CN114235147B - 测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测试装置。测试装置用于获取待测干燥装置的红外光信息。测试装置包括均光结构及红外光测试结构。均光结构具有用于接收红外光并形成光斑的预设区域，预设区域设有用于散射光线的散射结构，散射结构至少覆盖光斑边缘的部分红外光测试结构包括图像采集器及第一处理器，图像采集器用于采集均光结构上预设区域的图像，第一处理器用于根据图像采集器采集的图像获取红外光信息，红外光信息包括红外光的光强是否合格及红外光的光强值中的至少一种。本申请通过在均光结构设置能够散射光线的散射结构，能够对至少部分光斑边缘的光线进行散射，以使边缘视场的光线也能后进入图像采集器，有利于提升测试装置检测的精准度。

Description

测试装置

技术领域

本申请涉及检测技术领域，更具体而言，涉及一种测试装置。

背景技术

新一代的干燥装置能够向外部物体吹风的同时还能够辐射光线，发出的红外光通过热辐射的方式对外部物体进行加热。在干燥装置出厂之前都会对干燥装置红外光的光强进行检测，通常是控制干燥装置向透明件发射辐射光线，以在透明件上形成光斑，成像模组获取透明件上的光斑信息，并根据光斑检测干燥装置红外光的光强。然而，由于成像模组对中心视场采集较好，对边缘视场采集较差，会导致经过透明件边缘的辐射光线不能全部进入成像模组采集视场内，从而影响检测干燥装置发射红外光的光强的精度。

发明内容

本申请实施方式提供一种测试装置。

本申请实施方式的测试装置用于获取待测干燥装置的红外光信息，所述待测干燥装置能够发射红外光。测试装置包括均光结构及红外光测试结构。所述均光结构具有用于接收所述红外光并形成光斑的预设区域，所述预设区域设有用于散射光线的散射结构，所述散射结构至少覆盖所述光斑边缘的部分所述红外光测试结构包括图像采集器及第一处理器，所述图像采集器用于采集所述均光结构上所述预设区域的图像，所述第一处理器用于根据所述图像采集器采集的图像获取所述红外光信息，所述红外光信息包括所述红外光的光强是否合格及所述红外光的光强值中的至少一种。

本申请实施方式中的测试装置通过在均光结构中能够接收红外光并形成光斑的预设区域，设置能够散射光线的散射结构，并且散射结构至少覆盖所述光斑边缘的部分。如此能够对至少部分光斑边缘的光线进行散射，以使边缘视场的光线也能后进入图像采集器，有利于提升测试装置检测的精准度。

本申请的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实施方式的实践了解到。

附图说明

本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本申请某些实施方式中的测试装置的结构示意图；

图2是本申请某些实施方式中的待测干燥装置的结构示意图；

图3是本申请某些实施方式中的测试装置的结构示意图；

图4是现有技术中成像模组采集透明件上光斑的示意图；

图5是本申请某些实施方式中测试装置的图像采集器采集预设区域上光斑的示意图；

图6是本申请某些实施方式中测试装置的均光结构的截面示意图；

图7是本申请某些实施方式中的测试装置的结构示意图；

图8及图9是本申请某些实施方式中的测试装置的风力测试结构的结构示意图；

图10是本申请某些实施方式中测试装置的固定工装的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本申请的实施方式作进一步说明。附图中相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。

另外，下面结合附图描述的本申请的实施方式是示例性的，仅用于解释本申请的实施方式，而不能理解为对本申请的限制。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

请参阅图1及图5，本申请实施方式提供一种测试装置100。测试装置100用于获取待侧干燥装置200（如图2及图3所示）的红外光信息。待测干燥装置200能够发射红外光。测试装置100包括均光结构10及红外光测试结构20。均光结构10具有用于接收红外光并形成光斑的预设区域101。预设区域设有用于散射光线的的散射结构102，散射结构102至少覆盖光斑边缘的部分。红外光测试结构20包括图像采集器21及第一处理器22。图像采集器21用于采集均光结构10上预设区域101的图像，第一处理器22用于根据图像采集器21采集的图像获取红外光信息，红外光信息包括红外光的光强是否合格、及红外光的光强值中的至少一种。

本申请实施方式中的测试装置100通过在均光结构10中能够接收红外光并形成光斑的预设区域101，设置能够散射光线的散射结构102，并且散射结构102至少覆盖所述光斑边缘的部分。如此能够对至少部分光斑边缘的光线进行散射，以使边缘视场的光线也能后进入图像采集器21，有利于提升测试装置100检测的精准度。

