CN113611352B - 固态硬盘测试方法、装置、***和可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了固态硬盘测试方法、装置、***和可读存储介质。本申请提出的包括主控制器(MCU1)、BIOS修改模块(BIOS TOOL)、第一连接模块和第二连接模块的固态硬盘测试***,第一连接模块的第一接口用于连接固态硬盘,第二连接模块的第一接口用于连接PC设备的固态硬盘接口,BIOS修改模块包括从控制器(MCU2)和重启单元。主控制器可以获取目标参数的预设状态;将预设状态发送至从控制器并控制从控制器,以使从控制器在预设状态与目标参数的当前状态不相同时将当前状态修改为预设状态并控制重启单元重启PC设备。本申请无需专业测试人员修改目标参数,提高目标参数的修改速度。
Description
技术领域
本发明涉及固态硬盘测试技术领域,尤其涉及一种固态硬盘测试方法、装置、***和可读存储介质。
背景技术
SATA(Serial Advanced Technology Attachment)接口是一种业界标准的磁盘访问接口,近来SATA接口也应用于固态硬盘SSD(Solid State Disk或Solid State Drive)。
在实际应用时,SATA接口的一些参数通过BIOS(Basic Input Output System)进行配置并存储在BIOS中,主要的参数是SATA热插拔使能参数(SATA Hot Plug),SATA热插拔使能参数决定***是否使能SATA的热拔插功能,对于不同的操作***对是否使能有不同的要求。
在进行固态硬盘的检查、生产和测试过程中,在BIOS修改SATA接口参数的操作是一个耗时的过程,尤其在量产测试过程中不利于自动化进行,导致SATA接口参数的修改效率低下。
发明内容
鉴于上述问题,本申请提出一种固态硬盘测试方法、装置、***和可读存储介质。
本申请实施例提出一种固态硬盘测试方法,应用于包括主控制器、BIOS修改模块、第一连接模块和第二连接模块的固态硬盘测试***,所述第一连接模块的第一接口用于连接固态硬盘,所述第二连接模块的第一接口用于连接PC设备的固态硬盘接口,所述BIOS修改模块包括从控制器和重启单元;所述方法包括:
所述主控制器获取目标参数的预设状态;
将所述预设状态发送至所述从控制器并控制所述从控制器,以使所述从控制器在所述预设状态与所述目标参数的当前状态不相同时将所述当前状态修改为所述预设状态并控制所述重启单元重启所述PC设备。
本申请实施例所述的固态硬盘测试方法,所述PC设备连接所述主控制器;所述获取目标参数的预设状态,包括:
获取所述PC设备发送的目标参数的预设状态,所述PC设备发送的目标参数的预设状态为用户利用测试程序发送的。
本申请实施例所述的固态硬盘测试方法,所述固态硬盘测试***还包括按键修改模块,所述按键修改模块包括参数修改按键,所述按键修改模块连接所述主控制器;所述获取目标参数的预设状态,包括:
在所述参数修改按键的状态改变时,获取所述参数修改按键的当前按键状态对应的目标参数的预设状态。
本申请实施例所述的固态硬盘测试方法,所述固态硬盘测试***还包括电源控制模块,所述电源控制模块包括电流流入接口、电流流出接口和受控接口,所述电流流入接口连接供电电源,所述电流流出接口连接所述第一连接模块的第二接口,所述受控接口连接所述主控制器;所述方法还包括:
在接收到测试指令时,确定所述测试指令中是否包括将所述第一连接模块与所述供电电源断开的第一指令;
若包括所述第一指令,则通过控制所述电源控制模块以使所述第一连接模块和所述供电电源断开;
若不包括所述第一指令,则确定所述测试指令中是否包括将所述第一连接模块与所述供电电源连通的第二指令;
若包括所述第二指令,则通过控制所述电源控制模块以使所述第一连接模块和所述供电电源连通。
本申请实施例所述的固态硬盘测试方法,所述固态硬盘测试***还包括盘位检测模块,所述盘位检测模块连接所述主控制器;所述方法还包括:
若不包括所述第二指令,则确定所述测试指令中是否包括获取盘位信息的第三指令;
若包括所述第三指令,则接收所述盘位检测模块检测的盘位信息,根据所述盘位信息确定所述第一连接模块是否连接至所述固态硬盘。
本申请实施例所述的固态硬盘测试方法,固态硬盘测试***还包括通断控制模块,所述通断控制模块的第一接口连接所述第一连接模块的第三接口,所述通断控制模块的第二接口连接所述第二连接模块的第二接口,所述通断控制模块的第三接口连接所述主控制器;所述方法还包括:
