CN114464139B - 显示装置和驱动电路 - Google Patents
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Abstract
本公开内容的实施例涉及显示装置和驱动电路。根据本公开内容的实施例,可以减小显示面板的驱动特性值的补偿偏移。此外,根据本公开内容的实施例,通过虚设通道检测虚设感测电压的次数大于通过感测通道检测感测电压的次数,从而减少补偿偏移。此外,根据本公开内容的实施例,通过累积通过虚设通道重复检测的虚设感测电压来减少偏移噪声。
Description
相关申请的交叉引用
本申请要求享有于2020年11月09日提交的韩国专利申请No.10-2020-0148579的优先权,其通过引用的方式结合于此,用于所有目的,如同在本文完全阐述一样。
技术领域
本公开内容涉及显示装置和驱动电路。
背景技术
随着信息社会的发展,对用于显示图像的显示装置的需求以各种形式增加。为此,已经使用了诸如液晶显示装置和有机发光显示装置这样的各种类型的显示装置。
在这些显示装置中,有机发光显示装置利用自身发光的有机发光二极管,从而在快速响应速度、对比度、发光效率、亮度和视角方面具有优势。
这种显示装置可以包括设置在显示面板上布置的多个子像素中的每一个子像素中的发光元件,使得可以通过控制流过发光元件以发光的电压或电流来控制在每个子像素中显示的亮度并显示图像。
晶体管设置在显示面板中限定的每个子像素中,并且每个子像素中的晶体管的驱动特性值可根据驱动时间改变,或者每个子像素之间可能出现晶体管的驱动特性值的偏差。可替换地,在有机发光显示装置的情况下,在每个子像素中的有机发光二极管之间可能出现劣化偏差。这种现象可能导致子像素之间的亮度不均匀,从而使图像质量劣化。
因此,为了解决子像素之间的亮度不均匀性,已经提出了一种像素补偿技术,以补偿电路中的元件(例如,晶体管或有机发光二极管)的驱动特性值的变化或偏差。
这种像素补偿是一种通过感测子像素中的电路的特定节点并使用感测结果来改变提供给每个子像素的数据,从而防止或减少子像素的亮度不均匀的技术。
然而,尽管提供了这种像素补偿功能,仍然可能存在没有适当地执行子像素的亮度补偿或每个子像素之间的亮度偏差补偿的现象。
具体而言,在顺序地检测感测通道以检测驱动特性值的过程中,可能存在由于对应于感测时间的温度变化而出现补偿偏移偏差的问题,因此,出现由于补偿偏差而导致的条纹。
发明内容
本公开内容的实施例可以提供一种能够减小显示面板的驱动特性值的补偿偏移的显示装置和驱动电路。
此外,本公开内容的实施例可以提供一种能够通过使通过虚设通道检测虚设感测电压的次数大于通过感测通道检测感测电压的次数,来减少补偿偏移的显示装置和驱动电路。
此外,本公开内容的实施例可以提供一种能够通过累积通过虚设通道重复检测的虚设感测电压来减少偏移噪声的显示装置和驱动电路。
在一方面,本公开内容的实施方式可以提供一种显示装置,该显示装置包括:显示面板,具有多个子像素和连接到多个子像素以检测驱动特性值的多个感测通道;数据驱动电路,包括将从多个感测通道检测到的感测电压转换为数字感测数据的模数转换器,其中,施加用于感测的驱动电压以检测模数转换器的特性值的至少一个虚设通道连接到模数转换器;以及定时控制器,用于从模数转换器接收在至少一个虚设通道中检测到的偏移数据并补偿模数转换器的特性值。
在一方面,驱动特性值可以是表示构成子像素的驱动晶体管的阈值电压或迁移率的值。
在一方面,多个感测通道可以是向多个子像素施加参考电压的信号线。
在一方面,数据驱动电路可以通过将多个感测通道初始化为参考电压、跟踪多个感测通道的电压变化、以及在预定时间之后对在多个感测通道中充电的感测电压进行采样来检测感测电压。
在一方面,至少一个虚设通道可以设置在多个感测通道的外部,或者可以设置在多个感测通道之间。
在一方面,数据驱动电路可以通过在生成断电信号并切断数据电压的状态下执行的断开-感测过程,来检测模数转换器的特性值。
在一方面,感测驱动电压可以是断开-感测驱动电压。
在一方面,虽然从多个感测通道生成数字感测数据一次,但可以从至少一个虚设通道两次或更多次生成偏移数据。
在一方面,在生成数字感测数据一次的时间段期间,可以顺序地输出两次或更多次生成的偏移数据。
在一方面,定时控制器可以通过将偏移数据与存储在存储器中的参考值进行比较来补偿模数转换器的特性值。
在一方面,定时控制器可以通过对两次或更多次从数据驱动电路传送的偏移数据求和以计算平均值来减小模数转换器的特性值偏差。
在一方面,定时控制器还可以包括子像素补偿电路,用于通过从数字感测数据生成经补偿的数字图像数据并将经补偿的数字图像数据提供给相应的子像素来补偿驱动特性值。
在另一方面,本公开内容的实施例可以提供一种驱动电路,该驱动电路包括:多条数据线,其延伸到其上设置有多个子像素的显示面板,以提供数据电压;模数转换器,其将从连接到多个子像素的多个感测通道检测到的驱动特性值转换为数字感测数据;以及至少一个虚设通道,其连接到模数转换器,用于施加用于感测的驱动电压,以检测模数转换器的特性值。
在另一方面,模数转换器可以输出数字感测数据和从至少一个虚设通道检测到的偏移数据。
根据本公开内容的实施例,可以提供一种能够减小显示面板的驱动特性值的补偿偏移的显示装置和驱动电路。
此外,根据本公开内容的实施例,可以提供一种能够通过使通过虚设通道检测虚设感测电压的次数大于通过感测通道检测感测电压的次数来减少补偿偏移的显示装置和驱动电路。
此外,根据本公开内容的实施例,可以提供一种能够通过累积通过虚设通道重复检测的虚设感测电压,减少偏移噪声的显示装置和驱动电路。
附图说明
图1示出了根据本公开内容实施例的显示装置的示意性配置。
图2是根据本公开内容实施例的显示装置的示例性***图。
图3是构成根据本公开内容示例性实施例的显示装置中的子像素的电路的示例图。
图4是用于说明性地解释根据本公开内容实施例的显示装置中的对驱动特性值的补偿和对偏移值的补偿的图。
图5示出了构成根据本公开内容实施例的显示装置中的数据驱动电路的模数转换器的输入电压范围和输出数据范围。
图6是示出构成根据本公开内容实施例的显示装置中的数据驱动电路的模数转换器的输入/输出关系的曲线图。
图7示出了根据本公开内容实施例的显示装置中的感测通道和虚设通道的布置结构的示例。
