向动态随机存取存储器芯片输入输入信号,以重复获取动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚和/或数据输入输出引脚的多个输出信号;
将所述多个检测时间点中的每个检测时间点时动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚和/或数据输入输出引脚输出的数字信号和预设信号进行比较,所述预设信号为所述动态随机存取存储器芯片在理想状态下响应输入信号而输出的预期信号;
根据比较结果确定所述检测时间点是否为抖动点;
根据所述抖动点确定所述动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚和/或数据输入输出引脚输出的数字信号的抖动时间。
2.如权利要求1所述的抖动时间的确定方法,其特征在于,所述将根据比较结果确定所述检测时间点是否为抖动点,包括:
比较每个所述检测时间点的输出信号和所述预设信号;
如果所述检测时间点的输出信号和所述预设信号一致,则所述检测时间点不是抖动点;
如果所述检测时间点的输出信号和所述预设信号不一致,则所述检测时间点是抖动点。
3.如权利要求2所述的抖动时间的确定方法,其特征在于,所述比较每个所述检测时间点的输出信号和所述预设信号,包括:
多次重复获取所述检测时间点的输出信号,比较每次获取的所述检测时间点的输出信号和所述预设信号;
统计多次比较所述检测时间点的输出信号和所述预设信号的结果。
4.如权利要求3所述的抖动时间的确定方法,其特征在于,所述如果所述检测时间点的输出信号和所述预设信号一致,则所述检测时间点不是抖动点,包括:
如果多次获取的所述检测时间点的输出信号均和所述预设信号一致,则所述检测时间点不是抖动点。
5.如权利要求4所述的抖动时间的确定方法,其特征在于,所述多次重复获取所述检测时间点的输出信号,比较每次获取的所述检测时间点的输出信号和所述预设信号,包括:
如果多次获取的所述检测时间点的输出信号和所述预设信号至少一次不一致,则所述检测时间点是抖动点。
6.如权利要求1所述的抖动时间的确定方法,其特征在于,根据比较结果确定所述检测时间点是否为抖动点,包括:
当所述多个输出信号中所述检测时间点的输出信号和预设信号的比较结果相同,则所述检测时间点不是抖动点;
当所述多个输出信号中所述检测时间点的输出信号和预设信号的比较结果不相同,则所述检测时间点是抖动点。
7.如权利要求6所述的抖动时间的确定方法,其特征在于,所述检测时间点的输出信号和所述预设信号的比较结果包括第一结果和第二结果,所述检测时间点的输出信号大于等于所述预设信号为第一结果,所述检测时间点的输出信号小于所述预设信号为第二结果。
8.如权利要求1所述的抖动时间的确定方法,其特征在于,确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚和/或数据输入输出引脚的输出电压信号上的多个检测时间点包括:
确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚或数据输入输出引脚的输出电压信号;
在所述输出电压信号的上升沿或下降沿上确定所述多个检测时间点。
9.如权利要求1-6任一项所述的抖动时间的确定方法,其特征在于,所述根据所述抖动点确定所述动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚和/或数据输入输出引脚输出的数字信号的抖动时间,包括:
在多个所述抖动点按时间顺序形成的序列中,确定第一个抖动点到最后一个抖动点之间的时间即为抖动时间。
10.如权利要求1-6任一项所述的抖动时间的确定方法,其特征在于,所述根据所述抖动点确定所述动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚和/或数据输入输出引脚输出的数字信号的抖动时间,包括:
将所述多个检测时间点的检测结果转化为shmoo图;
在所述shmoo图中,根据所述抖动点确定抖动时间。
11.一种抖动时间的确定装置,其特征在于,包括:
第一确定模块,用于根据预设规则,确定动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚和/或数据输入输出引脚输出的数字信号上的多个离散的时间点为检测时间点;
比较模块,用于重复输入输入信号,以重复获取多个输出信号;将所述多个检测时间点中的每个检测时间点时动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚和/或数据输入输出引脚输出的数字信号和预设信号进行比较,所述预设信号为所述动态随机存取存储器芯片在理想状态下响应输入信号而输出的预期信号;根据比较结果确定所述检测时间点是否为抖动点;
第二确定模块,用于根据所述抖动点确定所述动态随机存取存储器芯片的数据选通信号引脚和/或数据输入输出引脚的输出信号的抖动时间。
12.一种电子设备,其特征在于,包括:
处理器;以及
存储器,所述存储器上存储有计算机可读指令,所述计算机可读指令被所述处理器执行时实现根据权利要求1至10中任一项所述的方法。
13.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现根据权利要求1至10中任一项所述方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811355406.6A CN111190089B (zh) | 2018-11-14 | 2018-11-14 | 抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备 |
PCT/CN2019/116151 WO2020098557A1 (en) | 2018-11-14 | 2019-11-07 | Method and apparatus for determining jitter, storage medium and electronic device |
US17/210,324 US11733293B2 (en) | 2018-11-14 | 2021-03-23 | Method and apparatus for determining jitter, storage medium and electronic device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811355406.6A CN111190089B (zh) | 2018-11-14 | 2018-11-14 | 抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111190089A CN111190089A (zh) | 2020-05-22 |