若不包括所述第三指令,则确定所述测试指令中是否包括将所述第一连接模块和所述第二连接模块断开的第四指令;
若包括所述第四指令,则通过控制所述通断控制模块以使所述第一连接模块和所述第二连接模块断开;
若不包括所述第四指令,则通过控制所述通断控制模块以使所述第一连接模块和所述第二连接模块连通。
本申请实施例所述的固态硬盘测试方法,所述目标参数包括SATA接口热插拔使能参数、mSATA接口热插拔使能参数和NGFF接口热插拔使能参数中的一种。
本申请实施例还提出一种固态硬盘测试装置,应用于包括主控制器、BIOS修改模块、第一连接模块和第二连接模块的固态硬盘测试***,所述第一连接模块用于连接固态硬盘,所述第二连接模块用于连接PC设备的固态硬盘接口;所述BIOS修改模块包括从控制器和重启单元,所述装置包括:
获取单元,用于获取目标参数的预设状态;
修改单元,用于将所述预设状态发送至所述从控制器并控制所述从控制器,以使所述从控制器在所述预设状态与所述目标参数的当前状态不相同时将所述当前状态修改为所述预设状态并控制所述重启单元重启所述PC设备。
本申请实施例还提出一种固态硬盘测试***,包括主控制器、BIOS修改模块、第一连接模块、第二连接模块和存储器,所述第一连接模块的第一接口用于连接固态硬盘,所述第二连接模块的第一接口用于连接PC设备的固态硬盘接口;所述BIOS修改模块包括从控制器和重启单元,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序在所述主控制器上运行时执行本申请实施例所述的固态硬盘测试方法。
本申请实施例还提出一种可读存储介质,其存储有计算机程序,所述计算机程序在处理器上运行时执行本申请实施例所述的固态硬盘测试方法。
本申请提出的包括主控制器(MCU1)、BIOS修改模块(BIOS TOOL)、第一连接模块和第二连接模块的固态硬盘测试***,第一连接模块的第一接口用于连接固态硬盘,所述第二连接模块的第一接口用于连接PC设备的固态硬盘接口,所述BIOS修改模块包括从控制器(MCU2)和重启单元。其中,主控制器可以获取目标参数的预设状态;将所述预设状态发送至所述从控制器并控制所述从控制器,以使所述从控制器在所述预设状态与所述目标参数的当前状态不相同时将所述当前状态修改为所述预设状态并控制所述重启单元重启所述PC设备。本申请利用固态硬盘测试***测试固态硬盘,无需专业测试人员从BIOS***的多个BIOS界面中确定目标参数所在的BIOS界面并在该BIOS界面定位目标参数以修改目标参数,通过固态硬盘测试***将复杂的修改过程简单化,提高目标参数的修改速度,进而提高固态硬盘测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本发明的某些实施例,因此不应被看作是对本发明保护范围的限定。在各个附图中,类似的构成部分采用类似的编号。
图1示出了本申请实施例提出的一种固态硬盘测试***的结构示意图;
图2示出了本申请实施例提出的一种BIOS修改模块的结构示意图;
图3示出了本申请实施例提出的一种固态硬盘测试方法的流程示意图;
图4示出了本申请实施例提出的另一种固态硬盘测试***的结构示意图;
图5示出了本申请实施例提出的一种BIOS界面的示意图;
图6示出了本申请实施例提出的另一种固态硬盘测试方法的流程示意图;
图7示出了本申请实施例提出的一种固态硬盘测试装置的结构示意图。
主要元件符号说明:
10-固态硬盘测试装置;11-获取单元;12-修改单元。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。
通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围,而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在下文中,可在本发明的各种实施例中使用的术语“包括”、“具有”及其同源词仅意在表示特定特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合,并且不应被理解为首先排除一个或更多个其它特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的存在或增加一个或更多个特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的可能性。
此外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