图8示意性地示出了根据本公开内容实施例的显示装置中的感测通道和虚设通道的采样时段。
图9示出了通过对通过根据本公开内容的实施例的显示装置中的虚设通道多次检测到的虚设感测电压求和来减小模数转换器的特性的偏移的情况。
图10示出了根据本公开内容实施例的显示装置中的通过将通过数据驱动电路中的感测通道和虚设通道检测到的电压转换为数字信号而被传送到定时控制器的输出数据的示例。
图11示意性地示出了用于补偿根据本公开内容实施例的显示装置中的子像素的驱动特性值和模数转换器的转换特性的配置图。
具体实施方式
在以下对本发明的示例或实施例的描述中,将参考附图,其中通过图示的方式示出了可以实现的具体示例或实施例,并且其中相同的附图标记可以用于标明相同或相似的部件,即使它们在彼此不同的附图中示出。此外,在以下对本发明的示例或实施例的描述中,当确定对本文包含的公知功能和部件的详细描述可能使得本公开内容的一些实施例中的主题反而不清楚时,将省略该描述。本文使用的诸如“包括”、“具有”、“包含”、“构成”、“由……组成”和“由……形成”之类的术语通常旨在允许添加其他部件,除非这些术语与术语“仅”一起使用。如本文所使用的,除非上下文另有明确说明,否则单数形式旨在包括复数形式。
本文可以使用诸如“第一”、“第二”、“A”、“B”、“(A)”或“(B)”之类的术语来描述本发明的元件。这些术语中的每一个都不用于定义元件的本质、顺序、次序或数量等,而仅用于将相应元件与其他元件区分开。
当提到第一元件“连接或耦合到”、“接触或重叠”等第二元件时,应该解释为第一元件不仅可以“直接连接或耦合到”或“直接接触或重叠”第二元件,而且第三元件也可以“***”在第一和第二元件之间,或者第一和第二元件可以通过第四元件彼此“连接或耦合”、“接触或重叠”等。此处,第二元件可以包括在彼此“连接或耦合”、“接触或重叠”等的两个或多个元件中的至少一个中。
当时间相对术语(诸如“之后”、“随后”、“下一个”、“之前”等)用于描述元件或配置的过程或操作,或操作、处理、制造方法中的流程或步骤时,这些术语可用于描述非连续或非顺序的过程或操作,除非一起使用术语“直接”或“紧接着”。
此外,当提到任何尺寸、相对尺寸等时,应该考虑元件或特征的数值或相应的信息(例如,水平、范围等)包括可能由各种因素(例如,过程因素、内部或外部影响、噪声等)引起公差或误差范围,即使未指明相关描述。此外,术语“可以”完全包含术语“能够”的所有含义。
图1示出了根据本公开内容实施例的显示装置的示意性配置。
参考图1,根据本公开内容实施例的显示装置100可以包括其中连接多条栅极线GL和数据线DL并且多个子像素SP以矩阵形式排列的显示面板110、驱动多条栅极线GL的栅极驱动电路120、用于通过多条数据线DL提供数据电压的数据驱动电路130、以及控制栅极驱动电路120和数据驱动电路130的定时控制器140。
显示面板110可以基于通过多条栅极线GL从栅极驱动电路120传送的扫描信号和通过多条数据线DL从数据驱动电路130传送的数据电压来显示图像。
在液晶显示器的情况下,显示面板110包括形成在两个基板之间的液晶层,并且可以以任何已知的模式操作,例如扭曲向列(TN)模式、垂直取向(VA)模式、面内切换(IPS)模式、边缘场切换(FFS)模式。另一方面,在有机发光显示器的情况下,显示面板110可以以顶部发射方法、底部发射方法或双发射方法来实现。
在显示面板110中,多个像素可以以矩阵形式排列,并且每个像素可以由具有不同颜色的子像素SP组成,例如,白色子像素、红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素,每个子像素SP可以由多条数据线DL和多条栅极线GL限定。
一个子像素SP可以包括在一条数据线DL和一条栅极线GL相交的区域中形成的薄膜晶体管(TFT)、用于充电数据电压的发光元件诸如有机发光二极管、以及用于通过电连接到发光元件来维持电压的存储电容器。
例如,在具有2,160×3,840的分辨率的WRGB显示装置100的情况下,2,160条栅极线GL和所有3,840×4=15,360条数据线DL可以由分别连接到四个子像素WRGB的3,840条数据线DL提供,并且子像素SP可以设置在这些栅极线GL和数据线DL彼此相交的点处。
栅极驱动电路120可以由定时控制器140控制,并且可以顺序地将扫描信号输出到设置在显示面板110上的多条栅极线GL,以便控制用于多个子像素SP的驱动定时。
在具有2,160×3,840分辨率的显示装置100中,对于2,160条栅极线GL,从第一条栅极线到第2,160条栅极线顺序输出扫描信号的情况可被称为2,160相驱动。可替换地,以四条栅极线GL为单位顺序输出扫描信号的情况,例如从第一条栅极线到第四条栅极线顺序输出扫描信号,然后从第五条栅极线到第八条栅极线顺序输出扫描信号的情况,可以被称为4相驱动。即,对于每N条栅极线GL顺序输出扫描信号的情况可以称为N相驱动。
在这种情况下,栅极驱动电路120可以包括一个或多个栅极驱动集成电路(GDIC),并且根据驱动方法可以位于显示面板110的仅一侧或两侧。可替换地,栅极驱动电路120可以嵌入在显示面板110的边框区域中,并以GIP(板内栅极)形式实现。
数据驱动电路130从定时控制器140接收数字图像数据DATA,将数字图像数据转换为模拟数据电压。然后,数据驱动电路130根据通过栅极线GL施加扫描信号的定时将数据电压输出到每条数据线DL,使得连接到数据线DL的每个子像素SP显示具有与数据电压对应的亮度的发光信号。
类似地,数据驱动电路130可以包括一个或多个源极驱动集成电路(SDIC),并且源极驱动集成电路(SDIC)可以以TAB(带式自动接合)方法或COG(玻璃上芯片)方法连接到显示面板110的接合焊盘,或者可以直接设置在显示面板110上。
在一些情况下,每个源极驱动集成电路(SDIC)可以集成并设置在显示面板110上。此外,每个源极驱动集成电路(SDIC)可以COF(膜上芯片)方法实现。在这种情况下,每个源极驱动集成电路(SDIC)可以安装在电路膜上,并且可以电连接到显示面板110的数据线DL。
定时控制器140可以向栅极驱动电路120和数据驱动电路130提供各种控制信号,并且可以控制栅极驱动电路120和数据驱动电路130的操作。即,定时控制器140根据在每一帧中实现的定时来控制栅极驱动电路120输出扫描信号,并将从外部接收的数字图像数据DATA发送到数据驱动电路130。
