CN115391110A - 存储设备的测试方法、终端设备及计算机可读存储介质 - Google Patents

存储设备的测试方法、终端设备及计算机可读存储介质 Download PDF

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CN115391110A CN202211007368.1A CN202211007368A CN115391110A CN 115391110 A CN115391110 A CN 115391110A CN 202211007368 A CN202211007368 A CN 202211007368A CN 115391110 A CN115391110 A CN 115391110A
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吴大畏
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Abstract

本申请公开了存储设备的测试方法、终端设备及计算机可读存储介质，该方法包括在所述虚拟主机接收到测试需求时，确定所述测试需求对应目标使用状态；控制所述虚拟闪存颗粒以及所述虚拟微控制单元执行预置的老化程序；在检测到所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配时，执行所述测试需求对应的测试用例；根据所述测试用例的执行结果，确定所述存储设备的测试结果。解决了实际老化测试过程中，效率低下的问题。提高了存储设备老化测试的效率。

Description

存储设备的测试方法、终端设备及计算机可读存储介质
技术领域
本申请涉及存储设备测试领域，尤其涉及存储设备的测试方法、终端设备及计算机可读存储介质。
背景技术
随着科技的发展，电脑、平板、手机等电子产品越来越普及，每个电子产品都需要有存储模块来支撑设备的运行。在存储设备生产出来后，需要对存储***进行老化测试，从而确定存储设备的性能是否达标，确保存储设备的使用寿命。
在对存储设备进行老化测试过程中，由于NAND闪存颗粒的擦/写次数是有限的，当闪存颗粒的擦/写次数达到阈值时，闪存颗粒将无法正常工作，存储设备损坏。且在工厂的实际老化测试过程中，若需要获取特定设备状态，则需要控制设备运行到特定设备状态，耗时长且耗能大。
发明内容
本申请实施例通过提供一种存储设备的测试方法、终端设备及计算机可读存储介质，解决了在对存储设备进行老化测试时，需要控制存储设备实际执行老化程序，效率低下的问题。达到了提高存储设备老化测试的效率。
本申请实施例提供了一种存储设备的测试方法，所述方法包括：
在所述虚拟主机接收到测试需求时，确定所述测试需求对应目标使用状态；
控制所述虚拟闪存颗粒以及所述虚拟微控制单元执行预置的老化程序；
在检测到所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配时，执行所述测试需求对应的测试用例；
根据所述测试用例的执行结果，确定所述存储设备的测试结果。
可选地，所述确定所述测试需求对应目标使用状态的步骤，包括：
检测所述虚拟存储***的老化状态；
若所述老化状态与所述目标使用状态匹配，控制所述虚拟存储***执行所述测试用例。
可选地，所述控制所述虚拟闪存颗粒以及所述虚拟微控制单元执行预置的老化程序的步骤包括：
控制所述虚拟微控制单元获取存储与所述虚拟闪存颗粒中的所述老化程序；
执行所述老化程序并实时获取所述虚拟存储***的老化状态。
可选地，所述在检测到所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配时，执行所述测试需求对应的测试用例的步骤包括：
将实时获取到的所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配，若匹配一致，则执行所述测试需求对应的测试用例；
否则，控制所述虚拟微控制单元继续执行所述老化程序。
可选地，所述执行所述测试需求对应的测试用例的步骤包括：
获取所述测试用例对应的执行条件和测试时间；
根据所述执行条件调整所述虚拟存储***的运行条件；
当所述虚拟存储***在所述运行条件下，且运行的时间等于所述测试时间时，停止执行所述测试用例。
可选地，所述执行所述测试需求对应的测试用例的步骤还包括：
若检测到所述虚拟存储***测试失败，则报错并停止测试；
若所述虚拟存储***执行完所述测试用例，则获取新的测试需求并进行下一次测试。
可选地，所述根据所述测试用例的执行结果，确定所述存储设备的测试结果的步骤之后，包括：