下面结合附图，做进一步说明。

请参阅图1，测试装置100包括均光结构10及红外测试结构20，均光结构10用于接收及散射待测干燥装置200（如图2及图3所示）发射的红外光，并生成光斑。红外测试结构20用于根据均光结构10上的光斑获取红外光信息。需要说明的是，待测干燥装置200可以是吹风机、干身机、干手机、烘干机等，以下实施例均以待测干燥装置200为吹风机为例进行说明。

具体地，均光结构10设置在待测干燥装置200的光路上，在待干燥装置200运行时，待测干燥装置200能够沿光路发射红外光。此时均光结构10能够接收待干燥装置200发射的红外光。进一步地，在一些实施例中，均光结构10具有用于接收红外光并形成光斑的预设区域101，预设区域101设有用于散射光线的散射结构102，散射结构102至少覆盖光斑边缘的部分。也即是说，待测干燥装置200发射的红外光能够在均光结构10的预设区域101形成光斑，并且均光结构10中的散射结构102能够对红外光进行散射。

通常是通过控制待测干燥装置200向透明件发射辐射光线，以在透明件上形成光斑，成像模组根据光斑来获取待测干燥装置200的红外光信息。然而，由于成像模组对中心视场采集较好，对边缘视场采集较差，会导致经过透明件边缘的辐射光线不能全部进入成像模组采集视场内。例如，如图4所示，从光源发出的光线被发散，中部视场的光线能够直接进入成像模组，而边缘视场的光线（图4中的光线a及光线b）由于光路偏角较大，导致不能进入成像模组，也即成像模组不能采集光线a及光线b，如此实际上只能采集到视场区域内部分的光线，从而导致影响检测精度。请结合图5，在本申请实施例中，由于形成光斑的预设区域101设置有能够散射光线的散射结构102，并且散射结构102至少覆盖光斑边缘的部分。如此散射结构102能够对光斑边缘的光线进行散射，以使边缘视场的光线也能后进入图像采集器21。例如，如图5所示，边缘视场的光线（图5中的光线a及光线b）经过散射结构102的散射，光线a及光线b中的部分光线发生偏折，改变光路后能够入射图像采集器21。也即，图像采集器21能够采集到光线a及光线b中的部分光线。因此，本申请实施例通过在形成光斑的预设区域101上设置有能够散射光线的散射结构102，并且散射结构102至少覆盖光斑边缘的部分，有利于提升测试装置100检测的精准度。

请参阅图1，在一些实施例中，均光结构10包括均光件11，均光件11用于接收红外光并形成光斑。

示例地，请结合图5，在一些实施例中，预设区域101设于均光件11，即均光件11具有用于接收红外光并形成光斑的预设区域101。在待测干燥装置200工作时发射的红外光，能够入射至均光件11的预设区域101并形成光斑，并且均光件11的预设区域101设有散射结构102，散射结构102能够对红外光进行散射。

具体地，在一些实施例中，均光件11为半透明结构，其一侧朝向待侧干燥装置200构成入光面111，另一侧朝向图像采集器21构成出光面112。在入光面111和/或出光面112上，设置散射结构102。也即，散射结构102可以设置在入光面111及出光面112的至少一个上。如此能够在现有的成型均光件11的至少一个面上，根据需求设置散射结构102，无需重新改变均光件11本身。当然，在一些实施例中，均光件11包括单面磨砂玻璃、双面磨砂玻璃及体散射件中的至少一种。

请参阅图6，在一些实施例中，均光结构10还可以包括支撑板12、透明件13。支撑板12设有通孔121，均光件11设于通孔121内。透明件13设于支撑板12靠近待测干燥装置200的一侧，并且至少部分透明件13与均光件11对应，以使红外光穿过透明件13后，能够入射至均光件11。

需要说明的是，待测干燥装置200包括气流元件（图未示）及一个或多个辐射源（图未示）。在待测干燥装置200运行时，气流元件的电机转动能够带动周围的空气转动以在风道产生风，辐射源能够沿光路发射红外光，并且待测干燥装置200具有至少部分重合的光路和风道。均光件11为了能够接收到待测干燥装置200射出的红外光，均光件11势必需要设置在待测干燥装置200的光路上，如此均光件11也会接收到至少部分由待测干燥装置200产生风。由于均光件11既需要保证半透明，又有散光的要求，导致强度比较低，此时在接受到待测干燥装置200的气流吹动的时候，容易被吹破或者变形。然而，本实施例中，通过将均光件11收容在支撑板12的通孔内，并且在其靠近待测干燥装置200的一侧设置透明件13，能够避免待测干燥装置200产生的气流将均光件吹破或者变形，有利于延长均光件11的使用寿命。