在这种情况下,定时控制器140可以从外部(例如,主机***)接收各种定时信号,包括垂直同步信号Vsync、水平同步信号Hsync、数据使能信号DE、主时钟信号MCLK以及数字图像数据DATA。因此,定时控制器140可以使用从外部接收的各种定时信号来生成控制信号,并且可以将控制信号传送到栅极驱动电路120和数据驱动电路130。
例如,为了控制栅极驱动电路120,定时控制器140可输出多个栅极控制信号,包括栅极起始脉冲信号GSP、栅极时钟GCLK和栅极输出使能信号GOE。此处,栅极起始脉冲信号GSP控制构成栅极驱动电路120的一个或多个栅极驱动集成电路(GDIC)开始操作的定时。此外,栅极时钟GCLK是共同输入到一个或多个栅极驱动集成电路GDIC的时钟信号,并且控制扫描信号的移位定时。此外,栅极输出使能信号GOE指定一个或多个栅极驱动集成电路(GDIC)的定时信息。
此外,为了控制数据驱动电路130,定时控制器可输出多个数据控制信号,包括源极起始脉冲SSP、源极采样时钟SCLK和源极输出使能信号SOE。此处,源极起始脉冲SSP控制构成数据驱动电路130的一个或多个源极驱动集成电路(SDIC)开始数据采样的定时。源极采样时钟SCLK是控制源极驱动集成电路(SDIC)中采样数据的定时的时钟信号。源极输出使能信号SOE控制数据驱动电路130的输出定时。
这样的显示装置100还可以包括电源管理集成电路,其向显示面板110、栅极驱动电路120、数据驱动电路130等提供各种电压或电流,或者控制要提供的各种电压或电流。
同时,子像素SP位于栅极线GL和数据线DL彼此相交的区域,并且发光元件可以设置在每个子像素SP中。例如,有机发光显示装置在每个子像素SP中包括发光元件诸如有机发光二极管,并且可以通过根据数据电压控制流过发光元件的电流来显示图像。
显示装置100可以是各种类型的装置,例如液晶显示器、有机发光显示器和等离子体显示面板。
图2是根据本公开内容实施例的显示装置的示例性***图。
图2示出了在根据本公开内容示例性实施例的显示装置100中,包括在数据驱动电路130中的源极驱动集成电路SDIC以各种方法(TAB、COG、COF等)中的膜上芯片(COF)方法实现,栅极驱动电路120以各种方法(TAB、COG、COF、GIP等)中的板内栅极(GIP)方法实现的情况。
包括在栅极驱动电路120中的至少一个栅极驱动集成电路GDIC可以分别安装在栅极膜GF上,并且栅极膜GF的一侧可以电连接到显示面板110。此外,用于电连接栅极驱动集成电路GDIC和显示面板110的线可以设置在栅极膜GF上。
类似地,包括在数据驱动电路130中的至少一个源极驱动集成电路SDIC可以安装在每个源极膜SF上,并且源极膜SF的一侧可以电连接到显示面板110。此外,用于电连接源极驱动集成电路SDIC和显示面板110的线可以设置在源极膜SF上。
显示装置100可以包括至少一个源极印刷电路板SPCB和控制印刷电路板CPCB,用于安装控制部件和各种电子装置,以便连接多个源极驱动集成电路SDIC和其他装置。
在这种情况下,源极膜SF的与其上安装有源极驱动集成电路SDIC的一侧不同的一侧可以连接到至少一个源极印刷电路板SPCB。即,源极膜SF的其上安装有源极驱动集成电路SDIC的一侧可以电连接到显示面板110,而其另一侧可以电连接到源极印刷电路板SPCB。
定时控制器140和电源管理集成电路(PMIC)150可以安装在控制印刷电路板CPCB上。定时控制器140可以控制数据驱动电路130和栅极驱动电路120的操作。电源管理集成电路150可向显示面板110、数据驱动电路130、栅极驱动电路120等提供驱动电压或电流,并可控制提供的电压或电流。
至少一个源极印刷电路板SPCB和控制印刷电路板CPCB可以通过至少一个连接构件电路连接,并且连接构件可以包括例如柔性印刷电路(FPC)、柔性扁平电缆(FFC)等。另外,源极印刷电路板SPCB和控制印刷电路板CPCB中的至少一个可以通过集成到一个印刷电路板中来实现。
显示装置100还可以包括电连接到控制印刷电路板CPCB的设备板170。在这种情况下,设备板170可以被称为电源板。设备板170可以包括管理显示装置100的总功率的主电源管理电路M-PMC 160。主电源管理电路160可以与电源管理集成电路150链接。
在具有上述配置的显示装置100的情况下,驱动电压可以在设备板170处生成并被传送到控制印刷电路板CPCB中的电源管理集成电路150。电源管理集成电路150可通过柔性印刷电路(FPC)或柔性扁平电缆(FFC)将驱动显示器或感测特性值所需的驱动电压传送到源极印刷电路板SPCB。可以通过源极驱动集成电路SDIC提供传送到源极印刷电路板SPCB的驱动电压,以使显示面板110中的特定子像素SP发光或感测显示面板110中的特定子像素SP。
在这种情况下,显示装置100中的显示面板110上布置的每个子像素SP可以包括作为发光元件的有机发光二极管和用于驱动子像素SP的电路元件诸如驱动晶体管。
可以根据提供功能和设计方法而不同地确定构成各个子像素SP的电路元件的类型和数量。
图3是构成根据本公开内容示例性实施例的显示装置中的子像素的电路的示例图。
参考图3,在根据示例性实施例的显示装置100中,子像素SP可包括一个或多个晶体管和电容器,有机发光二极管OLED可被设置为发光元件。
例如,子像素SP可以包括驱动晶体管DRT、开关晶体管SWT、感测晶体管SENT、存储电容器Cst和有机发光元件OLED。
驱动晶体管DRT具有第一节点N1、第二节点N2和第三节点N3。驱动晶体管DRT的第一节点N1可以是栅极节点,当开关晶体管SWT导通时,数据电压Vdata通过数据线DL施加到该栅极节点。驱动晶体管DRT的第二节点N2可以电连接到有机发光二极管OLED的阳极,并且可以是源极节点或漏极节点。驱动晶体管DRT的第三节点N3电连接到施加有驱动电压EVDD的驱动电压线DVL,并且可以是漏极节点或源极节点。
此处,在显示驱动周期期间,可以将驱动显示器所需的驱动电压EVDD提供给驱动电压线DVL。例如,驱动显示器所需的驱动电压EVDD可以是27V。