除非另有限定,否则在这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本发明的各种实施例所属领域普通技术人员通常理解的含义相同的含义。所述术语(诸如在一般使用的词典中限定的术语)将被解释为具有与在相关技术领域中的语境含义相同的含义并且将不被解释为具有理想化的含义或过于正式的含义,除非在本发明的各种实施例中被清楚地限定。
请参见图1,本申请的一个实施例提出一种包括主控制器(MCU1)、BIOS修改模块(BIOS TOOL)、第一连接模块和第二连接模块的固态硬盘测试***,其中,第一连接模块的第一接口用于连接固态硬盘,所述第二连接模块的第一接口用于连接PC设备的固态硬盘接口,所述BIOS修改模块包括从控制器(MCU2)和重启单元。
示范性的,请参见图2,BIOS修改模块(BIOS TOOL)包括从控制器(MCU2)和用于控制PC设备重启的重启单元,重启单元包括供电端VCC、二极管VD、继电器K、三极管T、第一电阻R1和第二电阻R2,继电器K与PC设备的重启动按键Reset Button并联。供电端VCC是BIOSTOOL供电电源,其中,继电器K可以是无源继电器,二极管VD可以起到续流作用;三极管T是NPN型双极型三极管,可以用NMosfet管替代,第一电阻R1起到限流作用,第二电阻R2用于防止误动作。
BIOS修改模块(BIOS TOOL)的从控制器(MCU2)通过串口COM接收协议Protocol,从控制器(MCU2)收到协议Protocol后,进行解析处理。从控制器(MCU2)的VGA_In是VGA信号或HDMI信号输入接口,也可通过视频器转换为可通信的信号输入,例如I2C、SPI、UART等。从控制器(MCU2)的USB Device是工作于USB Device模式的USB口,主要起到鼠标和键盘模拟(Mouse&Keyboard Simulator)的功能。
需要说明的是,BIOS修改模块的闪存中预先存储各个BIOS界面的标识信息,每一个BIOS界面都有唯一的标识信息,例如,图片、视频帧、颜色和文字等。在修改某个界面的某个参数信息时,可以通过该参数信息对应的图片或视频帧或颜色或文字从各个BIOS界面中定位包括该参数信息的BIOS界面,以通过包括该参数信息的BIOS界面修改该参数信息。
实施例1
本申请的一个实施例,请参见图3,提出一种固态硬盘测试方法,包括以下步骤S100和S200:
S100:获取目标参数的预设状态。
目标参数包括SATA接口热插拔使能参数、mSATA接口热插拔使能参数和NGFF接口热插拔使能参数中的一种。
示范性的,请参见图4,固态硬盘测试***还包括按键修改模块,按键修改模块包括参数修改按键(K1),按键修改模块连接主控制器(MCU1)的KI_In引脚;主控制器(MCU1)可以在参数修改按键(K1)的状态改变时,获取参数修改按键(K1)的当前按键状态对应的目标参数的预设状态。
示范性的,主控制器(MCU1)的COM1引脚连接PC设备,主控制器(MCU1)可以通过COM1获取用户利用测试程序发送的目标参数的预设状态,即PC设备通过COM1向主控制器(MCU1)发送目标参数的预设状态。
S200:将所述预设状态发送至所述从控制器并控制所述从控制器,以使所述从控制器在所述预设状态与所述目标参数的当前状态不相同时将所述当前状态修改为所述预设状态并控制所述重启单元重启所述PC设备。
可以理解,主控制器(MCU1)的COM引脚和从控制器(MCU2)的COM引脚连接,主控制器(MCU1)通过COM引脚将预设状态发送至所述从控制器。从控制器(MCU2)将判断所述预设状态与所述当前状态是否相同,若所述预设状态与所述当前状态相同,则保持所述目标参数的当前状态,若所述预设状态与所述当前状态不相同,则确定目标参数对应的BIOS界面(如图5所示),在目标参数对应的BIOS界面将所述当前状态修改为所述预设状态,并控制所述重启单元重启所述PC设备。修改目标参数的状态后,需要重启PC设备,以使修改后的预设状态生效。
需要说明的是,BIOS修改模块(BIOS TOOL)可以根据从主控制器(MCU1)获取的信息从多个BIOS界面中选择目标参数所在的界面,并在目标参数所在的界面确定目标参数所在的位置。
可以理解,步骤S100和S200是由固态硬盘测试***的主控制器执行的。