将所述测试结果与所述虚拟存储***关联保存。
可选地，所述将所述测试结果与所述虚拟存储***关联保存的步骤之后，包括：
接收新的测试需求，根据所述新的测试需求，获取所述测试结果；
根据所述测试结果，构建待测设备的目标状态。
此外，为实现上述目的，本发明实施例还提供一种终端设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的存储设备的老化测试程序，所述处理器执行所述存储设备的老化测试程序时，实现如上所述的方法。
此外，为实现上述目的，本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有存储设备的老化测试程序，所述存储设备的老化测试程序被处理器执行时，实现如上所述的方法。
本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
当虚拟主机接收到测试需求时，确定所述测试需求对应目标使用状态，控制虚拟存储***上的虚拟闪存颗粒以及虚拟微控制单元执行预置的老化程序在检测到所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配时，执行所述测试需求对应的测试用例，根据测试用例的执行结果，确定存储设备的测试结果。无需控制实际存储设备执行老化动作，利用虚拟的存储设备执行老化程序，可调控程序运行的速度，提高了老化测试的效率。
附图说明
图1为本申请存储设备的测试方法实施例一的流程示意图；
图2为本申请存储设备的测试方法实施例二的流程示意图；
图3为本申请存储设备的测试方法实施例三的流程示意图；
图4为本申请一实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图。
具体实施方式
存储设备的实际老化过程中，需要控制存储设备执行具体的老化程序，比如要确定存储设备使用一年后的状态，需要控制存储设备运行一年的老化程序，效率较低。本申请应用于虚拟存储***，虚拟主机，虚拟存储***包括虚拟闪存颗粒以及虚拟控制单元。在所述虚拟主机接收到测试需求时，确定所述测试需求对应目标使用状态；控制所述虚拟闪存颗粒以及所述虚拟微控制单元执行预置的老化程序；在检测到所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配时，执行所述测试需求对应的测试用例；根据所述测试用例的执行结果，确定所述存储设备的测试结果。通过虚拟存储***和虚拟主机代替实际存储设备执行老化程序，可以调整程序的运行时间，加快测试速度，提高测试效率。
为了更好的理解上述技术方案，下面将参照附图更详细地描述本申请的示例性实施例。虽然附图中显示了本申请的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本申请而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本申请，并且能够将本申请的范围完整的传达给本领域的技术人员。
为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
实施例一
参照图1，本实施例提出的一种存储设备的测试方法包括以下步骤：
步骤S10：在所述虚拟主机接收到测试需求时，确定所述测试需求对应目标使用状态；
在本实施例中，虚拟主机相当于控制***，一个虚拟主机可与多个虚拟存储***连接，可以同时进行多个测试。在接收到测试需求后，解析测试需求，再将测试需求对应的测试指令分配到对应的虚拟存储***上。虚拟存储***上配置有虚拟闪存颗粒和虚拟微控制单元。目标使用状态指的是测试需求对应的设备状态。
作为一种可选实施方式，每个虚拟存储***上有唯一的编码，在接收到测试需求之后，对测试需求进行解析，得到编码，控制编码对应的虚拟存储***进行老化。由于虚拟存储***是可重复使用的，且在执行一次老化测试后，虚拟存储***仍维持老化状态，以便下次测试可直接在当前老化状态基础上继续进行测试。因此需要先检测编码对应的虚拟存储***的当前老化状态，确定当前老化状态与目标使用状态之间的差距，根据所述差距调整老化程序。
示例性地，虚拟主机解析出测试需求要在编码为L的虚拟存储***上进行，且要求L虚拟存储***的初始老化状态为运行了一年的状态。检测到L虚拟存储***当前老化状态是运行了400天的状态，则控制虚拟闪存颗粒以及虚拟微控制单元执行老化程序将老化状态恢复到365天的状态。老化程序可以根据初始老化状态和目标使用状态的差距，智能调整是恢复到之前的状态还是继续老化。
