CN114325547B - 一种ate测试通道的检测装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种ATE测试通道的检测方法，用于判断测试通道的发送方向校准是否生效；包括如下步骤：S01：将至少两个测试通道通过等长导线连接至示波器；S02：在ATE平台中针对每个测试通道编辑相同的测试程序，所述测试程序控制测试通道发送至少一个波形；S03：运行测试程序，在示波器中显示各个测试通道的波形；S04：通过各个测试通道的波形对齐情况，判断测试通道的发送方向校准是否生效。在判断测试通道的发送方向校准是否生效过程中，降低对专有设备的依赖性，降低检测成本。
Description
技术领域
本发明属于ATE测试领域，具体属于一种ATE测试通道的检测装置及方法。
背景技术
近年来，由于芯片和相关设备禁运，芯片和相关配套设备的国产化进程加快，我国集成电路行业呈井喷式发展，越来越多芯片企业也随之出现，对集成电路测试设备的需求也呈现井喷式的增长，对于集成电路测试设备的检测和维护也变得越来越重要，很多检测方法也都在研究摸索中。
通常情况下，集成电路测试公司在设备正式进行测试前，均需进行业务板卡的AC(Alternating Current；交流电)校准；校准之后的测试通道在使用中遇到问题时，需要确认校准效果是否满足要求。此时需要向供应商请求协助，使用专用测试板和内部命令检查校准有效性。这些命令往往不对外开放，而且专用测试板相对成本较高，且需要厂家技术人员现场调试确认，需要花费较多的时间和成本。因此，在检测AC校准有效性的过程中可能存在如下几个方面的问题：
1.若外请供应商工程师进行现场检测，费用较高，拉高了ATE测试的成本。
2.在厂商和供应商处于不同城市的情况下，检测周期会拉长。
3.集成电路行业使用的第三方设备常常较为昂贵，动辄数万甚至数十万人民币，花费较大，增加了校准成本
可以看出，确认校准效果是否满足要求的时候，对专门设备的依赖性较大，且成本较高。因此需要设计一种降低成本且简单便捷的确认校准效果的装置和方法。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种ATE测试通道的检测装置及方法，在判断测试通道的发送方向校准是否生效过程中，降低对专有设备的依赖性，降低检测成本。
为了实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：一种ATE测试通道的检测方法，用于判断测试通道的发送方向校准是否生效；包括如下步骤：
S01：将至少两个测试通道通过等长导线连接至示波器；
S02：在ATE平台中针对每个测试通道编辑相同的测试程序，所述测试程序控制测试通道发送至少一个波形；
S03：运行测试程序，在示波器中显示各个测试通道的波形；
S04：通过各个测试通道的波形对齐情况，判断测试通道的发送方向校准是否生效。
进一步的，所述步骤S04中，当各个测试通道的波形完全对齐时，判断测试通道的发送方向校准生效。
进一步的，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形格式、发送时刻和波形中高低电平均相同。
进一步的，所述测试通道具有设置0\1逻辑门限电压和输出逻辑0\1波形的功能。
进一步的，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形为方形波。
一种ATE测试通道的检测装置，包括ATE平台、等长导线和示波器，所述ATE平台中各个测试通道通过等长导线连接所述示波器；所述ATE平台中包括针对每个测试通道均相同的测试程序，所述测试程序控制测试通道发送至少一个波形；运行测试程序时，在示波器中显示各个测试通道的波形；通过各个测试通道的波形对齐情况，判断测试通道的发送方向校准是否生效。
进一步的，运行测试程序时，当所述示波器中各个测试通道的波形完全对齐时，判断测试通道的发送方向校准生效。
进一步的，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形格式、发送时刻和波形中高低电平均相同。
进一步的，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形为方形波。
本发明具有如下有益效果：相比现有技术中需要使用专用测试板和内部命令检查校准有效性的工艺，本申请只需要等长导线和示波器即可检查校准有效性，若通过等长导线之后展示在示波器中波形为均为对齐状态，则说明这些测试通道的发送方向校准是有效的，可以采用对应的测试通道进行下一步的测试；若通过等长导线之后展示在示波器中波形不对齐，则说明测试通道在发送方向校准无效，还不能直接进行对应测试通道的测试，需要对测试通道进行校准。本发明中判断校准有效性的装置简单，操作方便，大大提升了校准有效性的判断效率，推动了集成电路测试领域的进步。