需要说明的是,在用户通过测试程序将目标参数修改为预设状态时,测试程序接收到用户的将目标参数修改为预设状态的指令后通过BIOS规范接口接收目标参数的当前状态,进一步的,判断所述预设状态与所述当前状态是否相同,在预设状态与当前状态不相同时,通过COM1向主控制器(MCU1)发送包括预设状态的协议,主控制器(MCU1)接收协议后执行步骤S200。
需要说明的是,由于主控制器中程序更新频率较高,需要根据测试需求更新主控制器中程序,而从控制器中的程序一般不需要更新。若固态硬盘测试***仅用一个控制器,并将主控制器中的程序和从控制器中的程序烧录在一个控制器中,将导致频繁更新的程序影响不需要更新的程序的稳定性。因此,利用主控制器和从控制器,避免了高频率的更新的程序影响不需要更新的程序,保证不需要更新的程序的稳定性。
本申请实施例提出的包括主控制器(MCU1)、BIOS修改模块(BIOS TOOL)、第一连接模块和第二连接模块的固态硬盘测试***,第一连接模块的第一接口用于连接固态硬盘,所述第二连接模块的第一接口用于连接PC设备的固态硬盘接口,所述BIOS修改模块包括从控制器(MCU2)和重启单元。其中,主控制器可以获取目标参数的预设状态;将所述预设状态发送至所述从控制器并控制所述从控制器,以使所述从控制器在所述预设状态与所述目标参数的当前状态不相同时将所述当前状态修改为所述预设状态并控制所述重启单元重启所述PC设备。本实施例利用固态硬盘测试***测试固态硬盘,无需专业测试人员从BIOS***的多个BIOS界面中确定目标参数所在的BIOS界面并在该BIOS界面定位目标参数以修改目标参数,通过固态硬盘测试***将复杂的修改过程简单化,提高目标参数的修改速度,进而提高固态硬盘测试效率。
进一步的,请参见图4,固态硬盘测试***还包括电源控制模块,电源控制模块包括电流流入接口、电流流出接口和受控接口,电流流入接口连接所述供电电源,电流流出接口连接第一连接模块的第二接口,受控接口连接主控制器(MCU1)。其中,电流流入接口包括六个电源端(3个VCC电源端、3.3v电源端、5v电源端和12v电源端),电流流出接口包括3个输出端(3.3v输出端、5v输出端和12v输出端),受控接口包括3个受控端,分别连接主控制器(MCU1)的K3.3引脚、K5引脚和K12引脚。
固态硬盘测试***还包括盘位检测模块,所述盘位检测模块连接所述主控制器(MCU1)。其中,Touch Spot是机械开关触点,联动K0开关动作,当固态硬盘***第一连接模块的第一接口时,K0闭合,否则K0断开。主控制器(MCU1)通过K0_In引脚可以接收到K0的闭合和断开信息,进而根据K0的闭合和断开信息可以检测盘位。
固态硬盘测试***还包括通断控制模块,所述通断控制模块的第一接口连接所述第一连接模块的第三接口,所述通断控制模块的第二接口连接所述第二连接模块的第二接口,所述通断控制模块的第三接口连接所述主控制器(MCU1)。其中,通断控制模块的第一接口包括四个端口,分别连接第一连接模块的第三接口的四个端口,通断控制模块的第二接口包括四个端口,分别连接第二连接模块的第二接口的四个端口,通断控制模块的第三接口连接控制器(MCU1)的EN_Out引脚。
请参见图6,基于图4公开的固态硬盘测试***,本申请实施例提出的固态硬盘测试方法,还包括以下步骤:
S10:在接收到测试指令时,确定所述测试指令中是否包括将所述第一连接模块与所述供电电源断开的第一指令。
若包括所述第一指令,则执行步骤S20,若不包括所述第一指令,则执行步骤S30。
S20:通过控制所述电源控制模块以使所述第一连接模块和所述供电电源断开。
S30:确定所述测试指令中是否包括将所述第一连接模块与所述供电电源连通的第二指令。
若包括所述第二指令,则执行步骤S40,若不包括所述第二指令,则执行步骤S50。
S40:通过控制所述电源控制模块以使所述第一连接模块和所述供电电源连通。
S50:确定所述测试指令中是否包括获取盘位信息的第三指令。
若包括所述第三指令,则执行步骤S60,若不包括所述第三指令,则执行步骤S70。
S60:接收所述盘位检测模块检测的盘位信息,根据所述盘位信息确定所述第一连接模块是否连接至所述固态硬盘。
S70:确定所述测试指令中是否包括将所述第一连接模块和所述第二连接模块断开的第四指令。
若包括所述第四指令,则执行步骤S80,若不包括所述第四指令,则执行步骤S90。
S80:通过控制所述通断控制模块以使所述第一连接模块和所述第二连接模块断开。
S90:通过控制所述通断控制模块以使所述第一连接模块和所述第二连接模块连通。