CN111190089B true CN111190089B (zh) | 2022-01-11 |
Family
ID=70707081
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201811355406.6A Active CN111190089B (zh) | 2018-11-14 | 2018-11-14 | 抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11733293B2 (zh) |
CN (1) | CN111190089B (zh) |
WO (1) | WO2020098557A1 (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114121074B (zh) * | 2020-08-31 | 2023-09-01 | 长鑫存储技术有限公司 | 存储阵列自刷新频率测试方法与存储阵列测试设备 |
CN113419210A (zh) * | 2021-06-09 | 2021-09-21 | Oppo广东移动通信有限公司 | 数据处理方法、装置、电子设备及存储介质 |
US20230008651A1 (en) * | 2021-07-07 | 2023-01-12 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Jitter determination method and measurement instrument |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000027059A1 (en) * | 1998-11-02 | 2000-05-11 | Adc Telecommunications, Inc. | Reducing waiting time jitter |
CN1423270A (zh) * | 2001-12-04 | 2003-06-11 | 财团法人工业技术研究院 | 检测信号抖动的***及其校正方法 |
CN1527302A (zh) * | 2003-03-05 | 2004-09-08 | 上海乐金广电电子有限公司 | 抖动相位同步锁相环路中的抖动信号检测装置及方法 |
CN103954912A (zh) * | 2014-05-05 | 2014-07-30 | 上海沪工汽车电器有限公司 | 一种汽车接线盒继电器触点抖动的监测方法 |
CN104101772A (zh) * | 2013-04-08 | 2014-10-15 | 中国长城计算机深圳股份有限公司 | 一种pg信号测试装置 |
CN105223880A (zh) * | 2015-09-18 | 2016-01-06 | 航宇救生装备有限公司 | 一种程序控制盒同步性能检测方法及装置 |
CN108810286A (zh) * | 2018-07-17 | 2018-11-13 | 奇酷互联网络科技(深圳)有限公司 | 一种行为监测的方法及其装置、移动终端 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0783979A (ja) * | 1993-09-16 | 1995-03-31 | Advantest Corp | タイムウインドウ・トリガ機能を備えたジッタ解析装置 |
TW559668B (en) * | 1999-02-08 | 2003-11-01 | Advantest Corp | Apparatus for and method of measuring a jitter |
KR100283764B1 (ko) * | 1999-02-09 | 2001-02-15 | 윤종용 | 광 디스크의 재질 특성에 따른 기록시간 조정장치 및 방법 |
US7277805B2 (en) * | 2006-01-06 | 2007-10-02 | International Business Machines Corporation | Jitter measurements for repetitive clock signals |
US7389192B2 (en) * | 2006-06-30 | 2008-06-17 | International Business Machines Corporation | Determining data signal jitter via asynchronous sampling |
JPWO2008136301A1 (ja) * | 2007-04-27 | 2010-07-29 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置および試験方法 |
US8064561B2 (en) * | 2007-09-16 | 2011-11-22 | Infineon Technologies Ag | Determining a time interval based on a first signal, a second signal, and a jitter of the first signal |
CN101232333B (zh) * | 2008-01-16 | 2011-06-22 | 中兴通讯股份有限公司 | 时钟抖动测量方法和用于测量时钟抖动的示波器 |
CN103226169B (zh) * | 2012-06-12 | 2015-07-08 | 殷明 | 一种用于无线唤醒电路的方波检测器 |
US8860433B1 (en) * | 2012-07-31 | 2014-10-14 | Altera Corporation | Method and system for self-contained timing and jitter measurement |
CN103312307B (zh) * | 2013-05-13 | 2015-12-02 | 华为技术有限公司 | 时钟频偏检测方法及装置 |