开关晶体管SWT电连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1与数据线DL之间,并根据由连接到栅极节点的栅极线GL提供的扫描信号SCAN来操作。此外,当开关晶体管SWT导通时,通过将经由数据线DL提供的数据电压Vdata传送到驱动晶体管DRT的栅极节点来控制驱动晶体管DRT的操作。
感测晶体管SENT电连接在驱动晶体管DRT的第二节点N2和感测线SL之间,并且根据由连接到栅极节点的栅极线GL提供的扫描信号SCAN来操作。当感测晶体管SENT导通时,将通过感测线SL提供的感测参考电压Vref传送到驱动晶体管DRT的第二节点N2。
即,通过控制开关晶体管SWT和感测晶体管SENT,控制驱动晶体管DRT的第一节点N1的电压和第二节点N2的电压,从而可以提供用于驱动有机发光二极管OLED的驱动电流。
开关晶体管SWT和感测晶体管SENT可以连接到单个栅极线GL或连接到不同的栅极线GL。此处,示出了开关晶体管SWT和感测晶体管SENT连接到不同栅极线GL的示例性结构。在这种情况下,开关晶体管SWT和感测晶体管SENT可以由通过不同栅极线GL传送的扫描信号SCAN和感测信号SENSE独立控制。
同时,在开关晶体管SWT和感测晶体管SENT连接到一条栅极线GL的情况下,开关晶体管SWT和感测晶体管SENT可以由通过一条栅极线GL传送的扫描信号SCAN或感测信号SENSE同时控制,并且可以增加孔径比。
同时,设置在子像素SP中的晶体管不仅可以由n型晶体管形成,而且可以由p型晶体管形成。此处,作为示例示出了n型晶体管的情况。
存储电容器Cst电连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1和第二节点N2之间,并在一帧中保持数据电压Vdata。
根据驱动晶体管DRT的类型,存储电容器Cst可以连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1和第三节点N3之间。有机发光二极管OLED的阳极可以电连接到驱动晶体管DRT的第二节点N2,并且可以将基础电压EVSS提供给有机发光二极管OLED的阴极。
此处,基础电压EVSS可以是接地电压或者高于或低于接地电压的电压。此外,基础电压EVSS可以根据驱动状态而变化。例如,可以将驱动图像时的基础电压EVSS和驱动感测时的基础电压EVSS设置为彼此不同。
作为上述示例描述的子像素SP的结构可以是3T(晶体管)1C(电容器)结构,并且仅是用于说明的示例,并且还可以包括一个或多个晶体管,或者在一些情况下,还可以包括一个或多个电容器。可替换地,多个子像素SP中的每一个可以具有相同的结构,并且多个子像素SP中的一些可以具有不同的结构。
为了有效地感测驱动晶体管DRT的特性值,例如,根据本公开内容的示例性实施例的显示装置100中的阈值电压或迁移率,可以使用在驱动晶体管DRT的特性值的感测时段期间测量由于存储电容器Cst中所充的电压而流过的电流的方法,该方法可以被称为电流感测。
即,通过在驱动晶体管DRT的特性值的感测时段期间测量由于存储电容器Cst中所充的电压而流过的电流,可以检测子像素SP中的驱动晶体管DRT的特性值或特性值的变化。
在这种情况下,感测线SL不仅用于传送参考电压Vref,而且还用于感测子像素SP中的驱动晶体管DRT的驱动特性值。
如上所述,用于感测驱动晶体管DRT的驱动特性值(阈值电压和迁移率)的时段可以在生成通电信号之后并且在显示驱动开始之前执行。例如,当将通电信号施加到显示装置100时,定时控制器140加载驱动显示面板110所需的参数,然后驱动显示器。在这种情况下,驱动显示面板110所需的参数可以包括关于先前在显示面板110中执行的驱动特性值的感测和补偿的信息。在参数加载过程期间,可以感测驱动晶体管DRT的驱动特性值(阈值电压和迁移率)。如上所述,在生成通电信号之后的参数加载过程期间感测驱动特性值的过程可以被称为接通-感测过程。
同时,在生成显示装置100的断电信号之后,用于感测驱动晶体管DRT的驱动特性值的时段可以继续。例如,当在显示装置100中生成断电信号时,定时控制器140可切断提供给显示面板110的数据电压,并可在预定时间内感测驱动晶体管DRT的驱动特性值。以这种方式,用于在生成断电信号并且数据电压被切断的状态期间感测驱动特性值的过程可以被称为断开-感测过程。
此外,在显示器被驱动时,可以实时地执行驱动晶体管DRT的驱动特性值的感测时段。这种感测过程被称为实时(RT)感测过程。在实时感测过程的情况下,在显示驱动时段期间,可以在每个空白时段中对一个或多个子像素线中的一个或多个子像素SP执行感测过程。
即,在显示面板110上显示图像的显示驱动时段期间,可能存在空白时段,在该空白时段中,在一帧内或在第n帧和第n+1帧之间不向子像素SP提供数据电压。在这种空白时段中,可以感测一个或多个子像素SP的迁移率。
如上所述,如果在空白时段中执行感测过程,则可以随机地选择用于执行感测过程的子像素SP线。因此,在空白时段中执行感测过程之后,可以减轻显示驱动时段中的任何异常的发生。另外,在空白时段期间执行感测过程之后,可以将补偿数据电压提供给在显示驱动时段期间对其执行感测过程的子像素SP。因此,在空白时段中的感测过程后的显示驱动时段中,可以进一步减轻完成感测过程的子像素SP线中异常的发生。
同时,数据驱动电路130可以包括数据电压输出电路136,其包括锁存电路、数模转换器(DAC)和输出缓冲器(BUF),并且在一些情况下,还可以包括模数转换器(ADC)和各种开关(SAM、SPRE、RPRE)。另一方面,模数转换器(ADC)和各种开关(SAM、SPRE、RPRE)可以位于数据驱动电路130的外部。
另外,补偿电路142可以存在于定时控制器140的外部,但是也可以被包括在定时控制器140的内部。另外,存储器146可以位于定时控制器140的外部,或者可以以定时控制器140内部的寄存器的形式实现。
图4是用于说明性地解释根据本公开内容实施例的显示装置中对驱动特性值的补偿和对偏移值的补偿的图。
参考图4,在本公开内容实施例的显示装置100中,一个模数转换器132可包括三个感测通道CH1、CH2、CH3以及两个虚设通道CHd1、CHd2。
三个感测通道CH1、CH2、CH3可以分别通过采样开关SAM1、SAM2、SAM3与三条感测线SL1、SL2、SL3对应地连接,并且三条感测线SL1、SL2、SL3中的每一条可以连接到四个子像素SP。即,与第一感测通道CH1对应的第一感测线SL1可被共享并连接到第一至第四子像素SP1、SP2、SP3、SP4。