可以理解,利用电源控制模块可以实现对固态硬盘的供电电源进行独立控制,以对固态硬盘的供电电源的接通和断开功能进行测试。利用通断控制模块可以控制固态硬盘与PC设备的接通和断开,便于模拟固态硬盘的插拔状态,在测试固态硬盘与PC设备的接通和断开功能时,减少固态硬盘的插拔次数,避免插拔次数过多导致固态硬盘接口损坏。利用盘位检测模块可以检测盘位信息,以通过检测的盘位信息快速确定固态硬盘是否***第一连接模块的第一接口。
实施例2
本申请的另一个实施例,请参见图7,提出一种固态硬盘测试装置10,应用于包括主控制器、BIOS修改模块、第一连接模块和第二连接模块的固态硬盘测试***,所述第一连接模块用于连接固态硬盘,所述第二连接模块用于连接PC设备的固态硬盘接口;所述BIOS修改模块包括从控制器和重启单元。固态硬盘测试装置10包括:获取单元11和修改单元12。
获取单元11,用于获取目标参数的预设状态;修改单元12,用于将所述预设状态发送至所述从控制器并控制所述从控制器,以使所述从控制器在所述预设状态与所述目标参数的当前状态不相同时将所述当前状态修改为所述预设状态并控制所述重启单元重启所述PC设备。
本实施例公开的固态硬盘测试装置10通过获取单元11和修改单元12的配合使用,用于执行上述实施例所述的固态硬盘测试方法,上述实施例所涉及的实施方案以及有益效果在本实施例中同样适用,在此不再赘述。
可以理解,本申请公开的固态硬盘测试***,还包括存储器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序在所述主控制器上运行时执行本申请实施例所述的固态硬盘测试方法。
可以理解,本申请还公开一种可读存储介质,其存储有计算机程序,所述计算机程序在处理器上运行时执行本申请实施例所述的固态硬盘测试方法。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置和方法,也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,附图中的流程图和结构图显示了根据本发明的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分,所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意,在作为替换的实现方式中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个连续的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这依所涉及的功能而定。也要注意的是,结构图和/或流程图中的每个方框、以及结构图和/或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的***来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
另外,在本发明各个实施例中的各功能模块或单元可以集成在一起形成一个独立的部分,也可以是各个模块单独存在,也可以两个或更多个模块集成形成一个独立的部分。
所述功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个可读存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是智能手机、个人计算机、服务器、或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的可读存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种固态硬盘测试方法,其特征在于,应用于包括主控制器、BIOS修改模块、第一连接模块和第二连接模块的固态硬盘测试***,所述第一连接模块的第一接口用于连接固态硬盘,所述第二连接模块的第一接口用于连接PC设备的固态硬盘接口,所述BIOS修改模块包括从控制器和重启单元;所述方法包括:
所述主控制器获取目标参数的预设状态;其中,所述目标参数包括SATA接口热插拔使能参数、mSATA接口热插拔使能参数和NGFF接口热插拔使能参数中的一种;
将所述预设状态发送至所述从控制器并控制所述从控制器,以使所述从控制器在所述预设状态与所述目标参数的当前状态不相同时将所述当前状态修改为所述预设状态并控制所述重启单元重启所述PC设备;
所述固态硬盘测试***还包括电源控制模块,所述电源控制模块包括电流流入接口、电流流出接口和受控接口,所述电流流入接口连接供电电源,所述电流流出接口连接所述第一连接模块的第二接口,所述受控接口连接所述主控制器;所述方法还包括:
在接收到测试指令时,确定所述测试指令中是否包括将所述第一连接模块与所述供电电源断开的第一指令;
若包括所述第一指令,则通过控制所述电源控制模块以使所述第一连接模块和所述供电电源断开。
2.根据权利要求1所述的固态硬盘测试方法,其特征在于,所述PC设备连接所述主控制器;所述获取目标参数的预设状态,包括:
获取所述PC设备发送的目标参数的预设状态,所述PC设备发送的目标参数的预设状态为用户利用测试程序发送的。
3.根据权利要求1所述的固态硬盘测试方法,其特征在于,所述固态硬盘测试***还包括按键修改模块,所述按键修改模块包括参数修改按键,所述按键修改模块连接所述主控制器;所述获取目标参数的预设状态,包括:
在所述参数修改按键的状态改变时,获取所述参数修改按键的当前按键状态对应的目标参数的预设状态。
4.根据权利要求1所述的固态硬盘测试方法,其特征在于,
在接收到测试指令时,若所述测试指令中不包括将所述第一连接模块与所述供电电源断开的第一指令;则确定所述测试指令中是否包括将所述第一连接模块与所述供电电源连通的第二指令;
若包括所述第二指令,则通过控制所述电源控制模块以使所述第一连接模块和所述供电电源连通。
5.根据权利要求4所述的固态硬盘测试方法,其特征在于,所述固态硬盘测试***还包括盘位检测模块,所述盘位检测模块连接所述主控制器;所述方法还包括:
若不包括所述第二指令,则确定所述测试指令中是否包括获取盘位信息的第三指令;
若包括所述第三指令,则接收所述盘位检测模块检测的盘位信息,根据所述盘位信息确定所述第一连接模块是否连接至所述固态硬盘。
6.根据权利要求5所述的固态硬盘测试方法,其特征在于,固态硬盘测试***还包括通断控制模块,所述通断控制模块的第一接口连接所述第一连接模块的第三接口,所述通断控制模块的第二接口连接所述第二连接模块的第二接口,所述通断控制模块的第三接口连接所述主控制器;所述方法还包括:
若不包括所述第三指令,则确定所述测试指令中是否包括将所述第一连接模块和所述第二连接模块断开的第四指令;
若包括所述第四指令,则通过控制所述通断控制模块以使所述第一连接模块和所述第二连接模块断开;
若不包括所述第四指令,则通过控制所述通断控制模块以使所述第一连接模块和所述第二连接模块连通。
7.一种固态硬盘测试装置,其特征在于,应用于包括主控制器、BIOS修改模块、第一连接模块和第二连接模块的固态硬盘测试***,所述第一连接模块用于连接固态硬盘,所述第二连接模块用于连接PC设备的固态硬盘接口;所述BIOS修改模块包括从控制器和重启单元,所述装置包括:
获取单元,用于获取目标参数的预设状态;其中,所述目标参数包括SATA接口热插拔使能参数、mSATA接口热插拔使能参数和NGFF接口热插拔使能参数中的一种;
修改单元,用于将所述预设状态发送至所述从控制器并控制所述从控制器,以使所述从控制器在所述预设状态与所述目标参数的当前状态不相同时将所述当前状态修改为所述预设状态并控制所述重启单元重启所述PC设备;
所述固态硬盘测试***还包括电源控制模块,所述电源控制模块包括电流流入接口、电流流出接口和受控接口,所述电流流入接口连接供电电源,所述电流流出接口连接所述第一连接模块的第二接口,所述受控接口连接所述主控制器;
所述固态硬盘测试装置还包括:
判断单元,用于在接收到测试指令时,确定所述测试指令中是否包括将所述第一连接模块与所述供电电源断开的第一指令;
控制单元,用于若包括所述第一指令,则通过控制所述电源控制模块以使所述第一连接模块和所述供电电源断开。
8.一种固态硬盘测试***,其特征在于,包括主控制器、BIOS修改模块、第一连接模块、第二连接模块和存储器,所述第一连接模块的第一接口用于连接固态硬盘,所述第二连接模块的第一接口用于连接PC设备的固态硬盘接口;所述BIOS修改模块包括从控制器和重启单元,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序在所述主控制器上运行时执行权利要求1至6任一项所述的固态硬盘测试方法。
9.一种可读存储介质,其特征在于,其存储有计算机程序,所述计算机程序在处理器上运行时执行权利要求1至6任一项所述的固态硬盘测试方法。
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Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100120273A (ko) * | 2010-05-19 | 2010-11-15 | 주식회사 인디랩 | 외장형 스토리지 장치 및 그 제어 방법 |
JP2012038201A (ja) * | 2010-08-10 | 2012-02-23 | Buffalo Inc | 外部記憶装置およびそのパワーオンリセット方法 |
CN104077424A (zh) * | 2014-07-24 | 2014-10-01 | 北京京东尚科信息技术有限公司 | 一种实现硬盘在线热切换的方法及装置 |
CN109117335A (zh) * | 2018-08-15 | 2019-01-01 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种硬盘模拟热插拔测试方法、装置、终端及存储介质 |
WO2019022421A1 (ko) * | 2017-07-26 | 2019-01-31 | 주식회사 스토리지안 | 데이터 보호 기능을 갖는 ssd 기반의 저장미디어 |
CN110659171A (zh) * | 2019-09-25 | 2020-01-07 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种测试方法、电子设备和计算机可读存储介质 |
CN111968697A (zh) * | 2020-07-13 | 2020-11-20 | 深圳市金泰克半导体有限公司 | 固态硬盘的测试方法、装置、计算机设备和存储介质 |
CN112463239A (zh) * | 2020-12-07 | 2021-03-09 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | Bios与bmc交互选项默认值修改方法、***、终端及存储介质 |
CN113220332A (zh) * | 2021-06-07 | 2021-08-06 | 宁畅信息产业(北京)有限公司 | Bios固件刷新测试方法、装置、电子设备及存储介质 |
-
2021
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100120273A (ko) * | 2010-05-19 | 2010-11-15 | 주식회사 인디랩 | 외장형 스토리지 장치 및 그 제어 방법 |
JP2012038201A (ja) * | 2010-08-10 | 2012-02-23 | Buffalo Inc | 外部記憶装置およびそのパワーオンリセット方法 |
CN104077424A (zh) * | 2014-07-24 | 2014-10-01 | 北京京东尚科信息技术有限公司 | 一种实现硬盘在线热切换的方法及装置 |
WO2019022421A1 (ko) * | 2017-07-26 | 2019-01-31 | 주식회사 스토리지안 | 데이터 보호 기능을 갖는 ssd 기반의 저장미디어 |
CN109117335A (zh) * | 2018-08-15 | 2019-01-01 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种硬盘模拟热插拔测试方法、装置、终端及存储介质 |
CN110659171A (zh) * | 2019-09-25 | 2020-01-07 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种测试方法、电子设备和计算机可读存储介质 |
CN111968697A (zh) * | 2020-07-13 | 2020-11-20 | 深圳市金泰克半导体有限公司 | 固态硬盘的测试方法、装置、计算机设备和存储介质 |
CN112463239A (zh) * | 2020-12-07 | 2021-03-09 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | Bios与bmc交互选项默认值修改方法、***、终端及存储介质 |
CN113220332A (zh) * | 2021-06-07 | 2021-08-06 | 宁畅信息产业(北京)有限公司 | Bios固件刷新测试方法、装置、电子设备及存储介质 |
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