当均光结构10包括均光件11、支撑板12、透明件13时，在一些实施例中，均光结构10的预设区域101可以设于均光件11，也即均光件11的预设区域101设有散射结构102。特别地，在一些实施例中，如图6所示，预设结构101还可以包括第一子预设区域1011及第二子预设区域1012，第二子预设区域1012与第一子预设区域1011对应。其中，第一子预设区域1011设有用于散射光线的散射结构102，第二子预设区域1012用于接收经过第一子预设区域1011的红外光并形成光斑。第一子预设区域1011设于透明件13，第二子预设区域1012设于均光件。也即是说，待测干燥装置200发射的红外光能够入射透明件13的第一子预设区域1011，设置在透明件13的第一子预设区域1011的散射结构102能够对红外光进行散射，随后经过散射的红外光能够入射至均光件11的第二子预设区域1012，并在第二子预设区域1012形成光斑。

请参阅图1，红外光测试结构20包括图像采集器21及第一处理器22。图像采集器21位于均光结构10远离待测干燥装置200的一侧，并且图像采集器21用于采集均光结构10上预设区域101的图像。第一处理器22用于根据图像采集器21采集的图像获取红外光信息。

示例地，在待测干燥装置200在运行时，其发射的红外光发射至均光结构10上以后能够在预设区域101形成光斑。图像采集器21采集预设区域101上的图像，其中采集的图像包含有红外光发射至均光结构10的预设区域101上形成的光斑。其中，图像采集器21可以是摄像头或感光传感器。

随后第一处理器22根据采集到的图像获取红外光信息。在一些实施例中，可以根据均光结构10的预设区域101上的光斑大小获取红外光信息。例如，在一个例子中，红外光信息可以包括红外光的光强是否合格。第一处理器22识别出采集的图像中的光斑，并计算出光斑的面积。若计算出的光斑面积在预设的光斑面积合格范围内说明红外光的光强合格，此时红外光信息为红外光的光强合格；若计算出的光斑面积不在预设的光斑面积合格范围内，说明红外光的光强不合格，此时红外光信息为红外光的光强不合格。再例如，在一个例子中，红外光信息可以包括红外光的光强值。在获取到采集的图像中的光斑面积后，第一处理器22还可以根据待测干燥装置200与均光结构10之间的距离、及采集的图像中的光斑面积计算红外光的光强值。同样地，在获取到具体的红外光的光强值后还可以根据其是否在预设的合格光强值的范围内，以判断红外光的光强是否合格。如此获取的红外光信息除了具体的红外光的光强值以外还包括红外光的光强是否合格。

在一些实施例中，还可以根据均光结构10的预设区域101上的光斑的亮度获取红外光信息。在一些实施例中，第一处理器22识别出采集的图像中的光斑区域，并获取光斑区域的亮度值。在一个例子中，红外光信息可以包括红外光的光强是否合格。在获取到光斑区域的亮度值后，将获取到的亮度值与预设亮度值进行比较，若亮度值在预设的亮度值合格范围说明红外光的光强合格，此时红外光信息为红外光的光强合格；若亮度值不在预设的亮度值合格范围说明红外光的光强不合格，此时红外光信息为红外光的光强不合格。再例如，在一个例子中，红外光信息可以包括红外光的光强值。在获取到光斑区域的亮度值后，第一处理器22还可以根据待测干燥装置200与均光结构10之间的距离、及光斑区域的亮度值计算红外光的光强值。同样地，在获取到具体的红外光的光强值后还可以根据其是否在预设的合格光强值的范围内，以判断红外光的光强是否合格。如此获取的红外光信息除了具体的红外光的光强值以外还包括红外光的光强是否合格。

当然，在一些实施例中，还可以结合光斑的面积及光斑区域的亮度，以获取红外光信息，在此不作限制。

请参阅图1，在一些实施例中，红外光测试结构20还包括滤光单元23，滤光单元23设置于均光结构10和/或图像采集器21。滤光单元23仅允许具有预设波段的光线透过，其中预设波段至少包括待测装置200发射的红外光所具有的波段。如此，能够滤除其他波段的光线，避免误将环境中的光线当作待测干燥装置200发射的红外光，从而进一步提升测试装置100获取红外光信息的精确性。

需要说明的是，在一些实施例中，当滤光单元23设置于图像采集器21时，滤光单元23设置于图像采集器21靠近均光结构10的一侧，此时滤光单元23仅允许具有预设波段的光线入射至图像采集器21中。在一些实施例中，当滤光单元23设置于均光结构10时，滤光单元23可以设置于均光结构10靠近待测干燥装置200的一侧，和/或设置于均光结构10靠近图像采集器21的一侧，此时滤光单元23仅允许具有预设波段的光线由均光结构10射出。

请参阅图1，在一些实施例中，测试装置100还用于获取待测装置200的风力。待测干燥装置200具有至少部分重合的光路和风道，测试装置100还包括风力测试结构30。均光结构10设于光路和所述风道的重合区域，在待测干燥装置200运行时，均光结构10还能够风力的作用下能够产生运动。风力测试结构30用于根据均光结构10在风力的作用下产生的运动获取风力信息，风力信息包括风力是否合格及风力值中的至少一种。

由于目前的测试装置在测试风量时，需要将测试装置，例如风速管（皮托管）、风速仪（叶轮式）等装置，放置在气流通路上的测试工位进行测试。然而，由于待测干燥装置发出光线的方向和吹风的气流方向一致，在将测试装置放置在气流方向测试风力时会遮挡光线，使得该测试工位无法进行光线强度的测试。即，风力测试和光线强度测试必须要在不同的工位上配合相关测试设备实现，提高了测试设备成本、占地空间和测试时间。然而，本实施例中，利用光路和所述风道的重合区域的均光结构10，在风力的作用下产生的运动获取待测干燥装置200的风力信息，如此能够在不挡光线的同时获取风力信息，使得能够采用同一测试装置进行光线强度的测试及风力的测试。

在待测干燥装置200运行时，待测干燥装置200沿风道产生风并且沿光路发射红外光。此时，设置在光路和风道的重合区域的均光结构10件能够接收红外光，并且均光结构10在风力的作用下能够产生运动。需要说明的是，使均光结构10产生运动的风力的风，均来自于待测干燥装置200运行时向外发出的风。此外，均光结构10在风力的作用下产生的运动不但包括宏观的相对运动（例如摆动、转动及滑动等），还包括均光结构10与其他器件连接处细微的形变。

具体地，在一些实施例中，请参阅图7，风力测试结构30可以包括支架31及应力计321。均光结构10设于支架31。应力计321设于支架31与均光结构10的相接处，并用于检测支架31与均光结构10相接处的应力变化信息，以根据应力变化信息获取待测干燥装置200的风力信息。由于应力计321设置在支架31与均光结构10的相接处，在测风力信息时并不会影响到光辐射测试结构20测试光辐信息，如此待测干燥装置200的风力测试和光辐射测试无需在不同工位上由不同装置实现，从而降低了风光测试装置100的成本及占地空间。

需要说明的是，在一些实施例中，可以是均光结构10中均光件11设于支架31，以使均光结构10设于支架31。在一些实施例中，当均光结构10包括支撑板12时，可以是均光结构10中支撑板12设于支架31，以使均光结构10设于支架31。当然，还可以是均光结构10中的其他结构设于支架31只需要均光结构10能够与支架31连接即可，在此不作限制。

示例地，均光结构10在风力的作用下能够在其与支架31相接处发生细微形变，应力计321能够测得发生形变处的应力变化信息，并根据应力变化信息获取风力信息。例如，在一些实施例中，应力变化信息包括应力增加值，风力信息包括风力是否合格。若检测到的应力增加值在预设增加值范围内说明风力合格，此时风力信息为风力合格；若检测到的应力增加值不在预设增加值范围内说明风力不合格，此时风力信息为风力不合格。再例如，在一些实施例中，应力变化信息包括应力增加值，风力信息包括风力值。在获取到应力增加值后，可以根据应力增加值、及应力增加值与风力值之间的关系函数，计算与获取到的应力增加值对应的风力值，如此便获得了风力信息。同样地，在获取到具体的风力值后还可以根据其是否在预设的合格风力值的范围内，以判断风力是否合格。如此获取的风力信息除了具体的风力值以外还包括风力是否合格。

请参阅图8，在一些实施例中，风力测试结构30还可以包括转接臂33及测力计322。转接臂33可转动地安装于支架31且与均光结构10连接。在待测干燥装置200运行时，均光结构10在风力作用下带动转接臂33绕支架31转动。测力计322与转接臂33对应，测力计322用于检测转接臂33的受力信息，以根据受力信息获取风力信息。由于在风力作用下均光结构10于支架31相接处的形变可能较小，若直接检测相接处的应力变化，需要精确度较高的应力计才能够精准检测到相接处的应力变化，然而精确度较高的应力计成本比较高。在本实施例中，均光结构10在风力作用下带动转接臂33绕支架31转动，能够放大均光结构10于支架31相接处的应力变化。因此，本实施例采用检测转接臂33的受力信息并根据受力信息获取风力信息，相较于直接获取均光结构10于支架31相接处的应力变化信息再根据应力变化信息获取风力信息，能够降低风力测试机构30的成本、及有利于提升风力测试结构30测试的精确度。

需要说明的是，在一些实施例中,转接臂33可以与均光结构10中均光件11连接。在一些实施例中，当均光结构10包括支撑板12时，转接臂33可以与均光结构10中支撑板12连接。当然，转接臂33还可以与均光结构10中的其他结构连续，在此不作限制。