类似地,与第二感测通道CH2对应的第二感测线SL2可被共享并连接到第五至第八子像素SP5、SP6、SP7、SP8,与第三感测通道CH3对应的第三感测线SL3可被共享并连接到第九至第十二子像素SP9、SP10、SP11、SP12。
即,四个子像素SP构成一个像素P。例如,四个子像素SP可以包括红色子像素R、白色子像素W、绿色子像素G和蓝色子像素B。例如,第一子像素SP1、第五子像素SP5和第九子像素SP9可以是红色子像素R,第二子像素SP2、第六子像素SP6和第十子像素SP10可以是白色子像素W,第三子像素SP3、第七子像素SP7和第十一子像素SP11可以是绿色子像素G,第四子像素SP4、第八子像素SP8和第十二子像素SP12可以是蓝色子像素B。
同时,两个虚设通道CHd1、CHd2可以分别通过虚设采样开关SAMd1、SAMd2连接到与感测驱动电压对应的断开-感测电压Vos,以检测模数转换器132的特性值。在这种情况下,由于两个虚设通道CHd1、CHd2没有连接到构成显示面板110的子像素,所以通过虚设通道CHd1、CHd2检测到的虚设感测电压Vsend1和Vsend2不表示子像素的驱动特性值,并且可以用于补偿模数转换器132的增益或偏移。
在第一时间点,模数转换器132可以检测连接到第一感测线SL1的四个子像素SP1、SP2、SP3、SP4中的一个子像素(例如,SP1)的感测电压Vsen1。类似地,模数转换器132可以检测连接到第二感测线SL2的四个子像素SP5、SP6、SP7、SP8中的一个子像素(例如,SP5)的感测电压Vsen2,并且可以检测连接到第三感测线SL3的四个子像素SP9、SP10、SP11、SP12中的一个子像素(例如,SP9)的感测电压Vsen3。
在第一时间点之后的第二时间点,模数转换器132可以检测连接到第一感测线SL1的四个子像素SP1、SP2、SP3、SP4中的其他子像素(例如,SP2)的感测电压Vsen1。类似地,模数转换器132可以检测连接到第二感测线SL2的四个子像素SP5、SP6、SP7、SP8中的其他子像素(例如,SP6)的感测电压Vsen2,并且可以检测连接到第三感测线SL3的四个子像素SP9、SP10、SP11、SP12中的其他子像素(例如,SP10)的感测电压Vsen3。
在此情况下,模数转换器132可以控制采样开关SAM1、SAM2、SAM3,以便在一个时间点通过三条感测线SL1、SL2、SL3中的每一条同时检测三个子像素的感测电压Vsen,或者可以单独检测它们。
例如,在第一时间点,模数转换器132可同时导通采样开关SAM1、SAM2、SAM3,使得分别通过第一感测线SL1、第二感测线SL2和第三感测线SL3可同时检测对应于红色子像素R的第一子像素SP1、第五子像素SP5和第九子像素SP9的感测电压Vsen1、Vsen2、Vsen3。
此外,在第二时间点,模数转换器132可同时导通采样开关SAM1、SAM2、SAM3,使得可以分别通过第一感测线SL1、第二感测线SL2和第三感测线SL3同时检测对应于白色子像素W的第二子像素SP2、第六子像素SP6和第十子像素SP10的感测电压Vsen1、Vsen2、Vsen3。
此外,在第三时间点,模数转换器132可同时导通采样开关SAM1、SAM2、SAM3,使得分别通过第一感测线SL1、第二感测线SL2和第三感测线SL3可以同时检测对应于绿色子像素G的第三子像素SP3、第七子像素SP7和第十一子像素SP11的感测电压Vsen1、Vsen2、Vsen3。
此外,在第四时间点,模数转换器132可同时导通采样开关SAM1、SAM2、SAM3,使得分别通过第一感测线SL1、第二感测线SL2和第三感测线SL3可以同时检测对应于蓝色子像素B的第四子像素SP4、第八子像素SP8和第十二子像素SP12的感测电压Vsen1、Vsen2、Vsen3。
在这种情况下,线电容器Cline1、Cline2、Cline3可以连接到三条感测线SL1、SL2、SL3中的每一条,以存储用于相应子像素的感测节点的感测电压Vsen。即,在连接到第一感测线SL1的四个子像素SP1、SP2、SP3、SP4中检测到的子像素的感测电压Vsen1可以存储在连接到第一感测线SL1的第一线电容器Cline1中。此外,在连接到第二感测线SL2的四个子像素SP5、SP6、SP7、SP8中检测到的子像素的感测电压Vsen2可以存储在连接到第二感测线SL2的第二线电容器Cline2中,并且在连接到第三感测线SL3的四个子像素SP9、SP10、SP11、SP12中检测到的子像素的感测电压Vsen3可以存储在连接到第三感测线SL3的第三线电容器Cline3中。
因此,模数转换器132可同时或分别检测三个线电容器Cline1、Cline2、Cline3中所储存的感测电压Vsen1、Vsen2、Vsen3,以通过三个感测通道CH1、CH2、CH3测量三个感测电压Vsen1、Vsen2、Vsen3。
此外,模数转换器132可在断开-感测过程中控制虚设采样开关SAMd1、SAMd2,以同时或单独检测连接到断开-感测电压Vos的虚设通道CHd1、CHd2的虚设感测电压Vsend1、Vsend2。
因此,模数转换器132可将通过三个感测通道CH1、CH2、CH3所检测到的数据电压Vsen1、Vsen2、Vsen3转换为数字感测数据DSEN1、DSEN2、DSEN3。此外,模数转换器132可将通过两个虚设通道CHd1、CHd2检测到的虚设感测电压Vsend1、Vsend2转换并输出为数字虚设感测数据DSENd1、DSENd2,并且定时控制器140可将它们存储到存储器146。
在这种情况下,补偿电路142可以读取从感测通道CH1、CH2、CH3传送的数字感测数据DSEN1、DSEN2、DSEN3,并且可以补偿要提供给子像素的数字图像数据DATA,并将经补偿的数字图像数据DATA_comp输出到数据驱动电路130。另外,补偿电路142可根据从虚设通道CHd1和CHd2传送的数字虚设感测数据DSENd1、DSENd2检测模数转换器132的增益或偏移,并可改变存储在存储器146中的参考值以补偿它们。
图5示出了构成根据本公开内容实施例的显示装置中的数据驱动电路的模数转换器的输入电压范围和输出数据范围,图6是示出构成根据本公开内容实施例的显示装置中的数据驱动电路的模数转换器的输入/输出关系的曲线图。
首先,参考图5,在根据本公开内容实施例的显示装置100中,传送到构成数据驱动电路130的模数转换器132的感测电压Vsen的范围可以是0V至3V,且数字感测数据DSEN的范围可以是0至1023,对应于10位。即,如果感测电压Vsen具有0V到3V内的范围,则可以10位表示的数字感测数据DSEN的范围可以落入0到1023内。
参考图6,构成数据驱动电路130的模数转换器132可以将通过感测线SL检测到的模拟感测电压Vsen转换为数字感测数据DSEN。
在理想情况下,模数转换器132的输入/输出关系可以根据连接点(0,0)(此处感测电压Vsen为0V且数字感测数据DSEN为0)和点(3,1023)(此处感测电压Vsen为3V且数字感测数据DSEN为1023)的直线来定义。
理想的模数转换器132可以由线性关系定义,在该线性关系中,与斜率对应的增益是k(=1023/3V),并且与x轴截距对应的偏移是0。
然而,即使模数转换器132具有线性特性,实际上,模数转换器132也可以具有表示为直线210的特性,其中与斜率对应的增益大于k,或者可以具有表示为直线(未示出)的线性特性,其中与斜率对应的增益小于k。
另外,模数转换器132可以具有由直线220表示的线性特性,其中与x轴截距对应的偏移大于零。
可替换地,模数转换器132可以不具有线性特性,而是可根据感测电压Vsen与数字感测数据DSEN之间的关系而具有非线性特性。
由于内部因素或外部因素诸如温度变化,可能发生模数转换器132的增益不同于理想增益(Gain=k)或偏移不同于理想偏移(Offset=0)的现象。
例如,模数转换器132的特性值可能由于外部因素(诸如模数转换器132或包括其的数据驱动电路130或者显示装置100长时间操作、温度高、或施加高压)而改变。
如上所述,如果模数转换器132的特性值改变,则转换特性可以针对每个感测通道CH1-CHn而变化,或者转换特性可以在模数转换器132之间变化。
即,在模数转换器132的特性值改变的情况下,模数转换器132的特性中或者感测通道CH1-CHn之间的特性中可能出现偏差。
为了使模数转换器132的特征值(增益或偏移)的偏差减到最小,通过虚设通道CHd1-CHdn检测虚设感测电压Vsend的次数可大于通过感测通道CH1-CHn检测感测电压Vsen的次数,以减少模数转换器132的偏移噪声。即,通过累积通过虚设通道CHd1-CHdn反复检测的虚设感测电压Vsend,可以减小模数转换器132的偏移偏差,并且可以减小偏移噪声。
图7示出了根据本公开内容实施例的显示装置中的感测通道和虚设通道的布置结构的示例。
参考图7,在根据本公开内容实施例的显示装置100中,被提供有断开-感测电压Vos的一个或多个虚设通道CHd1、CHd2可以设置在连接到构成显示面板110的子像素的感测通道CH1、CH2、CH3之间(图7中的(a)),可替换地,虚设通道CHd1、CHd2可以在感测通道CH1、CH2、CH3的左侧或右侧按行排列(图7中的(b))。
此处,感测通道CH1、CH2、CH3可分别通过采样开关SAM1、SAN2、SAM3连接到对应于子像素的感测线SL,以便检测表示子像素的驱动特性值(阈值电压或迁移率)的感测电压Vsen。虚设通道CHd1、CHd2用来补偿模数转换器132的增益或偏移,并可分别通过虚设采样开关SAMd1、SAMd2来施加断开-感测电压Vos。
图8示意性地示出了根据本公开内容实施例的显示装置中的感测通道和虚设通道的采样时段。
参考图8,在根据本公开内容实施例的显示装置100中,定时控制器140可控制位于感测通道CH1-CHn中的采样开关SAM和位于虚设通道CHd1-CHdn中的虚设采样开关SAMd的操作时段。
此处,可以通过将感测线SL初始化为参考电压的步骤、跟踪感测线SL的电压变化的步骤、以及在预定时间之后对在感测线SL中充电的感测电压Vsen进行采样的步骤来检测连接到子像素的感测通道CH的感测电压Vsen。
在初始化步骤中,开关晶体管SWT由于导通电平的扫描信号SCAN而处于导通状态,并且将驱动晶体管DRT的第一节点N1初始化为数据电压Vdata。此外,感测晶体管SENT由于导通电平的感测信号SENSE而处于导通状态,并且感测参考开关导通。在这种状态下,将驱动晶体管DRT的第二节点N2初始化为参考电压Vref。
跟踪步骤是跟踪在感测线SL中充电的感测电压Vsen的步骤。在跟踪步骤中,保持导通电平的扫描信号SCAN,并且感测参考开关转换到截止电平。因此,驱动晶体管DRT的第二节点N2浮置,并且驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压增加。具体而言,由于将驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压初始化为参考电压,所以其开始从参考电压上升。此时,由于感测晶体管SENT导通,所以驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压的增加导致感测线SL的电压的增加。
在这种情况下,驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压增加继续,直至与数据电压Vdata的差变为与阈值电压一样大。即,当驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压与数据电压Vdata相差阈值电压时,驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压饱和。
在采样步骤中,当从驱动晶体管DRT的第二节点N2的电压开始升高的时间起经过预定时间时,采样开关SAM导通。此时,模数转换器132可以检测由采样开关SAM连接的感测线SL的电压,即,在线电容器Cline的两端形成的感测电压Vsen,并可将感测电压Vsen转换为数字感测数据DSEN。
如上所述,由于在将感测线SL初始化为参考电压以便检测感测通道CH的感测电压Vsen的状态下,需要跟踪过程直到驱动晶体管DRT的第二节点N2饱和,所以检测感测通道CH的感测电压Vsen花费相对长的时间。例如,感测通道CH的检测时间Tch可花费约30ms以使采样开关SAM在将感测线SL初始化为参考电压的状态下操作。