附图说明
附图1为本发明ATE测试通道的检测装置的示意图；
附图2为本发明ATE测试通道的检测方法的流程图。
具体实施方式
为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本发明的具体实施方式。以下描述中，需要理解的是，“前”、“后”、“上”、“下”、“左”、“右”、“纵”、“横”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“头”、“尾”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系、以特定的方位构造和操作，仅是为了便于描述本技术方案，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位，因此不能理解为对本发明的限制。
还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，“安装”、“相连”、“连接”、“固定”、“设置”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。当一个元件被称为在另一元件“上”或“下”时，该元件能够“直接地”或“间接地”位于另一元件之上，或者也可能存在一个或更多个居间元件。术语“第一”、“第二”、“第三”等仅是为了便于描述本技术方案，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量，由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定***结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本发明实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中，省略对众所周知的***、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本发明的描述。
一种ATE测试通道的检测装置和方法，用于判断测试通道的发送方向校准是否生效。ATE平台在进行测试之前均需要对测试通道进行校准，而校准的过程未必能达到预期效果，因此校准之后需要进一步对校准效果进行判断，判断校准效果是否达到了预期。若不对校准结果进行判断，直接开始测试通道的测试，当测试结果异常的时候，无法判断是测试对象出了问题还是测试通道出了问题。
本申请装置和方法就是针对测试通道AC发送方向校准的有效性判断，其中，AC发送方向校准指的是针对测试通道的信号输出方向的校准；在ATE测试平台中，测试通道获取的测试数据需要传输至下一个对象，AC发送方向校准指的是针对测试通道发送过程的校准，确保数据能够准确无误发送出去。
如附图2所示，本申请提供的一种ATE测试通道的检测方法，具体包括如下步骤：
S01：将至少两个需要进行校准有效性判断的测试通道通过等长导线连接至示波器。ATE平台中每块板卡都有很多测试通道，这些测试通道都具有设置逻辑0\1逻辑门限电压和输出逻辑0\1波形的功能，同时具备设置波形发生时刻的功能；同时也具备符合特定的时间内约束内完成的逻辑操作。
本步骤发生在测试通道的AC发送方向校准之后，针对校准的结果进行进一步的判断，确认校准过程是否生效。
S02：在ATE中针对每个测试通道编辑相同的测试程序，测试程序控制测试通道发送至少一个波形。ATE平台具有可编辑功能，通过在ATE平台上的编程，可以得出各个测试通道的测试程序，且每个测试通道的测试程序均是相同的，测试程序用于控制对应的测试通道向外发送波形信号，鉴于各个测试通道的测试程序均相同，也就是说本步骤中测试程序控制各个测试通道发送的波形格式、发送时刻和波形中高低电平均相同。
S03：运行测试程序，在示波器中显示各个测试通道的波形。
鉴于本申请中测试通道都具有设置逻辑0\1逻辑门限电压和输出逻辑0\1波形的功能，测试程序可以控制测试通道发送的波形为方形波。
S04：通过各个测试通道的波形对齐情况，断测试通道的发送方向校准是否生效。当各个测试通道的波形完全对齐时，判断测试通道的发送方向校准生效；当其中一个或多个测试通道的波形不能与其他测试通道的波形保持对齐时，说明这些未对齐波形对应的测试通道的AC发送方向校准并没有达到预期效果，需要对所有的测试通道重新进行AC发送方向校准，再重复上述步骤来判断校准结果。