CN113676162B (zh) * | 2018-03-26 | 2024-02-23 | 南京矽力微电子技术有限公司 | 脉冲信号电平的计算方法和计算电路 |
FR3091929B1 (fr) * | 2019-01-22 | 2021-03-19 | St Microelectronics Crolles 2 Sas | Détermination de la dispersion d'un composant électronique |
-
2018
- 2018-11-14 CN CN201811355406.6A patent/CN111190089B/zh active Active
-
2019
- 2019-11-07 WO PCT/CN2019/116151 patent/WO2020098557A1/en active Application Filing
-
2021
- 2021-03-23 US US17/210,324 patent/US11733293B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000027059A1 (en) * | 1998-11-02 | 2000-05-11 | Adc Telecommunications, Inc. | Reducing waiting time jitter |
CN1423270A (zh) * | 2001-12-04 | 2003-06-11 | 财团法人工业技术研究院 | 检测信号抖动的***及其校正方法 |
CN1527302A (zh) * | 2003-03-05 | 2004-09-08 | 上海乐金广电电子有限公司 | 抖动相位同步锁相环路中的抖动信号检测装置及方法 |
CN104101772A (zh) * | 2013-04-08 | 2014-10-15 | 中国长城计算机深圳股份有限公司 | 一种pg信号测试装置 |
CN103954912A (zh) * | 2014-05-05 | 2014-07-30 | 上海沪工汽车电器有限公司 | 一种汽车接线盒继电器触点抖动的监测方法 |
CN105223880A (zh) * | 2015-09-18 | 2016-01-06 | 航宇救生装备有限公司 | 一种程序控制盒同步性能检测方法及装置 |
CN108810286A (zh) * | 2018-07-17 | 2018-11-13 | 奇酷互联网络科技(深圳)有限公司 | 一种行为监测的方法及其装置、移动终端 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN111190089A (zh) | 2020-05-22 |
US20210293878A1 (en) | 2021-09-23 |
US11733293B2 (en) | 2023-08-22 |
WO2020098557A1 (en) | 2020-05-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN111190089B (zh) | 抖动时间的确定方法及装置、存储介质和电子设备 | |
US6377065B1 (en) | Glitch detection for semiconductor test system | |
US8996928B2 (en) | Devices for indicating a physical layer error | |
CN103377105A (zh) | 一种串行总线测试方法 | |
US7532994B2 (en) | Test apparatus, test method, electronic device manufacturing method, test simulator and test simulation method | |
JP2015025807A (ja) | スイッチング・サイクル表示方法及び試験測定装置 | |
CN110888036B (zh) | 测试项目确定方法及装置、存储介质和电子设备 | |
CN116319475A (zh) | 一种信号分析方法、装置、设备及存储介质 | |
CN111258828A (zh) | I2c总线测试方法,测试装置及计算机可读存储介质 | |
CN115219940A (zh) | 内存芯片的电源噪声测试方法、装置、存储介质及设备 | |
CN109085492B (zh) | 集成电路信号相位差确定方法及装置、介质和电子设备 | |
CN110888045B (zh) | 抖动确定方法及装置、存储介质和电子设备 | |
CN113495225A (zh) | 一种电源稳定性测试方法、***及设备 | |
CN112946526A (zh) | 电子器件断点检测方法、装置和电子设备 | |
US10996268B2 (en) | Session management for interactive debugging | |
KR101652779B1 (ko) | 신호 측정 시스템에서 다른 측정의 관점에서 한계의 측정값을 측정하고 나타내는 방법 및 시스템 | |
CN115576765B (zh) | 一种测试方法、装置、电子设备及存储介质 | |
CN113608942B (zh) | 一种测试lpc信号的方法、***、设备及介质 | |
CN118051389A (zh) | 通信处理器的测试方法、装置、电子设备及存储介质 | |
CN114779057B (zh) | 一种输入门限电压自动验证***、方法及电子设备 | |
CN111722170B (zh) | 电量变送器检定装置稳定性的确定装置及其方法和电子设备 | |
WO2023279827A1 (zh) | 组件调试方法、装置、设备及存储介质 | |
KR101021095B1 (ko) | 위상제어루프의 지터 측정 방법, 장치 및 그 방법을 수행하기 위한 프로그램이 기록된 기록매체 | |
CN115963302A (zh) | 一种数字信号质量辅助测试方法及*** | |
CN117723815A (zh) | 一种芯片电压测试方法、装置、设备及存储介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |