CN114130712A - 一种功能测试的碳化硅二极管检测设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，涉及碳化硅二极管技术领域，包括底座和稳固架，所述底座顶部外侧安装有框架，且所述框架两侧均连接有辅助组件，所述底座两侧均设置有输送带，且所述输送带表面安置有限位组件，所述输送带内侧设置有上料组件。本发明通过采用多个组件之间的相互配合设置，不仅能够在输送二极管时将不同能够自动定位二极管，方便其上料过程，并能同一裁剪引脚长度，使其方便不同类型二极管的检测，并通过上料组件转动式的持续性上料，配合检测组件能够实现多组同步测试，提升其测试效率，并通过顶出组件方便对二极管的取出，并配合清废组件能够将不合格的产品取出，提升其产品的合格率。

Description

一种功能测试的碳化硅二极管检测设备

技术领域

本发明涉及碳化硅二极管技术领域，具体为一种功能测试的碳化硅二极管检测设备。

背景技术

碳化硅二极管，即肖特基二极管是通过金属与N型半导体之间形成的接触势垒具有整流特性而制成的一种属-半导体器件。肖特基二极管的基本结构是重掺杂的N型4H-SiC片、4H-SiC外延层、肖基触层和欧姆接触层，其具有良好的特性，在成品的碳化硅二极管投入市场前需要对其进功能性检测，保证产品具有良好的合格率。

市场上的碳化硅二极管检测设备由于碳化硅二极管有不同的类型，使得其引脚长短各有不同，使得检测时就容易导致引脚过长时与检测台接触过度引起引脚的折弯，不方便***检测使用。

发明内容

本发明的目的在于提供一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，包括底座和稳固架，所述底座顶部外侧安装有框架，且所述框架两侧均连接有辅助组件，所述底座两侧均设置有输送带，且所述输送带表面安置有限位组件，所述输送带内侧设置有上料组件，所述辅助组件包括滑轨、气动滑块、辅助架、红外距离传感器、气动剪刀和双目检测摄像头，且所述滑轨内部安装有所述气动滑块，所述气动滑块另一端连接有所述辅助架，且所述辅助架内部连接有所述红外距离传感器，所述辅助架内部右侧安置有所述气动剪刀，所述双目检测摄像头安装于所述框架内侧下方，所述稳固架安装于所述底座顶部中心位置，且所述稳固架表面开设有沟槽，所述稳固架内部安装有检测台，且所述检测台底部连接有调节电机。

进一步的，所述限位组件包括基座、伺服马达、阻尼夹持台、安置弹簧、夹持块和卡板，所述基座内部安装有所述伺服马达，且所述伺服马达输出端连接有所述阻尼夹持台，所述阻尼夹持台内部安装有所述安置弹簧，且所述安置弹簧另一端连接有所述夹持块，所述卡板安装于所述阻尼夹持台顶部。

进一步的，所述阻尼夹持台通过所述伺服马达与所述基座构成旋转连接，且所述伺服马达转动角度为°，而且所述卡板关于所述阻尼夹持台的中心位置对称分布，并且所述卡板表面呈内凹状。

进一步的，所述上料组件包括上料架、步进电机、定位架、小型推杆、定位板、电子伸缩杆和抓取吸盘，且所述上料架一侧连接有步进电机，所述上料架内壁安装有所述定位架，且所述定位架两侧均连接有所述小型推杆，所述小型推杆输出端连接有所述定位板，所述电子伸缩杆安装于所述定位架表面中心位置，且所述电子伸缩杆输出端连接有所述抓取吸盘。

进一步的，所述定位架关于所述上料架的内壁呈等距离圆周状分布，且所述定位板与所述定位架的延长线呈平行状分布，而且所述定位板呈L状结构。

进一步的，所述检测台表面安装有检测组件，且所述检测组件包括检测架、电路板、电源、电阻件、连接座、插槽和弹性导件，所述检测架内部安装有电路板，且所述电路板表面焊接有电源，所述电源右侧上下方设置有所述电阻件，且所述电源右侧对应位置设置有所述连接座，所述连接座顶部开设有插槽，且所述连接座内壁安装有弹性导件。

进一步的，所述弹性导件通过所述连接座与所述所述电路板相互连通，且所述弹性导件与所述连接座弹性连接，而且所述电阻件共设有两组且阻值均不同。

进一步的，所述连接座两侧安装有顶出组件，且所述顶出组件包括微型推杆、顶出架、滑槽、微型弹簧和斜向定位孔块，所述微型推杆输出端连接有所述顶出架，且所述顶出架上表面开设有所述滑槽，所述滑槽内部安装有所述微型弹簧，且所述微型弹簧另一端连接有所述斜向定位孔块。

进一步的，所述框架顶部安装有清废组件，且所述清废组件包括液压推杆、清废架、直杆、温度传感器、清理架和转动电机，所述液压推杆底部连接有所述清废架，且所述清废架底部连接有所述直杆，所示直杆底部连接有所述温度传感器，所述清废架一侧连接有所述清理架，且所述清理架一侧连接有转动电机。

进一步的，所述温度传感器通过所述直杆与所述清废架构成固定连接，且所述温度传感器、所述直杆与所述清废架处于同一轴线，并且所述温度传感器与所述直杆的延长线呈垂直分布。

本发明提供了一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，具备以下有益效果：该一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，通过采用多个组件之间的相互配合设置，不仅能够在输送二极管时将不同能够自动定位二极管，方便其上料过程，并能同一裁剪引脚长度，使其方便不同类型二极管的检测，并通过上料组件转动式的持续性上料，配合检测组件能够实现多组同步测试，提升其测试效率，并通过顶出组件方便对二极管的取出，并配合清废组件能够将不合格的产品取出，提升其产品的合格率；

1、本发明通过输送带与限位组件之间的相互配合设置，该限位组件安置于输送带的表面，使其能够跟随输送带同时运动，并通过其表面的阻尼夹持台与卡板的设置，使得在人工将二极管从阻尼夹持台上方放置于阻尼夹持台内部时，二极管的外部挤压倾斜状的夹持块使其与安置弹簧同步发生收缩运动，并通过两侧夹持块能够快速将二极管定位至阻尼夹持台的中心位置，方便其上料过程，同时也方便对不同类型的二极管进行限位，提升其通用性。

2、本发明通过辅助组件的设置，使得气动滑块能够驱动辅助架沿滑轨上下移动用于调节二极管引脚的长度，并通过其内部的红外距离传感器能够检测出二极管过长引脚，并通过气动剪刀快速将其剪断，使得不同类型不同引脚长度的二极管能够统一尺寸，方便后续的检测过程，并通过双目检测摄像头的设置，配合配合基座内部的伺服马达的设置，该安置弹簧能够驱动阻尼夹持台转动，且每次转动的角度均为180°，进而能够对二极管的正反面作出调整，提升检测精度。

3、本发明通过上料组件与限位组件之间的相互配合设置，使得在输送带带动限位组件上料时，上料架在步进电机的驱动下能够同步转动，通过其表面设置的定位架，在接触至二极管时，两侧的小型推杆同步运动，推动定位板对二极管进行定位夹持，并通过电子伸缩杆推动抓取吸盘贴合在二极管表面，进而能够对其进行吸附抓取，通过上料架的设置，可实现自动化持续性上料，不需要人工上料，提升其检测效率。

4、本发明通过上料组件与检测组件之间的相互配合设置，该检测组件安装于检测台的表面，在上料架工作的同时检测台在调节电机的匀速驱动下工作使得上料架在转动时能够将二极管***检测表面的连接座中，与此同时小型推杆与电子伸缩杆同步收缩，而二极管的引脚能***于连接座内部，与其内部的弹性导件接触，实现与电路板的连通，该在此测试电路中与一个阻值低至约0.1欧姆的电阻件串联，另有一个阻值很高的电阻件与二极管并联，电源电压是设置为1 V的正弦波，因此执行如下的指令进行AC仿真，在200 MHz至2MHz频率范围内，对功率二极管的电容电抗进行测量。

5、本发明通过顶出组件与连接座之间的相互配合设置，使得在二极管***前二极管的下表面能够与顶出架表面的斜向定位孔块接触，使其沿滑槽滑动，配合微型弹簧能够从两侧挤压二极管实现在此定位，提升其检测的精准性，并在检测结束后，在微型推杆的驱动下能够推动顶出架上升，上升的顶出架能够将二极管顶出，进而在下料过程中保证引脚的完整性。

6、本发明通过清废组件与检测台之间的相互配合设置，该清废组件中的液压推杆的驱动下能够推动清废架下降，并通过清废架底部直杆所连接的红外温度传感器进行检测，进而对二极管的温度进行记录，当有二极管发生意外时，通过清理架能够将检测组件内部的二极管进行拆卸并集中存放于收纳箱中，方便后期的集中处理。

附图说明

图1为本发明一种功能测试的碳化硅二极管检测设备的整体结构示意图；

图2为本发明一种功能测试的碳化硅二极管检测设备的辅助组件结构示意图；

图3为本发明一种功能测试的碳化硅二极管检测设备的限位组件结构示意图；

图4为本发明一种功能测试的碳化硅二极管检测设备的上料组件结构示意图；

图5为本发明一种功能测试的碳化硅二极管检测设备的稳固架俯视结构示意图；

图6为本发明一种功能测试的碳化硅二极管检测设备的检测组件结构示意图；

图7为本发明一种功能测试的碳化硅二极管检测设备的顶出组件结构示意图；

图8为本发明一种功能测试的碳化硅二极管检测设备的清废组件局部结构示意图。

图中：1、底座；2、框架；3、辅助组件；301、滑轨；302、气动滑块；303、辅助架；304、红外距离传感器；305、气动剪刀；306、双目检测摄像头；4、输送带；5、限位组件；501、基座；502、伺服马达；503、阻尼夹持台；504、安置弹簧；505、夹持块；506、卡板；6、上料组件；601、上料架；602、步进电机；603、定位架；604、小型推杆；605、定位板；606、电子伸缩杆；607、抓取吸盘；7、稳固架；8、沟槽；9、检测台；10、调节电机；11、检测组件；1101、检测架；1102、电路板；1103、电源；1104、电阻件；1105、连接座；1106、插槽；1107、弹性导件；12、顶出组件；1201、微型推杆；1202、顶出架；1203、滑槽；1204、微型弹簧；1205、斜向定位孔块；13、清废组件；1301、液压推杆；1302、清废架；1303、直杆；1304、温度传感器；1305、清理架；1306、转动电机。

具体实施方式

请参阅图1-8，本发明提供一种技术方案：一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，包括底座1和稳固架7，底座1顶部外侧安装有框架2，且框架2两侧均连接有辅助组件3，底座1两侧均设置有输送带4，且输送带4表面安置有限位组件5，输送带4内侧设置有上料组件6，辅助组件3包括滑轨301、气动滑块302、辅助架303、红外距离传感器304、气动剪刀305和双目检测摄像头306，且滑轨301内部安装有气动滑块302，气动滑块302另一端连接有辅助架303，且辅助架303内部连接有红外距离传感器304，辅助架303内部右侧安置有气动剪刀305，双目检测摄像头306安装于框架2内侧下方，稳固架7安装于底座1顶部中心位置，且稳固架7表面开设有沟槽8，稳固架7内部安装有检测台9，且检测台9底部连接有调节电机10；

具体操作如下，通过辅助组件3的设置，使得气动滑块302能够驱动辅助架303沿滑轨301上下移动用于调节二极管引脚的长度，并通过其内部的红外距离传感器304能够检测出二极管过长引脚，并通过气动剪刀305快速将其剪断，使得不同类型不同引脚长度的二极管能够统一尺寸，方便后续的检测过程，并通过双目检测摄像头306的设置，配合配合基座501内部的伺服马达502的设置，该伺服马达502能够驱动阻尼夹持台503转动，且每次转动的角度均为180°，进而能够对二极管的正反面作出调整，提升检测精度；

请参阅图1-3，限位组件5包括基座501、伺服马达502、阻尼夹持台503、安置弹簧504、夹持块505和卡板506，基座501内部安装有伺服马达502，且伺服马达502输出端连接有阻尼夹持台503，阻尼夹持台503内部安装有安置弹簧504，且安置弹簧504另一端连接有夹持块505，卡板506安装于阻尼夹持台503顶部，阻尼夹持台503通过伺服马达502与基座501构成旋转连接，且伺服马达502转动角度为180°，而且卡板506关于阻尼夹持台503的中心位置对称分布，并且卡板506表面呈内凹状；

具体操作如下，通过输送带4与限位组件5之间的相互配合设置，该限位组件5安置于输送带4的表面，使其能够跟随输送带4同时运动，并通过其表面的阻尼夹持台503与卡板506的设置，使得在人工将二极管从阻尼夹持台503上方放置于阻尼夹持台503内部时，二极管的外部挤压倾斜状的夹持块505使其与安置弹簧504同步发生收缩运动，并通过两侧夹持块505能够快速将二极管定位至阻尼夹持台503的中心位置，方便其上料过程，同时也方便对不同类型的二极管进行限位，提升其通用性；

请参阅图1和图4，上料组件6包括上料架601、步进电机602、定位架603、小型推杆604、定位板605、电子伸缩杆606和抓取吸盘607，且上料架601一侧连接有步进电机602，上料架601内壁安装有定位架603，且定位架603两侧均连接有小型推杆604，小型推杆604输出端连接有定位板605，电子伸缩杆606安装于定位架603表面中心位置，且电子伸缩杆606输出端连接有抓取吸盘607，定位架603关于上料架601的内壁呈等距离圆周状分布，且定位板605与定位架603的延长线呈平行状分布，而且定位板605呈L状结构；

具体操作如下，通过上料组件6与限位组件5之间的相互配合设置，使得在输送带4带动限位组件5上料时，上料架601在步进电机602的驱动下能够同步转动，通过其表面设置的定位架603，在接触至二极管时，两侧的小型推杆604同步运动，推动定位板605对二极管进行定位夹持，并通过电子伸缩杆606推动抓取吸盘607贴合在二极管表面，进而能够对其进行吸附抓取，通过上料架601的设置，可实现自动化持续性上料，不需要人工上料，提升其检测效率；

请参阅图4-6，检测台9表面安装有检测组件11，且检测组件11包括检测架1101、电路板1102、电源1103、电阻件1104、连接座1105、插槽1106和弹性导件1107，检测架1101内部安装有电路板1102，且电路板1102表面焊接有电源1103，电源1103右侧上下方设置有电阻件1104，且电源1103右侧对应位置设置有连接座1105，连接座1105顶部开设有插槽1106，且连接座1105内壁安装有弹性导件1107，弹性导件1107通过连接座1105与电路板1102相互连通，且弹性导件1107与连接座1105弹性连接，而且电阻件1104共设有两组且阻值均不同；

具体操作如下，通过上料组件6与检测组件11之间的相互配合设置，该检测组件11安装于检测台9的表面，在上料架601工作的同时检测台9在调节电机10的匀速驱动下工作使得上料架601在转动时能够将二极管***检测台9表面的连接座1105中，与此同时小型推杆604与电子伸缩杆606同步收缩，而二极管的引脚能***于连接座1105内部，与其内部的弹性导件1107接触，实现与电路板1102的连通，该在此测试电路中与一个阻值低至约0.1欧姆的电阻件1104串联，另有一个阻值很高的电阻件1104与二极管并联，电源1103电压是设置为1 V的正弦波，因此执行如下的指令进行AC仿真，在200 MHz至2 MHz频率范围内，对功率二极管的电容电抗进行测量。

请参阅图6-7，连接座1105两侧安装有顶出组件12，且顶出组件12包括微型推杆1201、顶出架1202、滑槽1203、微型弹簧1204和斜向定位孔块1205，微型推杆1201输出端连接有顶出架1202，且顶出架1202上表面开设有滑槽1203，滑槽1203内部安装有微型弹簧1204，且微型弹簧1204另一端连接有斜向定位孔块1205；

具体操作如下，通过顶出组件12与连接座1105之间的相互配合设置，使得在二极管***前二极管的下表面能够与顶出架1202表面的斜向定位孔块1205接触，使其沿滑槽1203滑动，配合微型推杆1201能够从两侧挤压二极管实现在此定位，提升其检测的精准性，并在检测结束后，在微型推杆1201的驱动下能够推动顶出架1202上升，上升的顶出架1202能够将二极管顶出，进而在下料过程中保证引脚的完整性。

请参阅图1和图8，框架2顶部安装有清废组件13，且清废组件13包括液压推杆1301、清废架1302、直杆1303、温度传感器1304、清理架1305和转动电机1306，液压推杆1301底部连接有清废架1302，且清废架1302底部连接有直杆1303，所示直杆1303底部连接有温度传感器1304，清废架1302一侧连接有清理架1305，且清理架1305一侧连接有转动电机1306，温度传感器1304通过直杆1303与清废架1302构成固定连接，且温度传感器1304、直杆1303与清废架1302处于同一轴线，并且温度传感器1304与直杆1303的延长线呈垂直分布；

具体操作如下，通过清废组件13与检测台9之间的相互配合设置，该清废组件13中的液压推杆1301的驱动下能够推动清废架1302下降，并通过清废架1302底部直杆1303所连接的红外温度传感器1304进行检测，进而对二极管的温度进行记录，当有二极管发生意外时，通过转动电机1306带动清理架1305转动，从而能够将检测组件11内部的二极管进行拆卸，进而方便对不合格的产品进行分类。

综上，功能测试的碳化硅二极管检测设备，使用时，首先通过将通过输送带4输送二极管，此输送带4表面设置有限位组件5，使其能够跟随输送带4同时运动，并通过其表面的阻尼夹持台503与卡板506的设置，使得在人工将二极管从阻尼夹持台503上方放置于阻尼夹持台503内部时，二极管的外部挤压倾斜状的夹持块505使其与安置弹簧504同步发生收缩运动，并通过两侧夹持块505能够快速将二极管定位至阻尼夹持台503的中心位置，方便其上料过程，同时也方便对不同类型的二极管进行限位，提升其通用性，并与此同时通过辅助组件3的设置，使得气动滑块302能够驱动辅助架303沿滑轨301上下移动用于调节二极管引脚的长度，并通过其内部的红外距离传感器304能够检测出二极管过长引脚，并通过气动剪刀305快速将其剪断，使得不同类型不同引脚长度的二极管能够统一尺寸，方便后续的检测过程，并通过双目检测摄像头306的设置，配合配合基座501内部的伺服马达502的设置，该伺服马达502能够驱动阻尼夹持台503转动，且每次转动的角度均为180°，进而能够对二极管的正反面作出调整，提升检测精度，随后上料架601在步进电机602的驱动下能够同步转动，通过其表面设置的定位架603，在接触至二极管时，两侧的小型推杆604同步运动，推动定位板605对二极管进行定位夹持，并通过电子伸缩杆606推动抓取吸盘607贴合在二极管表面，进而能够对其进行吸附抓取，通过上料架601的设置，可实现自动化持续性上料，不需要人工上料，提升其检测效率，在上料架601工作的同时检测台9在调节电机10的匀速驱动下工作使得上料架601在转动时能够将二极管***检测台9表面的连接座1105中，该二极管能够与顶出架1202表面的斜向定位孔块1205接触，使其沿滑槽1203滑动，配合微型推杆1201能够从两侧挤压二极管实现在此定位，提升其检测的精准性，与此同时小型推杆604与电子伸缩杆606同步收缩，而二极管的引脚能***于连接座1105内部，与其内部的弹性导件1107接触，实现与电路板1102的连通，该在此测试电路中与一个阻值低至约0.1欧姆的电阻件1104串联，另有一个阻值很高的电阻件1104与二极管并联，电源1103电压是设置为1 V的正弦波，因此执行如下的指令进行AC仿真，在200 MHz至2 MHz频率范围内，对功率二极管的电容电抗进行测量，然后通过清废组件13与检测台9之间的相互配合设置，该清废组件13中的液压推杆1301的驱动下能够推动清废架1302下降，并通过清废架1302底部直杆1303所连接的红外温度传感器1304进行检测，进而对二极管的温度进行记录，当有二极管发生意外时，在微型推杆1201的驱动下能够推动顶出架1202上升，上升的顶出架1202能够将二极管顶出，进而在下料过程中保证引脚的完整性，最后，通过转动电机1306带动清理架1305转动，从而能够将检测组件11内部的二极管进行拆卸，进而方便对不合格的产品进行分类。

Claims (10)

1.一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，其特征在于，包括底座（1）和稳固架（7），所述底座（1）顶部外侧安装有框架（2），且所述框架（2）两侧均连接有辅助组件（3），所述底座（1）两侧均设置有输送带（4），且所述输送带（4）表面安置有限位组件（5），所述输送带（4）内侧设置有上料组件（6），所述辅助组件（3）包括滑轨（301）、气动滑块（302）、辅助架（303）、红外距离传感器（304）、气动剪刀（305）和双目检测摄像头（306），且所述滑轨（301）内部安装有所述气动滑块（302），所述气动滑块（302）另一端连接有所述辅助架（303），且所述辅助架（303）内部连接有所述红外距离传感器（304），所述辅助架（303）内部右侧安置有所述气动剪刀（305），所述双目检测摄像头（306）安装于所述框架（2）内侧下方，所述稳固架（7）安装于所述底座（1）顶部中心位置，且所述稳固架（7）表面开设有沟槽（8），所述稳固架（7）内部安装有检测台（9），且所述检测台（9）底部连接有调节电机（10）。

2.根据权利要求1所述的一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，其特征在于，所述限位组件（5）包括基座（501）、伺服马达（502）、阻尼夹持台（503）、安置弹簧（504）、夹持块（505）和卡板（506），所述基座（501）内部安装有所述伺服马达（502），且所述伺服马达（502）输出端连接有所述阻尼夹持台（503），所述阻尼夹持台（503）内部安装有所述安置弹簧（504），且所述安置弹簧（504）另一端连接有所述夹持块（505），所述卡板（506）安装于所述阻尼夹持台（503）顶部。

3.根据权利要求2所述的一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，其特征在于，所述阻尼夹持台（503）通过所述伺服马达（502）与所述基座（501）构成旋转连接，且所述伺服马达（502）转动角度为180°，而且所述卡板（506）关于所述阻尼夹持台（503）的中心位置对称分布，并且所述卡板（506）表面呈内凹状。

4.根据权利要求1所述的一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，其特征在于，所述上料组件（6）包括上料架（601）、步进电机（602）、定位架（603）、小型推杆（604）、定位板（605）、电子伸缩杆（606）和抓取吸盘（607），且所述上料架（601）一侧连接有步进电机（602），所述上料架（601）内壁安装有所述定位架（603），且所述定位架（603）两侧均连接有所述小型推杆（604），所述小型推杆（604）输出端连接有所述定位板（605），所述电子伸缩杆（606）安装于所述定位架（603）表面中心位置，且所述电子伸缩杆（606）输出端连接有所述抓取吸盘（607）。

5.根据权利要求4所述的一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，其特征在于，所述定位架（603）关于所述上料架（601）的内壁呈等距离圆周状分布，且所述定位板（605）与所述定位架（603）的延长线呈平行状分布，而且所述定位板（605）呈L状结构。

6.根据权利要求1所述的一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，其特征在于，所述检测台（9）表面安装有检测组件（11），且所述检测组件（11）包括检测架（1101）、电路板（1102）、电源（1103）、电阻件（1104）、连接座（1105）、插槽（1106）和弹性导件（1107），所述检测架（1101）内部安装有电路板（1102），且所述电路板（1102）表面焊接有电源（1103），所述电源（1103）右侧上下方设置有所述电阻件（1104），且所述电源（1103右侧对应位置设置有所述连接座（1105），所述连接座（1105）顶部开设有插槽（1106），且所述连接座（1105）内壁安装有弹性导件（1107）。

7.根据权利要求6所述的一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，其特征在于，所述弹性导件（1107）通过所述连接座（1105）与所述所述电路板（1102）相互连通，且所述弹性导件（1107）与所述连接座（1105）弹性连接，而且所述电阻件（1104）共设有两组且阻值均不同。

8.根据权利要求1所述的一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，其特征在于，所述连接座（1105）两侧安装有顶出组件（12），且所述顶出组件（12）包括微型推杆（1201）、顶出架（1202）、滑槽（1203）、微型弹簧（1204）和斜向定位孔块（1205），所述微型推杆（1201）输出端连接有所述顶出架（1202），且所述顶出架（1202）上表面开设有所述滑槽（1203），所述滑槽（1203）内部安装有所述微型弹簧（1204），且所述微型弹簧（1204）另一端连接有所述斜向定位孔块（1205）。

9.根据权利要求1所述的一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，其特征在于，所述框架（2）顶部安装有清废组件（13），且所述清废组件（13）包括液压推杆（1301）、清废架（1302）、直杆（1303）、温度传感器（1304）、清理架（1305）和转动电机（1306），所述液压推杆（1301）底部连接有所述清废架（1302），且所述清废架（1302）底部连接有所述直杆（1303），所示直杆（1303）底部连接有所述温度传感器（1304），所述清废架（1302）一侧连接有所述清理架（1305），且所述清理架（1305）一侧连接有转动电机（1306）。

10.根据权利要求9所述的一种功能测试的碳化硅二极管检测设备，其特征在于，所述温度传感器（1304）通过所述直杆（1303）与所述清废架（1302）构成固定连接，且所述温度传感器（1304）、所述直杆（1303）与所述清废架（1302）处于同一轴线，并且所述温度传感器（1304）与所述直杆（1303）的延长线呈垂直分布。

Images