此外，在一些实施例中，转接臂33可以与均光结构10直接连接。在一些实施例中，转接臂33也可以通过转接件（图未示）与均光结构10间接连接。转接臂33通过转接件与均光结构10间接连接，相较于转接臂33与均光结构10直接连接，能够缩小或者增大均光结构10运动的行程和转接臂33运动的行程的比例关系，以适应测力计322的量程。例如，转接件可以是齿轮，即转接臂33可以通过齿轮与均光结构10间接连接。当然，转接件也可以是其他构件，在此也不作限制。

示例地，均光结构10在风力作用下带动转接臂33绕支架31转动，测力计322检测转接臂33的受力信息，以根据受力信息获取风力信息。例如，在一些实施例中，受力信息包括转接臂33的受力值，风力信息包括风力是否合格。若检测到的转接臂33的受力值在预设的受力值范围内说明风力合格，此时风力信息为风力合格；若检测到的转接臂33的受力值不在预设的受力值范围内说明风力不合格，此时风力信息为风力不合格。再例如，在一些实施例中，受力信息包括转接臂33的受力值，风力信息包括风力值。在获取到转接臂33的受力值后，可以根据受力值、及受力值与风力值之间的关系函数，计算与转接臂33的受力值对应的风力值，如此便获得了风力信息。同样地，在获取到具体的风力值后还可以根据其是否在预设的合格风力值的范围内，以判断风力是否合格。如此获取的风力信息除了具体的风力值以外还包括风力是否合格。

请参阅图1，在一些实施例中，转接臂33与均光结构10垂直，测力计322与转接臂33的自由端331对应。在均光结构10转动且自由端331与测力计322接触时，测力计322用于检测自由端331施加的压力以获取风力信息。此时，测力计322可以是电子称等其他能够检测压力的测力计322，在此不作限制。

示例地，转接臂33的一端与均光结构10连接，并且转接臂33与均光结构10垂直。转接臂33的自由端331，即转接臂33远离均光结构10的一端，与测力计332对应。当均光结构10转动时，均光结构10能够带动转接臂33的自由端332转动，以使自由端332与测力计322接触并向测力计322施加压力。测力计322可以检测到自由端331施加的压力值，并根据检测到压力值以获取风力信息。如此能够将虚无缥缈的风力转换为更直观的压力，有利于检测待测干燥装置200的风力信息。

例如，在一些实施例中，风力信息包括风力是否合格。若检测到的压力值在预设的压力值范围内说明风力合格，此时风力信息为风力合格；若检测到的压力值不在预设的压力值范围内说明风力不合格，此时风力信息为风力不合格。再例如，在一些实施例中，风力信息包括风力值。在获取到压力值后，可以根据压力值、及压力值与风力值之间的关系函数，计算与检测到的压力值对应的风力值，如此便获得了风力信息。同样地，在获取到具体的风力值后还可以根据其是否在预设的合格风力值的范围内，以判断风力是否合格。如此获取的风力信息除了具体的风力值以外还包括风力是否合格。

在一些实施例中，均光结构10转动安装于支架31。也即，均光结构10能够相对支架31转动。此时，请结合图8，风力测试结构30还可以包括阻尼单元34及指示单元35。阻尼单元34设于支架31与均光结构10的安装处，并用于为均光结构10提供阻尼。在待测干燥装置200朝向均光结构10吹风的情况下，指示单元35根据均光结构10克服阻尼后的转动角度输出指示信息，以指示待测干燥装置200的风力信息。如此相较于在均光结构10与支架31相接处设置转接臂33，并通过检测转接臂33的受力信息间接获取风力信息，能够在检测风力信息的同时使测试装置100的结构更加紧凑，以减小测试装置100的尺寸。

示例地，设于支架31与均光结构10的安装处的阻尼单元34，能够为均光结构10提供阻尼，以使均光结构10在不受外力的作用下与支架31保持相对静止。均光结构10在风力作用下，能够克服阻尼单元34的阻尼相对支架31转动。此时，指示单元35能够根据均光结构10克服阻尼后的转动角度输出指示信息，以指示待测干燥装置200的风力信息。

例如，在一些实施例中，指示单元35包括电信号器（图未示），指示信息包括电信号器产生电信号和不产生电信号。风力信息包括风力是否合格，当指示信息为电信号器产生电信号时，说明此时风力是合格的，也即此时风力信息为风力合格；当指示信息为电信号器不产生电信号时，说明此时风力是不合格的，也即此时风力信息为风力不合格。具体地，在待测干燥装置200发出的风力作用下，均光结构10能够克服阻尼单元34的阻尼相对支架31转动。若10克服阻尼后的转动角度不在预设的角度范围内，说明此时待测干燥装置200发出的风力不合格，此时电信号器不产生电信号；若10克服阻尼后的转动角度在预设的角度范围内，说明此时待测干燥装置200发出的风力合格，此时电信号器产生电信号。

例如，在一些实施例中，指示单元35还可以包括机械指针（图未示），指示信息包括机械指针的偏转角度。风力信息包括风力是否合格，若机械指针的偏转角度在预设的角度范围内说明风力合格，此时风力信息为风力合格；若机械指针的偏转角度不在预设的角度范围内说明风力不合格，此时风力信息为风力不合格。同样地，在一些实施例中，指示单元35还可以包括电阻计（图未示），指示信息包括电阻计的偏转角度。风力信息包括风力是否合格，若电阻计的偏转角度在预设的角度范围内说明风力合格，此时风力信息为风力合格；若电阻计的偏转角度不在预设的角度范围内说明风力不合格，此时风力信息为风力不合格。

需要说明的是，在一些实施例中，风力信息包括风力值，可以通过指示信息中机械指针的偏转角度（或电阻计的偏转角度）、及机械指针的偏转角度与风力值之间的关系函数（或电阻计的偏转角度与风力值之间的关系函数），计算风力值。

请参阅图9，在一些实施例中，风力测试结构30还可以包括导轨36。均光结构10可移动地安装于导轨36。在待测干燥装置200朝向均光结构10吹风的情况下，均光结构10沿导轨36移动，根据均光结构10沿导轨36移动的行程获取风力信息。例如，在一些实施例中，风力信息包括风力是否合格。若均光结构10沿导轨36移动的行程在预设的行程范围内说明风力合格，此时风力信息为风力合格；若均光结构10沿导轨36移动的行程不在预设的行程范围内说明风力不合格，此时风力信息为风力不合格。需要说明的是，在一些实施例中，导轨36上还设有刻度尺，以便获取均光结构10沿导轨36移动的行程。

在一些实施例中，风力测试结构30还可以包括弹性件37。均光结构10通过弹性件37安装于导轨36，在待测干燥装置200朝均光结构10吹风的情况下，均光结构10能够克服弹性件37的弹力从初始位置沿导轨36移动，并使弹性件37发生弹性形变；在待测干燥装置200停止朝均光结构10吹风的情况下，弹性件37的弹力能够使均光结构10沿导轨36移回至初始位置。如此在每次对待测干燥装置200完成风力测试后，在弹性件37的作用下，均光结构10都能够自动返回初始位置以便进行下一次风力测试，如此无需人工将均光结构10复位，节约检测时间降低用户对测试装置100的操作难度。

进一步地，在一些实施例中，风力测试结构30还可以包括第二处理器（图未示），第二处理器用于根据发生弹性形变后的弹性件37的长度，获取待测干燥装置200的风力信息。例如，在一些实施例中，风力信息包括风力是否合格。若发生弹性形变后的弹性件37的长度在预设的长度范围内说明风力合格，此时风力信息为风力合格；若发生弹性形变后的弹性件37的长度不在预设的长度范围内说明风力不合格，此时风力信息为风力不合格。再例如，在一些实施例中，风力信息包括风力值。第二处理器获取发生弹性形变后的弹性件37的长度，在获取到发生弹性形变后的弹性件37的长度后，可以根据发生弹性形变后的弹性件37的长度、及发生弹性形变后的弹性件37的长度与风力值之间的关系函数，计算风力值，如此便获得了风力信息。同样地，在获取到具体的风力值后还可以根据其是否在预设的合格风力值的范围内，以判断风力是否合格。如此获取的风力信息除了具体的风力值以外还包括风力是否合格。

请参阅图1，在一些实施例中，测试装置100还可以包括温度采集器40。温度采集器40设于均光结构10，并用于采集均光结构10的温度。由于均光结构10上同时接受红外光和气流（即待测干燥装置100发出的风），红外光能够传递能量使其升温，气流能够使其降温，二者的共同作用下导致难以预估在待测干燥装置200实际工作中的温度变化情况。然而，本实施例，在均光结构10上设置温度采集器40，采集均光结构10的温度后，即可能够检测用户在实际使用干燥装置时所感受到的温度情况。

需要说明的是，在一些实施例中，还可以根据温度采集器40采集的均光结构10的温度，以获取红外光信息及风力信息。此时红外光信息包括红外光强度是否合格，风力信息包括风力是否合格。若均光结构10的温度在预设温度范围内时，说明红外光强度合格及风力合格。

请参阅图1，在一些实施例中，测试装置100还包括调节结构50。均光结构10、红外光测试结构20及风力测试结构30中的一个或多个设置于调节结构50。其中，均光结构10、红外光测试结构20、及风力测试结构30中的至少一个能够相对调节结构50移动。由于均光结构10、红外光测试结构20、及风力测试结构30中的至少一个能够相对调节结构50移动，用户能够根据需求调节三者之间的距离，有利于针对不同需求对待测干燥装置200进行检测。

请参阅图1及图3，在一些实施例中，测试装置100还包括固定工装60及台架70。固定工装60用于安装待测干燥装置200，台架70用于安装固定工装60及调节结构50。调节结构50包括限位轴51，设置于所述调节结构50上的均光结构10、红外光测试结构20、及风力测试结构30中的一个或多个能够沿限位轴51移动。也即，设置于调节结构50上的结构能够沿限位轴51移动。例如，在一些实施例中，均光结构10设置于所述调节结构上，则均光结构10能够沿限位轴51移动；或者，在一些实施例中，均光结构10及红外光测试结构20设置于所述调节结构上，则均光结构10及红外光测试结构20能够沿限位轴51移动；或者，在一些实施例中，均光结构10、红外光测试结构20、及风力测试结构30设置于所述调节结构上，则均光结构10、红外光测试结构20、及风力测试结构30能够沿限位轴51移动。此外，安装于固定工装60的待测干燥装置200能够朝向调节结构50发出红外光及吹风，限位轴51与安装于固定工装60的待测干燥装置200的光路平行。由于限位轴51与安装于固定工装60的待测干燥装置200的光路平行，即均光结构10、红外光测试结构20、及风力测试结构30中的一个或多个能够移动的方向，与装于固定工装60的待测干燥装置200的光路平行，如此能够无论用户如何调节，都不会使均光结构10、红外光测试结构20、及风力测试结构30三者偏离，避免影响测试装置100正常工作。

请参阅图1及图10，在一些实施例中，固定工装60包括基板61、底座62及限位架63。具体地，基板61设有电学接口611。底座62设置于基板61，底座62用于承载待测干燥装置200的手持部210。基板61上的电学接口611与底座62对应，电学接口611用于电连接手柄210和外接设备，以实现数据传输。也即，待测干燥装置200通过电学接口611与外界设备进行数据传输。如此安装于在固定工装60上的待测干燥装置200可以与外接设备实现数据传输，方便通过外接设备控制待测干燥装置200，有利于实现快速测试。

限位架63设置于基板61，限位架63用于承载待测干燥装置200的出风部220，以使待测干燥装置200发射的红外光中的至少部分红外光经过均光结构10。如此在每次对待测干燥装置200检测之前只需要直接将出风部220承载在限位架63上，无需用户多次调试，就可以使待测干燥装置200发射的红外光中的至少部分红外光经过均光结构10，有利于实现快速测试及降低用户使用测试装置100的复杂度。

在本说明书的描述中，参考术语“某些实施方式”、“一个实施方式”、“一些实施方式”、“示意性实施方式”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”的描述意指结合所述实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施方式或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个，除非另有明确具体的限定。

尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型，本申请的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (16)

1.一种测试装置，其特征在于，用于获取待测干燥装置的红外光信息及获取待测干燥装置的风力，所述待测干燥装置能够发射红外光，所述待测干燥装置具有至少部分重合的光路和风道，所述测试装置包括：

均光结构，所述均光结构具有用于接收所述红外光并形成光斑的预设区域，所述预设区域设有用于散射光线的散射结构，所述散射结构至少覆盖所述光斑边缘的部分；所述均光结构设于所述光路和所述风道的重合区域，在所述待测干燥装置运行时，所述均光结构还能够在所述风力的作用下能够产生运动；

红外光测试结构，所述红外光测试结构包括图像采集器及第一处理器，所述图像采集器用于采集所述均光结构上所述预设区域的图像，所述第一处理器用于根据所述图像采集器采集的图像获取所述红外光信息，所述红外光信息包括所述红外光的光强是否合格及所述红外光的光强值中的至少一种；及

风力测试结构，所述风力测试结构用于根据所述均光结构在所述风力的作用下产生的运动获取风力信息，所述风力信息包括所述风力是否合格及风力值中的至少一种。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述均光结构包括均光件，所述预设区域设于所述均光件，所述均光件为半透明结构，其一侧朝向所述待测干燥装置构成入光面，另一侧朝向所述图像采集器构成出光面，在所述入光面和/或所述出光面上，设置所述散射结构。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述均光结构包括：

均光件，所述均光件用于接收红外光并形成光斑；

支撑板，所述支撑板设有通孔，所述均光件设于所述通孔内；及

透明件，所述透明件设于所述支撑板靠近所述待测干燥装置的一侧，并且至少部分所述透明件与所述均光件对应，以使所述红外光穿过所述透明件后，能够入射至所述均光件。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述预设区域设于所述均光件，所述均光件的所述预设区域设有所述散射结构。

5.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述预设区域包括：

第一子预设区域，所述第一子预设区域设有用于散射光线的所述散射结构；及

第二子预设区域，所述第二子预设区域与所述第一子预设区域对应，所述第二子预设区域用于接收经过所述第一子预设区域的红外光并形成光斑；其中，

所述第一子预设区域设于所述透明件，所述第二子预设区域设于所述均光件。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述红外光测试结构还包括：

滤光单元，所述滤光单元设置于所述均光结构和/或所述图像采集器，所述滤光单元仅允许具有预设波段的光线透过，所述预设波段至少包括所述待测干燥装置发射的红外光所具有的波段。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述风力测试结构包括：

支架，所述均光结构设于所述支架；

转接臂，所述转接臂可转动地安装于所述支架且与所述均光结构连接，在所述待测干燥装置运行时，所述均光结构在所述风力作用下带动所述转接臂绕所述支架转动；及

测力计，所述测力计与所述转接臂对应，所述测力计用于检测所述转接臂的受力信息，以根据所述受力信息获取所述风力信息。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述转接臂与所述均光结构垂直，所述测力计与所述转接臂的自由端对应，在所述均光结构转动且所述自由端与所述测力计接触时，所述测力计用于检测所述自由端施加的压力以获取所述风力信息。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述风力测试结构包括：

支架，所述均光结构设于所述支架；及

应力计，设于所述支架与所述均光结构的相接处，并用于检测所述支架与所述均光结构相接处的应力变化信息，以根据所述应力变化信息获取所述风力信息。

10.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述风力测试结构包括：

支架，所述均光结构转动安装于所述支架；

阻尼单元，设于所述支架与所述均光结构的安装处，并用于为所述均光结构提供阻尼；及

指示单元，在所述待测干燥装置朝向所述均光结构吹风的情况下，所述指示单元根据所述均光结构克服所述阻尼后的转动角度输出指示信息，以指示所述待测干燥装置的风力信息。

11.根据权利要求10所述的测试装置，其特征在于，

所述指示单元包括电信号器，所述指示信息包括所述电信号器产生电信号和不产生电信号；或者，

所述指示单元包括机械指针，所述指示信息包括所述机械指针的偏转角度；或者，

所述指示单元包括电阻计，所述指示信息包括所述电阻计的偏转角度。

12.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述风力测试结构包括：

导轨，所述均光结构可移动地安装于所述导轨，在所述待测干燥装置朝向所述均光结构吹风的情况下，所述均光结构沿所述导轨移动，根据所述均光结构沿所述导轨移动的行程获取所述风力信息。

13.根据权利要求12所述的测试装置，其特征在于，所述风力测试结构还包括：

弹性件，所述均光结构通过所述弹性件安装于所述导轨，在所述待测干燥装置朝所述均光结构吹风的情况下，所述均光结构能够克服所述弹性件的弹力从初始位置沿所述导轨移动，并使所述弹性件发生弹性形变；

在所述待测干燥装置停止朝所述均光结构吹风的情况下，所述弹性件的弹力能够使所述均光结构沿所述导轨移回至所述初始位置。

14.根据权利要求1-13任意一项所述的测试装置，其特征在于，还包括：

调节结构，所述均光结构、所述红外光测试结构、及所述风力测试结构中的一个或多个设置于所述调节结构，所述均光结构、所述红外光测试结构、及所述风力测试结构中的至少一个能够相对所述调节结构移动。

15.根据权利要求14所述的测试装置，其特征在于，还包括：

固定工装，用于安装所述待测干燥装置；及

台架，用于安装所述固定工装及所述调节结构；

所述调节结构包括限位轴，设置于所述调节结构上的所述均光结构、所述红外光测试结构、及所述风力测试结构中的一个或多个能够沿所述限位轴移动；

安装于所述固定工装的所述待测干燥装置能够朝向所述调节结构发出红外光及吹风，所述限位轴与安装于所述固定工装的所述待测干燥装置的光路平行。

16.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括：

固定工装，用于安装所述待测干燥装置，其中，所述固定工装包括：

基板，设有电学接口；

底座，所述底座设置于所述基板，所述底座用于承载所述待测干燥装置的手持部，所述电学接口与所述底座对应，所述待测干燥装置通过所述电学接口与外界设备进行数据传输；及

限位架，所述限位架设置于所述基板，所述限位架用于承载所述待测干燥装置的出风部，以使所述待测干燥装置发射的红外光中的至少部分所述红外光经过所述均光结构。

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