本申请中采用等长导线连接测试通道和示波器，等长导线和示波器对于测试通道的影响都是相同的，同时测试程序也相同；若AC发送方向校准有效，则各个测试通道到达示波器的波形就应该完全对齐，若不能完全对齐，则说明AC发送方向校准没有达到预期效果。
如附图1所示，本申请提供的一种ATE测试通道的检测装置，包括ATE平台、等长导线和示波器，ATE平台中各个测试通道通过等长导线连接示波器。ATE平台中每块板卡都有很多测试通道，这些测试通道都具有设置逻辑0\1逻辑门限电压和输出逻辑0\1波形的功能，同时具备设置波形发生时刻的功能；同时也具备符合特定的时间内约束内完成的逻辑操作。
ATE平台中包括针对每个测试通道均相同的测试程序，测试程序控制测试通道发送至少一个波形；测试程序用于控制对应的测试通道向外发送波形信号，鉴于各个测试通道的测试程序均相同，也就是说本步骤中测试程序控制各个测试通道发送的波形格式、发送时刻和波形中高低电平均相同。
本申请中等长导线可以采用任意结构的导线，但需要确保连接不同测试通道的导线的长度相等、截面相等且导线类型相同。
运行测试程序时，在示波器中显示各个测试通道的波形；通过各个测试通道的波形对齐情况，判断测试通道的发送方向校准是否生效。当各个测试通道的波形完全对齐时，判断测试通道的发送方向校准生效；当其中一个或多个测试通道的波形不能与其他测试通道的波形保持对齐时，说明这些测试通道的AC发送方向校准并没有达到预期效果，需要对所有的测试通道重新进行AC发送方向校准。
由于我们的外接电路只需要等长连接线和示波器，示波器厂家一般都会配备不需额外购买，等长连接线的成本基本可以控制在1000人民币以内。因为该发明的测试程序都是在集成电路测试公司可操作的内容下完成，减少了对集成电路测试设备供应商人员的依赖。集成电路测试厂商一旦发现问题就可以自行检测，这个周期非常短，整体降低的成本就非常可观。
可以理解的，以上实施例仅表达了本发明的优选实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制；应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，可以对上述技术特点进行自由组合，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围；因此，凡跟本发明权利要求范围所做的等同变换与修饰，均应属于本发明权利要求的涵盖范围。
Claims (5)
1.一种ATE测试通道的检测方法，用于在ATE平台进行测试之前，判断测试通道的发送方向校准是否生效；其特征在于，包括如下步骤：
S01：将至少两个测试通道通过等长导线连接至示波器；
S02：在ATE平台中针对每个测试通道编辑相同的测试程序，所述测试程序控制测试通道发送至少一个波形；所述测试程序控制各个测试通道发送的波形格式、发送时刻和波形中高低电平均相同；
S03：运行测试程序，在示波器中显示各个测试通道的波形；
S04：通过各个测试通道的波形对齐情况，判断测试通道的发送方向校准是否生效；当各个测试通道的波形完全对齐时，判断测试通道的发送方向校准生效。
2.根据权利要求1所述的一种ATE测试通道的检测方法，其特征在于，所述测试通道具有设置0\1逻辑门限电压和输出逻辑0\1波形的功能。
3.根据权利要求2所述的一种ATE测试通道的检测方法，其特征在于，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形为方形波。
4.一种ATE测试通道的检测装置，其特征在于，包括ATE平台、等长导线和示波器，所述ATE平台中各个测试通道通过等长导线连接所述示波器；所述ATE平台中包括针对每个测试通道均相同的测试程序，所述测试程序控制测试通道发送至少一个波形，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形格式、发送时刻和波形中高低电平均相同；运行测试程序时，在示波器中显示各个测试通道的波形；通过各个测试通道的波形对齐情况，判断测试通道的发送方向校准是否生效；当所述示波器中各个测试通道的波形完全对齐时，判断测试通道的发送方向校准生效。
5.根据权利要求4所述的一种ATE测试通道的检测装置，其特征在于，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形为方形波。
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| GR01 | Patent grant | ||
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