作为另一种可选实施方式，当接收到测试需求时，虚拟主机按随机获取一台虚拟存储***并检测虚拟存储***的使用状态，若检测到状态为忙状态，则获取下一台虚拟存储***，直至获取到的虚拟存储***的状态为空闲时，选定该空闲的虚拟存储***进行后续的老化测试。
示例性地，虚拟存储***设置有预约功能，当接收到测试需求时，可以根据测试需求预约对应的虚拟存储***进行老化测试，预约后的虚拟存储***显示预约时间。再次接收到测试需求时，***会根据新的测试需求需要花费的时间，判断已被预约的虚拟存储***为空闲状态还是即将工作状态，若新的测试需求需要占用的时间小于虚拟存储***的预约时间，则判定此台虚拟存储***为空闲状态，可以使用。
作为又一种可选实施方式，虚拟存储***有重置按钮，在进行一次老化测试后，可以将虚拟存储***重置回未使用状态。若开启重置按钮，则虚拟存储***在每次老化后都能自动保存当前老化状态并自行恢复到未使用状态。用户可根据实际需求选择是否开启重置按钮。
示例性地，若接收到的测试需求都是在时间较短的老化状态下进行，为了节省老化程序的调整时间，可以开启重置按钮，使虚拟存储设备在每次执行老化动作后都回归至初始状态，以便下次调用，提高测试的效率。在回归到初始状态之前，还会将老化后的状态存储起来，存储的老化状态可被无限次调用。若再有同样的测试需求，可直接调用存储的老化状态，提高测试效率。
步骤S20：控制所述虚拟闪存颗粒以及所述虚拟微控制单元执行预置的老化程序；
在本实施例中，虚拟闪存颗粒的功能与真实闪存颗粒相同，但虚拟闪存颗粒的擦/写次数没有限制，因此可以进行不限次数的调试，无需考虑在测试过程中因闪存颗粒擦/写次数不够而无法进行老化测试的问题。虚拟微控制单元控制虚拟闪存颗粒执行预置的老化程序，将虚拟存储设备老化到目标使用状态。
作为一种可选实施方式，在虚拟微控制单元控制虚拟闪存颗粒执行老化程序的过程中，实时获取虚拟存储***的老化状态，并可将实时获取的老化状态保存起来。
示例性地，可以设置每隔一小时保存一次虚拟存储***的老化状态。若后续老化进程中出现错误，可以提取最新保存的老化状态，再继续执行老化程序，节省测试时间。此外，定时存储的老化状态还可被无限次调用，应用于其它存储设备上，提高其它存储设备的测试时间。
作为又一种可选实施方式，在虚拟设备上执行老化程序的数据量相较于在真实设备上执行老化程序的数据量更小，因此，使用虚拟设备执行老化程序的速度更快。同样的老化程序在真实设备上要运行3天，而在虚拟设备上运行所需时间远远小于3天。可以大大节省测试的时间。
步骤S30：在检测到所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配时，执行所述测试需求对应的测试用例；
在本实施例中，测试需求可以包含待测试虚拟设备的信息，目标使用状态以及测试用例等信息。测试用例包含测试环境、操作步骤、测试数据、预期效果等待执行信息。
作为一种可选实施方式，当虚拟存储***的老化状态达到测试需求对应的目标使用状态时，停止执行老化程序。同时开始执行测试需求对应的测试用例。
示例性地，当虚拟存储***的老化状态与目标使用状态匹配时，控制虚拟存储***执行测试用例。获取测试用例对应的执行条件和测试时间，根据所述执行条件调整所述虚拟存储***的运行条件；当所述虚拟存储***在所述运行条件下，且运行的时间等于所述测试时间时，停止执行所述测试用例。
作为另一种可选实施方式，若虚拟存储***在执行测试用例的过程出现错误，导致测试失败时，会产生报错信息，并提醒测试人员查看。若虚拟存储***执行完测试用例，则本次测试结束，将***设置为空闲待机状态，可以接收新的测试需求。
示例性地，测试需求要求在一个老化状态为两年的存储设备上进行测试，此时需要控制虚拟闪存颗粒以及虚拟微控制单元执行预置的老化程序，直至虚拟存储***的老化状态与目标使用状态一致，也即达到两年是老化状态时，开始执行测试需求对应的测试用例。如在老化状态为两年的虚拟存储***上，继续老化30天，查看虚拟存储***的磨损情况。当30天的老化程序执行完毕，保存当前老化状态以便后续调用。同时将***设置为空闲待机状态，以备调用。
步骤S40：根据所述测试用例的执行结果，确定所述存储设备的测试结果。
在本实施例中，测试用例的执行结果指的是在测试需求对应的老化状态下执行测试用例直至执行完毕时，存储设备的状态。
作为一种可选实施方式，在执行测试用例的过程中，可以实时保存执行过程的过程测试结果，以便测试突然中断时，可以直接从最新保存的，未中断的步骤继续执行。
示例性地，为了节省内存空间，提高***运行速率，可以清除历史过程测试结果。比如可以设置定时清除历史过程测试结果，也可以设置只保存最新存储的一个或者几个历史过程测试结果。
作为又一种可选实施方式，在一个测试用例执行完毕后，虚拟存储***可接收新的测试需求，根据新的测试需求，获取历史存储记录中的测试结果，若存在目标一致的测试结果，可直接调用对应的测试结果，无需执行老化程序。若不存在目标一致的测试结果，则控制虚拟闪存颗粒以及虚拟微控制单元执行预置的老化程序，然后开始测试。
示例性地，若接收到的新的测试需求对应的预期执行结果无法在存储设备中匹配到相应的测试结果，则控制虚拟存储***开始执行老化测试。或者可以寻找与预期执行结果最接近的测试结果，获取最接近的测试结果后再继续老化测试，可以节省测试的时间，提升测试效率。
在本实施例中，使用虚拟存储***和虚拟主机来模拟实际存储设备的老化测试。虚拟存储***包括虚拟闪存颗粒和虚拟微控制单元。在所述虚拟主机接收到测试需求时，确定所述测试需求对应目标使用状态；控制所述虚拟闪存颗粒以及所述虚拟微控制单元执行预置的老化程序；在检测到所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配时，执行所述测试需求对应的测试用例；根据所述测试用例的执行结果，确定所述存储设备的测试结果。测试结果可保存在存储设备上，以便被随时调用，提高了存储设备老化测试的效率。由于程序在虚拟设备上运行相比于在实际设备上运行所占用的字节数更少，因此在虚拟设备上执行老化测试的速度更快。
实施例二
基于实施例一，提出本申请的另一实施例。
参照图2，执行所述测试需求对应的测试用例的步骤包括：
步骤S31：获取所述测试用例对应的执行条件和测试时间；
步骤S32：根据所述执行条件调整所述虚拟存储***的运行条件；
步骤S33：当所述虚拟存储***在所述运行条件下，且运行的时间等于所述测试时间时，停止执行所述测试用例。
在本实施例中，测试用例包括测试目标、测试环境、输入数据、测试步骤、预期结果、测试脚本等内容。测试目标指的是目标使用状态，即目标设备及目标设备的老化状态。执行条件指的是测试用例中的测试环境、输入数据、测试步骤、测试脚本等内容。测试时间指达到测试用例对应的预期结果所需要的时间。
作为一种可选实施方式，当虚拟存储***处于目标使用状态，在确定测试用例对应的执行条件和测试时间后，控制虚拟存储***开始测试。虚拟存储***在测试需求指定的测试环境下按照测试步骤执行测试脚本，当达到预期结果时，停止执行测试用例，保存测试结果。
示例性地，由于在真实使用场景中，对存储设备进行测试时总会有各种各样的干扰，如电压、电流不稳定等情况，因此在虚拟测试中也可模拟真实场景，在测试过程中随机增加一个扰动，观察老化测试结果的变化情况。当测试用例中带有一个电压干扰时，在虚拟存储***执行测试用例过程中，随机输入一个电压干扰值，观察测试用例执行完毕后的测试结果与没有电压干扰值的测试结果的差别。
作为又一种可选实施方式，若虚拟存储***在所述运行条件下，运行测试脚本经过所述测试时间后，仍未到达测试需求所对应的预期结果，记录本次未达到预期结果的测试，同时控制虚拟存储***继续执行擦/写动作，直至到达所述预期结果。
示例性地，对于未达到预期结果的测试，可以再进行多次模拟测试，查看未达到预期结果的原因，并调整测试脚本。优化测试程序，提高测试效率。
在本实施例中，通过测试用例来对虚拟存储***进行测试，测试用例是可复制的，且测试用例中的测试脚本可自动运行，在一定程序上提升了老化测试的效率。
实施例三
参照图3，基于上述实施例，提出本申请的又一实施例，包括以下步骤：
步骤S21：控制所述虚拟微控制单元获取存储于所述虚拟闪存颗粒中的所述老化程序；
步骤S22：执行所述老化程序并实时获取所述虚拟存储***的老化状态；
在本实施例中，老化程序存储与虚拟存储***中，当检测到虚拟存储***的使用状态未达到测试需求对应的目标使用状态时，控制虚拟存储***执行老化程序，并实时获取虚拟存储***的老化状态并存储。
作为一种可选实施方式，在获取到虚拟存储***的老化状态数据后，可以定期或者在老化状态数据的关键节点进行特征提取，保存特征提取后的老化状态数据，节省内存空间。同时，提取特征后的老化状态数据也便于其它设备根据特征重新构建老化场景。
步骤S34：将实时获取到的所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配，若匹配一致，则继续执行所述测试需求对应的测试用例；
步骤S35：否则，控制所述虚拟微控制单元继续执行所述老化程序。
在本实施例中，将实时获取到的每一帧老化状态与目标使用状态匹配，当二者一致时，说明此时虚拟存储***已经达到测试需求对应的初始使用状态，停止执行老化程序，同时可以开始执行测试用例。
作为一种可选实施方式，在执行老化程序过程中，可实时监控程序的执行情况，若监测到程序执行过程，关键参数发生变化，则启动高频备份或者进入单步调试模式，避免因程序执行异常导致测试中断或者测试结果不准确，导致需要重头开始执行老化程序。此外，为了减少内存空间的占用量，提升程序运行速度，可以在解决本次异常后，清除异常过程的存储记录。
示例性地，虚拟存储***的数据库中记录有各个关键参数的正常范围及异常前值。当监控程序监测到老化进程中，关键参数处于异常前值时，启动高频备份或者进入单步调试模式。
在本实施例中，在接收到测试需求，确定测试需求对应的目标使用状态后，控制目标虚拟存储***执行老化程序，为了防止程序执行异常导致数据丢失或者数据异常，可实时保存执行过程数据，以便调用过程数据，在正常执行程序的过程数据的基础上继续执行老化程序，提升测试效率。
实施例四
在本申请实施例中，提出一种存储设备的测试装置。
参照图4，图4为本申请一实施例方案涉及的硬件运行环境的终端结构示意图。
如图4所示，该控制终端可以包括：处理器1001，例如CPU，网络接口1003，存储器1004，通信总线1002。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。网络接口1003可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。存储器1004可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器1004可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
本领域技术人员可以理解，图4中示出的终端结构并不构成对终端的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图4所示，作为一种计算机存储介质的存储器1004中可以包括操作***、网络通信模块、以及存储设备的测试程序。
在图4所示的存储设备的测试设备硬件结构中，处理器1001可以调用存储器1004中存储的存储设备的测试程序，并执行以下操作：
在所述虚拟主机接收到测试需求时，确定所述测试需求对应目标使用状态；
控制所述虚拟闪存颗粒以及所述虚拟微控制单元执行预置的老化程序；
在检测到所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配时，执行所述测试需求对应的测试用例；
根据所述测试用例的执行结果，确定所述存储设备的测试结果。
可选地，处理器1001可以调用存储器1004中存储的存储设备的测试程序，还执行以下操作：
检测所述虚拟存储***的老化状态；
若所述老化状态与所述目标使用状态匹配，控制所述虚拟存储***执行所述测试用例。
可选地，处理器1001可以调用存储器1004中存储的存储设备的测试程序，还执行以下操作：
控制所述虚拟微控制单元获取存储与所述虚拟闪存颗粒中的所述老化程序；
执行所述老化程序并实时获取所述虚拟存储***的老化状态。
可选地，处理器1001可以调用存储器1004中存储的存储设备的测试程序，还执行以下操作：
将实时获取到的所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配，若匹配一致，则执行所述测试需求对应的测试用例；
否则，控制所述虚拟微控制单元继续执行所述老化程序。
可选地，处理器1001可以调用存储器1004中存储的存储设备的测试程序，还执行以下操作：
获取所述测试用例对应的执行条件和测试时间；
根据所述执行条件调整所述虚拟存储***的运行条件；
当所述虚拟存储***在所述运行条件下，且运行的时间等于所述测试时间时，停止执行所述测试用例。
可选地，处理器1001可以调用存储器1004中存储的存储设备的测试程序，还执行以下操作：
若检测到所述虚拟存储***测试失败，则报错并停止测试；
若所述虚拟存储***执行完所述测试用例，则获取新的测试需求并进行下一次测试。
可选地，处理器1001可以调用存储器1004中存储的存储设备的测试程序，还执行以下操作：
将所述测试结果与所述虚拟存储***关联保存。
可选地，处理器1001可以调用存储器1004中存储的存储设备的测试程序，还执行以下操作：
接收新的测试需求，根据所述新的测试需求，获取所述测试结果；
根据所述测试结果，构建待测设备的目标状态。
此外，为实现上述目的，本发明实施例还提供一种终端设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的存储设备的测试程序，所述处理器执行所述存储设备的测试程序时，实现如上所述的存储设备的测试方法。
此外，为实现上述目的，本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有存储设备的测试程序，所述存储设备的测试程序被处理器执行时，实现如上所述的存储设备的测试方法。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、***、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(***)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
应当注意的是，在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的部件或步骤。位于部件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的部件。本申请可以借助于包括有若干不同部件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。
尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种存储设备的测试方法，其特征在于，应用于虚拟存储***，虚拟主机，所述虚拟存储***包括虚拟闪存颗粒以及虚拟微控制单元，所述方法包括：
在所述虚拟主机接收到测试需求时，确定所述测试需求对应目标使用状态；
控制所述虚拟闪存颗粒以及所述虚拟微控制单元执行预置的老化程序；
在检测到所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配时，执行所述测试需求对应的测试用例；
根据所述测试用例的执行结果，确定所述存储设备的测试结果。
2.如权利要求1所述的存储设备的测试方法，其特征在于，所述确定所述测试需求对应目标使用状态的步骤，包括：
检测所述虚拟存储***的初始老化状态；
确定所述初始老化状态与所述目标使用状态之间的差距，调整所述老化程序。
3.如权利要求1所述的存储设备的测试方法，其特征在于，所述控制所述虚拟闪存颗粒以及所述虚拟微控制单元执行预置的老化程序的步骤包括：
控制所述虚拟微控制单元获取存储于所述虚拟闪存颗粒中的所述老化程序；
执行所述老化程序并实时获取所述虚拟存储***的老化状态。
4.如权利要求3所述的存储设备的测试方法，其特征在于，所述在检测到所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配时，执行所述测试需求对应的测试用例的步骤包括：
将实时获取到的所述虚拟存储***的老化状态与所述目标使用状态匹配，若匹配一致，则继续执行所述测试需求对应的测试用例；
否则，控制所述虚拟微控制单元继续执行所述老化程序。
5.如权利要求1所述的存储设备的测试方法，其特征在于，所述执行所述测试需求对应的测试用例的步骤包括：
获取所述测试用例对应的执行条件和测试时间；
根据所述执行条件调整所述虚拟存储***的运行条件；
当所述虚拟存储***在所述运行条件下，且运行的时间等于所述测试时间时，停止执行所述测试用例。
6.如权利要求1所述的存储设备的测试方法，其特征在于，所述执行所述测试需求对应的测试用例的步骤还包括：
若检测到所述虚拟存储***测试失败，则报错并停止测试；
若所述虚拟存储***执行完所述测试用例，则获取新的测试需求并进行下一次测试。
7.如权利要求1所述的存储设备的测试方法，其特征在于，所述根据所述测试用例的执行结果，确定所述存储设备的测试结果的步骤之后，包括：
将所述测试结果与所述虚拟存储***关联保存。
8.如权利要求7所述的存储设备的测试方法，其特征在于，所述将所述测试结果与所述虚拟存储***关联保存的步骤之后，包括：
接收新的测试需求，根据所述新的测试需求，获取所述测试结果；
根据所述测试结果，构建待测设备的目标状态。
9.一种终端设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的存储设备的老化测试程序，所述处理器执行所述存储设备的老化测试程序时，实现权利要求1-8任一所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有存储设备的老化测试程序，所述存储设备的老化测试程序被处理器执行时，实现权利要求1-8任一所述的方法。
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