另一方面,由于虚设通道CHd的虚设感测电压Vsend的检测可仅通过关断虚设采样开关SAMd的操作来执行,而不需要在初始化为断开-感测电压Vos状态下的单独跟踪过程,因此与感测通道CH相比,其花费相对较短的时间。例如,在将虚设通道CHd初始化为断开-感测电压Vos的同时,虚设通道CHd的检测时间Tchd可以是通过虚设采样开关SAMd检测虚设感测电压Vsend所需的4至5ms。
因此,在通过感测通道CH检测子像素SP的驱动特性值一次的时间(Tch,例如30ms)期间,通过虚设通道CHd检测模数转换器132的特性(增益或偏移)的虚设采样开关SAMd可以多次操作。
此处,已经说明了这样的情况,其中,在连接到感测通道CH的采样开关SAM导通一次的同时,连接到虚设通道CHd的虚设采样开关SAMd导通四次。
此外,可同时导通连接到多个虚设通道CHd1-CHdn的多个虚设采样开关SAMd1-SAMdn。此处,考虑到同时导通或断开多个虚设采样开关SAMd1-SAMdn的情况,将其例示为一个虚设采样开关SAMd。
通过经由虚设采样开关SAMd安排同时从每个虚设通道CHd1至CHdn所检测到的虚设感测电压Vsend1-Vsendn,可获得对应于一条栅极线GL的每条线的虚设感测电压。
同时,通过导通虚设采样开关SAMd的一个操作获得的用于每条线的虚设感测电压可以用于校正模数转换器132的特性,然而,由于在导通虚设采样开关SAMd时的内部因素或外部因素,可能在用于每条线的虚设感测电压中出现噪声。
因此,在连接到感测通道CH的采样开关SAM导通一次的同时,连接到虚设通道CHd的虚设采样开关SAMd可以导通多次(例如,4次)。此外,通过将当虚设采样开关SAMd导通时检测到的多条线中的每条线的虚设感测电压求和,可以减小模数转换器132的特性的偏移。
图9示出了通过将通过根据本公开内容的实施例的显示装置中的虚设通道多次检测到的虚设感测电压求和来减小模数转换器的特性的偏移的情况。
参考图9,在本公开内容实施例的显示装置100中,由于在虚设采样开关SAMd导通时的内部因素或外部因素,通过虚设通道CHd检测的虚设感测电压Vsend在每个检测时间点可具有不同的值。
例如,在连接到感测通道CH的采样开关SAM导通一次期间连接到虚设通道CHd的虚设采样开关SAMd导通四次的情况下,可以检测到四个虚设感测电压1st Vsend-4th Vsend。
在此情况下,由于当虚设采样开关SAMd导通时的时间间隔或外部因素,四个虚设感测电压1st Vsend-4th Vsend可以代表不同的值。
然而,即使四个虚设感测电压1st Vsend-4th Vsend具有不同的值,它们都是在相同的虚设感测通道CHd中检测的值,从而当通过将所有四个虚设感测电压1st Vsend-4thVsend求和来计算平均值时,可以减小虚设感测通道CHd的偏差。
因此,在通过感测通道CH检测感测电压Vsen一次期间,可以通过虚设通道CHd多次检测虚设感测电压Vsend,并且可以通过对虚设感测电压求和来计算其平均值,从而可以减小模数转换器132的特性的偏移偏差。
图10示出了根据本公开内容实施例的显示装置中的通过将通过数据驱动电路中的感测通道和虚设通道检测到的电压转换为数字信号而被传送到定时控制器的输出数据的示例。
参考图10,在本公开内容实施例的显示装置100中,模数转换器132可以检测由采样开关SAM所连接的多条感测线SL的感测电压Vsen,即,在线电容器Cline两端形成的电压,并可将感测电压Vsen转换为数字感测数据DSEN。
在此情况下,数据驱动电路130可将通过用于多个感测通道CH1-CHn的采样开关SAM所检测到的数字感测数据DSEN1-DSENn配置为一个集成面板感测数据ADC-data。例如,在每个像素都由4个子像素SP构成的60个像素连接到一个数据驱动电路130的情况下,可以布置60个感测通道CH。另外,在为每个感测通道CH生成10位数字感测数据DSEN的情况下,可以生成600位的面板感测数据ADC-data。
因此,数据驱动电路130可以将包括由针对多个感测通道CH检测的数字感测数据DSEN组成的面板感测数据ADC_data的输出数据SDIC_OUT传送到定时控制器140。
在此情况下,在检测多个感测通道CH的感测电压Vsen期间,数据驱动电路130可多次重复检测多个虚设通道CHd的虚设感测电压Vsend并将虚设感测电压Vsend转换为数字虚设感测数据DSENd1-DSENdn的过程。
在此情况下,从多个虚设通道CHd生成的多个数字虚设感测数据DSENd1-DSENdn可被配置为一个偏移数据Q_data,且数据驱动电路130可产生与从虚设通道CHd检测虚设感测电压Vsend的次数一样多的偏移数据Q_data1-Q_datan。
偏移数据Q_data是表示通过被提供有断开-感测电压Vos的虚设通道CHd1、CHd2检测到的虚设感测电压Vsend的值。因此,定时控制器140可通过将用于虚设通道CHd1、CHd2的偏移数据Q_data与存储在查找表中的用于每个感测通道CH的模数转换器132a、132b、132c的特征值进行比较来确定模数转换器132a、132b、132c的特性的变化。
在这种情况下,由于可在从感测通道CH检测感测电压Vsen的时间内执行多次从虚设通道CHd检测虚设感测电压Vsend,因此在生成一个面板感测数据ADC_data期间,可以生成n个偏移数据Q_data1-Q_datan。
如果生成一个面板感测数据ADC_data和n个偏移数据Q_data1-Q_datan,则数据驱动电路130可以将包括传输开始数据TS的输出数据SDIC_OUT传送到定时控制器140。
图11示意性地示出了用于补偿根据本公开内容实施例的显示装置中的子像素的驱动特性值和模数转换器的转换特性的配置图。
参考图11,在根据本公开内容实施例的显示装置100中,定时控制器140的补偿电路142可以包括子像素补偿电路143和模数转换器补偿电路144。
在模数转换器132a、132b、132c的特性值改变的情况下,为了补偿模数转换器132a、132b、132c的特性值和连接到模数转换器132a、132b、132c的感测通道CH之间的特性值偏差中的至少一个,定时控制器140的模数转换器补偿电路144可通过更新存储器146中的查找表来针对每个感测通道CH补偿模数转换器132a、132b、132c的特性值。
即,当通过在虚设通道CHd中检测到的虚设感测电压Vsend确定模数转换器132a、132b、132c的特性值改变时,为了补偿模数转换器132a、132b、132c的特性值的变化,模数转换器补偿电路144可执行模数转换器补偿,该补偿更新在存储器146中的查找表中所包括的每个感测通道CH的模数转换器132a、132b、132c的特性值(偏移、增益等)。
同时,包括在定时控制器140中的子像素补偿电路143可以参考由模数转换器补偿电路144更新的查找表以及根据在感测通道CH中检测到的数字感测数据DSEN生成补偿的数字图像数据DATA_comp,以便补偿子像素SP中的驱动晶体管DRT的特性值(例如阈值电压或迁移率)。
因此,数据驱动电路130a、130b、130c中的数模转换器可将经补偿的数字图像数据DATA_comp转换为数据电压Vdata,并将其提供给相应的子像素SP。
根据本公开内容实施例的显示装置100可以两次或更多次检测虚设通道CHd的虚设感测电压Vsend,并可在对它们求和之后计算其平均值,从而减小模数转换器132a、132b、132c的特性值,特别是偏移偏差。因此,可以解决由于模数转换器132a、132b、132c的特性值的变化而导致的子像素补偿的不准确性。
已经呈现了以上描述以使得本领域的任何技术人员能够做出和使用本发明的技术构思,并且已经在特定应用及其要求的上下文中提供了以上描述。对所描述的实施例的各种修改、添加和替换对于本领域技术人员将是显而易见的,并且在不脱离本发明的精神和范围的情况下,本文所定义的一般原理可以应用于其他实施例和应用。上述描述和附图仅出于说明的目的提供了本发明的技术构思的示例。即,所公开的实施例旨在说明本发明的技术构思的范围。因此,本发明的范围不限于所示的实施例,而是应被赋予与权利要求一致的最宽范围。本发明的保护范围应当基于所附权利要求来解释,并且在其等同方案的范围内的所有技术构思应当被解释为包括在本发明的范围内。
Claims (17)
1.一种显示装置,包括:
显示面板,其具有多个子像素和连接到所述多个子像素以检测驱动特性值的多个感测通道;
数据驱动电路,其包括将从所述多个感测通道检测到的感测电压转换为数字感测数据的模数转换器,其中,施加感测驱动电压以检测所述模数转换器的特性值的至少一个虚设通道连接到所述模数转换器;以及
定时控制器,其从所述模数转换器接收在所述至少一个虚设通道中检测到的偏移数据并补偿所述模数转换器的所述特性值,
其中,在所述数据驱动电路中,在从所述多个感测通道生成所述数字感测数据一次的同时,从所述至少一个虚设通道生成所述偏移数据两次或更多次。
2.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述驱动特性值是表示构成所述多个子像素中的子像素的驱动晶体管的阈值电压或迁移率的值。
3.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述多个感测通道是通过其向所述多个子像素施加参考电压的信号线。
4.根据权利要求3所述的显示装置,其中,所述数据驱动电路通过以下步骤来检测所述感测电压:
将所述多个感测通道初始化为所述参考电压,
跟踪所述多个感测通道的电压变化,以及
在预定时间之后对在所述多个感测通道中充电的所述感测电压进行采样。
5.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述至少一个虚设通道设置在所述多个感测通道的外部,或者设置在所述多个感测通道之间。
6.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述数据驱动电路通过在生成断电信号并切断数据电压的状态下执行的断开-感测过程来检测所述模数转换器的所述特性值。
7.根据权利要求6所述的显示装置,其中,所述感测驱动电压是断开-感测驱动电压。
8.根据权利要求1所述的显示装置,其中,在生成所述数字感测数据一次的时间段期间,顺序地输出两次或更多次生成的所述偏移数据。
9.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述定时控制器通过将所述偏移数据与存储在存储器中的参考值进行比较来补偿所述模数转换器的所述特性值。
10.根据权利要求9所述的显示装置,其中,所述定时控制器通过对两次或更多次从所述数据驱动电路传送的偏移数据求和以计算平均值来减小所述模数转换器的特性值偏差。
11.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述定时控制器还包括子像素补偿电路,该子像素补偿电路通过从所述数字感测数据生成经补偿的数字图像数据并将所述经补偿的数字图像数据提供给相应的子像素来补偿所述驱动特性值。
12.一种驱动电路,包括:
多条数据线,其延伸到其上设置有多个子像素的显示面板以提供数据电压;
模数转换器,其将从连接到所述多个子像素的多个感测通道检测到的驱动特性值转换为数字感测数据;以及
至少一个虚设通道,其连接到所述模数转换器,用于提供感测驱动电压以检测所述模数转换器的特性值,
其中,所述模数转换器输出所述数字感测数据和从至少一个虚设通道检测到的偏移数据,
其中,在从所述多个感测通道生成所述数字感测数据一次的同时,从所述至少一个虚设通道生成所述偏移数据两次或更多次。
13.根据权利要求12所述的驱动电路,其中,通过以下步骤来检测所述驱动特性值:
将所述多个感测通道初始化为参考电压,
跟踪所述多个感测通道的电压变化,以及
在预定时间之后对在所述多个感测通道中充电的感测电压进行采样。
14.根据权利要求12所述的驱动电路,其中,所述至少一个虚设通道设置在所述多个感测通道的外部,或者设置在所述多个感测通道之间。
15.根据权利要求12所述的驱动电路,其中,通过在生成断电信号并切断数据电压的状态下执行的断开-感测过程来检测所述偏移数据。
16.根据权利要求12所述的驱动电路,其中,所述感测驱动电压是断开-感测驱动电压。
17.根据权利要求12所述的驱动电路,其中,在生成所述数字感测数据一次的时间段期间,顺序地输出两次或更多次生成的所述偏移数据。
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